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笹川 和彦  Sasagawa Kazuhiko

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 50250676
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 弘前大学, 理工学研究科, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2019年度 – 2024年度: 弘前大学, 理工学研究科, 教授
2009年度 – 2017年度: 弘前大学, 理工学研究科, 教授
2009年度 – 2012年度: 弘前大学, 大学院・理工学研究科, 教授
2007年度: 弘前大学, 大学院・理工学研究科, 准教授
2007年度: 弘前大学, 大学院・理工学研究科, 教授 … もっと見る
1999年度 – 2006年度: 弘前大学, 理工学部, 助教授
1998年度: 東北大学, 大学院・工学研究科, 講師
1997年度: 東北大学, 大学院・工学研究科, 助手
1995年度 – 1996年度: 東北大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学 / 小区分18010:材料力学および機械材料関連 / リハビリテーション科学・福祉工学 / リハビリテーション科学・福祉工学
研究代表者以外
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学 / リハビリテーション科学・福祉工学 / 小区分90130:医用システム関連 / 小区分58080:高齢者看護学および地域看護学関連 / 小区分58060:臨床看護学関連 / 材料加工・処理 / 知能機械学・機械システム
キーワード
研究代表者
エレクトロマイグレーション / 電子パッケージ / 数値シミュレーション / 支配パラメータ / 金属薄膜配線 / Numerical Simulation / Metal Line / 信頼性 / バンブー配線 / 角部 … もっと見る / 金属ナノ粒子配線 / Bamboo Line / Governing Parameter / Electromigration / Electronic Package / ハプティックインターフェイス / センサ / 接触圧力 / カーボンナノチューブ / 多結晶配線 / 断線故障 / 強度評価 / 薄膜金属配線 / 信頼性評価 / フレキシブルエレクトロニクス / 損傷機構 / 金属ナノ粒子 / フレキシブル回路 / ヒューマンインターフェイス / タッチパネル / 触覚センサー / ヒューマンインターフェース / Electronic Packaging / High Density Integration / Scaling Down / Lifetime Extension / Semiconductor Integrated Circuit / 高密度実装 / 微細化 / 長寿命化 / 半導体集積回路 / Passivation / Line Failure / electromigration / 数直シミュレーション / 保護膜 / Polycrystalline Line / Failure Prediction / 断線予測 / バーチャルリアリティ / ハプティック・インターフェイス / せん断応力 / せん断力 / 高密度電流 / 電子デバイス / 絶縁膜 / 支配パレメータ / 短絡故障 / 半導体デバイス / 強度評価パラメータ / 温度勾配特異性 / 電流特異性 / 熱応力 / 特異熱流束場 / 特異電流場 … もっと見る
研究代表者以外
Microwave / マイクロ波 / Contactless / Laser / 高分解能 / 非接触 / 導電率 / レーザ / Delamination / 電子パッケージ / はく離 / Quantitative Evaluation / 定量評価 / 薄膜 / Nondestructive Evaluation / 非破壊評価 / 日本語子音 / 構音訓練 / 構音・摂食・嚥下障害 / 舌圧測定システム / 電気的パラトグラフ / 原子再配列 / エレクトロマイグレーション / 自動穿刺 / 拡散 / 粘弾性 / 皮膚血管モデル / 力学特性 / 光学特性 / ロボット / 模擬皮膚 / 模擬血管 / 穿刺 / 応力 / 褥瘡 / 外力 / 末梢神経損傷 / 剪断力 / 圧力 / 末梢神経 / 体位 / Surface Topography / AFM Probe / Electrical Property / Nono-area / Microscope / Atomic Force / 表面計測 / 近接場計測 / 電気特性 / 原子間力顕微鏡 / 表面形状計測 / AFMプローブ / 電気的特性 / ナノ領域 / 顕微鏡 / 原子間力 / Nano-positioning / Nano-scale Measurement / Semiconductor / Nano-Indentation / Analysis of Atomic Structure / Thin Film / Reliability / Strength of nano-scale materials / 強度物性 / ナノポジショニング / ナノ計測 / 半導体 / ナノインデンテーション / 原子構造解析 / 信頼性 / ナノ強度物性 / High resolution / Electronic package / Tomography / Electro-optic crystal / THz wave / トモグラフィー / 電気光学結晶 / テラヘルツ波 / High Resolution / Quantitative Measurement / Electro-optic effect / Conductivity / Silicon Wafer / 定量計測 / 電気光学効果 / シリコンウェーハ / Materials / IC Package / Spatial Resolution / Imaging / Focusing Sensor / 材料 / 空間分解能 / イメージング / 集束センサ / Interface Fracture Toughness / Fracture resistance / Interface Crack / Adhesive Strength / Thin Films / 界面破壊じん性 / き裂進展抵抗曲線 / 界面き裂 / 付着強度 / Electromagnetic Field / Crack Depth / Simplified Evaluation / Crack Interactions / Personal Computer / D.C.Potential Drop Technique / Multiple Cracks / 電磁場 / き裂深さ / 簡易評価 / き裂干渉 / パーソナルコンピュータ / 直流電位差法 / 多重き裂 / 金属マイクロ材料 / ストレスマイグレーション / はんだボール / 金属薄膜配線 / 舌接触口蓋床 / 臓器モデル / 人間機械システム / 知能機械 / 構音,摂食,嚥下障害 / 構音,摂食,嚥下障害 / ナノ接合 / 金属ナノコイル / 機械的特性 / 高い秩序度 / 原子集約 / 原子拡散 / 金属ナノマテリアル / 単結晶 / ボトムアップ技術 / メタリックナノワイヤ / ナノ材料 / 電流密度 / 温度勾配 / 電子機器 / 発生機構 / 原子流束発散 / 吸熱現象 / 発 / 熱電効果 / トムソン効果 隠す
  • 研究課題

    (31件)
  • 研究成果

    (289件)
  • 共同研究者

    (32人)
  •  褥瘡好発部位における内部応力と組織変形の関連性の検証

    • 研究代表者
      小野 綾
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分58080:高齢者看護学および地域看護学関連
    • 研究機関
      弘前学院大学
  •  光学および力学特性がヒトと等価な皮膚血管モデルへの自動穿刺法の開発

    • 研究代表者
      佐川 貢一
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分90130:医用システム関連
    • 研究機関
      弘前大学
  •  手術体位による外力と末梢神経への影響の検討

    • 研究代表者
      村岡 祐介
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分58060:臨床看護学関連
    • 研究機関
      弘前学院大学
  •  しなやかな電子回路に用いる金属ナノ粒子配線の信頼性評価法の構築と強度向上法の探究研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分18010:材料力学および機械材料関連
    • 研究機関
      弘前大学
  •  柔らかい電子回路に使う金属ナノ粒子配線の電流・応力下での損傷機構解明と強度評価研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分18010:材料力学および機械材料関連
    • 研究機関
      弘前大学
  •  薄くてしなやかな触覚センサの飛躍的高空間分解能化とタッチパネルの高機能化研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      リハビリテーション科学・福祉工学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  金属薄膜・微細ボール表面の最適被覆に着目したマイグレーションの抑制と活用

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  高密度電流の流れる電子配線カーボンナノチューブの損傷支配パラメータ特定と強度評価研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  パラトグラムと舌圧を活用した歯科補綴装置による構音・嚥下障害のリハビリテーション

    • 研究代表者
      佐々木 具文
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      リハビリテーション科学・福祉工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  布状アクチュエータによる皮膚接着型ハプティック・ディスプレイの創製研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2012
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      リハビリテーション科学・福祉工学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  電子材料に用いるカーボンナノチューブの高密度電子流による損傷機構解明と強度評価研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  構音機能時の電気的パラトグムと舌圧を活用した嚥下・構音障害の訓練体系の検討

    • 研究代表者
      佐々木 具文
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2011
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      リハビリテーション科学・福祉工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  ハプティックインターフェイスを指向した生体用接触圧力及びせん断力センサの新規構築研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2010
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      リハビリテーション科学・福祉工学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  内視鏡医療トレーニングのための括約筋をもつアクティブ臓器モデルの開発

    • 研究代表者
      牧野 英司
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2010
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      知能機械学・機械システム
    • 研究機関
      弘前大学
  •  高い秩序度を有する金属ナノマテリアルの創製と展開

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(S)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  原子拡散と再配列の制御によるメタリックナノワイヤの創製と機械的・電気的特性評価

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2006
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  マイクロ波原子間力顕微鏡の開発及びナノ領域における電気的特性の定量評価

    • 研究代表者
      巨 陽
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋大学
      東北大学
  •  配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  ナノポジショニングによるナノ・メガシステムの強度物性ゆらぎマップ測定システム

    • 研究代表者
      三浦 英生
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  超LSI信頼性確保を目的とした微細金属薄膜配線の高密度電子流による断線故障予測法研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2004
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  テラヘルツ波トモグラフィー技術の開発と実装後電子パッケージ内はく離の非破壊評価

