永富隆清 NAGATOMI Takaharu

… 別表記

永富清隆ナガトミタカハル

研究者番号	90314369
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2011年度 – 2012年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 2011年度: 大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 2009年度 – 2010年度: 大阪大学, 工学研究科, 助教 2007年度 – 2008年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 2006年度: 大阪大学, 大学院工学研究科, 助手 … もっと見る 2000年度 – 2004年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手 2003年度: 大阪大学, 助手 2000年度 – 2002年度: 大阪大学, 工学研究科, 助手隠す
審査区分/研究分野	研究代表者薄膜・表面界面物性 / 応用物理学一般 / 応用物理学一般研究代表者以外薄膜・表面界面物性 / 応用物理学一般 / 応用物理学一般
キーワード	研究代表者絶縁物 / 二次電子 / 帯電 / 表面励起 / MC simulation / rotor-type X-ray source / wavelength-tunable X-ray source / high-brightness X-ray source / nano-film / MCシミュレーション … もっと見る / 回転対陰極式X線源 / 波長可変X線源 / 高輝度X線源 / ナノ薄膜 / 金ナノ粒子 / X線光電子 / 光電子 / 表面プラズモンポラリトン / エキソ電子 / エミッター / イオン化断面積 / 二次電子放出 / オージェ電子分光法 / 低速イオン銃 / 高分解能深さ分析 / 低速イオン / Extended Landau theory / データベース構築 / 表面プラズモン / バルクプラズモン / 反射電子エネルギー損失分光法 / 実効エネルギー損失関数 / extended Lnadau theory … もっと見る研究代表者以外 DNA / 球面収差補正 / Spherical aberration Correction / Aberration-Free observation / 位相像観察 / 超解像位相差電子顕微鏡 / 生体試料観察 / 透過型高分解能電子顕微鏡 / Transmission Electron Microscope / 3次元フーリエ・フィルタリング法 / DNA分子直視観察 / ミニマムドーズシステム / Phase Electron Microscope / Bio Medical Sample / 3次元フーリエフィルタリング法 / low electron dose / radiation damage / 3 dimensional Fourier filtering / phase reconstruction / aberration correction / tansmission electron microscope / 低ドーズ観察 / 電子線照射損傷 / 位相像再構成 / 収差補正 / 透過型電子顕微鏡 / unstained biological sample / Three Dimensional Fourier Filtering / Low electron dose / Phase Electron Microscopy / Molecular structure / Sealing Film / Environmental Cell / Transmission Elecron Microscope / ガス雰囲気対応 / 圧力隔壁膜 / 環境ホルダー / 無収差結像 / コマ収差 / 色収差 / 球面収差 / 位相・振幅分離再生 / 波動場再構成 / 色消し結像条件 / 色収差補正 / 動的ホローコーン照明 / 高分解能電子顕微鏡 / 真空蒸着 / 超高真空電子顕微鏡 / ガス雰囲気観察 / 発光中心 / 希土類金属 / 電子線照射 / シリコンナノドット隠す

表面プラズモンポラリトンを介した自由な低速光電子と光との間の相互作用の実証研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
パルス照射による絶縁物の帯電及び二次電子放出の過渡解析法の開発と展開研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  若手研究(A)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
絶縁物からの二次電子放出機構の解明と二次電子収率データベース構築研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2010
- 研究種目
  
  若手研究(A)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
動的ホローコーン照明による球面収差と色収差の同時補正
- 研究代表者
  
  高井義造
- 研究期間 (年度)
  2008 – 2010
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
超低ドーズ観察を可能にするバイオ電子顕微鏡法の開発
- 研究代表者
  
  高井義造
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2007
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
UHV-TEMを用いたLa注入シリコンナノドットアレイ電界発光素子の開発
- 研究代表者
  
  木村吉秀
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  萌芽研究
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
超低速イオンを用いたシャロードープ層の原子レベル深さ分析研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  若手研究(A)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学
バイオ超解像位相差電子顕微鏡法の開発
- 研究代表者
  
  高井義造
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学
3次元フーリエ・フィルタリング法によるDNAの分子レベル直視観察
- 研究代表者
  
