• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

三石 和貴  MITSUISHI Kazutaka

研究者番号 40354328
その他のID
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-9361-4057
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 副センター長
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2023年度 – 2024年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 副センター長
2023年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 分野長
2021年度 – 2022年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 先端材料解析研究拠点, グループリーダー
2015年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主席研究員
2015年度: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 表界面構造物性ユニット電子顕微鏡グループ, 主席研究員 … もっと見る
2013年度 – 2014年度: 独立行政法人物質・材料研究機構, その他部局等, その他
2012年度: 物質材料研究機構, 量子ドットセンター, 主幹研究員
2011年度: 独立行政法人物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主幹研究員
2009年度 – 2010年度: 独立行政法人物質・材料研究機構, 量子ドットセンター, 主幹研究員
2007年度: 物質・材料研究機構, 量子ドットセンター, 主任研究員
2006年度: 独立行政法人物質・材料研究機構, 量子ドットセンター, 主任研究員
2005年度: 独立行政法人物質・材料研究機構, 超高圧電子顕微鏡ステーション, 主任研究員 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分80040:量子ビーム科学関連 / 小区分29020:薄膜および表面界面物性関連 / 構造・機能材料 / 薄膜・表面界面物性 / マイクロ・ナノデバイス
研究代表者以外
小区分30010:結晶工学関連 / 材料加工・処理
キーワード
研究代表者
電子顕微鏡 / 4DSTEM / 電子線タイコグラフィー / 位相回復 / 電子顕微鏡法 / 全固体2次電池 / 3次元観察 / 走査透過電子顕微鏡 / 共焦点電子顕微鏡 / CVD / EBID / ナノ構造作製 / 電子線誘起蒸着 … もっと見る
研究代表者以外
… もっと見る 機械学習 / 密度汎関数法 / 窒化ガリウム / 欠陥構造 / 大規模第一原理計算 / センサー / 電子顕微鏡 / ナノ材料 / 材料加工・処理 / ナノセンサー / ナノワイヤー / ナノプロセス 隠す
  • 研究課題

    (7件)
  • 研究成果

    (52件)
  • 共同研究者

    (3人)
  •  正則化を取り入れた電子線タイコグラフィー位相回復法の開発と材料応用研究代表者

    • 研究代表者
      三石 和貴
    • 研究期間 (年度)
      2024 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分80040:量子ビーム科学関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人物質・材料研究機構
  •  大規模第一原理計算によるGaN中格子欠陥、不純物の複合構造モデリング

    • 研究代表者
      宮崎 剛
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分30010:結晶工学関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人物質・材料研究機構
  •  電子線タイコグラフィーにおける多重散乱の効果を含めた位相再生法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      三石 和貴
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2023
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人物質・材料研究機構
  •  ピエゾ駆動大気遮断ホルダーによる電池材料の電子顕微鏡観察研究代表者

    • 研究代表者
      三石 和貴
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      構造・機能材料
    • 研究機関
      国立研究開発法人物質・材料研究機構
  •  電子線誘起蒸着法による酸化物ナノ構造の作製とその物性評価

    • 研究代表者
      下条 雅幸
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      材料加工・処理
    • 研究機関
      芝浦工業大学
      埼玉工業大学
  •  2次元検出器による共焦点電子顕微鏡法の実現研究代表者

    • 研究代表者
      三石 和貴
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2011
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      独立行政法人物質・材料研究機構
  •  電子線と粒子線の組み合わせによるナノ構造作製と物性評価研究代表者

    • 研究代表者
      三石 和貴
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      マイクロ・ナノデバイス
    • 研究機関
      独立行政法人物質・材料研究機構

すべて 2024 2023 2022 2016 2015 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書

  • [図書] Nanofabrication using electron beam induced deposition technique; Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology2011

    • 著者名/発表者名
      M. Shimojo, K. Mitsuishi, M. Takeguchi, M. Tanaka and K. Furuya
    • 出版者
      H. S. Nalwa ed., American Scienctific Publishers, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [図書] Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnologyのvolume 172011