    • 研究代表者
      巨 陽
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  マイクロ波-レーザ計測技術の開発とシリコンウェーハの局所的導電率の非接触計測

    • 研究代表者
      巨 陽
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      材料加工・処理
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子パッケージ薄膜配線のヒロック形成予測と短絡故障強度評価法への展開研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  電流下の原子流束発散に着目したトムソン効果発生機構解明の新規アプローチ

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子パッケージ薄膜配線の高密度電流による断線寿命および断線箇所の新規予測手法構築研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  マイクロ波集束センサの開発と高分解能材料非破壊イメージングシステムの構築

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  エレクトロマイグレーション支配パラメーターの特定と電子パッケージ薄膜配線の強度評価研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
      東北大学
  •  二軸制御マイクロインデンテーションによる薄膜付着強度の新規計測手法の確立

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子パッケージ薄膜配線のエレクトロマイグレーション強度評価パラメータの特定と応用研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子パッケージ薄膜配線における特異電流/熱流束場の支配パラメータの解明と強度評価研究代表者

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1995
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  電磁場に現れるき裂相互干渉の解明と多重き裂非破壊評価手法の開拓

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004 2003 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] 金属ナノ粒子、微粒子の合成、調整と最新応用技術2021

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 藤﨑和弘(分担執筆)
    • 総ページ数
      558
    • 出版者
      技術情報協会
    • ISBN
      9784861048623
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [図書] Metallic Micro, ano Nano Materials-Fabrication with Atomic Diffusion2011

    • 著者名/発表者名
      M. Saka (Ed.), M. Saka, K. Sasagawa, M. Muraoka, H. Tohmyoh, Y. Ju (Authors), Metallic Micro, Nano Materials
    • 出版者
      Springer
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [図書] Metallic Micro and Nano Materials-Fabrication with Atomic Diffusion2011

    • 著者名/発表者名
      M.Saka(Ed.), M.Saka, K.Sasagawa, M.Muraoka, H.Tohmyoh, Y.Ju (Authors)
    • 出版者
      Springer
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [図書] Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM)2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 出版者
      ASME
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [図書] サイエンス&テクノロジー2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原 正三, (笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17656036
  • [図書] 金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原 正三(笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      サイエンス&テクノロジー
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [図書] サイエンス&テクノロジー2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原 正三(笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [図書] 金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原正三(笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      サイエンス&テクノロジー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [図書] 金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原正三, 笹川和彦, ほか13名
    • 出版者
      サイエンス & テクノロジー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [図書] Mechanism and Provision for Migration in Metal Lines2006

    • 著者名/発表者名
      S. Shingubara (K. Sasagawa, et. al.)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      Science & Technology
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Damage Analysis in Ag Nanoparticle Interconnect Line Under High-Density Electric Current2022

    • 著者名/発表者名
      Daiki Saito, Kazuhiko Sasagawa, Takeshi Moriwaki, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      ASME Journal of Electronic Packaging

      巻: 144(4) 号: 4

    • DOI

      10.1115/1.4053365

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] Computational evaluation of optimal reservoir and sink lengths for threshold current density of electromigration damage considering void and hillock formation2021

    • 著者名/発表者名
      Ryuji Takaya, Kazuhiko Sasagawa, Takeshi Moriwaki, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 118 ページ: 114060-114060

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2021.114060

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] Damage of Flexible Electronic Line Under Mechanical and Electrical Stress Loading2021

    • 著者名/発表者名
      Ryota Horiuchi, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Proc. of ASME InterPACK 2021

      巻: -

    • DOI

      10.1115/ipack2021-68902

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] Electromigration Damage of Flexible Electronic Lines Printed With Ag Nanoparticle Ink2020

    • 著者名/発表者名
      Daiki Saito, Kazuhiko Sasagawa ,Takeshi Moriwaki ,Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging

      巻: 142 号: 3

    • DOI

      10.1115/1.4046849

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] Damege of Flexible Electronic Line Printed with Ag Nanoparticle Ink Due to High-Current Density2019

    • 著者名/発表者名
      Daiki Saito, Kazuhiko Sasagawa, Takeshi Moriwaki, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Proc. ASME 2019 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems

      巻: -

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] 高密度電流下の銀ナノ粒子インク配線における凝集塊分布の観察2019

    • 著者名/発表者名
      斉藤 大輝,笹川 和彦,森脇 健司,藤﨑 和弘
    • 雑誌名

      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

      巻: - ページ: 139-142

    • NAID

      40022301710

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [雑誌論文] Development of Thin and Flexible Contact Pressure Sensing System for High Spatial Resolution Measurements2017

    • 著者名/発表者名
      Kazuhiko Sasagawa, Junpei Narita
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: Vol. 263 ページ: 610-613

    • DOI

      10.1016/j.sna.2017.07.024

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [雑誌論文] 採血手技の運動および力覚の計測2017

    • 著者名/発表者名
      其田 雅人,笹川 和彦,藤崎 和弘,森脇 健司,萱場 広之
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス

      巻: 38巻 ページ: 393-398

    • NAID

      40021346302

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [雑誌論文] Development of Tube-type Pressure Distribution Sensor for Performance Evaluation of Endovascular Device2017

    • 著者名/発表者名
      Takeshi Moriwaki, Asuka Saito, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Proc. The 12th International Symposium in Advanced Science and Technology in Experimental Mechanics (ISEM)

      巻: - ページ: 1-4

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [雑誌論文] Development of Sensing System of Three-Axis Stress for Touch Panel Operation2016

    • 著者名/発表者名
      Renta Kasai, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki
    • 雑誌名

      Proceedings of International Conference on Asia-Pacific Conference on Fracture and Strength 2016

      巻: No. 16-204 ページ: 309-310

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [雑誌論文] Damage of Single-wall Carbon Nanotube Network Structure under Electric Current Loading2016

    • 著者名/発表者名
      S. Sato, K. Fujisaki, K. Sasagawa
    • 雑誌名

      Mechanical Engineering Journal

      巻: 3 号: 6 ページ: 16-00292-16-00292

    • DOI

      10.1299/mej.16-00292

    • NAID

      130005250610

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage Considering Passivation Thickness2016

    • 著者名/発表者名
      H. Kikuchi, K. Sasagawa, K. Fujisaki
    • 雑誌名

      2016 International Conference on Advances in Electrical, Electronic and Systems Engineering (ICAEESE 2016), Conference Paper Collection

      巻: -

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [雑誌論文] Numerical Analysis of Allowable Current Density for Electromigration of Interconnect Tree Structure with Reservoir2015

    • 著者名/発表者名
      K. Fujisaki, H. Narita, K. Sasagawa
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK/ICNMM2015

      巻: 2

    • DOI

      10.1115/ipack2015-48744

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002, KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [雑誌論文] Experimental Study of Damage Mechanism of Carbon Nanotube as Nano-component of Electronic Devices under High Current Density2014

    • 著者名/発表者名
      Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki, Jun Unuma, Ryota Azuma
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging

      巻: 136 号: 4

    • DOI

      10.1115/1.4026878

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [雑誌論文] Experimental Study of Damage Mechanism of Carbon Nanotube as Nano-Component of Electronic Devices under High Current Density2013

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, K. Fujisaki, J. Unuma and R.Azuma
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2013 (CD-ROM)

      巻: (掲載決定)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] 構音障害のリハビリテーションのための舌‐口蓋接触圧力分布測定システム2013

    • 著者名/発表者名
      塚原智, 小山拓馬, 石川諒, 笹川和彦, 佐々木具文
    • 雑誌名

      第25回 バイオエンジニアリング講演会 講演論文集

      巻: 25 ページ: 513-514

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500572
  • [雑誌論文] Experimental Study of Damage Mechanism of Carbon Nanotube as Nano-Component of Electronic Devices under High Current Density2013

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, K. Fujisaki, J. Unuma and R. Azuma
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2013 (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Numerical Study of Allowable Current Density for Electromigration Damage of Multilevel Interconnection in Integrated Circuit (Keynote Lecture)2013

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, T. Fujisaki and T. Yanagi
    • 雑誌名

      Proc. 13th Int. Conf. Fracture

      巻: (掲載決定)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Development of Shear Stress Sensing System for Application to a Haptic Display2012

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, T. Oyama, K. Tokiyoshi and K. Yokoyama
    • 雑誌名

      Proceedings of 7th International Symposium on Advanced Science and Technology in Experimental Mechanics

      巻: M117

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density in Interconnect with Reservoir Structure Using Numerical Modeling of Electromigration Damage2012

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, T. Yanagi and J. Unuma
    • 雑誌名

      Proc. 7th Int. Symp. on Advanced Science and Technology in Exp. Mechanics (USB Memory)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density in Interconnect with Reservoir Structure Using Numerical Modeling of Electromigration Damage2012

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, T. Yanagi and J. Unuma
    • 雑誌名

      Proceedings of 7th International Symposium on Advanced Science and Technology in Experimental Mechanics (USB Memory)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] リザーバ構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷の数値シミュレーションによるしきい電流密度の評価2012

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 柳 貴裕, 鵜沼 潤
    • 雑誌名

      第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

      ページ: 191-194

    • NAID

      130007887099

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] A Comparison of Electromigration Failure of Metal Lines with Fracture Mechanics2012

    • 著者名/発表者名
      H.Abe, M.Muraoka, K.Sasagawa, M.Saka
    • 雑誌名

      Acta Mech.Sin.

