ＨｏｌｓｔＳｔｅｆａｎ Holst Stefan

… 別表記

Holst Stefan Holst Stefan

HOLST Stefan ホルストシュテファン

研究者番号	40710322
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2024年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 2013年度 – 2020年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連
キーワード	研究代表者 Failure Analysis / GPU Computing / Soft-Error Tolerance / Process Variations / Response Compression / IR-Drop / Small-Delay Defects / Logic Diagnosis / VLSI 研究代表者以外 IR-Drop … もっと見る / シフトエラー / シフト電力 / LSI回路 / 誤テスト / テスト電力 / スキャンテスト / LSIテスト / 欠陥検出設計 / 欠陥影響最小化設計 / 欠陥影響定量化 / 欠陥 / 耐ソフトエラー記憶素子 / ディペンダブル・コンピュー / ディペンダブル・コンピュータ / グルーピング / テストクロック / シフトタイミング / ディペンダブル・コンピューティング / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / クロックパス / パス遅延 / 信号値遷移 / 誤テスト回避 / テスト電力制御 / クロック / マスク回路 / 入力遷移 / テスト電力安全性 / テスト生成 / 低電力テスト / テストデータ変更 / クロックストレッチ / IR-Dop / キャプチャ電力隠す

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州工業大学
Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits研究代表者
- 研究代表者
  
  Holst Stefan
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2019
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州工業大学
高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 その他

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting2023
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E106.D 号: 10 ページ: 1694-1704
- DOI
  10.1587/transinf.2023EDP7011
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 年月日
  2023-10-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] Evaluation and Test of Production Defects in Hardened Latches2022
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen, A. Yan, and H. Xu
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E105.D 号: 5 ページ: 996-1009
- DOI
  10.1587/transinf.2021EDP7216
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 年月日
  2022-05-01
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Inf. & Syst.
  
  巻: E104-D
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, K. Miyase, S. Holst, S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E99.A 号: 12 ページ: 2310-2319
- DOI
  10.1587/transfun.E99.A.2310
- NAID
  130005170516
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016, KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
[学会発表] Mitigating Test-Induced Yield-Loss by IR-Drop-Aware X-Filling2023
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 学会等名
  The 16th IEEE Int`l Symp. on Embedded Milticore/Many-core Systems-on-Chip
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] BiSTAHL: A Built-In Self-Testable Soft-Error-Hardened Scan-Cell2023
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen, A. Yan, and H. Xu
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Estimation and Reduction of Peak IR-Drop in Scan Shift2022
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 学会等名
  the 10th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Functional Safety of AI Accelerators with Hardware Defects2022
- 著者名/発表者名
  B. Lim, S. Holst, X. Wen
- 学会等名
  第13回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Functional Safety of AI Accelerators with Hardware Defects2021
- 著者名/発表者名
  S. Holst, B. Lim, X. Wen
- 学会等名
  The 9th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] GPU-Accelerated Timing Simulation of Systolic Array Based AI Accelerators2021
- 著者名/発表者名
  S. Holst, B. Lim, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] STAHL: A Novel Scan-Test-Aware Hardened Latch2021
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen
- 学会等名
  The 9th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design2020
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen, A. Yan, H. Xu,
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-71
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses2020
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  South European Test Seminar 2020, Obergurgl, Austria
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects2020
- 著者名/発表者名
  . Holst, M. Kampmann, A. Sprenger, J. D. Reimer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, X. Wen
- 学会等名
  Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses2020
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  FTC Workshop Jan. 2020, Yurihama, Tottori-ken, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Accelerated Timing Simulation and Its Applications2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  Dagstuhl Workshop "Intelligent Methods for Test and Reliability" Sep. 2019, Dagstuhl, Germany
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Variation-Aware Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Failure Data2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, M. A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Small Delay Fault Diagnosis with Compacted Responses2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  FTC Workshop Jan. 2019, Kitakyushu-shi, Fukuoka-ken, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  FTC Workshop Jul. 2019, Daigo-machi, Kuji-gun, Ibaraki-ken, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Small Delay Fault Diagnosis with Compacted Responses2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  South European Test Seminar 2019, St. Leonhard, Pitztal, Austria
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2019
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第11回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Small Delay Fault Diagnosis with Compacted Responses2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  56th Design Automation Conference (DAC) 2019 Work-In-Progress Poster
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Responses2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, M. A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  第80回 FTC 研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Targeted Partial-Shift For Mitigating Shift Switching Activity Hot-Spots During Scan Test2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, S. Shi, and X. Wen
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim Int'l Symp. on Dependable Computing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Variation-Aware Small Delay Fault Diagnosis on Compressed Test Responses2019
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  IEEE International Test Conference, Nov. 2019, Washington DC, USA
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits2018
- 著者名/発表者名
  Stefan Holst
- 学会等名
  FTC Workshop Jul. 2018, Sakura-shi, Tochigi-ken, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18026
[学会発表] The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches2018
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen
- 学会等名
  第17 回情報科学技術フォーラム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches2018
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第17 回情報科学技術フォーラム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qia
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneiderz, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  Proc. of IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] 高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  宮崎俊紀、温暁青、ホルストシュテファン、宮瀬紘平、梶原誠司
- 学会等名
  第9回LSIテストセミナー
- 発表場所
  福岡市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第181回SLDM・第46回EMB合同研究発表会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  Proc. of IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At- Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch2015
- 著者名/発表者名
  K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Bombay, India
- 年月日
  2015-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys2015
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-11-05
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  IEEE International Conference on Computer-Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2014-11-03 – 2014-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Design Automation Conference
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2014-06-01 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016

1. 温暁青 (20250897)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 34件
2. 宮瀬紘平 (30452824)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 16件
3. 梶原誠司 (80252592)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 15件
4. Tehranipoor M.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
5. Girard P.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 樹下行三

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 相京隆

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 高木範明

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 浜田周治

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 羽立幸司

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. Saluja K. K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. Keller B.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. Varma P.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. Chakravarty K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. Wunderlich H.-J.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 2件
16. Wang L.-T.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. Jan M. E.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

Ｈｏｌｓｔ Ｓｔｅｆａｎ Holst Stefan

Holst Stefan Holst Stefan

HOLST Stefan ホルスト シュテファン

研究課題

研究成果

共同研究者

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] Evaluation and Test of Production Defects in Hardened Latches2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[学会発表] Mitigating Test-Induced Yield-Loss by IR-Drop-Aware X-Filling2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] BiSTAHL: A Built-In Self-Testable Soft-Error-Hardened Scan-Cell2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Estimation and Reduction of Peak IR-Drop in Scan Shift2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Functional Safety of AI Accelerators with Hardware Defects2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

ＨｏｌｓｔＳｔｅｆａｎ Holst Stefan

HOLST Stefan ホルストシュテファン