    • 著者名/発表者名
      M.Shimojo, K.Mitsuishi, M.Takeguchi, M.Tanaka, K.Furuya
    • 総ページ数
      22
    • 出版者
      American Scientific Publishers, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [図書] Nanofabrication: Fundamentals and Applications 第7章2008

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 総ページ数
      12
    • 出版者
      World Scientific Publishing Co
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Development of temporal series 4D-STEM and application to relaxation time measurement2023

    • 著者名/発表者名
      Nakazawa Katsuaki、Mitsuishi Kazutaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: - 号: 5 ページ: 1-4

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfad006

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890, KAKENHI-PROJECT-23K13076
  • [雑誌論文] Direct observation of Cu in high-silica chabazite zeolite by electron ptychography using Wigner distribution deconvolution2023

    • 著者名/発表者名
      Mitsuishi Kazutaka、Nakazawa Katsuaki、Sagawa Ryusuke、Shimizu Masahiko、Matsumoto Hajime、Shima Hisashi、Takewaki Takahiko
    • 雑誌名

      Scientific Reports

      巻: 13 号: 1 ページ: 316-11

    • DOI

      10.1038/s41598-023-27452-3

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [雑誌論文] Three-dimensional observation of SiO2 hollow spheres with a double-shell structure using aberration-corrected scanning confocal electron microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, P. Wang, P. D. Nellist, A. I. Kirkland, M. Tezuka and M. Shimojo
    • 雑誌名

      J. Electron Microsc

      巻: 61, 3 号: 3 ページ: 159-169

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfs039

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [雑誌論文] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal2012

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 他
    • 雑誌名

      UTRAMICROSCOPY

      巻: 112 号: 1 ページ: 53-60

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2011.10.004

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [雑誌論文] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      K. Mitsuishi, et. al., 他4名
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 112 ページ: 53-60

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [雑誌論文] Application of scanning confocal electron microscopy to nanomaterials and the improvement in resolution by image processing2011

    • 著者名/発表者名
      X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi and M. Shimojo
    • 雑誌名

      Mater. Sci. Forum

      巻: 675-677 ページ: 259-262

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.675-677.259

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [雑誌論文] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal microscopy II. point spread function analysis2010

    • 著者名/発表者名
      K. Mitsuishi, et al., 他4名
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 111 ページ: 20-26

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [雑誌論文] Imaging properties of bright-fieldandannular-dark-fieldscanningconfocal electron microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 他
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 111 ページ: 20-26

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [雑誌論文] High-resolution electron microscopy of detonation nanodiamond2008

    • 著者名/発表者名
      Iakoubovskii. K、三石和貴、古屋一夫
    • 雑誌名

      NANOTECHNOLOGY 19

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Mean free path of inelastic electron scattering in elemental solids and oxides using transmission electron microscopy: Atomic number dependent oscillatory behavior2008

    • 著者名/発表者名
      Iakoubovskii. K、三石和貴、中山佳子、古屋一夫
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 77

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Nano-fabrication using electron-beam-induced deposition combined with low energy ion milling2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 下条雅幸, 田中美代子, 古屋一夫
    • 雑誌名

      NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS B 242

      ページ: 244-244

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] TEM sample preparation using a new nanofabrication technique combining electron-beam-induced deposition and low-energy ion milling2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 下条雅幸, 竹口雅樹, 宋明暉, 古屋一夫
    • 雑誌名

      MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12

      ページ: 545-545

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Cs補正HAADF-STEMによるAlGaAs中のGaAs量子リングの観察2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 間野高明, 郭行健, 竹口雅樹, 小口信行, 古屋一夫
    • 雑誌名

      まてりあ 45

      ページ: 854-854

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Proximity effect in electron-beam-induced deposition2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 下条雅幸, 竹口雅樹, 田中美代子, 古屋一夫
    • 雑誌名

      JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 45

      ページ: 5517-5517

    • NAID

      10017998899

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 竹口雅樹, 近藤行人, 細川史夫, 三宮工, 古屋一夫
    • 雑誌名

      MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12

      ページ: 456-456

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] 電子線照射効果を用いたナノ構造作製2006

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 劉志権, 下条雅幸, 竹口雅樹, 田中美代子, 古屋一夫
    • 雑誌名

      顕微鏡 41

      ページ: 164-164

    • NAID

      10018791256

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [雑誌論文] 電子線誘起蒸着によるナノ構造の直接描画2005

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 下条雅幸, 古屋一夫
    • 雑誌名

      セラミックス 40・11

      ページ: 949-949

    • NAID

      10016763925

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [学会発表] Ptychographyによるロードーズ、高分解能観察2024

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      2023年度 日本顕微鏡学会 超高分解能顕微鏡法分科会 研究討論会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] 電子線タイコグラフィーによる4DSTEMデータからの試料情報抽出2024

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、中澤克昭
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] 電子線タイコグラフィーによるゼオライト中の銅原子の直接観察2023

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、中澤克昭、佐川隆亮、清水雅彦、松本 創、嶋 寿、武脇隆彦
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第79回学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] Direct observation of Cu in high silica chabazite zeolite by electron ptychography2023

    • 著者名/発表者名
      Kazutaka Mitsuishi, Katsuaki Nakazawa, Ryusuke Sagawa, Masahiko Shimizu, Hajime Matsumoto, Hisashi Shima & Takahiko Takewaki
    • 学会等名
      International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Device
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] 電子線タイコグラフィーによる環境関連材料の観察2022

    • 著者名/発表者名
      三石 和貴, 中澤 克昭, 佐川隆亮
    • 学会等名
      電子顕微鏡学会第37回分析討論会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] デフォーカスを活用した電子線効率の高いタイコグラフィー法の開発2022

    • 著者名/発表者名
      中澤克昭、三石和貴、佐川隆介
    • 学会等名
      第78回日本顕微鏡学会学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [学会発表] Ptychographcal phase retrievalの実像による拘束2016

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      応用物理学会第63回春季学術講演会
    • 発表場所
      東京工業大学大岡山キャンパス
    • 年月日
      2016-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] 実像を追加の拘束として用いるPtychographyによる位相回復2016

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会
    • 発表場所
      仙台国際センター
    • 年月日
      2016-06-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] Improving the Ptychographical Iterative Phase Retrieval by Adding a Real-Space Constraint2016

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      The 5-th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      ウインクあいち 名古屋市
    • 年月日
      2016-05-11
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] La ordering in epitaxial Li3xLa2/3-xTiO3 films and its effects on Li-ion conduction2016

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、大西剛、高田和典
    • 学会等名
      11th Asia-Pacific Microscopy Conference
    • 発表場所
      Phuket graceland, タイ
    • 年月日
      2016-05-23
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] 強度輸送方程式による長周期位相情報の取得2015

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • 発表場所
      国立京都国際会館,京都
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] In-situ transmission electron microscopy studies of all-solid-state rechargeable lithium ion batteries2015

    • 著者名/発表者名
      雷丹、三石和貴、大西剛、渡辺賢、大野隆央、竹口雅樹、高田和典
    • 学会等名
      The 2nd East-Asia Microscopy Conference
    • 発表場所
      姫路商工会議所
    • 年月日
      2015-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] 薄膜2次電池の電子顕微鏡その場充放電計測2015

    • 著者名/発表者名
      雷丹、三石和貴、大西剛、渡辺賢、大野隆央、竹口雅樹、高田和典
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • 発表場所
      国立京都国際会館,京都
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] Influence of La Ordering on Li-ion Conduction in Li3xLa2/3-xTiO3 Epitaxial Films / Influence of La Ordering on Li-ion Conduction in Li3xLa2/3-xTiO3 Epitaxial Films2015

    • 著者名/発表者名
      大西剛、三石和貴、西尾和記、高田和典
    • 学会等名
      STAC-9 & TOEO-9
    • 発表場所
      つくば国際会議場,つくば
    • 年月日
      2015-10-19
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] Deposition of magnetic and photoconductive nanostructures2012

