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井上 雅彦  Inoue Masahiko

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 60191889
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 摂南大学, 理工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2014年度: 摂南大学, 理工学部電気電子工学科, 教授
2010年度 – 2014年度: 摂南大学, 理工学部, 教授
2011年度: 摂南大学, 理工学部・電気電子工学科, 教授
2006年度 – 2009年度: 摂南大学, 工学部, 教授
2008年度: 摂南大学, 工学部電気電子工学科, 教授 … もっと見る
2003年度 – 2005年度: 摂南大学, 工学部, 助教授
1998年度: 摂南大学, 工学部・電気工学科, 助教授
1997年度: 摂南大学, 工学部, 助教授
1993年度 – 1994年度: 大阪大学, 工学部, 助手
1990年度 – 1992年度: 名古屋大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物性 / 薄膜・表面界面物性 / 表面界面物性 / 応用物理学一般
研究代表者以外
プラズマ科学 / 固体物性 / 原子力学 / 表面界面物性
キーワード
研究代表者
AlAs / GaAs / 表面超格子 / オージェ電子分光 / depth profiling / 2次元合金 / レーザ共鳴電離法 / スパッタリング / シリコン / レ-ザ共鳴電離 … もっと見る / Time of Flight / cluster ion / C_<60> fullerene / TOF / クラスターイオン / C_<60>フラーレン / depth resolution / Auger electron Spectroscopy / low energy ion gun / 酸素イオンビーム / 低速イオンビーム / 深さ分解能 / 深さ方向分析 / 低速イオン銃 / gas-phase growth / Farvitron / diamond / 原子状水素 / ダイヤモンド薄膜 / 気相合成 / ファビトロン / ダイヤモンド / SIMS / O_2^+ / superlattice / AES / Sputtering / スパッタリング初期過程 / 線形応答理論 / 三連パルス法 / 表面総合エネルギ- / 飛行時間分析 / 表面結合エネルギ- / 金 / 銀 / イオン誘起脱離 … もっと見る
研究代表者以外
レーザープラズマ / cluster ion effect / electronic excitation mean free path / plasmon / electronic excitation / thin films / high resolution / ion energy loss spectroscopy / イオンエネルギ-損失分析 / クラスターイオン効果 / 電子励起平均自由行程 / プラズモン / 電子励起 / 薄膜 / 高分解能 / イオンエネルギー損失分析 / Hydrogen Recycling / Detrapping Rate Constant / Recombination Rate Constant / Trapping Rate Constant / Isotopic Effect / Graphite / Elastic Recoil Detection / Hydrogen Re-emission / 金属炭化物被覆黒鉛 / イオン・ビ-ム分析法 / 水素リサイクリング / 脱捕獲係数 / 再結合係数 / 捕獲係数 / 同位体効果 / 黒鉛 / 反跳粒子検出法 / 再放出 / 放射光 / 自己組織化表面構造 / 放射プラズマセル / テラヘルツ発生 / 自己組織化膜 / 粒子シミュレーション / カーボンナノチューブ / 高強度レーザープラズマ / MPI並列化 / 自己組織化高分子膜 / 高調波・低調波発生 / 単層カーボンナノチューブ / 低次元クラスター / クラスター / 回転電場型質量フィルター / 微粒子プラズマ / 回転電場型質量フィルタ / モバイル真空チャンバー / 電離・衝突効果を含む粒子コード / 格子状クラスター / レーザー / 界面構造解析 / 集束イオンビーム加工 / ダイヤモンド界面 / 断面TEM観察 / 無収差観察 / 高分解能電子顕微鏡 隠す
  • 研究課題

    (14件)
  • 研究成果

    (51件)
  • 共同研究者

    (10人)
  •  自己組織化表面構造と高強度レーザー相互作用による放射プラズマセルの生成

    • 研究代表者
      田口 俊弘
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      プラズマ科学
    • 研究機関
      摂南大学
  •  低次元クラスター格子と高強度レーザー相互作用によるコヒーレント放射の研究

