難波一輝 Namba Kazuteru

研究者番号	60359594
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所属 (現在)	2025年度: 千葉大学, 大学院情報学研究院, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2022年度 – 2023年度: 千葉大学, 大学院情報学研究院, 准教授 2019年度 – 2022年度: 千葉大学, 大学院工学研究院, 准教授 2017年度: 千葉大学, 大学院工学研究院, 准教授 2016年度: 千葉大学, 大学院融合科学研究科, 准教授 2015年度: 千葉大学, 融合科学研究科(研究院), 准教授 2007年度 – 2010年度: 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 助教 2003年度: 千葉大学, 工学部, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク研究代表者以外小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連 / 中区分63:環境解析評価およびその関連分野 / 電子デバイス・機器工学 / 電子デバイス・電子機器
キーワード	研究代表者メモリシステム / 計算機システム / 相変化メモリ / 高信頼化 / 低電力化 / ニューラルネット / 誤差許容計算 / 回路とシステム / 書き込み時間削減 / 符号 … もっと見る / PCM / ディペンダブル・コンピューティング / システムオンチップ / ディペンダブルコンピューティング … もっと見る研究代表者以外 FPGA / 超格子 / 超高速 / 高速 / 相変化 / 人工シナプス / 高速化 / 人工知能 / 相変化材料 / シナプス素子 / 画像 / 高解像度 / リモートセンシング / 多ビーム / マイクロストリップアンテナ / アレーアンテナ / SAR画像信号処理 / マルチビーム / マイクロ波リモートセンシング / 合成開口レーダ / Error Recovery / Reconfiguration / Fault Detection / Defect Tolerance / Defect / Programmable Chip / カバリッジ / SOC / マルチコンテキスト / 誤り回復 / 再構成 / 故障検出 / 欠陥救済 / 欠陥 / プログラマブルチップ / スキャンFF / 2線式論理 / シグナルインテグリティ / テスト容易化 / 遅延故障 / テスト容易化設計 / スキャン設計 / ラッチ / VLSI / ソフトエラー / CAD / 回路設計隠す

ヒトの脳機能を遥かに超えるpsオーダーで動作可能な超格子相変化人工シナプスの研究
- 研究代表者
  
  インユウ
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
- 研究機関
  群馬大学
誤差許容計算における PCM 書き込み時間削減研究代表者
- 研究代表者
  
  難波一輝
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  千葉大学
多ビーム合成開口レーダによる環境リモートセンシング画像の高解像度化
- 研究代表者
  
  ヨサファット・テトォコ S・S
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2021
- 研究種目
  
  挑戦的研究(萌芽)
- 審査区分
  
  中区分63:環境解析評価およびその関連分野
- 研究機関
  千葉大学
PRAMの書き込み時間削減に適した符号研究代表者
- 研究代表者
  
  難波一輝
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  千葉大学
遅延故障テスト容易化スキャン設計に対するテストデータ量削減法の考案研究代表者
- 研究代表者
  
  難波一輝
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2010
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  千葉大学
ソフトエラー対策VLSI回路の考案
- 研究代表者
  
  伊藤秀男
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  千葉大学
フォールトトレラントプログラマブルチップの設計
- 研究代表者
  
  伊藤秀男
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  千葉大学

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すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Low Power Neural Network by Reducing SRAM Operating Voltage2022
- 著者名/発表者名
  Kozu Keisuke、Tanabe Yuya、Kitakami Masato、Namba Kazuteru
- 雑誌名
  
  IEEE Access
  
  巻: 10 ページ: 116982-116986
- DOI
  10.1109/access.2022.3219208
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[雑誌論文] On coding for endurance enhancement and error control of phase change memories (PCMs) with write latency reduction2018
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba and Fabrizio Lombardi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst.
  
  巻: 26 号: 2 ページ: 230-238
- DOI
  10.1109/tvlsi.2017.2766362
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00069
[雑誌論文] A Coding Scheme for Write Time Improvement of Phase Change Memory (PCM) Systems2016
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba and Fabrizio Lombardi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. Multi-Scale Comput. Syst.
  
  巻: Vol.2, No.4 号: 4 ページ: 291-296
- DOI
  10.1109/tmscs.2016.2605098
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00069
[雑誌論文] A Calibration Technique for DVMC with Delay Time Controllable Inverter2016
- 著者名/発表者名
  Ri Cui and Kazuteru Namba
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 9 号: 0 ページ: 30-36
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.9.30
- NAID
  130005126053
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00069
[雑誌論文] Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time2010
- 著者名/発表者名
  K.Namba, H.Ito
- 雑誌名
  
  J.Electronic Test. : Theory & Appl. Vol.26, No.
  
  ページ: 6667-677
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[雑誌論文] Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time2010
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 雑誌名
  
  Journal of Electronic Testing : Theory and Applications
  
  巻: 26 ページ: 667-677
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Path2009
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 433-442
- NAID
  10026807952
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009
- 著者名/発表者名
  Shuagyu Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 1534-1541
- NAID
  10026810480
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009
- 著者名/発表者名
  Shuagyu Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf.&Syst. Vol.E92-D, No.8
  
  ページ: 1534-1541
- NAID
  10026810480
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of 2-Rail Logic Circuits2009
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 336-341
- NAID
  10026807731
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Circuit and Latch Capable of Masking Soft Errors with Schmitt Trigger2008
- 著者名/発表者名
  Yoichi Sasaki, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  J.Electronic Test.:Theory & Appl. Vol.24, No.1-3
  
  ページ: 11-19
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Scan FF Reordering for Test Volume Reduction in Chiba-Scan Architecture
- 著者名/発表者名
  K.Matsumoto, K.Namba, H.Ito
- 雑誌名
  
  IPSJ Trans.Syst.LSI Des.Method 掲載予定
- NAID
  110009598054
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[産業財産権] 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチ2007
- 発明者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-111043
- 出願年月日
  2007-04-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路2007
- 発明者名
  加藤健太郎, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-233388
- 出願年月日
  2007-09-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路及び半導体集積回路の検査方法2007
- 発明者名
  加藤健太郎, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-233346
- 出願年月日
  2007-09-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路2007
- 発明者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-111043
- 出願年月日
  2007-04-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Stuck-at Fault Tolerance in DNN Using Outliers and Sampling2023
- 著者名/発表者名
  Tomohiro Ishii, Donghyun Kwon and Kazuteru Namba
- 学会等名
  Japan-Korea Joint Workshop on Complex Communication Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] 外れ値を用いたDNNの縮退故障に対するエラー耐性の向上2023
- 著者名/発表者名
  石井智大, 難波一輝
- 学会等名
  IEICE FIIS
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] 外れ値と標本化を用いたDNNの縮退故障に対するエラー耐性の向上2022
- 著者名/発表者名
  石井智大, 難波一輝
- 学会等名
  IEICE DC
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] Stuck-at fault tolerance in DNN using statistical data2022
- 著者名/発表者名
  Tomohiro Ishii and Kazuteru Namba
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] Low power quantized neural network by reducing the operating voltage of SRAM2022
- 著者名/発表者名
  Ji Wu, Kazuteru Namba
- 学会等名
  IEICE DC
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] 動作電圧引き下げによる低消費電力ニューラルネットワークのための6T-8TハイブリッドSRAM2022
- 著者名/発表者名
  余若曦, 難波一輝
- 学会等名
  IEICE DC
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] マルチレベルセル相変化メモリを用いた連想メモリ2021
- 著者名/発表者名
  高橋知宏, 難波一輝
- 学会等名
  信学技報, DC
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] Relaxing device requirements for non-linearity in Deep Neural Networks accelerators with Phase Change Memory2021
- 著者名/発表者名
  Keisuke Kozu and Kazuteru Namba
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. Consum. Electron. Taiwan
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] SRAMの動作電圧引き下げによるニューラルネットワークの低電力化2021
- 著者名/発表者名
  高津啓佑, 難波一輝
- 学会等名
  信学技報, DC
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] 相変化メモリを用いた赤黒木構造の書き込み時間削減2020
- 著者名/発表者名
  楊昊天, 難波一輝
- 学会等名
  信学技報, FIIS
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11728
[学会発表] Cycle-Set Code：MLC PCMの書き込み遅延時間削減のための符号2017
- 著者名/発表者名
  陳星宇, 難波一輝
- 学会等名
  FTC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00069
[学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  京都
- 年月日
  2010-03-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Test Vector Reduction by Reordering Flip-flops for Scan Architecture with Delay Fault Testability2010
- 著者名/発表者名
  松本清紀, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Shanghai SHERATON Hotel(中華人民共和国)
- 年月日
  2010-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[学会発表] 千葉大スキャンの接続順序変更によるテストパターン削減手法2010
- 著者名/発表者名
  松本清紀, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  FTC研究会
- 発表場所
  サンロード吉備路,岡山県
- 年月日
  2010-01-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[学会発表] ソフトエラー訂正機能を有するBILBOフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] BILBO FF with soft error correcting capability2010
- 著者名/発表者名
  Kazuteru NAMBA, Hideo ITO
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  京都
- 年月日
  2010-03-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 千葉大スキャンの接続順序変更によるテストパターン削減手法2010
- 著者名/発表者名
  松本清紀, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  第62回FTC研究会
- 発表場所
  サンロード吉備路(岡山県)
- 年月日
