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于 強  YU Qiang

ORCIDORCID連携する *注記
… 別表記

干 強  ウ キョウ

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研究者番号 80242379
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2012年度: 横浜国立大学, 大学院・工学研究院, 教授
2011年度 – 2012年度: 横浜国立大学, 工学研究院, 教授
2010年度: 横浜国立大学, 工学研究院, 准教授
2007年度: 横浜国立大学, 大学院・工学研究院, 准教授
2006年度: 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 准教授 … もっと見る
2006年度: 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 助教授
2005年度: 横浜国立大学, 大学院・工学研究院, 助教授
2004年度: 国立大学法人横浜国立大学, 大学院・工学研究院, 助教授
2001年度 – 2003年度: 横浜国立大学, 大学院・工学研究院, 助教授
2001年度: 横浜国立大学, 工学研究院, 助教授
1996年度 – 2000年度: 横浜国立大学, 工学部, 助教授
1993年度 – 1995年度: 横浜国立大学, 工学部, 講師 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学
研究代表者以外
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学
キーワード
研究代表者
有限要素法 / Solder Joints / 界面破壊 / マルチ破壊モード / はんだ接合 / 応答曲面 / 統計的設計支援システム / 疲労 / 界面き裂 / はんだ接合部 … もっと見る / 低サイクル疲労 / 応力拡大係数 / 疲労き裂進展 / Strain Measurement / Finite Element Method / Fatigue Life / Creep / Low-cycle fatigue / Multi-axial stresses / 3D-Packaging Technology / 弾塑性クリープ / 熱サイクル疲労 / 電子デバイス / ひずみ計測 / 疲労寿命則 / クリープ / 多軸応力 / 3次元実装技術 / Database for Fatigue Life / Response Surface Method / Clustering analysis / Influence of the design factors / Integrated Reliability Design / Reliability Evaluation / Electronics packaging / ばらつき評価 / 設計支援システム / 疲労破壊 / 破壊モード制御 / マイクロ多層構造 / 熱疲労破壊 / 鉛フリーはんだ / 多層薄膜 / 3次元実装 / 統計的最適化 / マイクロはんだ接合 / 信頼性設計 / 構造信頼性 / 3次元実装工学 / 疲労寿命データーベース / クラスタリング / 影響度解析 / 総合信頼性設計 / 信頼性評価 / 電子実装 / Mode controlling approach / Systematic optimization / Response Surface / Statistical Design Support System / Robust optimization / Multi-objective optimization / Optimization of Design / Crash safety design of vehicle / モード制御設計 / システム設計 / マルチレベル最適化 / 衝突安全設計 / モードコントロールアプローチ / システム最適化 / ロバスト最適化 / 多目的最適化 / 最適設計 / 自動車衝突安全性 / 計算力学 / 信頼性 / 接合技術 / 応力・ひずみ分布 / 応力ひずみ分布 / せん断疲労試験 / 3点曲げ疲労試験 / CSPはんだ接合部 / 粘弾性 / き裂進展 / 疲労強度 / 接着継手 / 高温強度 / 粘弾性効果 / 界面崩壊力学 / 金属-CFRP接着継手 … もっと見る
研究代表者以外
鉛フリーはんだ / 疲労寿命評価 / 耐震裕度 / 耐震安全裕度 / 経年配管 / 金属間化合物 / Dynamic analysis / 電子デバイス / Finite Element Method / 応力ひずみ評価 / 影響関数法 / はんだ接合部 / 熱サイクル疲労 / 低サイクル疲労 / Elasto-plastic Analysis / Life to Failure / Ratchet / Wall Thinning / Low-cycle Fatigue / Risk Assessment to Seismic Load / Aged Piping System / 設計基準 / 振動応答 / 経年劣化 / モード解析 / 弾塑性応答 / 加震試験 / 弾塑性 / 有限要素法 / 破損寿命 / ラチェット変形 / 部分減肉 / 低サイクル疲労評価 / 経年配管システム / Reliability / Eletric substrate / Thermal fatigue lifetime / Phase growth / Lead free solder / 信頼性 / 電子基板 / 熱疲労寿命 / 相成長 / Fatigue Life / Plasticity / Ratcheting / Low-cycle fatigue / Multi-fracture mode / Seismic Loading / Degraded Piping / 安全係数 / 低サイクル疲労寿命 / 振動解析 / 減肉配管 / 原子力配管 / 非線形振動 / ラチェット / 機械力学・振動 / 機械材料・材料力学 / 原子力配管系 / 耐震 / 非弾性解析 / 配管系動解析 / 延性消耗 / マルチ破壊モード / Reliability design / Intermetallic compound / Lead-free solder / Thermal fatigue / Interfacial fracture / Fracture control / Multilayer structure / Electronics packaging / 信頼性設計 / 疲労破壊 / 界面破壊 / 破壊モード制御 / マイクロ多層構造 / 電子実装 / ぜい性破壊 / 熱疲労強度 / Impact test / Static response analysis / Fracture due to impact / Impact / Electronics packages / 衝撃破壊寿命 / 衝撃破断試験 / 動的解析 / 静的解析 / 衝撃破壊 / 落下衝撃 / Mechanical Fatigue Testing Method / Thermal Cycling Fatigue Test Mehod / Manson-Coffin's Low / Thermal Fatigue Life Estimation / Lead-Free Solder Joints / マイクロ接合部 / Pbフリーはんだ / 熱疲労 / 有限要素解析 / 機械的疲労試験法 / 熱サイクル試験法 / Manson-Coffin則 / 疲労強度評価 / Pbフリーはんだマイクロ接合部 / stress-strain estimation / estimation of fatigue life / thermal fatigue / material testing machine / micro structure / 疲労強度 / 材料試験機 / マイクロ構造 / Law of crack propagation / Three-dimensional surface crack / Stress intensity factor / Influence function method / き裂進展則 / 3次元表面き裂 / 応力拡大係数 / Thermal cycle fatigue / Strength of low-cycle fatigue / Elasto-plastic creep / Solder Joints / Assembly / 低サイクル疲労強度 / 弾塑性・クリープ / 表面実装電子部品 / ELASTIC-PLASTIC AND CREEP ANALYSIS / THERMAL CYCLE FATIGUE / LOW CYCLES FATIGUE / SOLDER JOINT / SURFACE MOUND / 加速試験 / 弾塑性・クリープ解析 / はんだ接合 / 表面実装 / Honeycomb Sandwich / Fatigue Crack / Image Processing / Detection of flaws / Nondestructive Inspection / Infrared Thermography / ハニカム構造 / 疲労き裂 / 画像処理 / 欠陥検知 / 非破壊検査 / 赤外線映像装置 / 界面端はく離じん性 / フリーエッジ効果 / マイクロテスティング / 破壊力学 / 界面強度 / ダマシンプロセス / 先端LSI配線 / サブミクロン薄膜 隠す
  • 研究課題