      巻: 28(印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Change in Damage Mechanism of MWCNTs under Electric Current with Oxygen Concentration2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, J.Unuma
    • 雑誌名

      Proc.13th International Conference on Electric Materials and Packaging(USB flash memory)

      ページ: 69-72

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Effect of Oxygen Concentration on Damage Mechanism of Carbon Nanotubes under High Current Density2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, J.Unuma, T.Abo
    • 雑誌名

      Proc.ASME InterPACK2011

      巻: (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Development of Simulation of Nanostructure Production Due to Electromigration Considering Specimen's Damage2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • 雑誌名

      Proceedings of ICM&P2011

      巻: (印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Development of Simulation of Nanostructure Production due to Electromigration Considering Specimen's Damage2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • 雑誌名

      Proc.the 4th JSME/ASME International Conference on Materials and Processing

      巻: (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Effect of Oxygen Concentration on Damage Mechanism of Carbon Nanotubes under High Current Density2011

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, J. Unuma and T. Abo
    • 雑誌名

      Proc. ASME InterPACK2011 (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Development of Simulation of Nanostructure Production Due to Electromigration Considering Specimen's Damage2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME/JSME ICM&P2011

      巻: (印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Effect of Oxygen Concentration on Damage Mechanism of Carbon Nanotubes under High Current Density2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2011

      巻: (印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] 生体への適用を目的とした接触圧力およびせん断圧力の同時測定センサの開発2011

    • 著者名/発表者名
      時吉康太, 笹川和彦
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス

      巻: Vol.32 ページ: 309-313

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] 生体への適用を目的とした接触圧力およびせん断応力の同時測定センサの開発2011

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス

      巻: Vol.32 ページ: 309-313

    • NAID

      40019053701

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] Change in Damage Mechanism of MWCNTs under Electric Current with Oxygen Concentration2011

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa and J. Unuma
    • 雑誌名

      Proc. 13th International Conference on Electric Materials and Packaging(USB flash memory)

      ページ: 69-72

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] 接触圧力およびせん断応力の分布測定を可能にするセンサシステムの開発2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      日本機械学会

      巻: 76 ページ: 83-87

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] 生体内の接触圧力およびせん断応力の同時測定センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      日本機械学会東北支部講演論文集 45

      ページ: 82-83

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, A.Kirita, S.Fukushi, M.Saka
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol. 10(印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape2010

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, A. Kirita, S. Fukushi and M. Saka
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol

      巻: Vol. 10 ページ: 6036-6040

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] 生体への適用を目的とした接触圧力およびせん断応力の同時測定センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス

      巻: 37 ページ: 111-111

    • NAID

      40019053701

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] Simulation of nanostructure production by electromigration considering specimen's shape2010

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, A. Kirita, S. Fukushi, M. Saka
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 6036-6040

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape. J2010

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, A. Kirita, S. Fukushi and M. Saka
    • 雑誌名

      Nanosci. Nanotechnol

      巻: 10(9) ページ: 6036-6040

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, A.Kirita, S.Fukushi, M.Saka
    • 雑誌名

      J.Nanosci. Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 6036-6040

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Development of Sensor System for Measurement of Distributions of Contact Pressure and Shear Stress on Contacting Skin Surface2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, K.Tokiyoshi
    • 雑誌名

      Proc. 5th International Symposium on Advance and Technology in Experimental Mechanics

      巻: CD-ROM

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [雑誌論文] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, A.Kirita, S.Fukushi, M.Saka
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 6036-6040

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Numerical Simulation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Cu Interconnect Tree2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, A.Kirita, T.Abo, A.H.Hassan
    • 雑誌名

      Proceedings of InterPACK 2009 (CD-ROM)

      ページ: 6-6

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] A Numerical Simulation of Nanostructure Formation Utilizing Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, S. Fukushi, Y. Sun and M. Saka
    • 雑誌名

      J. Electron. Mater

      巻: Vol. 38 ページ: 2201-2206

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants of Polycrystalline Line for Reliability Evaluation Against Electromigration Failure2009

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa, K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka, H.Abe
    • 雑誌名

      Mech.Mater. 41

      ページ: 1090-1095

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Numerical Simulation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Cu Interconnect Tree2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, A.Kirita, T.Abo, A.H.Hassan
    • 雑誌名

      Proceedings of InterPACK 2009 (CD-ROM)

      ページ: 6-6

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] A Numerical Simulation of Nanostructure Formation Utilizing Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, S.Fukushi, Y.Sun, M.Saka
    • 雑誌名

      J.Electron.Mater. 38

      ページ: 2201-2206

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants of Polycrystalline Line for Reliability Evaluation Against Electromigration Failure2009

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa, K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka, H.Abe
    • 雑誌名

      Mech.Mater. 41

      ページ: 1090-1095

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] A Numerical Simulation of Nanostructure Formation Utilizing Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, S.Fukushi, Y.Sun, M.Saka
    • 雑誌名

      J.Electron.Mater. 38

      ページ: 2201-2206

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] 嚥下時の口腔および咽頭内の接触圧力同時測定システムの開発2009

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス 30

      ページ: 83-87

    • NAID

      10026981518

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] Derivation of Electromigration Characteristic Constants of Metal Line Used in Electronic Devices2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Gomyo, A.Kirita
    • 雑誌名

      Proceedings of ICF12 (CD-ROM)

      ページ: 9-9

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Simulation of nanostructure production by electromigration considering specimen's shape2009

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, A. Kirita, S. Fukushi, M. Saka
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol 9(印刷中)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Derivation of Electromigration Characteristic Constants of Metal Line Used in Electronic Devices2009

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Gomyo, A.Kirita
    • 雑誌名

      Proceedings of ICF12 (CD-ROM)

      ページ: 9-9

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [雑誌論文] 嚥下時の口腔および咽頭内の接触圧力同時測定システムの開発2009

    • 著者名/発表者名
      大里泰彦, 笹川和彦, 横山紘太郎, 才藤栄一, 近藤和泉
    • 雑誌名

      臨床バイオメカニクス

      巻: Vol.30 ページ: 83-87

    • NAID

      10026981518

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [雑誌論文] A numerical simulation of nanostructure formation utilizing electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, S. Fukushi, Y. Sun, M. Saka
    • 雑誌名

      J. Electron. Mater.

      巻: 38 ページ: 2201-2206

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM), ASME

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proc. 2007 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2007-33237(CD-ROM)

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proc. ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems 2007 (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM)

      ページ: 2007-33237

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007, ASME (CD-ROM)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Lime2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vols.353-358

      ページ: 2958-2961

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proc. 2007 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibifion on Integration and Packaging of MEMS, HEMS, and Electronic Systems(CD-ROM) IPACK2007-33237

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] 多結晶およびバンブー構造Al配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      応用物理学会 薄膜・表面物理分科会 第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会予稿集

      ページ: 21-22

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] 折れ曲がるバンブー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦, (山路 尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      日本機械学会 2006年次大会講演論文集(1) No.06-1

      ページ: 907-908

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17656036
  • [雑誌論文] 半導体集積回路配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2006

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦, (山路 尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会MES2006第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

      ページ: 267-270

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17656036
  • [雑誌論文] エレクトロマイグレーション損傷と数値シミュレーションによる信頼性評価法2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      日本材料学会第43回X線材料強度に関する討論会講演論文集

      ページ: 12-17

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] 多結晶およびバンブー構造Al配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      応用物埋学会 薄膜・表面物理分科会第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会予稿集

      ページ: 21-22

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Elecromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2006

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa(N.Yamaji, S.Fukushi)
    • 雑誌名

      Abstracts of 2006 Asian Pacific Conference for Fracture and Strength

      ページ: 415-415

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] 多結晶およびバンブー構造Al配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦, (山路 尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      応用物理学会 薄膜・表面物理分科会第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会予稿集

      ページ: 21-22

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17656036
  • [雑誌論文] エレクトロマイグレーション損傷と数値シミュレーションによる信頼性評価法2006

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦
    • 雑誌名

      日本材料学会 第43回X線材料強度に関する討論会 講演論文集

      ページ: 12-17

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [雑誌論文] 多結晶配線における配線二次元形状がしきい電流密度に及ぼす影響2006

    • 著者名/発表者名
      山路 尚, (笹川和彦)
    • 雑誌名

      日本機械学会 東北支部 第41期総会・講演会 講演論文集 No.2006-1

      ページ: 51-52

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Electromigration Failure of Metal Lines2006