    • 研究代表者
      田口 俊弘
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2011
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      プラズマ科学
    • 研究機関
      摂南大学
  •  格子状クラスタープラズマの生成とレーザーとの相互作用に関する研究

    • 研究代表者
      田口 俊弘
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      プラズマ科学
    • 研究機関
      摂南大学
  •  生体試料の高分解能深さ方向分析を目指した小型低速C_<60>クラスターイオン銃の開発研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      摂南大学
  •  超高分解能深さ方向分析のための小型低速反応性ガスイオン銃の開発研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2004
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      摂南大学
  •  ダイヤモンド気相成長における光励起炭素-水素反応過程の研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      摂南大学
  •  ^<18>O_2^+イオン銃の試作研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      大阪大学
  •  無収差電子顕微鏡と試作FIB装置を用いた系統的界面構造解析法の確立

    • 研究代表者
      高井 義造
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  レーザ共鳴電離法によるスパッタリング表面初期過程の研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  レーザ共鳴電離法による金属/Si(111)表面超格子の原子構造解析研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1992
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  レ-ザ共鳴電離法によるSi(III)表面超格子の表面総合エネルギ-の測定研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  イオンビ-ム分析法を用いた炉壁材料からの水素同位体の再放出挙動の研究

    • 研究代表者
      森田 健治
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      原子力学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  イオンエネルギー損失分析法による集団電子素励起の研究

    • 研究代表者
      松波 紀明
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1992
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      固体物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  レ-ザ共鳴電離法によるイオン誘起原子脱離過程の研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 雅彦
    • 研究期間 (年度)
      1990
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      名古屋大学

すべて 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2005 2003 その他

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] 電池駆動モバイル走査電子顕微鏡の開発2014

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦,菅波昌広
    • 雑誌名

      ケミカルエンジニヤリング

      巻: 59 ページ: 186-190

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] 全二次電子収率のモンテカルロシミュレーション2013

    • 著者名/発表者名
      山口義和,後藤敬典,井上雅彦,志水隆一
    • 雑誌名

      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第152回研究会資料

      巻: 152 ページ: 13-14

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] 二次電子収量係数 ( k,α )導出用ソフト2013

    • 著者名/発表者名
      山口義和,井上雅彦
    • 雑誌名

      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第153回研究会資料

      巻: 153 ページ: 35-39

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] 走査電子顕微鏡を用いた水生微生物観察のための簡易試料前処理法2012

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦,菅波昌広
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 19 ページ: 81-84

    • NAID

      130007676619

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] 教育用モバイル走査型電子顕微鏡を用いた水生微生物の観察 ―エタノール置換と希釈イオン液体塗布による簡易試料前処理法2012

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦,山下泰史,菅波昌広
    • 雑誌名

      日本工学教育協会平成24年度工学教育研究講演会講演論文集

      巻: なし ページ: 566-567

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] 二次電子の利得を通常のSEMなどで正確に計測する試みと低速一次電子照射による二次電子のエネルギー分布2012

    • 著者名/発表者名
      後藤敬典,井上雅彦,山内幸彦,田沼繁雄
    • 雑誌名

      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会研究会資料(第149回)

      巻: 149 ページ: 28-33

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] Autocorrelation Measurement of Fast Electron Pulses Emitted through the Interaction of Fpmtosecond Laser Pulseg with a Solid Target2012

    • 著者名/発表者名
      Shunsuke Inoue, et al.
    • 雑誌名

      Physical Review Letters

      巻: 109 号: 18 ページ: 185001-185001

    • DOI

      10.1103/physrevlett.109.185001

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12J04480, KAKENHI-PROJECT-22540511, KAKENHI-PROJECT-24540537, KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [雑誌論文] Application of Ionic Liquid Coating Method to Observation of Non-conductive Samples by a Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education2011

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue, M. Suganami, Y. Hashimoto, T. Iyasu, H. Saito, K. Moriguchi, T. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis, AM

      巻: 18 ページ: 105-109

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [雑誌論文] Application of Ionic Liquid Coating Method to Observation of Non-conductive Samples by a Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education2011

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, M.Suganami, Y.Hashimoto, T.Iyasu, H.Saito, K.Moriguchi, T.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 105-109

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [雑誌論文] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2011

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue, T. Miyagawa, T. Iyasu, Y. Hashimo to, K. goto, R. Shimizu
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 110-113

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [雑誌論文] Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si (111) Induced by Low-Energy Xe+ Ion Sputte2009

    • 著者名/発表者名
      T. Miyagawa, K. Inoue, M. Inoue
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis 15

      ページ: 325-328

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [雑誌論文] Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si(111) Induced by Xe+ Ion Sputtering2009

    • 著者名/発表者名
      T. Miyagawa, K. Inoue, M. Inoue
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis vol.13

      ページ: 325-328

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [雑誌論文] High-resolution Auger Depth Profiling by sub-keV Ion Sputtering2005

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, H.I.Lee, H.J.Kang
    • 雑誌名

      Surf.&Interf.Anal. 37

      ページ: 167-170

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] High-resolution Auger Depth Profiling by Sub-KeV Ion Sputtering2005

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, H.I.Lee, H.J.Kang
    • 雑誌名

      Surf.& Interf.Anal. Vol.37

      ページ: 167-170

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] High-Resolution Anger Depth Profiling by sub-keV Ion Sputlering2005

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, H.I.Lee, H.J.Kong
    • 雑誌名

      Surf.& Interf.Anal. 37

      ページ: 167-170

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] Application of a Low Energy Ion Gun for High Resolution Depth Profiling2003

    • 著者名/発表者名
      R.Shimizu, M.Inoue
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. 10

      ページ: 154-157

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] Application of a Low Energy Ion Gun for High Resolution Depth Profiling2003

    • 著者名/発表者名
      R.Shimizu, M.Inoue
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. Vol.10

      ページ: 154-157

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] Focusing and Positioning of Ion Beam for Sputter Depth Profiling using a Coaxicial Sample Stage and a Dual Nano-ammeter2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, K.Kurahashi, K.Kodama
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. 10

      ページ: 197-202

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] A Novel Ultra high Vacuum Floating-type Low Energy Ion Gun for High Resolution Depth Profiling2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Mizuhara, J.Kato, T.Nagatomi, Y.Takai, T.Aoyama, A.Yoshimoto, M.Inoue, R.Shimizu
    • 雑誌名

      Surf.& Interf.Anal. Vol.35

      ページ: 382-386

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] High Resolution Sputler Depth Profiling using Low Energy Ion Gun2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, K.Uta, T.Sato
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal 10

      ページ: 31-41

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] Focusing and Positioning of Ion Beam for Sputler-Depth Profiling using a Coaxcial Sample Stage and a Dual Nano-ammeter2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, K.Kurahashi, K.Kodama
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. 10

      ページ: 197-202

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] A Novel Ultrahigh Vacuam Floating-type Low-Energy Ion Gun for High Resolution Depth Profiling2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Mizuhara, J.Kato, T.Nagatomi, Y.Takai, T.Aoyama, A.Yoshimoto, M.Inoue, R.Shimizu
    • 雑誌名

      Surf.&Interf.Anal. 35

      ページ: 382-386

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] High Resolution Sputter Depth Profiling using Low Energy Ion Gun2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, K.Uta, T.Sato
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. Vol.10

      ページ: 31-41

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] A Novel Ultrahigh Vacuum Floating-type Low Energy Ion Gum for High Resolution Depth Profiling2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Mizuhara, J.Kato, T.Nagatomi, Y.Takai, T.Aoyama, A.Yoshimoto, M.Inoue, R.Shimizu
    • 雑誌名

      Surf.& Interf.Anal. 35

      ページ: 382-386

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] High Resolution Sputter Depth Profiling using Low Energy Ion Gum2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, R.Shimizu, K.Uta, T.Sato
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. 10

      ページ: 31-41

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [雑誌論文] Focusing and Positioning of Ion Beam for Sputter Depth Profiling using a Coaxicial Sample Stage and a Dual Nano-ammter2003

    • 著者名/発表者名
      M.Inoue, K.Kurahashi, K.Kodama
    • 雑誌名

      J.Surf.Anal. Vol.10

      ページ: 197-202

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15560023
  • [学会発表] Generation of lower harmonic radiation by a strong laser plasma interaction with asymmetrically bundled carbon nanotubes2014

    • 著者名/発表者名
      田口俊弘,T. M. Antonsen,井上雅彦
    • 学会等名
      American Physical Society
    • 発表場所
      New Orleans
    • 年月日
      2014-10-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [学会発表] 二次電子分光法による全固体Liイオン二次電池の表面電気計測2014

    • 著者名/発表者名
      朴商云、井上雅彦
    • 学会等名
      実用表面分析講演会
    • 発表場所
      御殿場高原 時之栖
    • 年月日
      2014-10-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [学会発表] モンテカルロシミュレーションを用いた二次電子収率によるRuO2/Ruの酸化膜厚推定の試み2014

    • 著者名/発表者名
      植垣悠馬、井上雅彦
    • 学会等名
      実用表面分析講演会
    • 発表場所
      御殿場高原 時之栖
    • 年月日
      2014-10-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [学会発表] 走査型オージェ電子顕微鏡を用いた二次電子利得の絶対計測: Au, Ag, Cu2012

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦
    • 学会等名
      表面分析研究会第38回研究会
    • 発表場所
      名城大学名駅サテライト
    • 年月日
      2012-02-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] 走査型オージェ電子顕微鏡を用いた二次電子利得の絶対計測:Au, Ag, Cu2012

    • 著者名/発表者名
      後藤敬典, 井上雅彦, 山中幸彦, 田沼繁夫
    • 学会等名
      表面分析研究会第38回研究会
    • 発表場所
      名城大学名駅サテライト
    • 年月日
      2012-02-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Low frequency electromagnetic emission from an interaction between carbon nanotubes and two frequency lasers2011

    • 著者名/発表者名
      Toshihiro Taguchi, Masahiko Inoue, T.M.Antonsen Jr., H.M.Milchberg
    • 学会等名
      American Physical Society
    • 発表場所
      Salt Lake City, USA
    • 年月日
      2011-11-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Application of Ionic Liquid Coating Method to Observation of Nonconductive Samples by Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education2010

    • 著者名/発表者名
      M. inoue
    • 学会等名
      International Symposium on Practical Surface Analysis
    • 発表場所
      韓国慶州
    • 年月日
      2010-10-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Harmonic generation induced by an interaction between carbon nanotubes and intense laser field2010

    • 著者名/発表者名
      T.Taguchi, M.Inoue, T.M.Antonsen, H.M.Milchberg
    • 学会等名
      American Physical Society
    • 発表場所
      シカゴ
    • 年月日
      2010-11-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Application of Ionic Liquid Coating Method to Observation of Non-conductive Samples by Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education2010

    • 著者名/発表者名
      M.inoue, M.Suganami, Y.Hashimoto, T.Iyasu, H.Saito, K.Moriguchi, T.Tanaka
    • 学会等名
      International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-10
    • 発表場所
      韓国慶州
    • 年月日
      2010-10-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue
    • 学会等名
      International Symposium on Practical Surface Analysis
    • 発表場所
      韓国慶州
    • 年月日
      2010-10-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010

    • 著者名/発表者名
      T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
    • 学会等名
      International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-10
    • 発表場所
      韓国慶州
    • 年月日
      2010-10-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si(111) Induced by Xe+ Ion Sputtering2009

    • 著者名/発表者名
      T. Miyagawa, K. Inoue, M. Inoue
    • 学会等名
      International Workshop for Surface Analysis and Standardization, iSAS-09
    • 発表場所
      Okinawa
    • 年月日
      2009-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] 絶縁体の二次電子収率測定[1]パルス一次電子ビームの発生2009

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦
    • 学会等名
      2009年度実用表面分析講演会
    • 発表場所
      山梨大学
    • 年月日
      2009-11-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si (111) Induced by Low-Energy Xe+ Ion Sputteri2009

    • 著者名/発表者名
      T. Miyagawa, K. Inoue, M. Inoue
    • 学会等名
      The International Workshop for Surface Analysis and Standardization, iSAS-09
    • 発表場所
      沖縄コンベンションセンター
    • 年月日
      2009-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] 絶縁体の二次電子収率測定[1]パルスー次電子ビームの発生2009

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦
    • 学会等名
      2009年度実用表面分析講演会
    • 発表場所
      山梨大学
    • 年月日
      2009-11-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] Development of a Mobile Secondary Electron Microscope for Elementary Science Education2009

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue
    • 学会等名
      7th International Symposium on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices
    • 発表場所
      米国ハワイ州マウイ島
    • 年月日
      2009-12-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21540515
  • [学会発表] C60クラスターイオンビームの発生とその特性2008

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第36回薄膜・表面物理セミナー
    • 発表場所
      東京大学
    • 年月日
      2008-07-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] クラスターイオン銃の試作-回転電場型質量フィルタの特性評価-2008

    • 著者名/発表者名
      有馬智幸, 入江優, 井上雅彦
    • 学会等名
      2008年実用表面分析講演会PSA-2008
    • 発表場所
      東北大学
    • 年月日
      2008-10-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] クラスターイオン銃の試作-回転電場型質量フィルタの特性評価-2008

    • 著者名/発表者名
      有馬智幸, 入江優, 井上雅彦
    • 学会等名
      2008年実用表面分析講演会PSA-08
    • 発表場所
      東北大学
    • 年月日
      2008-10-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] C60クラスタービームの発生とその特性2008

    • 著者名/発表者名
      井上雅彦
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第36回薄膜・表面物理セミナー
    • 発表場所
      東京大学小柴ホール
    • 年月日
      2008-07-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] Development of C60 cluster ion gun with rotationg field mass filter2007

    • 著者名/発表者名
      入江 優, 有馬 智幸, 井上 雅彦
    • 学会等名
      4th International Symposium on Practical Surface Analysis
    • 発表場所
      金沢市石川県立音楽堂
    • 年月日
      2007-11-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] Oxygen Effects on the Secondary Electron Emission from Si Surface Induced by Low Energy He+ and Xe+ Ions2007

    • 著者名/発表者名
      K. Inoue, S. Temma, M. Inoue
    • 学会等名
      4^<th> International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-07
    • 発表場所
      Kanazawa
    • 年月日
      2007-11-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] Development of C60 cluster ion gun with rotating field mass filter2007

    • 著者名/発表者名
      S. Irie, T. Arima, M. Inoue
    • 学会等名
      4^<th> International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-07
    • 発表場所
      Kanazawa
    • 年月日
      2007-11-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19540525
  • [学会発表] Simulation study of radiation enhancement through an interaction between periodically aligned carbon nanotubes and an intense laser

    • 著者名/発表者名
      Toshihiro Taguchi, Masahiko Inoue, Thomas Antonsen
    • 学会等名
      American Physical Society
    • 発表場所
      Rhode Island, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • [学会発表] F.Cupと試料電流による二次電子利得の推測と二次電子の特性:エネルギー分布,オージェ遷移,損失

    • 著者名/発表者名
      後藤敬典,井上雅彦,山内幸彦,田沼繁雄
    • 学会等名
      表面分析研究会
    • 発表場所
      古河電気工業(株)横浜研究所講堂
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540543
  • 1.  森田 健治 (10023144)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  田口 俊弘 (90171595)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 4件
  • 3.  木村 良秀 (70221215)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  阪部 周二 (50153903)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  志水 隆一 (40029046)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 11件
  • 6.  松波 紀明 (70109304)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  佐藤 直幸 (80225979)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  高井 義造 (30236179)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  坂和 洋一 (70242881)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  野口 恒行
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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