    (21件)
  • 研究成果

    (121件)
  • 共同研究者

    (7人)
  •  次世代耐高温Sicパワーデバイスの高信頼性実装技術に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  経年配管システムの耐震安全裕度の評価・設計基準の検証に関する研究

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  3次元実装における多軸応力下の鉛フリーはんだ接合部の効率的な疲労信頼性評価技術研究代表者

    • 研究代表者
      于 強 (干 強)
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  相成長評価による電子基板鉛フリーはんだ接合部の故障・余寿命診断技術の開発

    • 研究代表者
      森 孝男
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      富山県立大学
  •  マルチ破壊モードを有する高経年配管システムの耐震安全裕度の評価手法に関する研究

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  次世代3次元実装工学における総合信頼性評価・設計技術研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  ダマシンプロセス技術を利用したサブミクロン構造物の界面強度評価法の開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  マルチ破壊モードを有する次世代電子実装マイクロ接合構造の破壊制御と信頼性設計

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  自動車衝突安全性の車体設計における複合領域の最適化研究代表者

    • 研究代表者
      于 強 (干 強)
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  金属間化合物を考慮したエレクトロニクスはんだ接合部の熱疲労強度

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  3点曲げ疲労試験によるCSPはんだ接合部の疲労信頼性評価に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  携帯用電子機器のマイクロはんだ接合部の衝撃強度評価に関する研究

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  Pbフリーはんだマイクロ接合部の熱疲労強度評価法に関する研究

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  金属-CFRP接着継手疲労き裂進展における接着剤粘弾性特性の影響に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  微小変位低荷重マイクロ構造疲労試験機とそれを用いた強度評価法の開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  共晶Pb-Shはんだ材料のクリープ疲労のき裂伝ぱに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  金属-CFRP接着継手の疲労強度評価に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      于 強
    • 研究期間 (年度)
      1995
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  表面実装部品はんだ接合部の強度設計のためのCAEシステムの開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  影響関数法による表面き裂の評価システムの開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  赤外線映像による欠陥検知システムの開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1994
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  表面実装部品の熱サイクル疲労強度評価法の開発

    • 研究代表者
      白鳥 正樹
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1994
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      横浜国立大学

すべて 2012 2011 2010 2007 2006 2005 2004 2001 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] パワーデバイスの実装技術の研究動向2010

    • 著者名/発表者名
      于強、山際正憲、安澤貴志
    • 出版者
      株式会社エヌ・ティー・エス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [図書] パワーデバイスの実装技術の研究動向2010

    • 著者名/発表者名
      干強、山際正憲、安澤貴志
    • 出版者
      株式会社エヌ・ティー・エス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [雑誌論文] PWB Micro-Structural Influences over Drop Reliability in MobileDevices2010

    • 著者名/発表者名
      Takayoshi Katahira, MasatoFujita, Qiang Yu
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and MaterialsEngineering

      巻: Vol.4 ページ: 24-28

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [雑誌論文] PWB Micro-Structural Influences over Drop Reliability in Mobile Devices2010