    • 著者名/発表者名
      H.Abe(K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      International Journal of Fracture 138・1-4

      ページ: 219-240

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] 半導体集積回路配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会 MES2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

      ページ: 267-270

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] 折れ曲がるバンブー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      日本機械学会2006年次大会講演論文集(1) No.06-1

      ページ: 907-908

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bamboo Line2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.11th International Conference on Fracture Paper ID 3699 (CD-ROM)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Electromigration Failure of Metal Lines2005

    • 著者名/発表者名
      H.Abe, K.Sasagawa, M.Saka
    • 雑誌名

      Proceedings of 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)(Plenary lecture)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S.Uno, M.Hasegawa, K.Sasagawa, M.Saka
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vol.297-300

      ページ: 263-268

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206013
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS and Electronic Systems (CD-ROM)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage2005

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.IPACK2005, ASME Paper ID IPACK2005-73133 (CD-ROM)(in press)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S.Uno (M.Hasegawa, K.Sasagawa et al.)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(S. Uno, N. Yamaji, M. Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems LPACK2005-73133(CD-ROM)

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2005-73133(CD-ROM)

      ページ: 1-6

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno (M. Hasegawa, K. Sasagawa and M. Saka)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bambooline2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      ページ: 1-8

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bamboo line2005

    • 著者名/発表者名
      M. Hasegawa (K. Sasagawa and M. Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] 二次元形状の多結晶配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (山路 尚, 宇野茂雄)
    • 雑誌名

      日本機械学会 第18回計算力学講演会 講演論文集 No.05-2

      ページ: 23-24

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno (M. Hasegawa, K. Sasagawa, M. Saka)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] バンブー配線の二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本機械学会 2005年次大会 講演論文集(VI) No.05-1

      ページ: 287-288

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bamboo Line2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hassegawa, K.Sasagawa, M.Saka
    • 雑誌名

      Proceedings of 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] バンブー配線における配線二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第11回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会講演論文集

      ページ: 40-41

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Uno, N. Yamaji and M. Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems (CD-ROM) IPACK2005-73133

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bamboo line2005

    • 著者名/発表者名
      M. Hasegawa(K. Sasagawa, M. Saka)
    • 雑誌名

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Electromigration Failure of Metal Lines2005

    • 著者名/発表者名
      H.Abe (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Abstracts of 11th International Conference on Fracture

      ページ: 17-17

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno(M. Hasegawa, K. Sasagawa, et. al.)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2005, ASME (CD-ROM)(掲載予定)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno (M. Hasegawa, K. Sasagawa, et. al.)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17206011
  • [雑誌論文] Electromigration Failure of Metal Lines2005

    • 著者名/発表者名
      H.Abe, (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Abstracts of 11th International Conference on Fracture

      ページ: 17-17

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bamboo Line2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa, (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proceedings of 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Absolute Thermopower of Aluminum Wire before and after Electromigration2004

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (T.Sato, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the Autumn Meeting of JSME Tohoku Division No.041-2

      ページ: 29-30

    • NAID

      110004059830

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 配線端のドリフト速度計測による配線物性定数の導出法2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, 笹川和彦, 宇野茂雄, 坂 真澄
    • 雑誌名

      日本機械学会2004年度年次大会講演論文集(I) No.04-1

      ページ: 403-404

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of Film Constants of Al Polycrystalline Line by Drift Velocity Measurement and Evaluation of Threshold Current2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.10th Conf.Atomic Transportation and Stress Problem in LSI Metallization

      ページ: 38-39

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] ドリフト速度計測によるAl多結晶配線の物性定数の導出としきい電流密度の評価2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, (笹川和彦, 宇野茂雄, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第10回LSI配線における原子輸送および応力問題研究会講演論文集

      ページ: 38-39

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] ドリフト速度計測によるバンブー金属配線の物性定数の導出2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, 笹川和彦, 宇野茂雄
    • 雑誌名

      日本機械学会第17回計算力学講演会講演論文集 No.04-40

      ページ: 805-806

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] LSI配線のエレクトロマイグレーション特性に関する物性定数の導出としきい電流密度の評価2004

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 長谷川昌孝, 宇野茂雄, 坂 真澄
    • 雑誌名

      第2回マイクロマテリアルシンポジウム講演論文集

      ページ: 80-83

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] ドリフト速度計測によるバンブー金属配線の物性定数の導出2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, (笹川和彦, 宇野茂雄)
    • 雑誌名

      日本機械学会第17回計算力学講演会講演論文集 No.04-40

      ページ: 805-806

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] ドリフト速度計測によるAl多結晶配線の物性定数の導出としきい電流密度の評価2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, 笹川和彦, 宇野茂雄, 坂 真澄
    • 雑誌名

      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第10回LSI配線における原子輸送および応力問題研究会講演論文集

      ページ: 38-39

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] LSI配線のエレクトロマイグレーション特性に関する物性定数の導出としきい電流密度の評価2004

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (長谷川昌孝, 宇野茂雄, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本材料学会第2回マイクロマテリアルシンポジウム講演論文集

      ページ: 80-83

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants in Bamboo Line by Drift Velocity Measurement2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, S.Uno)
    • 雑誌名

      Proc.the 17th Computational Mechanics Conference No.04-40

      ページ: 805-806

    • NAID

      110004070593

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of Film Characteristic Constants by Drift Velocity Measurement2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.Mechanical Engineering Congress Japan 04 (I) No.04-1

      ページ: 403-404

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] エレクトロマイグレーション前後におけるアルミバルク材の熱電能の検討2004

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (佐藤 匠, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本機械学会東北支部第10期秋季講演会講演論文集 No.041-2

      ページ: 29-30

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2004

    • 著者名/発表者名
      S.Uno (M.Hasegawa, K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Abstracts of Asian Pacific Conference for Fracture and Strength '04

      ページ: 105-105

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of Film Constants Concerning Electromigration Characteristics and Evaluation of Threshold Current Density2004

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (M.Hasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the 2nd Symposium on Micromaterials, JSMS

      ページ: 80-83

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 配線端のドリフト速度計測による配線物性定数の導出法2004

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, (笹川和彦, 宇野茂雄, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本機械学会2004年度年次大会講演論文集(I) No.04-1

      ページ: 403-404

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Failure Prediction in Passivated Polycrystalline Line Considering Passivation Thickness2003

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (M.Hasegawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.2003 Annual Meeting of the JSME/MMD No.03-11

      ページ: 609-610

    • NAID

      110002489465

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Electromigration2003

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa
    • 雑誌名

      Journal of the Japanese Society for Experimental Mechanics 3(4)

      ページ: 71-72

    • NAID

      10011869583

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of the Film Characteristic Constants Using the Governing Parameter for Electromigration Damage at Metal Line Ends2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.of ISMMMIE2003, The International Symposium on Micro-Mechanical Engineering, JSME

      ページ: 433-439

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of the Film Characteristic Constants Using the Governing Parameter for Electromigration Damage at Metal Line Ends2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa, (K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proceedings of ISMME2003, The International Symposium on Micro-Mechanical Engineering, JSME

      ページ: 433-439

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Film Characteristics Derived by the Governing Parameter for Electromigration Damage at Metal Line End2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, Y.Watanabe, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the 16th Computational Mechanics Conference No.03-02

      ページ: 665-666

    • NAID

      110002489045

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 配線端部におけるエレクトロマイグレーション損傷支配パラメータを用いた配線物性値の導出2003

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, (笹川和彦, 渡邊祥達, 宇野茂雄, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本機械学会第16回計算力学講演会講演論文集 No.03-26

      ページ: 665-666

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Failure Prediction of the Metal Line in IC Considering Passivation Thickness2003

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa (M.Hasegawa, N.Yoshida, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the.11th Symposium on Fracture and Fracture Mechanics

      ページ: 127-132

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 保護膜の厚さを考慮した保護膜被覆多結晶配線の断線故障予測2003

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (長谷川昌孝, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      M&M2003日本機械学会材料力学部門講演会講演論文集 No.03-11

      ページ: 609-610

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Evaluation Method of the Threshold Current Density for Electromigration Damage in IC Metal Lines2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the Second Japan-Taiwan Workshop on Mechanical and Aerospace Engineering, Tokyo Institute of Technology & Tohoku University

      ページ: 129-137

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Evaluation Method of the Threshold Current Density for Electromigration Damage in IC Metal Lines2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa, (K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proceedings of The Second Japan-Taiwan Workshop on Mechanical and Aerospace Engineering

      ページ: 129-137

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] エレクトロマイグレーション2003

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      日本実験力学会誌「実験力学」 3・4

      ページ: 71-72

    • NAID

      10011869583

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 配線端部のドリフト速度計測に基づいた金属薄膜配線物性値の導出2003

    • 著者名/発表者名
      長谷川昌孝, (笹川和彦, 宇野茂雄, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本金属学会第2回東北支部大会講演論文集

      ページ: 10-11

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] Derivation of the Film Characteristic Constants Based on Drift Velocity Measurement2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, S.Uno, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.the Second Tohoku Division Conference of the JIM

      ページ: 10-11

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [雑誌論文] 保護膜厚さを考慮した集積回路配線の断線故障予測法2003

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (長谷川昌孝, 吉田直樹, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本材料学会第11回破壊力学シンポジウム講演論文集

      ページ: 127-132

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560058
  • [産業財産権] 分布測定センサ、分布測定センサシステム、分布測定プログラムおよび記録媒体2017

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2017
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [産業財産権] 分布測定センサ,分布測定センサシステム,分布測定プログラムおよび記録媒体2016

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2016-216304
    • 出願年月日
      2016-11-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [産業財産権] ビア接続の多層配線の信頼性を評価する信頼性評価シミュレーションプログラム,ビア接続の多層配線の許容電流密度向上方法およびビア接続の多層配線2012

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2012-09-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [産業財産権] ビア接続の多層配線の信頼性を評価する信頼性評価シミュレーションプログラム,ビア接続の多層配線の許容電流密度向上方法およびビア接続の多層配線2012

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 出願年月日
      2012-09-06
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [産業財産権] 接触圧力測定システム2010

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 出願年月日
      2010-08-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [産業財産権] センサ装置および分布測定装置2010

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      弘前大学
    • 出願年月日
      2010-09-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [産業財産権] 金属配線の信頼性評価装置及び方法, 並びに金属配線の信頼性評価のためのプログラムを格納した記録媒体2007

    • 発明者名
      笹川和彦
    • 権利者名
      科学技術振興機構
    • 産業財産権番号
      2007-246243
    • 出願年月日
      2007-09-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Contact Stress Measurement on Sacral Skin Surface : Investigating Pressure Injury Development and Progression Mechanisms2023

    • 著者名/発表者名
      Aya ONO, Kazuhiko SASAGAWA, Kotaro MIURA, Kazuhiro FUJISAKI
    • 学会等名
      生体医工学シンポジウム2023
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K10382
  • [学会発表] Measurement of contact stresses on lower leg with positioning during robotic surgery2023

    • 著者名/発表者名
      Yusuke Muraoka, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki,Kotaro Miura
    • 学会等名
      生体医工学シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K10907
  • [学会発表] 高密度電流下フレキシブルAg配線の損傷に対する保護膜の影響2022

    • 著者名/発表者名
      工藤泰河, 笹川和彦, 藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部 第52回学生員卒業研究発表講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [学会発表] 高密度電流によるグラフェンインク配線の損傷2021

    • 著者名/発表者名
      大坪拓生, 笹川和彦, 森脇健司, 藤﨑和弘
    • 学会等名
      日本実験力学会2021年度年次講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [学会発表] 酸化インジウムスズ電子配線の高密度電流下における損傷機構の検討2021

    • 著者名/発表者名
      鈴木雄, 笹川和彦, 森脇健司, 藤﨑和弘
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2021材料力学カンファレンス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [学会発表] 酸化インジウムスズ電子配線の高密度電流下における損傷評価2021

    • 著者名/発表者名
      鈴木 雄,森脇健司,笹川和彦,藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [学会発表] フレキシブル基板上に印刷した導電性インク配線の高密度電流負荷試験2021

    • 著者名/発表者名
      大坪拓生,笹川和彦,森脇健司,藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04084
  • [学会発表] 圧力センサアレイを用いた前腕部筋活動計測に基づく手指動作の推定2018

    • 著者名/発表者名
      五十嵐達也, 藤﨑和弘, 笹川和彦, 森脇健司
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第48回学生員卒業研究発表講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] 接触界面応力計測のための薄型3軸力覚センサの高感度化2017

    • 著者名/発表者名
      齊藤飛翔, 笹川和彦, 藤﨑和弘, 森脇健司
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 平成29年度東北支部講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] リザーバ形状が微細構造配線のエレクトロマイグレーションしきい電流密度に及ぼす影響2017

    • 著者名/発表者名
      高谷隆司,水科拓己,笹川和彦,藤﨑和弘,森脇健司
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第 47 回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      東北学院大学(多賀城市)
    • 年月日
      2017-03-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Study on Damage of Carbon Nanotubes under Electronic Current2017

    • 著者名/発表者名
      Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki
    • 学会等名
      Nano Science & Technology 2017
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] フィルム型三軸応力センサを用いたカテーテル手技の力覚計測2017

    • 著者名/発表者名
      齊藤飛翔, 森脇健司, 藤﨑和弘, 笹川和彦
    • 学会等名
      第44回日本臨床バイオメカニクス学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] 薄型力覚センサを用いた熟練採血手技の評価システムの開発2017

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦,其田雅人,藤崎和弘,森脇健司,萱場広之
    • 学会等名
      第50回日本生体医工学会東北支部大会
    • 発表場所
      東北大学カタールサイエンスキャンパスホール,仙台市
    • 年月日
      2017-01-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] 生体内接触部の圧力・せん断応力計測用薄型センサの開発2017

    • 著者名/発表者名
      齊藤飛翔,笹川和彦,藤﨑和弘,森脇健司
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第 47 回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      東北学院大学,多賀城市
    • 年月日
      2017-03-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] 血管内治療デバイス評価用チューブタイプ圧力分布センサの開発2017

    • 著者名/発表者名
      森脇健司, 藤﨑和弘, 笹川 和彦
    • 学会等名
      日本機械学会第30回バイオエンジニアリング講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] ステントー血管モデル間応力測定のためのフィルム型せん断応力センサの開発2017

    • 著者名/発表者名
      森脇健司,藤崎和弘,笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会第29回バイオエンジニアリング講演会
    • 発表場所
      ウインクあいち,名古屋市
    • 年月日
      2017-01-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] 折れ曲がりサブミクロン電子配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2016

    • 著者名/発表者名
      水科拓己,菊池大樹,笹川和彦,藤﨑和弘
    • 学会等名
      日本機械学会 第29回計算力学講演会
    • 発表場所
      名古屋大学(名古屋市)
    • 年月日
      2016-09-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 採血手技の運動および力覚の計測2016

    • 著者名/発表者名
      其田雅人,笹川和彦,藤﨑和弘,森脇健司,萱場広之
    • 学会等名
      第43回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      北海道立道民活動センターかでる2・7,札幌市
    • 年月日
      2016-10-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] Development of Sensing System of Three-Axis Stress for Touch Panel Operation2016

    • 著者名/発表者名
      Renta Kasai, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki
    • 学会等名
      The 16th International Conference on Biomedical Engineering
    • 発表場所
      Stephen Riady Centre, Singapore
    • 年月日
      2016-12-07
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K12946
  • [学会発表] Effect of Taper Shape of IC Line on Threshold Current Density of Electromigration Damage2016

    • 著者名/発表者名
      H. Kikuchi, K. Sasagawa, K. Fujisaki
    • 学会等名
      Asia-Pacific Conference on Fracture and Strength 2016 (APCFS2016)
    • 発表場所
      Toyama International Conference Center (Toyama, Japan)
    • 年月日
      2016-09-19
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 折れ曲がり形状を有する微細電子配線の損傷しきい電流密度の評価2016

    • 著者名/発表者名
      水科拓己,菊池大樹,笹川和彦,藤﨑和弘
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 平成28年度東北支部講演会
    • 発表場所
      エル・パーク仙台(仙台市)
    • 年月日
      2016-04-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 配線形状の異なるバンブー構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2016

    • 著者名/発表者名
      水科拓己, 笹川和彦, 藤﨑和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第46回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      福島大学(福島市)
    • 年月日
      2016-03-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Evaluation of Allowable Current Density for Electromigration Damage in Via-connected Interconnect2015

    • 著者名/発表者名
      K. Fujisaki, K. Sasagawa, H. Narita
    • 学会等名
      17th Electronic Materials and Packaging Conference
    • 発表場所
      Portland State University, Portland, USA
    • 年月日
      2015-09-02
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] カーボンナノチューブネットワーク配線の電流による疲労損傷特性2015

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 藤﨑和弘, 佐藤俊介, 帷子拓也
    • 学会等名
      日本材料学会 第64期通常総会・学術講演会
    • 発表場所
      山形大学(米沢市)
    • 年月日
      2015-05-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] An Effective Way to Increase Threshold Current Density against Electromigration of a Metal Line2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Kimura, H. Ikadai, M. Saka, K. Sasagawa, H. Tohmyoh
    • 学会等名
      11th Int. Conf. Diffusion in Solids and Liquids
    • 発表場所
      NH Munchen Messe (Munich, Germany)
    • 年月日
      2015-06-22
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 高密度電流の流れる金属配線の許容電流予測と信頼性向上2015

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      大学連携新技術説明会
    • 発表場所
      JST東京本部別館ホール(東京・市ヶ谷)
    • 年月日
      2015-03-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Evaluation of Allowable Current Density for Electromigration Damage in Via-connected Interconnect2015

    • 著者名/発表者名
      K. Fujisaki, K. Sasagawa, H. Narita
    • 学会等名
      17th International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP2015)
    • 発表場所
      Portland State University (Portland, USA)
    • 年月日
      2015-09-01
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Damage of CNT Network Structure under Accelerated Condition2015

    • 著者名/発表者名
      S. Sato, K. Fujisaki, K. Sasagawa, T. Katabira
    • 学会等名
      International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics 2015 (ATEM 2015)
    • 発表場所
      Loisir Hotel Toyohashi (Toyohashi, Japan)
    • 年月日
      2015-10-04
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Damage Observation of CNT Networked Structure under High Current Density2015

    • 著者名/発表者名
      K. Fujisaki, K. Sasagawa, D. Narita
    • 学会等名
      ASME 2015 InterPACK/ICNMM
    • 発表場所
      The Fairmont San Francisco Hotel (San Francisco, USA)
    • 年月日
      2015-07-06
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] しきい電流密度に着目した金属薄膜配線におけるエレクトロマイグレーション抑制に関する考察2015

    • 著者名/発表者名
      筏井大斗,木村康裕,坂 真澄,笹川和彦,燈明泰成
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第45回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      八戸工業高等専門学校(青森県八戸市)
    • 年月日
      2015-03-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] Damage of CNT Network Structure under Accelerated Condition2015

    • 著者名/発表者名
      S. Sato, K. Fujisaki, K. Sasagawa, T. Katabira
    • 学会等名
      International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics 2015
    • 発表場所
      Loisir Hotel Toyohashi, Toyohashi, Japan
    • 年月日
      2015-10-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] カーボンナノチューブネットワーク配線の電流による疲労損傷特性2015

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 藤崎和弘, 佐藤俊介, 帷子拓也
    • 学会等名
      日本材料学会第64期通常総会・学術講演会
    • 発表場所
      山形大学(米沢市)
    • 年月日
      2015-05-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] Damage Observation of CNT Networked Structure under High Current Density2015

    • 著者名/発表者名
      K. Fujisaki, K. Sasagawa, D. Narita
    • 学会等名
      ASME InterPACK/ICNMM2015
    • 発表場所
      The Fairmont San Francisco Hotel, San Francisco, USA
    • 年月日
      2015-07-06
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] 電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築2014

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      半導体理工学研究センターSTARCワークショップ2014
    • 発表場所
      新横浜国際ホテル(横浜)
    • 年月日
      2014-09-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 電子デバイス配線におけるエレクトロマイグレーション損傷の強度信頼性評価2014

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会RC265「高密度エレクトロニクス実装における信頼性評価と熱制御に関する研究分科会」
    • 発表場所
      日本機械学会会議室(東京)
    • 年月日
      2014-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26289001
  • [学会発表] 電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築2014

    • 著者名/発表者名
      笹川 和彦
    • 学会等名
      STARCワークショップ2014
    • 発表場所
      新横浜国際ホテル(横浜市)
    • 年月日
      2014-09-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] パブティックインターフェースのための電気活性高分子膜アクチュエータの作製2013

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬,笹川和彦,藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第48期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • 年月日
      2013-03-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 材料システムとしての電子機器安全性と生体機能性の評価2013

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成24年度日本材料学会東北支部総会・材料フォーラム講演会(招待講演)
    • 発表場所
      カレッジプラザ(秋田市)
    • 年月日
      2013-03-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 微細電子配線の安全性評価と生体の応力評価2013

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 東北支部「支部会・講演会」(招待講演)
    • 発表場所
      青年文化センター(仙台市)
    • 年月日
      2013-04-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 微細電子配線の安全性評価と生体の応力評価2013

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会東北支部「支部会・講演会」
    • 発表場所
      青年文化センター(仙台市)
    • 年月日
      2013-04-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 電子デバイス用カーボンナノチューブの高密度電流下における強度特性2013

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 藤崎和弘, 鵜沼 潤, 東 亮汰
    • 学会等名
      2013年度日本機械学会年次大会
    • 発表場所
      岡山大学(岡山市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] 材料システムとしての電子機器安全性と生体機能性の評価2013

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成24年度日本材料学会東北支部総会・材料フォーラム講演会
    • 発表場所
      カレッジプラザ(秋田市)
    • 年月日
      2013-03-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 高密度電流下でのカーボンナノチューブの強度に及ぼす周囲環境の影響2013

    • 著者名/発表者名
      東 亮汰,笹川和彦,藤崎和弘,鵜沼 潤
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第43回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      一関工業高等専門学校(一関市)
    • 年月日
      2013-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density in Interconnect with Reservoir Structure Using Numerical Modeling of Electromigration Damage2012

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa and T. Yanagi
    • 学会等名
      2012 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Kyoto International Conference Center (Kyoto, Japan)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 薄膜状導電性高分子材料を用いたアクチュエータ機構の開発2012

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬,横山紘太郎,笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第42回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      福島工業高等専門学校(いわき市)
    • 年月日
      2012-03-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 薄膜状導電性高分子材料を用いたアクチュエータ機構の開発2012

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬, 横山紘太郎, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第42回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      福島工業高等専門学校(いわき市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 薄くてしなやかな接触圧力およびせん断応力センサの開発2012

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬,時吉康太,笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会第23回バイオフロンティア講演会
    • 発表場所
      弘前文化センター(弘前市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] Development of Numerical Simulation of Electromigration Damage in Cu Multilevel Interconnection with Reservoir Structure2012

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa and T. Yanagi
    • 学会等名
      12th International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Microelectronics
    • 発表場所
      Co-op Inn Kyoto (Kyoto, Japan)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 薄くてしなやかな接触圧力およびせん断応力センサの開発2012

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬, 時吉康太, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会 第23回バイオフロンティア講演会
    • 発表場所
      弘前文化センター(弘前市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 皮膚上に作用する接触圧力およびせん断圧力の分布測定システム2011

    • 著者名/発表者名
      横山鉱太郎, 笹川和彦, 時吉康太, 小山拓馬, 塚原智
    • 学会等名
      第38回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      神戸
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [学会発表] 内視鏡手下への適用を目的とした高空間分解能接触圧力センサシステム2011

    • 著者名/発表者名
      横山紘太郎,石川諒,笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会平成23年度秋季講演大会
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(淡路市)
    • 年月日
      2011-10-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 皮膚上に作用する接触圧力およびせん断応力の分布計測システム2011

    • 著者名/発表者名
      横山紘太郎, 笹川和彦, 時吉康太, 小山拓馬, 塚原 智
    • 学会等名
      第38回 日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      神戸ポートピアホテル(神戸市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] Development of Simulation of Nanostructure Production due to Electromigration Considering Specimen's Damage2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • 学会等名
      4th JSME/ASME International Conference on Materials and Processing
    • 発表場所
      Corvallis, Oregon, USA
    • 年月日
      2011-06-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 皮膚上に作用する接触圧力およびせん断応力の分布計測システム2011

    • 著者名/発表者名
      横山紘太郎,笹川和彦,時吉康太,小山拓馬,塚原智
    • 学会等名
      第38回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      神戸ポートピアホテル(神戸市)
    • 年月日
      2011-11-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 皮膚上に作用する接触圧力およびせん断応力の分布計測システム2011

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      第38回臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      神戸
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [学会発表] Change in Damage Mechanism of MWCNTs under Electric Current with Oxygen Concentration2011

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa and J. Unuma
    • 学会等名
      13th International Conference on Electric Materials and Packaging
    • 発表場所
      Kyoto Garden Palace, Kyoto
    • 年月日
      2011-12-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 内視鏡手下への適用を目的とした高空間分解能接触圧力センサシステム2011

    • 著者名/発表者名
      横山紘太郎, 石川 諒, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 平成23年度秋季講演大会
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(淡路市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] プリント基板Cu配線のエレクトロマイグレーション損傷に関する物性定数の導出(日本非破壊検査協会新進賞受賞:鵜沼 潤)2011

    • 著者名/発表者名
      鵜沼 潤, 阿保雄大, 笹川和彦, 五明利雄
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会平成23年度秋季講演大会
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(淡路市)
    • 年月日
      2011-10-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] Effect of Oxygen Concentration on Damage Mechanism of Carbon Nanotubes under High Current Density2011

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, J.Unuma, T.Abo
    • 学会等名
      ASME 2011 Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Systems, MEMS and NEMS (InterPACK2011)
    • 発表場所
      Portland, Oregon, USA
    • 年月日
      2011-07-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] プリント基板Cu配線のエレクトロマイグレーション損傷に関する物性定数の導出(日本非破壊検査協会新進賞受賞:鵜沼潤)2011

    • 著者名/発表者名
      鵜沼潤, 阿保雄大, 笹川和彦, 五明利雄
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会平成23年度秋季講演大会
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(淡路市)
    • 年月日
      2011-10-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] ツリー構造配線のエレクトロマイグレーション損害における配線形状の影響(日本機械学会若手優秀講演フェロー賞受賞)2010

    • 著者名/発表者名
      阿保雄大, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第46期秋季講演会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田市)
    • 年月日
      2010-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 異よる創製条件下のエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 阿保雄大, 鵜沼潤
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 生体への適用を目的とした接触圧力およびせん断応力の同時測定センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      時吉康太, 笹川和彦
    • 学会等名
      第37回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      国立京都国際会館(京都市)
    • 年月日
      2010-11-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 高密度電流下におけるカーボンナノチューブの損傷機構に関する研究2010

    • 著者名/発表者名
      鵜沼潤, 笹川和彦, 阿保雄大
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2010材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      長岡技術科学大学(長岡市)
    • 年月日
      2010-10-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 内視鏡手術へ適用可能な高空間分解能接触圧力センサ2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 石川諒, 横山絋太郎, 大里泰彦
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2010材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      長岡技術科学大学(長岡市)
    • 年月日
      2010-10-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 接触圧力およびせん断応力の分布測定を可能にするセンサシステムの開発2010

    • 著者名/発表者名
      時吉康太, 笹川和彦, 横山鉱太郎
    • 学会等名
      日本機械学会
    • 発表場所
      長岡
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21500462
  • [学会発表] 異なる創製条件下のエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 阿保雄大, 鵜沼潤
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 内視鏡に格納可能な生体用接触圧力センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      石川諒, 横山紘太郎, 大里泰彦, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第40回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田市)
    • 年月日
      2010-03-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] ツリー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度における配線形状の影響2010

    • 著者名/発表者名
      阿保雄大, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第46期秋季講演会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田市)(日本機械学会若手優秀講演フェロー賞受賞)
    • 年月日
      2010-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Interconnect Tree with Angled Cu Lines2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo
    • 学会等名
      12th International Conference on Electronics Materials and Packaging(EMAP2010)
    • 発表場所
      Orchard Hotel, Singapore
    • 年月日
      2010-10-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 電子デバイスと生体の材料システムを評価する2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成22年度化学系学協会東北大会
    • 発表場所
      岩手大学工学部(盛岡市)(招待講演)
    • 年月日
      2010-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Interconnect Tree with Angled Cu Lines2010

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, T.Abo
    • 学会等名
      12th International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP2010)
    • 発表場所
      Orchard Hotel, Singapore
    • 年月日
      2010-10-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 電子デバイスと生体の材料システムを評価する2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成22年度化学系学協会東北大会
    • 発表場所
      岩手大学工学部(盛岡市) 招待講演
    • 年月日
      2010-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 高密度電流下におけるカーボンナノチューブ損傷に対する雰囲気環境の影響2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 阿保雄大, 鵜沼 潤
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第45期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • 年月日
      2010-03-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 生体内の接触圧力およびせん断応力の同時測定センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 横山紘太郎, 時吉康太
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第45期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • 年月日
      2010-03-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 高密度電流下におけるカーボンナノチューブ損傷に対する雰囲気環境の影響2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 阿保雄大, 鵜沼潤
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第45期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • 年月日
      2010-03-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 高密度電流下におけるカーボンナノチューブの損傷機構に関する研究2010

    • 著者名/発表者名
      鵜沼 潤, 笹川和彦, 阿保雄大
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2010材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      長岡技術科学大学(長岡市)
    • 年月日
      2010-10-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 電子デバイスと生体の材料システムを評価する2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成22年度化学系学協会東北大会(招待講演)
    • 発表場所
      岩手大学工学部(盛岡市)
    • 年月日
      2010-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 内視鏡視下手術への使用が可能な生体用接触圧力分布測定システムの開発2010

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 大里泰彦, 横山紘太郎, 石川諒
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第45期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • 年月日
      2010-03-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 内視鏡手術への応用を目的とした高空間分解能接触圧力センサシステムの開発2010

    • 著者名/発表者名
      石川諒, 笹川和彦, 横山絋太郎, 大里泰彦
    • 学会等名
      第37回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      国立京都国際会館(京都市)
    • 年月日
      2010-11-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] ツリー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度における配線形状の影響(日本機械学会若手優秀講演フェロー賞受賞:阿保雄大)2010

    • 著者名/発表者名
      阿保雄大, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第46期秋季講演会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田市)
    • 年月日
      2010-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 導電性高分子膜を用いた接触圧力分布センサの開発2010

    • 著者名/発表者名
      時吉康太, 横山紘太郎, 大里泰彦, 笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第40回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田市)
    • 年月日
      2010-03-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 接触圧力およびせん断応力の分布測定を可能にするセンサシステムの開発2010

    • 著者名/発表者名
      時吉康太, 笹川和彦, 横山紘太郎
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2010材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      長岡技術科学大学(長岡市)
    • 年月日
      2010-10-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] ツリー構造Cu配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の数値シミュレーションの開発2009

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 桐田聡彦, 阿保雄大, アブドル ハフィズ
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会LSIにおける原子輸送・応力問題第14回研究会
    • 発表場所
      東京工業大学(東京)
    • 年月日
      2009-07-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 脛骨粗面外側偏位が内側膝蓋大腿靭帯再建術後の膝蓋大腿関節接触圧に及ぼす影響2009

    • 著者名/発表者名
      津田英一, 石橋恭之, 山本祐司, 塚田晴彦, 佐々木規博, 藤哲, 笹川和彦
    • 学会等名
      第36回日本臨床バイオメカニクス学会
    • 発表場所
      ひめぎんホール(松山市)
    • 年月日
      2009-10-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21650146
  • [学会発表] 試験片の損傷を考慮したエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション2009

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 桐田聡彦, 阿保雄大, アブドルハフィズ
    • 学会等名
      日本機械学会2009年度年次大会
    • 発表場所
      岩手大学(盛岡市)
    • 年月日
      2009-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 試験片の損傷を考慮したエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション2009

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 桐田聡彦, 阿保雄大, アブドル ハフィズ
    • 学会等名
      日本機械学会2009年度年次大会
    • 発表場所
      岩手大学(盛岡市)
    • 年月日
      2009-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] ツリー構造Cu配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の数値シミュレーションの開発2009

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, 桐田聡彦, 阿保雄大, アブドルハフィズ
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会LSIにおける原子輸送・応力問題第14回研究会
    • 発表場所
      東京工業大学(東京)
    • 年月日
      2009-07-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Effect of Passivation Material on Characteristics of Electromigration Damage in Integrated Circuit Al Lines2008

    • 著者名/発表者名
      N. Sawajiri (S. Fukushi, A. Kirita and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2008 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Hachinohe/Hachinohe Institute of Technology
    • 年月日
      2008-03-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Formation of Metallic micro/nanomaterials by utilizing migration phenomena and enhancement of their functions2008

    • 著者名/発表者名
      M. Saka, H. Tohmyoh, M. Muraoka, Y. Ju, K. Sasagawa
    • 学会等名
      The 6th International Forum on Advanced Material Science and Technology
    • 発表場所
      Hong Kong, China
    • 年月日
      2008-06-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines with Two-Dimensional Shape2008

    • 著者名/発表者名
      S. Fukushi (K. Sasagawa)
    • 学会等名
      43th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 多結晶AI配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の実験的評価2008

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Formation of metallic micro/nanomaterials by utilizing migration phenomena and enhancement of their functions2008

    • 著者名/発表者名
      M. Saka, H. Tohmyoh, M. Muraoka, Y. Ju, K. Sasagawa
    • 学会等名
      IFAMST 2008
    • 発表場所
      Hong Kong, China
    • 年月日
      2008-06-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 二次元形状が異なるバンブー構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流密度2008

    • 著者名/発表者名
      福士翔大(笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 多結晶A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の実験的評価2008

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Experimental Estimation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline Al Line2008

    • 著者名/発表者名
      A. Kirita (S. Fukushi, N. Yamaji and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      43th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 半導体A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷特性に及ぼす保護膜の影響2008

    • 著者名/発表者名
      沢尻直柔(福士翔大, 桐田聡彦, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第38回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      八戸/八戸工業大学
    • 年月日
      2008-03-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] エレクトロマイグレーションを利用したナノワイヤ創製の数値シミュレーション2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(福士翔大, Yuxin Sun, 坂 真澄)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      大阪/関西大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーションの支配的拡散経路に関する研究2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(桐田聡彦, 福士翔大)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      大阪/関西大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Investigation on Dominant Path of Electromigration Diffusion in Copper Lines of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (A. Kirita and S. Fukushi)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2007 Japan
    • 発表場所
      Osaka/Kansai Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 金属ナノワイヤの創製と応用のためのいくつかの基礎技術2007