  2010-01-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[学会発表] Test Vector Reduction by Reordering Flip-flops for Scan Architecture with Delay Fault Testability, Proc.2010
- 著者名/発表者名
  K.Matsumoto, K.Namba, H.Ito
- 学会等名
  11th IEEE Workshop RTL & High Level Test.pp.111-116
- 発表場所
  Shanghai SHERATON Hotel,中華人民共和国
- 年月日
  2010-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21700053
[学会発表] ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計2009
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Testing of Switch Bloacks in Three-Dimensional FPGA2009
- 著者名/発表者名
  Takumi Hoshi, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  2009 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2009)
- 発表場所
  Chicago
- 年月日
  2009-10-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計2009
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 遅延故障テスト容易化SHEラッチにおけるエンハンスドスキャンテスト2008
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  奈良市
- 年月日
  2008-10-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造2008
- 著者名/発表者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  2008年電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  北九州市
- 年月日
  2008-03-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ソフトエラーラッチの調査と分類2008
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  筑波市
- 年月日
  2008-06-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Delay Fault Testability on Two-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
- 発表場所
  Boston
- 年月日
  2008-10-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse2008
- 著者名/発表者名
  Shuangyou Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
- 発表場所
  Boston
- 年月日
  2008-10-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF2008
- 著者名/発表者名
  阮双玉, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響2008
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Path Delay Fault Test Set for Two-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  2008 14^<th> IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC2008)
- 発表場所
  Taipei
- 年月日
  2008-12-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響2008
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Design for Delay Fault Testing of 2-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  Indonesia-Japan Joint Scientific Symposium 2008
- 発表場所
  Chiba
- 年月日
  2008-09-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 2線式論理回路に対するパス遅延故障テスト集合2008
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  千葉市
- 年月日
  2008-03-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性2008
- 著者名/発表者名
  三浦健宏, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-02-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Scan Based Delay Fault Testing2007
- 著者名/発表者名
  Takashi Ikeda, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  22^<nd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2007)
- 発表場所
  Rome
- 年月日
  2007-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 遅延故障テスト容易化ソフトエラーラッチの設計2007
- 著者名/発表者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2007-04-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 2線式論理回路における遅延故障テスト2007
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム
- 発表場所
  神戸
- 年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Sean Based Delay Fault Testing2007
- 著者名/発表者名
  Takashi Ikeda, Kazuteru Namba, and Hideo Ito
- 学会等名
  22th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems(DFT2007)
- 発表場所
  Rome
- 年月日
  2007-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335

1. 伊藤秀男 (90042647)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 28件
2. インユウ (10520124)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
3. 北神正人 (20282832)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. ヨサファット・テトォコ S・S (40396693)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 加藤健太郎 (10569859)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

難波 一輝 Namba Kazuteru

研究課題

研究成果

共同研究者

ヒトの脳機能を遥かに超えるpsオーダーで動作可能な超格子相変化人工シナプスの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

誤差許容計算における PCM 書き込み時間削減研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

多ビーム合成開口レーダによる環境リモートセンシング画像の高解像度化

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

PRAMの書き込み時間削減に適した符号研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

遅延故障テスト容易化スキャン設計に対するテストデータ量削減法の考案研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ソフトエラー対策VLSI回路の考案

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

フォールトトレラントプログラマブルチップの設計

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Low Power Neural Network by Reducing SRAM Operating Voltage2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] On coding for endurance enhancement and error control of phase change memories (PCMs) with write latency reduction2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Coding Scheme for Write Time Improvement of Phase Change Memory (PCM) Systems2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Calibration Technique for DVMC with Delay Time Controllable Inverter2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time2010

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time2010

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Path2009

著者名/発表者名

雑誌名

難波一輝 Namba Kazuteru