    • 著者名/発表者名
      M. Shimojo, K. Mitsuishi and M. Takeguchi
    • 学会等名
      4th Focused Electron Beam Induced Processing Workshop (FEBIP 2012)
    • 発表場所
      Zaragoza, Spain
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [学会発表] 電子顕微鏡を利用したナノ構造作製2012

    • 著者名/発表者名
      下条雅幸、三石和貴、竹口雅樹
    • 学会等名
      表面技術協会ナノテク部会第46回研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2012-08-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [学会発表] 電子線誘起蒸着により作製した酸化モリブデンナノワイヤーの光伝導特性2010

    • 著者名/発表者名
      下条雅幸、牧瀬圭正、三石和貴、竹口雅樹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [学会発表] 共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場(愛知県)
    • 年月日
      2010-05-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] 共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 他4名
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • 年月日
      2010-05-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] STEM像の計算手法の基礎/STEM像の計算手法の基礎2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会電顕技術開発若手研究部会研究会
    • 発表場所
      東京大学 山上会館(東京都)
    • 年月日
      2010-08-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] STEM像の計算手法の基礎/STEM像の計算手法の基礎2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会電顕技術開発若手研究部会研究会
    • 発表場所
      東京大学山上会館
    • 年月日
      2010-08-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴, 他4名
    • 学会等名
      日本物理学会2010年秋季大会
    • 発表場所
      大阪府立大学
    • 年月日
      2010-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法2010

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本物理学会2010年秋季大会
    • 発表場所
      大阪府立大学(大阪府)
    • 年月日
      2010-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] Application of scanning confocal electron microscopy to nanomaterials and the improvement in resolution by image processing2010

    • 著者名/発表者名
      X. B. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi and M. Shimojo
    • 学会等名
      7th International Forum on Advanced Material Science and Technology (IFAMST-7)
    • 発表場所
      Dalian, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [学会発表] 円環暗視野共焦点STEM像のシミュレーション2009

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会
    • 発表場所
      山台国際センター(仙台市)
    • 年月日
      2009-05-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] 共焦点走査透過電子顕微鏡法による3次元観察の可能性2009

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第53回シンポジウム
    • 発表場所
      東京工業大学(東京都)
    • 年月日
      2009-10-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] Depth sectioning property of bright-field and annular-dark-field scanning confocal electron microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      三石和貴
    • 学会等名
      FEMMS2009
    • 発表場所
      ハウステンボス(九州市)
    • 年月日
      2009-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [学会発表] 共焦点走査型透過電子顕微鏡像の結像特性の検討2008

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、竹口雅樹、下条雅幸、橋本綾子、古屋一夫
    • 学会等名
      第55回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      日本大学理工学部
    • 年月日
      2008-03-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [学会発表] Scanning Confocal Electron Microscopy Image Calculation Based on Bloch Wave Method2007

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、竹口雅樹、下条雅幸、田中美代子、古屋一夫
    • 学会等名
      FEMMS2007
    • 発表場所
      アメリカ・ソノマバレー
    • 年月日
      2007-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [学会発表] Phase-shifting electron holography fitted with Fresnel affected fringes

    • 著者名/発表者名
      雷 丹、三石和貴, 下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] 強度輸送方程式による長周期位相情報の取得

    • 著者名/発表者名
      三石和貴、雷 丹、下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • 年月日
      2015-03-11 – 2015-03-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [学会発表] Phase-shifting electron holography fitted with Fresnel affected fringes

    • 著者名/発表者名
      雷 丹、 三石和貴, 下条雅幸、竹口雅樹
    • 学会等名
      The 9th International Forum on Advanced Materials Science and Technology
    • 発表場所
      Xiamen University, Xiamen, 中国
    • 年月日
      2014-12-01 – 2014-12-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • 1.  下条 雅幸 (00242313)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 8件
  • 2.  宮崎 剛 (50354147)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  小田 将人 (70452539)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

URL: 

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi