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藤居 義和  Fujii Yoshikazu

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80238534
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2018年度 – 2020年度: 神戸大学, 工学研究科, 准教授
1995年度 – 2002年度: 神戸大学, 工学部, 助教授
1991年度 – 1993年度: 京都大学, 工学部, 助手
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物性・結晶工学 / 小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
研究代表者以外
機械工作・生産工学 / 応用物性
キーワード
研究代表者
表面ステップ / ultrahigh vacuum / 結晶成長 / 超高真空 / in-situ observation / X-ray CCD camera / X-ray scattering at small glancing angle / surface roughness / crystal growth / 微小角入射X線散乱 … もっと見る / 実時間測定 / 表面粗さ / 微小入射X線散乱 / PbSe (111) crystal surface / surface step / 表面荒さ / 結晶 / X線 / 表面 / 表面界面 / X線反射率法 / 表面・界面 / X線反射率法 / 薄膜解析 / ナノ材料 / X線反射率解析 / 界面分析 / 表面分析 / photon count / 表面元素マッピング / 表面散乱型X線顕微鏡 / X-ray energy two-dimensional detection system / X線二次元分布測定 / X線エネルギー測定 / pure iron surface under high temperature / crystal growth incidence / PbSe(111)表面 / 高温での純鉄表面 / その場観察 / X線CCDカメラ / X-ray scattering at small glancing angle incidence / crystal / X-ray / surface / 鏡面反射散乱 / 単結晶清浄表面 / 表面航跡 / 表面阻止能 / 表面ウェイク誘起電場 / 水切り運動 / 微小角斜入射イオン散乱 … もっと見る
研究代表者以外
斜入射イオン散乱 / 表面阻止能 / 表面欠陥 / 表面歪 / 表面ステップ / 3 dimensional structure / Shape accuracy / Surface roughness / Chip formation / Micro machining / Diamond tool / Ultraprecision cutting / Elliptical vibration cutting / 3次元複雑形状 / 形状精度 / 仕上げ面粗さ / 切りくず生成 / マイクロ加工 / ダイヤモンド工具 / 超精密切削 / 楕円振動切削加工法 / surface distortion / surface defects / surface stopping power / charge exchange at surface / glancing angle scattering of fast ions / surface blocking / 電子移行反応 / 表面ブロッキング / エピタキシャル成長表面のその場観察 / GaAs / Layer-by-layer成長 / 鏡面反射イオン分光法 / 2次元核成長 / 反射イオン強度振動 / 成長表面のその場観察 / 異面不整合転位 / エピタキシャル成長薄膜 / 鉛カルコゲナイド / 不整合転位 / テルル化錫 / イオン散乱 / エピタクシ-成長 隠す
  • 研究課題

    (11件)
  • 研究成果

    (3件)
  • 共同研究者

    (8人)
  •  高精度界面構造解析のためのX線反射率法の改良の研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
    • 研究機関
      神戸大学
  •  微小角入射X線散乱同時測定による結晶成長表面の動的解析研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      神戸大学
  •  超音波楕円振動切削による3次元マイクロ形状の超精密加工

    • 研究代表者
      森脇 俊道
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械工作・生産工学
    • 研究機関
      神戸大学
  •  微小角入射X線散乱による結晶成長表面の実時間解析研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      神戸大学
  •  微小角入射X線散乱による結晶成長過程のその場観察研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      神戸大学
  •  微小角入射X線散乱による結晶成長表面の研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      神戸大学
  •  成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

    • 研究代表者
      万波 通彦
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      京都大学
  •  微小角斜射イオンの異常散乱の研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤居 義和
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      京都大学
  •  成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

    • 研究代表者
      万波 通彦
    • 研究期間 (年度)
      1992
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      京都大学
  •  成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

    • 研究代表者
      万波 通彦
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      京都大学
  •  イオン表面ブロッキング散乱による結晶表面の研究

    • 研究代表者
      万波 通彦
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1992
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      京都大学

すべて 2021 2019

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis2021

    • 著者名/発表者名
      Yoshikazu FUJII
    • 雑誌名

      Adv. X-Ray. Chem. Anal., Japan

      巻: 52 ページ: 81-111

    • NAID

      40022534609

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04938
  • [雑誌論文] Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity2019

    • 著者名/発表者名
      Yoshikazu Fujii
    • 雑誌名

      ALC'19 Proceedings

      巻: 1 ページ: 1-3

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04938
  • [学会発表] Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity2019

    • 著者名/発表者名
      Yoshikazu Fujii
    • 学会等名
      ALC '19 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'19
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04938
  • 1.  万波 通彦 (60025294)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  木村 健二 (50127073)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  鈴木 康文 (00196784)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  吉田 虔太郎 (60031085)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  森脇 俊道 (00031104)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  柴坂 敏郎 (80094530)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  社本 英二 (20216146)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  樋野 励 (80273762)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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