  高井義造
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学
ナノ薄膜回転対陰極式超高輝度波長可変X線源の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学
Extended Landau Theoryによる実効エネルギー損失関数の導出研究代表者
- 研究代表者
  
  永富隆清
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学
大気圧環境下での原子レベル観察を可能にする透過電子顕微鏡用試料ホルダーの開発
- 研究代表者
  
  高井義造
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物理学一般
- 研究機関
  大阪大学

すべて 2012 2011 2010 2009 2005 2004 その他

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥, 永富隆清, 金慶中, 田沼繁夫
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 174-181
- NAID
  130005141467
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] 表面電子分光法および深さ方向分析の標準化2012
- 著者名/発表者名
  鈴木峰晴, 永富隆清, 高橋和裕
- 雑誌名
  
  ぶんせき
  
  ページ: 371-377
- NAID
  10030826220
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥, 永富隆清, 金慶中, 田沼繁夫
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 174-181
- NAID
  130005141467
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[雑誌論文] Changes in Ionization Potentials of MgO and CaO Films upon Heating in Air and Vacuum Investigated by Metastable De-excitation Spectroscopy2012
- 著者名/発表者名
  K. Yoshino, Y. Morita, T. Nagatomi, M. Terauchi, T. Tsujita, Y. Doi, T. Nakayama, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, Y. Yamauchi, Y. Takai
- 雑誌名
  
  Applied Surface Science
  
  巻: 259 ページ: 135-141
- DOI
  10.1016/j.apsusc.2012.07.005
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032, KAKENHI-PROJECT-23656580, KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥，永富隆清，金慶中，田沼繁夫
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 174-181
- NAID
  130005141467
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K. Yoshino, T. Nagatomi, Y. Morita, T. Oue, N. Kosugi, M. Nishitani, M. Kitagawa, and Y. Takai,
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 50 号: 2R ページ: 026201-026201
- DOI
  10.1143/jjap.50.026201
- NAID
  40018283331
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032, KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Damage of SiO2 Film Surface at Different Electron Primary Energies2011
- 著者名/発表者名
  T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, and S. Tanuma
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 26-35
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K. Yoshino, Y. Morita, T. Nagatomi, M. Terauchi, T. Tsujita, T. Nakayama, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, Y. Yamauchi, Y. Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 13-25
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K. Yoshino, Y. Morita, T. Nagatomi, M. Terauchi, T. Tsujita, T. Nakayama, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, Y. Yamauchi, and Y. Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 13-25
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics Vol.50
- NAID
  40018283331
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Damage of SiO2 Film Surface at Different Electron Primary Energies2011
- 著者名/発表者名
  T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Tanuma
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 18 ページ: 26-35
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析2011
- 著者名/発表者名
  T. Ogiwara, T. Nagatomi, K. J. Kim, S. Tanuma
- 雑誌名
  
  表面科学
  
  巻: 32 号: 10 ページ: 664-669
- DOI
  10.1380/jsssj.32.664
- NAID
  10029759920
- ISSN
  0388-5321, 1881-4743
- 言語
  日本語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Altemating-Current Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: Vol.50
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Approach to Quantitative Evaluation of Electron-Induced Degradation of SiO2 Film Surface with Different Amounts of Carbon Contaminations2011
- 著者名/発表者名
  T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, and S. Tanuma
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 9 ページ: 277-288
- DOI
  10.1380/ejssnt.2011.277
- NAID
  130004439284
- ISSN
  1348-0391
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032, KAKENHI-PROJECT-23686009
[雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, Y.Morita, T.Nagatomi, M.Terauchi, T.Tsujita, T.Nakayama, Y.Yamauchi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Yamauchi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: (掲載確定)
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] In Situ Observation of Change in Surface Atomic Arrangement of Sc-O/W (100) System during Phase Transition at High Temperature2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, Y.Nakanishi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Vacuum Science and Technology A Vol.28
  
  ページ: 199-206
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics Vol.49
- NAID
  40017085038
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma
- 雑誌名
  