    • 著者名/発表者名
      坂 真澄(笹川和彦, 巨 陽, 村岡幹夫, 燈明泰成)
    • 学会等名
      日本学術振興会 将来加工技術第136委員会第21回研究会
    • 発表場所
      弘済会館(千代田区)
    • 年月日
      2007-08-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] Numerical Simulation for Production of Nanowire Using Electromigration2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi, Y. Sun and M. Saka)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2007 Japan
    • 発表場所
      Osaka/Kansai Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] エレクトロマイグレーションを利用したナノワイヤ創製の数値シミュレーション2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(福士翔大, Yuxin Sun, 坂 真澄)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      関西大学千里山キャンパス(吹田市)
    • 年月日
      2007-09-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーション損傷のメカニズム解明に関する基礎研究2007

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第37回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      弘前/弘前大学
    • 年月日
      2007-03-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Metal Line of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi and N. Yamaji)
    • 学会等名
      13th Symposium on Fracture and Fracture Mechanics
    • 発表場所
      Atami/KKR Hotel Atami
    • 年月日
      2007-12-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Preliminary Study on Clarification of Mechanism of Electromigration Damage in Copper Lines of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      A. Kirita (S. Fukushi and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2007 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Hirosaki/Hirosaki Univ.
    • 年月日
      2007-03-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 集積回路配線のエレクトロマイグレーション損傷に対するしきい電流密度評価2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(福士翔大, 山路 尚)
    • 学会等名
      第13回破壊力学シンポジウム
    • 発表場所
      熱海/KKRホテル熱海
    • 年月日
      2007-12-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーションの支配的拡散経路に関する研究2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(桐田聡彦, 福士翔大)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      関西大学千里山キャンパス(吹田市)
    • 年月日
      2007-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18106003
  • [学会発表] 半導体集積回路配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会 MES2006第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • 発表場所
      大阪/大阪大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Effect of Line-shape on Threshold Current Density in Polycrystalline Lines2006

    • 著者名/発表者名
      N. Yamaji (K. Sasagawa)
    • 学会等名
      41th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2006-03-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline and Bamboo Al Lines2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      12th Conf. Atomic Transportation and Stress Problem in LSI Metallization
    • 発表場所
      Kyoto/Paruru Plaza Kyoto
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 折れ曲がるバンブー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      日本機械学会2006年次大会
    • 発表場所
      熊本/熊本大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 多結晶およびバンブー構造A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      応用物理学会 薄膜・表面物理分科会第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会
    • 発表場所
      京都/ぱ・る・るプラザ京都
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] エレクトロマイグレーション損傷と数値シミュレーションによる信頼性評価法2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本材料学会第43回X線材料強度に関する討論会
    • 発表場所
      東京/東京都大田区産業プラザ
    • 年月日
      2006-12-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Integrated Circuit Lines2006

    • 著者名/発表者名
      S. Fukushi (N. Yamaji and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2006 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Iwaki/waki Meisei Univ.
    • 年月日
      2006-03-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Metal Line of Integrated Circuit2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      16th Micro Electronics Symposium
    • 発表場所
      Osaka/Osaka Univ. Convention Center
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2006 Japan
    • 発表場所
      Kumamoto/Kumamoto Univ
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 多結晶配線における配線二次元形状がしきい電流密度に及ぼす影響2006

    • 著者名/発表者名
      山路 尚(笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第41期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2006-03-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 半導体集積回路配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流に及ぼす配線形状の影響2006

    • 著者名/発表者名
      福士翔大(山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第36回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      いわき/いわき明星大学
    • 年月日
      2006-03-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Electromigration Damage in LSI Metal Lines and Evaluation Method for Its Reliability by Means of Numerical Simulation2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa
    • 学会等名
      2006 JSMS Conference The 43rd Workshop X-Ray Studies on Mechanical Behavior of Materals
    • 発表場所
      Tokyo/Plaza Industry Ota
    • 年月日
      2006-12-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] バンブー配線の二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 学会等名
      日本機械学会2005年次大会
    • 発表場所
      東京/電気通信大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] 二次元形状の多結晶配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 宇野茂雄)
    • 学会等名
      日本機械学会第18回計算力学講演会
    • 発表場所
      つくば/筑波大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Study on Effect of Two-Dimensional Line-Shape of Bamboo Lines on Threshold Current Density of Electromigration Damage2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Uno, N. Yamaji and M. Saka)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress in Japan 05
    • 発表場所
      Tokyo/the University of Electro-Communications
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] バンブー配線における配線二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第11回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会
    • 発表場所
      東京/東京工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline Line with Two-Dimensional Shape2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Uno)
    • 学会等名
      18th JSME Computational Mechanics Conference
    • 発表場所
      Tsukuba/Tsukuba Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Line with Two-Dimensional Shape2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S, Uno, N. Yamaji and M. Saka)
    • 学会等名
      11th Conf. Atomic Transportation and Stress Problem in LSI Metallization
    • 発表場所
      Tokyo/Tokyo Institute of Technology
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17360045
  • [学会発表] Numerical Study of Allowable Current Density for Electromigration Damage of Multilevel Interconnection in Integrated Circuit

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, K. Fujisaki, T. Yanagi
    • 学会等名
      13th International Conference on Fracture
    • 発表場所
      China National Convention Center, Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] 材料システムとしての電子機器安全性と生体機能性の評価

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成24年度日本材料学会東北支部総会・材料フォーラム講演会
    • 発表場所
      カレッジプラザ(秋田市)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] パブティックインターフェースのための電気活性高分子膜アクチュエータの作製

    • 著者名/発表者名
      小山拓馬、笹川和彦、藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部 第48期総会・講演会
    • 発表場所
      東北大学(仙台市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] 微細電子配線の安全性評価と生体の応力評価

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 東北支部「支部会・講演会」
    • 発表場所
      青年文化センター(仙台市)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] Experimental Study of Damage Mechanism of Carbon Nanotube as Nano-component of Electronic Devices under High Current Density

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa, K. Fujisaki, J. Unuma, R. Azuma
    • 学会等名
      ASME 2013 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems
    • 発表場所
      Hyatt Regency San Francisco Airport, San Francisco, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] CNTネットワーク構造を有する電子デバイス配線の高密度電流下での損傷

    • 著者名/発表者名
      成田大輝,笹川和彦,藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会 東北学生会 第44回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      山形大学(米沢市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] 高密度電流下でのカーボンナノチューブの強度に及ぼす周囲環境の影響

    • 著者名/発表者名
      東 亮汰,笹川和彦,藤崎和弘,鵜沼 潤
    • 学会等名
      日本機械学会 東北学生会 第43回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      一関工業高等専門学校(一関市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 材料システムとしての電子機器安全性と生体機能性の評価

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      平成24年度日本材料学会東北支部総会・材料フォーラム講演会
    • 発表場所
      カレッジプラザ(秋田市)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] CNTネットワーク構造を有する配線の高密度電流下における損傷

    • 著者名/発表者名
      藤崎和弘,成田大輝,笹川和彦
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2014カンファレンス
    • 発表場所
      福島大学(福島市)
    • 年月日
      2014-07-19 – 2014-07-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • [学会発表] 微細電子配線の安全性評価と生体の応力評価

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 東北支部「支部会・講演会」
    • 発表場所
      青年文化センター(仙台市)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21360046
  • [学会発表] 微細電子配線の安全性評価と生体の応力評価

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本非破壊検査協会 東北支部「支部会・講演会」
    • 発表場所
      青年文化センター(仙台市)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23650344
  • [学会発表] インクジェット法による金属ナノ粒子配線の高密度電流下における損傷

    • 著者名/発表者名
      相内 暁,笹川和彦,藤崎和弘
    • 学会等名
      日本機械学会 東北学生会 第44回学生員卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      山形大学(米沢市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420002
  • 1.  坂 真澄 (20158918)
    共同の研究課題数: 14件
    共同の研究成果数: 71件
  • 2.  巨 陽 (60312609)
    共同の研究課題数: 7件
    共同の研究成果数: 6件
  • 3.  村岡 幹夫 (50190872)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 6件
  • 4.  燈明 泰成 (50374955)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 7件
  • 5.  神谷 庄司 (00204628)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  伊藤 秀美 (50005104)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  藤﨑 和弘 (90435678)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 12件
  • 8.  佐々木 具文 (40323034)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 1件
  • 9.  祖山 均 (90211995)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  庄子 哲雄 (80091700)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  森川 秀広 (60302155)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  佐々木 啓一 (30178644)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 13.  塙 総司 (90431585)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  丹野 顯 (90113860)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  梅原 徳次 (70203586)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  宮田 寛 (80312479)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 17.  三浦 英生 (90361112)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 18.  高 偉 (70270816)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 19.  小川 和洋 (50312616)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 20.  牧野 英司 (70109495)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  小野 俊郎 (30374812)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  峯田 貴 (50374814)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 23.  趙 旭 (20650790)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 24.  村岡 祐介 (90835828)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 25.  徳 悠葵 (60750180)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 26.  小野 綾 (60636843)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 27.  三浦 鴻太郎 (30846829)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 28.  佐川 貢一 (30272016)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 29.  岡 和彦 (00194324)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 30.  小渡 亮介 (20792477)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 31.  竹内 正浩
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 32.  岩崎 富生
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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