    • 著者名/発表者名
      Takayoshi Katahira, Masato, Fujita, Qiang Yu
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering

      巻: Vo1.4 ページ: 24-28

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [雑誌論文] Reliability Evaluation on Deterioration of Power Device Using Coupled Electrica1- Therma1-Mechanical Analysis2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Anzawa, Qiang Yu, Masanori Yamagiwa Tadahiro Shibutani, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging(ASME JEP)

      巻: 132

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [雑誌論文] Reliability Evaluation on Deterioration of Power Device Using CoupledElectrical-Thermal-Mechanical Analysis2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Anzawa, Qiang Yu, Masanori Yamagiwa, TadahiroShibutani, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging(ASME JEP), 132, Iss.3 Selected Paper(ThETA2)

      巻: v6.132, N.3 ページ: 1-6

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [雑誌論文] Delamination Evaluation Approach for Bimaterial Structure Considering Interfacial Layer2007

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME IMECE2007

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Evaluation Technique for The Failure Life Scatter of Lead-Free Solder Joints in Electronic Device2007

    • 著者名/発表者名
      Miyauchi, H., Yu, Q., Shibutani, T., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of the THERMINIC 2007

      ページ: 32-37

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Low - cycle fatigue reliability evaluation for lead - free solders in vehicle electronics devices2007

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Shibutani, T., Tanaka, A. Koyama, T., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2007

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Low-cycle fatigue reliability evaluation for lead-free solders in vehicle electronics devices2007

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME 2007 InterPack

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Study of the electrical contact resistance of multi-contact MEMS relays fabricated using the MetalMUMPs process2007

    • 著者名/発表者名
      于強他4名
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering 16・-

      ページ: 1189-1194

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Mechanism of Damage Process on Si3N4/Cu Interface in Nanoscratch Test2007

    • 著者名/発表者名
      Shibutani, T., Yu, Q, Shiratori, M., Akai, T
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering Vol.1, No.3

      ページ: 322-331

    • NAID

      110004071282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] A Study on Evaluation Technique for the Fatigue Life Scatter of Lead-Free Solder Joints2007

    • 著者名/発表者名
      于強
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME IMECE2007

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Evaluation Method of Interaction Relation between Design Factors And Simple Assessment Approach for BGA Package Reliability2007

    • 著者名/発表者名
      Kondo, S., Yu, Q., Shibutani, T., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2007

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Reliability Evaluation of Lead Free Solder Joints Subjected to Multi-Loads2007

    • 著者名/発表者名
      于強
    • 雑誌名

      Proceedings of Inter PACK 2007

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Delamination Evaluation Approach for Bimaterial Structure Considering Interfacial Layer2007

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Shibutani, T., Shiratori, M., Matsuzaki, T., Matsumoto, T
    • 雑誌名

      Proceedings of the 2007 ASME IMECE2007

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Effect of process-induced voids on isothermal fatigue resistance of CSP lead-free solder joints2007

    • 著者名/発表者名
      于強
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability 48

      ページ: 431-437

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Reliability Evaluation of Lead Free Solder Joints Subjected to Multi-Loads2007

    • 著者名/発表者名
      Tosaka, A. Yu, Q., Shibutani, T., Kondo, S., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of ASME InterPACK2007

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] A Study of Deformation Mechanism During Nanoindentation Creep in Tin-Based Solder Balls2007

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 于強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging 129・1

      ページ: 71-75

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] A Study of Deformation Mechanism During Nanoindentation Creep in Tin-Based Solder Balls2007

    • 著者名/発表者名
      Shibutani, T., Yu, Q., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Packaging Vol.129, No.1

      ページ: 71-75

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Effective Acquisitions of Plastic, Creep, Viscoplastic Parameters of Solder Using the Stress Relaxation Method2006

    • 著者名/発表者名
      Tanimura, T., Yu, Q., Shibutani, T., Jin, J.C., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of EMAP 2006

      ページ: 658-666

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] The Effect of Voids on Thermal Reliability of BGA Lead Free Solder Joint and Reliability Detecting Standard2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Shibutani, T., Kobayashi, Y., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of ITherm 2006

      ページ: 1024-1030

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Stress-Induced Tin Whisker Initiation Under Contact Loading2006

    • 著者名/発表者名
      Shibutani, T., Yu, Q., Yamashita, T., Shiratori, M
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing Vol.29, No.4

      ページ: 259-264

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Evaluation of Diffusion Creep in Low Melting Point Materials by Nanoindentation Creep Test2006

    • 著者名/発表者名
      Shibutani, T., Yu, Q., Shiratori, M
    • 雑誌名

      JSME International Journal, Series A Vol.49, No.3

      ページ: 397-402

    • NAID

      110004999080

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Stress-Induced Tin Whisker Initiation Under Contact Loading2006

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 于強, 白鳥正樹他1名
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing 29・4