  Analytical Science 26
  
  ページ: 165-176
- NAID
  10026781658
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Accumulation and Decay Characteristics of Exoelectron Sources at MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: Vol.49
- NAID
  40017253815
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Paths for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis
  
  巻: Vol.42 ページ: 1537-1540
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: Vol.49
- NAID
  40017085038
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu, Members of JSPS141-WG-SEY
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis
  
  巻: Vol.42 ページ: 1541-1543
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Members of JSPS141-WG-SEY, "Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method"2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu
- 雑誌名
  
  Surface amd Interface Analysis Vol.42
  
  ページ: 1541-1543
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Paths for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.42
  
  ページ: 1537-1540
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics (印刷中)
- NAID
  40017085038
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma
- 雑誌名
  
  Analytical Science Vol.26
  
  ページ: 165-176
- NAID
  10026781658
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy III: Satellites by Extended Excitations2010
- 著者名/発表者名
  J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis Vol.16
  
  ページ: 196-213
- NAID
  130007499072
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena Vol.178-179
  
  ページ: 178-185
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
  
  巻: Vol.178-179 ページ: 178-185
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomen (印刷中)
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy II : Satellites by Local Excitation2009
- 著者名/発表者名
  J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis Vol.16
  
  ページ: 127-152
- NAID
  130007499812
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Change in Work Function during Phase Transition of Sc-O/W(100) System at High Temperatures2009
- 著者名/発表者名
  Y.Nakanishi, T.Nagatomi, Y.T.akai
- 雑誌名
  
  Applied Surface Science 256
  
  ページ: 1082-1087
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Incident Angle and Energy Dependences of Low-Energy Ar^+ Ion Sputtering of GaAs/AlAs Multilayered System2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.41
  
  ページ: 581-589
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Incident Angle and Energy Dependences of Low-Energy Ar+ Ion Sputtering of GaAs/AIAs Multilayered System2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis 41
  
  ページ: 581-589
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Inelastic Mean Free Path, Surface Excitation Parameter, and Differential Surface Excitation Parameter in Au for 300 to 3000 eV Electrons2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto
- 雑誌名
  
  Applied Surface Science Vol.256
  
  ページ: 1200-1204
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy I : Histry and Overview2009
- 著者名/発表者名
  J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani K.Endo
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis Vol.16
  
  ページ: 42-63
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Change in Work Function during Phase Transition of Sc-O/W (100) System at High Temperatures2009
- 著者名/発表者名
  Y.Nakanishi, T.Nagatomi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Applied Surface Science Vol.256
  
  ページ: 1082-1087
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy II: Satellites by Local Excitations2009
- 著者名/発表者名
  J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis 16
  
  ページ: 127-152
- NAID
  130007499812
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Influences of Measurement Conditions on Etching Rate of GaAs/AlAs Superlattice in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis 15
  
  ページ: 329-332
- NAID
  130007686485
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] In Situ Measurement of Surface Potential Developed on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa
- 雑誌名
  
  Journal of Applied Physics Vol.106
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Influences of Measurement Conditions on Etching Rate of GaAs/AlAs Superlattice in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis Vol.15
  
  ページ: 329-332
- NAID
  130007686485
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy I: Histry and Overview2009
- 著者名/発表者名
  J.D.Lee, T.Nagatomi, G. Mizutani, K.Endo
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis 16
  
  ページ: 42-63
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] In Situ Measurement of Surface Potential Developed on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa
- 雑誌名
  
  Journal of Applied Physics 106
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Inelastic Mean Free Path, Surface Excitation Parameter, and Differential Surface Excitation Parameter in Au for 300 to 3000 eV Electrons2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto
- 雑誌名
  
  Applied Surface Science 256
  
  ページ: 1200-1204
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[雑誌論文] Development of Ultrahigh Vacuum Floating-Type Low-Energy Ion Gun with Differential Pumping Facilities for High Resolution Depth Profiling2005
- 著者名/発表者名
  Y.Mizuhara, T.Bungo, T.Nagatomi, Y.Takai, S.Suzuki, K.Kikuchi, T.Sato, K.Uta
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.37, No.2
  
