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三宅 庸資  MIYAKE Yousuke

研究者番号 60793403
その他のID
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-6742-5105
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2017年度 – 2021年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 研究職員
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム
研究代表者以外
人工物システムの強化
キーワード
研究代表者
情報工学 / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / VLSI設計技術 / フィールドテスト / LSIテスト / リングオシレータ / デジタルセンサ / 電圧センサ / 温度センサ … もっと見る / 信頼性試験 / NBTI劣化 / 劣化 / システムオンチップ / FPGA … もっと見る
研究代表者以外
VLSI / 組み込み自己テスト / 予防安全 / 組込み自己テスト / データマイニング / VLSIテスト / フィールド高信頼化 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (33件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      三宅 庸資
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2021
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      人工物システムの強化
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発研究代表者

    • 研究代表者
      三宅 庸資
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2018
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      九州工業大学

すべて 2022 2021 2020 2019 2018 2017

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Innovative Test Practices in Asia2020

    • 著者名/発表者名
      Takeshi Iwasaki, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura, Smith Lai, Gavin Hung, Harry H. Chen, Haruo Kobayashi, Kazumi Hatayama
    • 雑誌名

      Proc. IEEE VLSI Test Symposium

      巻: - ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/vts48691.2020.9107640

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter2020

    • 著者名/発表者名
      Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      巻: Volume: 28, Issue: 4 号: 4 ページ: 904-913

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2019.2962606

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor2020

    • 著者名/発表者名
      Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats49688.2020.9301588

    • NAID

      120007006769

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 112-117

    • DOI

      10.1109/itc-asia51099.2020.00031

    • NAID

      120007006757

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA,
    • 雑誌名

      IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, On-line symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/iolts50870.2020.9159717

    • NAID

      120007006773

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor2019

    • 著者名/発表者名
      Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 13-18

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00016

    • NAID

      120006777000

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC)

      巻: - ページ: 130-137

    • DOI

      10.1109/prdc47002.2019.00043

    • NAID

      120007006775

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 57-162

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00040

    • NAID

      120006777001

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      巻: - ページ: 130-137

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00026

    • NAID

      120007006775

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [雑誌論文] On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor2017

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia 2017

      巻: - ページ: 125-130

    • NAID

      120006776995

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について2022

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法2022

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] 回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について2021

    • 著者名/発表者名
      権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会2021年総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討2020

    • 著者名/発表者名
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について2020

    • 著者名/発表者名
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告,DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • 著者名/発表者名
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について2020

    • 著者名/発表者名
      加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用2020

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会2020年総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] Innovative Test Practices in Asia2020

    • 著者名/発表者名
      T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • 著者名/発表者名
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討2019

    • 著者名/発表者名
      古川大悟, 三宅庸資, 梶原誠司, Poki Chen
    • 学会等名
      第80回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告,DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [学会発表] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] デジタル温度電圧センサの精度向上のための推定式の拡充について2018

    • 著者名/発表者名
      波多江雅貴, 三宅庸資, 加藤隆明, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会2018年総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs2018

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Automotive Reliability & Test
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法2018

    • 著者名/発表者名
      井上賢二, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討2017

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [学会発表] FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討2017

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • 1.  梶原 誠司 (80252592)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 25件
  • 2.  大竹 哲史 (20314528)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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