      ページ: 259-264

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Study of the electrical contact resistance of multi-contact MEMS relays fabricated using the MetaIMUMPs process2006

    • 著者名/発表者名
      Almeid, L, Ramadoss, R., Jackson, R., Ishikawa, K., Yu, Q
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering Vol.16

      ページ: 1189-1194

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Easy reliability design approach for solder joint BGA package considering correlation of each design factor2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Shibutani, T., Jin, J.C., Kondo, S., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of ITherm 2006

      ページ: 900-905

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] 応力緩和法を用いたはんだの弾塑性・クリープ・粘塑性の物性値取得の効率化2006

    • 著者名/発表者名
      于強, 澁谷忠弘, 白鳥正樹他2名
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 10・1

      ページ: 52-61

    • NAID

      110006152001

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Easy reliability design approach for solder joint BGA package considering correlation of each design factor2006

    • 著者名/発表者名
      于強, 澁谷忠弘, 白鳥正樹他2名
    • 雑誌名

      Proc. of the 10th InterSociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic System

      ページ: 900-905

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Modeling with Structure of Resins in Electronic Components2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q
    • 雑誌名

      Proceedings of THERMINIC2006

      ページ: 107-111

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Low Cycle Fatigue Reliability Evaluation for Lead-Free Solders in Vehicle Electronic Devices2006

    • 著者名/発表者名
      于強, 澁谷忠弘, 白鳥正樹他2名
    • 雑誌名

      Proc. of the New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts

      ページ: 103-110

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Tri-state multi-contact lateral MEMS relay with high mechanical reliability2006

    • 著者名/発表者名
      Yamada, S., Ishikawa, K., Yu, Q., Ramadoss, R., Almeida, L
    • 雑誌名

      Proceedings of EMAP 2006

      ページ: 957-969

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Easy reliability design approach for solder BGA package considering correlation of each design factor2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proceedings of ITherm2006

      ページ: 900-905

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Study on Whisker Outbreak on Tin Plating by Contact Force2006

    • 著者名/発表者名
      Yamashita, T., Shibutani, T., Yu, Q., Shiratori, M
    • 雑誌名

      Proceedings of the 2006 ASME IMECE2006

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] The Effect of Voids on Thermal Reliability of BGA Lead Free Solder Joint and Reliability Detecting Standard2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proceedings of ITherm2006

      ページ: 1024-1030

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] CAPアプローチを用いたコンセプト設計支援技術2006

    • 著者名/発表者名
      于強他2名
    • 雑誌名

      自動車技術会No.06-06シンポジウム

      ページ: 1-3

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360055
  • [雑誌論文] Modeling with Structure of Resins in Electronic Components2006

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Shibutani, T., Shiratori, M., Matsumoto, T
    • 雑誌名

      Proceedings of Therm 2006

      ページ: 107-111

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18360056
  • [雑誌論文] Mechanism of Damage Process on the Si3N4/Cu Interface in Nanoscratch Test2005

    • 著者名/発表者名
      Tadahiro Shibutani, Qiang Yu, Masaki Shiratori, Takeshi Akai
    • 雑誌名

      Transactions of the JSME Vol.71, No.706

      ページ: 884-890

    • NAID

      110004071282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] ナノインデンテーションクリープ試験による低融点材料の拡散クリープ特性評価2005

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 于強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集A編 71・710

      ページ: 1285-1291

    • NAID

      110004999080

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360049
  • [雑誌論文] 実装信頼性評価・設計におけるシミュレーション技術とその応用2005

    • 著者名/発表者名
      于強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌C J88-C・11

      ページ: 851-858

    • NAID

      110003496097

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Thermal Fatigue Assessment of Lead - Free Solder Joints2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu
    • 雑誌名

      Proc.of the International Workshop on Thermal Investigation of ICs and Systems

      ページ: 204-211

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Electrostatically Actuated Micromirror Array Assembled by Using Solder Flip Chip Bonding and Electro-Thermal Fuse-Away Tethers2005

    • 著者名/発表者名
      Koji Ishikawa, Takahiro Miki, Hiroki Mamiya, Qiang Yu
    • 雑誌名

      Journal of Japan Institute of Electronics Packaging Vol.8, No.2

      ページ: 108-115

    • NAID

      110001845084

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Fatigue reliability evaluation for Sn-Zn-Bi and Sn-Zn lead-free solder joints2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu, Jae-Chul Jin, Do-Seop Kim, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Materials Transactions 46・11

      ページ: 2316-2321

    • NAID

      10016868672

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Extraction Method for Physical Principles and Application to Static Behavior of Vehicle Suspension System2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu et al.
    • 雑誌名

      Review of Automotive Engineering 26・4

      ページ: 439-446

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360049
  • [雑誌論文] Simulation Technologies and Applications for Reliability Assessment and Design of Electronics Packaging2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics Vol.J88-C, No.11

      ページ: 851-858

    • NAID

      110003496097

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Fatigue reliability evaluation for Sn-Zn-Bi and Sn-Zn lead-free solder joints2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu, Jae-Chul Jin, Do-Seop Kim, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Materials Transactions Vol.46, No.11