  ページ: 171-175
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Abnormal Electron Emission from MgO Thin Film under Ion Irradiation2005
- 著者名/発表者名
  T.Tsujita, T.Nagatomi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.37, No.2
  
  ページ: 137-140
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Transmission Electron Microscopy Study of Low-Energy Ion Induced Damaged Layer2005
- 著者名/発表者名
  J.Kato, T.Nagatomi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.37, No.2
  
  ページ: 256-260
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Preferential Sputtering Observed in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling of AlAs/GaAs Suppterlattice Using Low-Energy Ions2005
- 著者名/発表者名
  Y.Mizuhara, T.Bungo, T.Nagatomi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis Vol.37, No.3
  
  ページ: 343-347
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Surface Structure of Sc-O/W(100) System used as Schottky Emitter at High Temperature2004
- 著者名/発表者名
  S.Iida, Y.Nakanishi, T.Nagatomi, Y.Takai
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics Vol43, No.9A
  
  ページ: 6352-6353
- NAID
  10013574466
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Energy Distribution of Ion-Induced Secondary Electrons from MgO Surface2004
- 著者名/発表者名
  T.Tsujita, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa, T.Uenoyama
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics Vol43, No.6B
- NAID
  10013161151
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15686004
[雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, Y.Morita, T.Nagatomi, M.Terauchi, T.Tsujita, T.Nakayama, Y.Yamauchi
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis (in press)
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] DP-WG活動と関連ソフトウェアの開発2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] 相対感度係数を用いたスパッタ深さプロファイルの定量解析のためのソフトウェア開発2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針(ISO18118, JIS K 0167)-均質物質の正しい定量分析-2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  表面分析実用化セミナー'12
- 発表場所
  きゅりあん(品川区立総合区民会館)
- 年月日
  2012-07-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] 深さ方向分析における深さ分解能、界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  第39回表面分析研究会
- 発表場所
  古河電気工業株式会社横浜研究所(招待講演)
- 年月日
  2012-06-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] 深さ方向分析における深さ分解能、界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  第39回表面分析研究会
- 発表場所
  古河電気工業株式会社横浜研究所(招待講演)
- 年月日
  2012-06-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の標準化とデータベース化 -SiO2薄膜表面の損傷過程-2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, 田沼繁夫
- 学会等名
  第32回表面科学学術講演会
- 発表場所
  東北大学さくらホール(招待講演)
- 年月日
  2012-11-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] DP-WG活動報告2012
- 著者名/発表者名
  石津範子, 永富隆清、DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針(ISO18118, JIS K 0167)-均質物質の正しい定量分析-2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  表面分析実用化セミナー12
- 発表場所
  きゅりあん(品川区立総合区民会館)
- 年月日
  2012-07-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] DP-WG活動報告2012
- 著者名/発表者名
  石津範子, 永富隆清、 DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] DP-WG活動と関連ソフトウェアの開発2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の標準化とデータベース化 -SiO2薄膜表面の損傷過程-2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, 田沼繁夫
- 学会等名
  第32回表面科学学術講演会
- 発表場所
  東北大学さくらホール(招待講演)
- 年月日
  2012-11-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] 相対感度係数を用いたスパッタ深さプロファイルの定量解析のためのソフトウェア開発2012
- 著者名/発表者名
  永富隆清, DP-WG
- 学会等名
  2012年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  秋田県産業技術センター
- 年月日
  2012-10-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] Surface Defect Influence on the Ion Induced Secondary Electron Emission Yield from MgO Films2011
- 著者名/発表者名
  Sung Heo, J.G. Chung, H.-I. Lee, J.C. Lee, H.J. Kang, T. Nagatomi and Y. Takai
- 学会等名
  8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '11 (ALC'11)
- 発表場所
  Seoul, Republic of Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] Investigation of Effects of Heating in Air on Ionization Potentials of MgO and CaO Films Using Metastable De-Excitation Spectroscopy2011
- 著者名/発表者名
  K. Yoshino, Y. Morita, M. Terauchi, T. Tsujita, Y. Doi, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, T. Nagatomi, Y. Takai, T. Nakayama, and Y. Yamauchi
- 学会等名
  Society For Information Display '11 (SID 2011)
- 発表場所
  Los Angeles, California, U.S.A
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] Effects of Heating in air and Vacuum on Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film2011
- 著者名/発表者名
  Y. Murasawa, H. Kataoka, T. Nagatomi, Y. Takai, K. Yoshino, Y. Morita, M. Nishitani, M. Kitagawa
- 学会等名
  14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
- 発表場所
  Cardiff, UK
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] Surface Defect Influence on the Ion Induced Secondary Electron Emission Yield from MgO Films2011
- 著者名/発表者名
  Sung Heo, J.G. Chung, H.-I. Lee, J. C. Lee, H. J. Kang, T. Nagatomi, Y. Takai
- 学会等名
  8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '11 (ALC'11)
- 発表場所
  Seoul, Republic of Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] Investigation of Effects of Heating in Air on Ionization Potentials of Mgo and CaO Films Using Metastable De-Excitation Spectroscopy2011
- 著者名/発表者名
  K. Yashino, Y. Morita, M. Terauchi, T. Tsujita, Y. Doi, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, T. Nagatomi, Y. Takai, T. Nakayama, Y. Yamauchi
- 学会等名
  Society For Information Display '11 (SID 2011)
- 発表場所
  Los Angeles, California, U.S.A.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Degradation of SiO22011
- 著者名/発表者名
  T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai and S. Tanuma
- 学会等名
  14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
- 発表場所
  Cardiff, UK
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針(ISO18118, JIS K 0167)-均質物質の正しい定量分析-2011
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  表面分析実用化セミナー'11
- 発表場所
  島津製作所関西支社
- 年月日
  2011-07-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Degradation of SiO22011
- 著者名/発表者名
  T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, S. Tanuma
- 学会等名
  14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
- 発表場所
  Cardiff, UK
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] 「深さ分解能」に関するアンケートへの回答のまとめ2011
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  2011年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  東京大学(駒場リサーチキャンパス)
- 年月日
  2011-10-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] 極低角度入射ビームを用いた高感度,高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析2011
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
- 学会等名
  2011年度実用表面分析講演会
- 発表場所
  東京大学(駒場リサーチキャンパス)
- 年月日
  2011-10-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23686009
[学会発表] MgO膜へのH_2O吸着によるイオン誘起二次電子収率の変化2011
- 著者名/発表者名
  村澤裕子, 小出博仁, 永富隆清, 高井義造, 吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
- 学会等名
  第58回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  神奈川工科大学
- 年月日
  2011-03-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Effects of Heating in air and Vacuum on Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film2011
- 著者名/発表者名
  Y. Murasawa, H. Kataoka, T. Nagatomi, Y. Takai, K. Yoshino, Y. Morita, M. Nishitani and M. Kitagawa
- 学会等名
  14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
- 発表場所
  Cardiff, UK
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder2010
- 著者名/発表者名
  T.Ogiwara, T.Nagatomi, S.Tanuma
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2010
- 発表場所
  Portland, OR (USA)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Band Alignment and Defect States in Amorphous Si-N Compounds on Si Substrates2010
- 著者名/発表者名
  S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Change in Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film Caused by Heating in Air2010
- 著者名/発表者名
  Y.Murasawa, J.Azargal, K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Band Alignment and Defect States in Amorphous Si-N Compounds on Si Substrates2010
- 著者名/発表者名
  S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オニジェ深さ方向分析2010
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
- 学会等名
  真空・表面科学合同講演会第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
- 発表場所
  大阪大学(招待講演)
- 年月日
  2010-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85^°-High-Angle Inclined Holder2010
- 著者名/発表者名
  T.Ogiwara, T.Nagatomi, K.J.Kim, S.Tanuma
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder2010
- 著者名/発表者名
  T.Ogiwara, T.Nagatomi, K.J.Kim, S.Tanuma
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] igh-Sensitive Depth Profiling Analyses of Delta-Doped Layers Specimens with Glancing Angle Irradiation and Detection Method2010
- 著者名/発表者名
  H.Tanishiki, T.Ogiwara, T.Nagatomi, Y.Takai, K.J.Kim, S.Tanuma
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Effects of Heating in Air on Metastable De-Excitation Spectroscopy Spectra of MgO and CaO Films2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Yamauchi
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] 加熱処理によるMgO膜のイオン誘起二次電子収率及び表面状態の変化2010
- 著者名/発表者名
  村澤裕子, 片岡憲秀, 吉野恭平, 永富隆清, 高井義造, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
- 学会等名
  真空・表面科学合同講演会第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
- 発表場所
  大阪大学
- 年月日
  2010-11-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010
- 著者名/発表者名
  T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder2010
- 著者名/発表者名
  T.Ogiwara, T.Nagatomi, S.Tanuma
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2010
- 発表場所
  Portland, USA.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Effects of Heating in Air on Metastable De-Excitation Spectroscopy Spectra of MgO and CaO Films2010
- 著者名/発表者名
  K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Yamauchi
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Determination of IMFP, SEP and DSEP by absolute REELS analysis2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Hungarian-Japanese Joint Working Seminar on Studies of Fundamental Parameter Database and Atomic Processes for High Precision Quantitative Analysis using X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in the frame of the bilateral MTA-JSPS scientific research cooperation project)
- 発表場所
  MTA ATOMKI, Debrecen (Hungary)(招待講演)
- 年月日
  2010-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010
- 著者名/発表者名
  T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] 電子と固体(バルク,薄膜)の相互作用-モンテカルロシミュレーションによる2010
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会平成22年度研修セミナー「走査電子顕微鏡法とその周辺技術」-SEM,EPMA,EBSDの基礎から応用まで-
- 発表場所
  三島, 東レ総合研修センター(招待講演)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Surface Defect States of MgO Films2010
- 著者名/発表者名
  S.Heo, J.G Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Mechanism of Secondary electron Emission2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Korea-Japan PDP Forum 2010
- 発表場所
  Jeju, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] オージェ電子分光法装置におけるエネルギー軸校正法(ISO17973,17974)-元素分析と状態分析のために-2010
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  実用表面分析セミナー'10-ISO規格を基礎とした表面分析の実際-
- 発表場所
  大阪大学中ノ島センター
- 年月日
  2010-07-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Surface Defect States of MgO Films2010