      ページ: 2316-2321

    • NAID

      10016868672

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] 実装信頼性評価・設計におけるシミュレーション技術とその応用2005

    • 著者名/発表者名
      干強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌C Vol.J88-C・11

      ページ: 851-858

    • NAID

      110003496097

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The Assessment of Influence of the Design Factors on the Reliability of BGA Solder Joints2005

    • 著者名/発表者名
      Jin, J.C., Yu, Q., Shibutani, T., Abe, H., Shiratori, M.
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 1822-1827

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Electrostatically Actuated Micromirror Array Assembled by Using Solder Flip Chip Bonding and Electro-Thermal Fuse-Away Tethers2005

    • 著者名/発表者名
      石川浩嗣, 三木隆弘, 間宮宏樹, 干強
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 8・2

      ページ: 108-115

    • NAID

      110001845084

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Fatigue reliability evaluation for Sn-Zn-Bi and Sn-Zn lead free solder joints2005

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Jin, J.C., Kim, D.S., Shiratori, M.
    • 雑誌名

      Materials Transactions 46・11

      ページ: 2316-2321

    • NAID

      10016868672

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] ナノスクラッチ試験によるSi3N4/Cu薄膜界面損傷機構2005

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 干強, 白鳥正樹, 赤井武志
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集(A編) 71・706

      ページ: 884-890

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Early-Stage Analysis for MEMS Structural Optimization II : Its Application to Microrelay Reliability2005

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu, et al.
    • 雑誌名

      Proceedings of the Pacific Rim/ASME International Intersociety Electronic & Photonic Packaging Conference (IPACK2005-73049)

      ページ: 1-6

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The assessment of influence of the design factors on the reliability of BGA solder joints2005

    • 著者名/発表者名
      Jae-Chul Jin, Qiang Yu, Tadahiro Shibutani, Hirokazu Abe, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vols.297-300

      ページ: 1822-1827

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The assessment of influence of the design factors on the reliability of BGA solder joints2005

    • 著者名/発表者名
      Jae-Chul Jin, Qiang Yu, Tadahiro Shibutani, Hirokazu Abe, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 1822-1827

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] ナノスクラッチ試験によるSi_3N_4/Cu薄膜界面損傷機構2005

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 于強, 白鳥正樹他
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集A編 71・706

      ページ: 864-890

    • NAID

      110004999024

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Study of Influence of the Design Factors on the Reliability of BGA Solder Joints2004

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Jin, J.C., Abe, H., Shiratori, M.
    • 雑誌名

      Proc.of the Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems(Itherm 2004)

      ページ: 343-349

    • NAID

      110002489081

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Effect of Void Formation on Thermal Fatigue Reliability of Lead-Free Solder Joints2004

    • 著者名/発表者名
      Kim, D.S., Yu, Q., Shibutani, T., Sadakata, N, Inoue, T.
    • 雑誌名

      Proc.of the Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems(Itherm 2004)

      ページ: 325-329

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The Assessment of Influence of the Design Factors on the Reliability of BGA Solder Joints2004

    • 著者名/発表者名
      Jin, J.C., Yu, Q., Abe, H., Shiratori, M.
    • 雑誌名

      Proc.of the Asian Pacific Conference for Fracture and Strength (APCFS2004)

      ページ: 103-103

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] An Integrated AWG Multi/Demultiplexer with MEMS-VOA Shutters2004

    • 著者名/発表者名
      Ishikawa, K., Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proc.of the Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems(Itherm 2004)

      ページ: 523-528

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] 多層サブミクロン薄膜における界面コーナー部はく離発生条件の破壊力学的評価2004

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 于強, 白鳥正樹, 鶴賀哲
    • 雑誌名

      材料別冊 第53巻・第8号

      ページ: 850-855

    • NAID

      110006266334

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Contribution to Car Frontal Frame Structure Design2004

    • 著者名/発表者名
      M.Zatek, Z.Poruba, Yu, Q.
    • 雑誌名

      Proc.of the Third China-Japan-Korea Joint Symposium on Optimization of Structural and Mechanical Systems(CJK OSM3)

      ページ: 239-244

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360049
  • [雑誌論文] Response Surface Method Using Hierarchical Clustering2004

    • 著者名/発表者名
      Yusuke Kageyama, Qiang Yu
    • 雑誌名

      Transactions of the JSME Vol.70, No.695

      ページ: 953-961

    • NAID

      110004998785

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] 多層サブミクロン薄膜における界面コーナー部はく離発生条件の破壊力学的評価2004

    • 著者名/発表者名
      澁谷忠弘, 干強, 白鳥正樹, 鶴賀哲
    • 雑誌名

      材料 53・8

      ページ: 850-855

    • NAID

      110006266334

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The Examination of the Drop impact Test Method2004

    • 著者名/発表者名
      Yu, Q., Watanabe, K., Tsurusawa, T., Shiratori, M., Kakino, M., Fujisawa, N.
    • 雑誌名

      Proc.of the Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems(Itherm 2004)

      ページ: 336-342

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Evaluation of Crack Initiation at the Corner of the Interface between Sub-Micron Films on the Basis of Fracture Mechanics Concept2004

    • 著者名/発表者名
      Tadahiro Shibutani, Qiang Yu, Masaki Shiratori, Tetsu Tsuruga
    • 雑誌名

      J.Soc.Mat.Sci.Japan Vol.53, No.8

      ページ: 850-855

    • NAID

      110006266334

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] 階層的クラスタリングに基づく応答曲面法2004

    • 著者名/発表者名
      影山雄介, 干強
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集(A編) 70・695

      ページ: 953-961

    • NAID

      110004998785

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] Evaluation of interface strength between thin films fabricated on a silicon substrate for mixed mode of fracture2004

    • 著者名/発表者名
      Shibutani, T., Tsuruga, T., Yu, Q., Shiratori, M.
    • 雑誌名

      Proc.of the Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems(Itherm 2004)

      ページ: 192-198

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360049
  • [雑誌論文] Nonlinear Behavior Study on Effect of Hardening Rule of Lead Free Solder Joint2004

    • 著者名/発表者名
      Do-Seop Kim, Qiang Yu, Tadahiro Shibutani, Masaki Shiratori
    • 雑誌名

      Journal of Japan Institute of Electronics Packaging Vol.7, No.2

      ページ: 161-169

    • NAID

      110002525974

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] 鉛フリーはんだ接合部の応力・非線形ひずみ振幅評価に及ぼす硬化則の影響2004

    • 著者名/発表者名
      金道燮, 干強, 澁谷忠弘, 白烏正樹
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 7-2

      ページ: 161-169

    • NAID

      110001235346

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15360048
  • [雑誌論文] The Effect of Intermetalic Compound on Thermal Fatigue Reliability of Lead-Free Solder Joints2001

    • 著者名/発表者名
      M. Shiratori, Qiang Yu and Do-seop Kim
    • 雑誌名

      APCFS & ATEM'01

      ページ: 935-940

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [雑誌論文] The Effect of Intermetallic Compound on Thermal Fatigue Reliability of Lead-Free Solder Joints2001

    • 著者名/発表者名
      Qiang Yu, Do-seop Kim and M. Shiratori
    • 雑誌名

      InterPACK'01

      ページ: 1-8

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [雑誌論文] 統計的設計支援システムを用いた有限要素法によるCSPパッケージの熱疲労信頼性評価2001

    • 著者名/発表者名
      加賀靖久, 于強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 4・3

      ページ: 225-230

    • NAID

      110001238806

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [雑誌論文] 応答曲面法およびベイズ理論に基づく構造信頼性設計手法の提案2001

    • 著者名/発表者名
      廣畑賢治, 于強, 白鳥正樹, 他
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集A編 67・660

      ページ: 35-42

    • NAID

      110002369928

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [雑誌論文] 機械構造部品の安全性設計・予防保全における信頼姓工学適用 4.電子部品実装における保証試験と信頼性評価2001

    • 著者名/発表者名
      于強, 白鳥正樹
    • 雑誌名

      材料別冊 50・4

      ページ: 447-451

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [雑誌論文] BGAはんだ接合部の形状予測と残留応力評価2001

    • 著者名/発表者名
      酒井秀久, 于強, 白鳥正樹, 他
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 4・7

      ページ: 581-589

    • NAID

      130004062879

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12450046
  • [産業財産権] 製品熱疲労寿命検知センサー2011

    • 発明者名
      于強, 高木寛二
    • 権利者名
      于強, 高木寛二
    • 産業財産権番号
      2011-281467
    • 出願年月日
      2011-12-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [産業財産権] 熱疲労寿命検知センサー2011

    • 発明者名
      于強、高木寛二
    • 権利者名
      共有
    • 産業財産権番号
      2011-281467
    • 出願年月日
      2011-12-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [産業財産権] 小型熱衝撃試験機2010

    • 発明者名
      干強、臼井重徳、篠原俊朗、八坂慎一、篠原主勲
    • 権利者名
      共有
    • 出願年月日
      2010-07-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [産業財産権] 小型熱衝撃試験機2010

    • 発明者名
      于強、臼井重徳、篠原俊朗、八坂慎一、篠原主勲
    • 権利者名
      共有
    • 出願年月日
      2010-07-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Effect of crystal grain size on fatigue characteristics of lead free solder joints2012

    • 著者名/発表者名
      T. Akutsu, Q. Yu
    • 学会等名
      New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      オストラバ(チェコ)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A study on Evaluation Method of New Packaging Structure for High-Temperature Power Device2012

    • 著者名/発表者名
      Akihiro Higuchi, Qiang Yu, Toshikaza Oshidari, Mingliang Cui
    • 学会等名
      EMAP2012
    • 発表場所
      香港(中国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Effect of crystal grain size on fatigue characteristics of lead free solder joints2012

    • 著者名/発表者名
      T,Akutsu, Q. Yu
    • 学会等名
      Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      Ostrava(Czech)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Evaluation of Thermal Deformation of the Sealing Resin Considering the Effect of Curing Process on Mechanical Property2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Yoshida, Q. Yu
    • 学会等名
      New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      オストラバ(チェコ)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Precision Evaluation for Thermal Fatigue Life in Power Cycling Using Coupled Electrica1-Therma1-Structural Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      T,Takahashi, Q. Yu
    • 学会等名
      Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      0strava(Czech)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on the Thermal Fatigue Evaluation of Ni Plating in SiC2012

    • 著者名/発表者名
      A. Hirose, Q Yu, T. Ishikawa
    • 学会等名
      New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      オストラバ(チェコ)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Study on Thermal Design due to Downsizing of Power Module Using Coupled Electrical-Thermal-Mechanical Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      Yasutaka Yamada, Qiang Yu, Tomohiro Takahashi, Yusuke Takagi
    • 学会等名
      EMAP2012
    • 発表場所
      香港(中国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Precision Evaluation for Thermal Fatigue Life in Power Cycling Using Coupled Electrical-Thermal-Structural Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      T. Takahashi, Q. Yu
    • 学会等名
      New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      オストラバ(チェコ)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on Evaluation Method of new Packaging Structure for High-Temperature Power Device2012

    • 著者名/発表者名
      Akihiro Higuchi, Qiang Yu, Toshikazu Oshidari, Mingliang Cui
    • 学会等名
      EMAP2012
    • 発表場所
      HongKong(China)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Investigation of Thermal Fatigue Life Scatter of IVH in PWB2012

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Takenaka, Qiang Yu
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      サンディエゴ(米国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Measurement Methods for Curing Properties of Resin Considering Process Condition2012

    • 著者名/発表者名
      Tomohiko Takeda, Qiang Yu, Hiroyuki Sato
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      サンディエゴ(米国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Evaluation of Thermal Deformation of the Sealing Resin Considering the Effect of Curing Process on Mechanical Property2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Yoshida, Q. Yu
    • 学会等名
      Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      Ostrava(Czech)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on the Thermal Fatigue Evaluation of Ni Plating in SiC2012

    • 著者名/発表者名
      A. Hirose, Q Yu, T. Ishikawa
    • 学会等名
      Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      Ostrava(Czech)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliable Evaluation Method for Solder Joints in Vehicle Electronics Devices Considering the Actual Use Conditions2012

    • 著者名/発表者名
      Satoru Okuyama, Qiang Yu, Ttakahiro Akutsu
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      SanDiego(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Study on Thermal Design due to Downsizing of Power Module Using Coupled Electrica1-Therma1-Mechanical Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      Yasutaka Yamada, Qiang Yu, Tomohiro, Takahashi, Yusuke Takagi
    • 学会等名
      EMAP2012
    • 発表場所
      HongKong(China)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Investigation of Thermal Fatigue Life Scatter of IVH in PWB2012

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Takenaka, Qiang Yu
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      San Diego(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on Reliability of Nano-Metal Pastes in High Temperature Resistant of Power Devices2012

    • 著者名/発表者名
      M.Cui, T. Oshidari, Q. Yu
    • 学会等名
      New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      オストラバ(チェコ)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliable Evaluation Method for Solder Joints in Vehicle Electronics Devices Considering the Actual Use Conditions2012

    • 著者名/発表者名
      Satoru Okuyama, Qiang Yu, Takahiro Akutsu
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      サンディエゴ(米国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on Reliability of Nano-Metal Pastes in High Temperature Resistant of Power Devices2012

    • 著者名/発表者名
      M,Cui, T. Oshidari, Q. Yu
    • 学会等名
      Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts
    • 発表場所
      0strava(Czech)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Measurement Methods for Curing Properties of Resin Considering Process Condition2012

    • 著者名/発表者名
      Tomohiko Takeda, Qiang Yu, Hiroyuki Sato
    • 学会等名
      Itherm2012
    • 発表場所
      San Diego(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Effect of Micro Structure on Fatigue Characteristics of Lead Free Solder Joints2011

    • 著者名/発表者名
      Takahiro Akutsu, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation of Fatigue Life for Solder Joints in Chip Components Considering Dispersion of the Shape and the Properties2011

    • 著者名/発表者名
      Yuji Nishimura, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] The Effect of the Surface Roughness of Al Layer of DBA Substrate on Fatigue life of Solder Joint in Power-Devices2011

    • 著者名/発表者名
      Shiqiang Zhao, Qiang Yu, Akaeda Hiroki
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on the Thermal Defo rmation and the Mechanical Propertie s due to Curing Process Of the Encap sulation Resin2011

    • 著者名/発表者名
      Sato Hiroyuki, Qiang Yu, Sone, Ryusuke
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Measurement Methods for Curing Properties of Resin Considering Process Condition and Effects on Package2011