- 著者名/発表者名
  S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S. Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Gyeongju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Determination of IMFP, SEP and DSEP by absolute REELS analysis2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Hungarian-Japanese Joint Working Seminar on Studies of Fundamental Parameter Database and Atomic Processes for High Precision Quantitative Analysis using X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in the frame of the bilateral MTA-JSPS scientific research cooperation project)
- 発表場所
  Debrecen, Hungary.
- 年月日
  2010-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析2010
- 著者名/発表者名
  荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
- 学会等名
  第35回表面分析研究会
- 発表場所
  軽井沢プリンスホテル
- 年月日
  2010-06-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] How do we determine interface width and interface position of depth profile? -Definition in ISO documents and application to practical analysis-2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  The 1st Meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program on "Materials Research with Emphasis on Activities Relating to VAMAS"
- 発表場所
  Deajeon, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Metastable De-excitation Spectroscopyを用いたプラズマディスプレイパネル用保護膜の分析(II)-CO_2暴露がMgO及びCaO膜のMDSスペクトルへ与える影響-2010
- 著者名/発表者名
  吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 寺内正治, 辻田卓司, 中山貴仁, 山内康弘, 永富隆清, 高井義造, 山内泰
- 学会等名
  第71回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  長崎大学文京キャンパス
- 年月日
  2010-09-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Mechanism of Secondary electron Emission2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Korea-Japan PDP Forum 2010
- 発表場所
  Jeju, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析2010
- 著者名/発表者名
  谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原俊弥, 田沼繁夫, K.J.Kim
- 学会等名
  真空・表面科学合同講演会第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
- 発表場所
  大阪大学
- 年月日
  2010-11-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Change in Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film Caused by Heating in Air2010
- 著者名/発表者名
  Y.Murasawa, J.Azargal, K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] How do we determine interface width and interface position of depth profile?-Definition in ISO documents and application to practical analysis-2010
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  The 1st Meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program on "Materials Research with Emphasis on Activities Relating to VAMAS"
- 発表場所
  Deajeon, Korea.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] High-Sensitive Depth Profiling Analyses of Delta-Doped Layers Specimens with Glancing Angle Irradiation and Detection Method2010
- 著者名/発表者名
  H.Tanishiki, T.Ogiwara, T.Nagatomi, Y.Takai, K.J.Kim, S.Tanuma
- 学会等名
  5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
- 発表場所
  Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 学会等名
  13th European Conference on Application of Surface and Interface Analysis (ECASIA'09)
- 発表場所
  Antalya, Turkey.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] In Situ Measurement of Surface Potential Induced on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Workshop on High-Resolution Depth Profiling (HRDP-5)
- 発表場所
  Kyoto, Japan.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Influence of Wall Charges on Electron Emission from MgO Layer in AC-PDP2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Japan-Korea PDP Forum '09
- 発表場所
  Kyoto, Japan
- 年月日
  2009-07-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu, Members of JSPS141-WG-SEY
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characteri zations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Pathes for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
- 発表場所
  Hawaii, USA.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Influence of Wall Charges on Electron Emission from MgO Layer in AC-PDP2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi
- 学会等名
  Japan-Korea PDP Forum'09
- 発表場所
  Kyoto, Japan.
- 年月日
  2009-07-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Pathes for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characteri zations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Members of JSPS141-WG-SEY, "Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method"2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
- 発表場所
  Hawaii, USA.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
- 学会等名
  13th European Conference on Application of Surface and Interface Analysis (ECASIA'09)
- 発表場所
  Antalya, Turkey
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] In Situ Measurement of Surface Potential Induced on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009
- 著者名/発表者名
  T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
- 学会等名
  5th International Workshop on High-Resolution Depth Profiling (HRDP-5)
- 発表場所
  Kyoto, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21686005
[学会発表] 深さ方向分析における深さ分解能，界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  第31回表面科学学術講演会(招待講演)
- 発表場所
  東京
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032
[学会発表] AES & XPS－均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針（ISO18118，JIS K 0167）－均質物質の正しい定量分析－
- 著者名/発表者名
  永富隆清
- 学会等名
  表面分析実用化セミナー '11 －　日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用(招待講演)
- 発表場所
  大阪
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23656032

1. 木村吉秀 (70221215)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
2. 高井義造 (30236179)

共同の研究課題数: 6件

共同の研究成果数: 0件
3. 佐藤了平 (80343242)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. 吉田清和 (50263223)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 福島球琳男

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. 大堀謙一

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. OBORI Ken-ich

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

永富 隆清 NAGATOMI Takaharu

永富 清隆 ナガトミ タカハル

研究課題

研究成果

共同研究者

表面プラズモンポラリトンを介した自由な低速光電子と光との間の相互作用の実証研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

パルス照射による絶縁物の帯電及び二次電子放出の過渡解析法の開発と展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

絶縁物からの二次電子放出機構の解明と二次電子収率データベース構築研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

動的ホローコーン照明による球面収差と色収差の同時補正

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超低ドーズ観察を可能にするバイオ電子顕微鏡法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

UHV-TEMを用いたLa注入シリコンナノドットアレイ電界発光素子の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超低速イオンを用いたシャロードープ層の原子レベル深さ分析研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

バイオ超解像位相差電子顕微鏡法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

3次元フーリエ・フィルタリング法によるDNAの分子レベル直視観察

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ナノ薄膜回転対陰極式超高輝度波長可変X線源の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

Extended Landau Theoryによる実効エネルギー損失関数の導出研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

大気圧環境下での原子レベル観察を可能にする透過電子顕微鏡用試料ホルダーの開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012

著者名/発表者名

雑誌名

永富隆清 NAGATOMI Takaharu

永富清隆ナガトミタカハル