    • 著者名/発表者名
      Tomohiko Takeda, Qiang Yu
    • 学会等名
      EPTC2011
    • 発表場所
      シンガポール
    • 年月日
      2011-12-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Precision Evaluation for Thermal Fatigue Life of Power Module Using Coupled Electrical-Thermal-Structural Analysis2011

    • 著者名/発表者名
      Tomohiro Takahashi, Qiang Yu, Masahiro Kobayashi
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation of Electronic Devices Under Considering the Actual Use Conditions2011

    • 著者名/発表者名
      Liu Shilin, Qiang Yu, Michael Pecht
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Measureme nt Methods for Curing Properties of Resin Considering Process Condition and Effects on Package2011

    • 著者名/発表者名
      Tomohiko Takeda, Qiang Yu
    • 学会等名
      EPTC2011
    • 発表場所
      Singapore
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Effect of Micro Structure on Fatigue Characteristics of Lead Free Solder Joints2011

    • 著者名/発表者名
      Takahiro Akutsu, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Masahi ro Kobayashi, Precision Evaluation for Thermal Fatigue Life of Power Module Using Coupled Electrica1- Therma1-Structural Analysis2011

    • 著者名/発表者名
      Tomohiro Takahashi, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPA CK2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Toshikazu Oshidari, Hiromi Sugihara, A Study on Reliability of High-Temperature Joint in Pack aging Structure2011

    • 著者名/発表者名
      Takayuki lshikawa, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation of Electronic Devices Under Considering the Actual Use Conditions2011

    • 著者名/発表者名
      Liu Shilin, Qiang Yu, Michae1 Pecht
    • 学会等名
      InterPAC K2011
    • 発表場所
      San Francisco(USA)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on Reliability of High-Temperature Joint in Packaging Structure2011

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Ishikawa, Qiang Yu, Toshikazu Oshidari, Hiromi Sugihara
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] A Study on the Thermal Deformation and the Mechanical Properties due to Curing Process of the Encapsulation Resin2011

    • 著者名/発表者名
      Sato Hiroyuki, Qiang Yu, Sone Ryusuke
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation of Fatigue Life for Solder Joints in Chip Components Considering Dispersion of the Shape and the Properties2011

    • 著者名/発表者名
      Yuji Nishimura, Qiang Yu
    • 学会等名
      InterPACK2011
    • 発表場所
      ポートランド・アメリカ
    • 年月日
      2011-07-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Astudy on reliability of NI plating in a high temperature power device2010

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Ishikawa, Toshikazu Oshidari, Hiromi Sugihara, QiangYu
    • 学会等名
      ITherm2010
    • 発表場所
      ラスベガス・アメリカ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Effect of Micro Structure on Fatigue Characteristics of Lead FreeSolder Joints2010

    • 著者名/発表者名
      Takahiro AKUTSU, Qiang YU, Yuji
    • 学会等名
      EPTC2010
    • 発表場所
      シンガポール
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Characteristics and mechanism of surface roughness generated insubstrate used for vehicle power device2010

    • 著者名/発表者名
      H.AKAEDA, Q.Yu
    • 学会等名
      New Methods of damage and Failure Analysis ofStructural Parts
    • 発表場所
      オストラバ・.チェコ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Precision Evaluation for Thermal Fatigue Life of Power Module using Coupled Electrical-Thermal-Mechanical Analysis2010

    • 著者名/発表者名
      Tomohiro TAKAHASHI, Qiang YU
    • 学会等名
      EPTC2010
    • 発表場所
      シンガポール
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation for Specifying Fatigue Mode in Power Device2010

    • 著者名/発表者名
      M,Kobayashi, Q. Yu
    • 学会等名
      THERMINIC2010
    • 発表場所
      Macao
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Reliability Evaluation for Specifying Fatigue Mode in Power Device2010

    • 著者名/発表者名
      M.Kobayashi, Q.Yu
    • 学会等名
      THERMINIC2010
    • 発表場所
      バルセロナ・スペイン
    • 年月日
      2010-10-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360047
  • [学会発表] Elastic-lastic-reep Analysis of Sn-3.0Ag-0.5Cu Solder Joints

    • 著者名/発表者名
      Yasuhiro, Ejiri, Hiroshi, Minami, Toshihiko, Sayama, Takeshi, Takayanagi, Yoshiyuki, Okamoto, Takao, Mon
    • 学会等名
      JSME 20th Computational Mechanics Conference
    • 発表場所
      Ritsumeikan University Kyotanabe
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17560075
  • 1.  白鳥 正樹 (60017986)
    共同の研究課題数: 16件
    共同の研究成果数: 48件
  • 2.  澁谷 忠弘 (10332644)
    共同の研究課題数: 7件
    共同の研究成果数: 35件
  • 3.  小笠原 永久 (60262408)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  高田 一 (20154792)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  森 孝男 (30275078)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  小林 隼人
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  奥本 裕
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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