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Yokogawa Shinji  横川 慎二

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YOKOGAWA Shinji  横川 慎二

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Researcher Number 40718532
Other IDs
Affiliation (Current) 2025: 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2019 – 2024: 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 教授
2016 – 2018: 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 准教授
2014 – 2015: 独立行政法人高齢・障害・求職者雇用支援機構職業能力開発総合大学校(能力開発院、基, その他部局等, 准教授
2014: 独立行政法人高齢・障害・求職者雇用支援機構, 職業能力開発総合大学校・能力開発院, 基・准教授
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 25010:Social systems engineering-related / Applied informatics and related fields / Social systems engineering/Safety system
Except Principal Investigator
Medium-sized Section 1:Philosophy, art, and related fields / Basic Section 25010:Social systems engineering-related / Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related / Social systems engineering/Safety system / Social systems engineering/Safety system
Keywords
Principal Investigator
インターネット型電力プラットフォーム / 円筒形太陽電池ユニット / インターネット型エネルギープラットフォーム / 円筒形太陽電池 / レジリエンス / 再生可能エネルギー / カーボンニュートラル / レジリエンスエンジニアリング / 創発性不具合 / DQNアルゴリズム … More / 創発的不具合 / 重複分散運用 / 制御系セキュリティ / 物理型AI / バーチャルグリッド / 協調給電 / システムレジリエンス / 制御セキュリティ / 深層強化学習 / ポリシーアウェアDCネットワーキング / バーチェルグリッド / タイムスケール / 二変量ストレス / 影響・危害 / トップ事象モード / 故障モード / ハザード / 予測 / ニューラルネットワーク / 特徴量 / 混合効果モデル / 劣化 / 2変量ストレス / 信頼性 / 線形混合効果モデル / 待機劣化 / 充放電劣化 / 故障解析 / 劣化予測 / リチウムイオン二次電池 … More
Except Principal Investigator
信頼性 / 未然防止 / 安全性 / 品質管理 / 社会実装 / エネルギー / セネガル / サステイナビリティ / グローバルサウス / CO2センサー / IoTモニタリング / 行動分析学 / マスク / 予測体系 / IoT / シーソモデル / 信頼・安心へのスキーム / COVID-19 / 動機付け / 信頼と安心 / 初等中等問題解決教育 / データサイエンス教育 / 未然防止七ステップ / 組織安全文化 / 問題解決プロセス / トランジスタ / 配線 / 低消費電力 / LSI / ハザード / オンラインモニタリング / リスク / 労働安全 / 信頼性工学 / 製品安全 / 故障モード / リスクモード / データ同化 / 状態監視保全 Less
  • Research Projects

    (8 results)
  • Research Products

    (229 results)
  • Co-Researchers

    (24 People)
  •  Lives Matter in Africa: Toward a Collaboration for 'Global South'

    • Principal Investigator
      中山 智香子
    • Project Period (FY)
      2024 – 2027
    • Research Category
      Fund for the Promotion of Joint International Research (International Collaborative Research)
    • Review Section
      Medium-sized Section 1:Philosophy, art, and related fields
    • Research Institution
      Tokyo University of Foreign Studies
  •  次世代3次元LSIのための低消費電力を可能とする高機能裏面配線構造の検討

    • Principal Investigator
      佐藤 勝
    • Project Period (FY)
      2023 – 2025
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
    • Research Institution
      Kitami Institute of Technology
  •  小規模創電・蓄電の統合運用を可能にするインターネット型電力プラットフォームPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      横川 慎二
    • Project Period (FY)
      2023 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Review Section
      Basic Section 25010:Social systems engineering-related
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
  •  信頼性・安全性トラブル未然防止へのモバイルIoTモニタリングシステムの開発と展開

    • Principal Investigator
      鈴木 和幸
    • Project Period (FY)
      2020 – 2024
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Review Section
      Basic Section 25010:Social systems engineering-related
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
  •  Development and demonstration of the renewable energy-oriented autonomous distributed grid by the cooperative power supplyPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Yokogawa Shinji
    • Project Period (FY)
      2017 – 2020
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)
    • Research Field
      Applied informatics and related fields
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
  •  New development of prevention system focusing on risk modes and advanced online monitoring technology

    • Principal Investigator
      Suzuki Kazuyuki
    • Project Period (FY)
      2015 – 2019
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Research Field
      Social systems engineering/Safety system
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
  •  Application of bivariate degradation analysis for prediction of remaining capacity of Lithium ion secondary batteryPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Yokogawa Shinji
    • Project Period (FY)
      2014 – 2016
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Social systems engineering/Safety system
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
      独立行政法人高齢・障害・求職者雇用支援機構職業能力開発総合大学校(能力開発院、基盤整備センター)
  •  Research and Development on Next-Generation Quality and Reliability Information System

    • Principal Investigator
      SUZUKI Kazuyuki
    • Project Period (FY)
      2010 – 2014
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Research Field
      Social systems engineering/Safety system
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications

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All Journal Article Presentation Book Patent

  • [Book] 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測2023

    • Author(s)
      横川慎二ほか
    • Total Pages
      555
    • Publisher
      技術情報協会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Book] 車載用リチウムイオン電池のリユース技術と実際例2023

    • Author(s)
      横川慎二, 中里諒ほか
    • Total Pages
      312
    • Publisher
      NTS
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Book] 信頼性試験技術2019

    • Author(s)
      益田 昭彦、鈴木 和幸、原田 文明、山 悟、横川 慎二
    • Total Pages
      272
    • Publisher
      日科技連出版社
    • ISBN
      4817196866
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Book] 信頼性試験技術2019

    • Author(s)
      益田 昭彦、鈴木 和幸、原田 文明、山 悟、横川 慎二
    • Total Pages
      272
    • Publisher
      日科技連出版社
    • ISBN
      4817196866
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Book] 新版 信頼性工学入門2010

    • Author(s)
      真壁肇、宮村鐵夫、鈴木和幸、田中健次、横川慎二
    • Total Pages
      265
    • Publisher
      日本規格協会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] スマートシティ実現に向けた都市設計における局所大気環境改善のための交通量と大気質の同地点測定2024

    • Author(s)
      湯浅剛, 田中健次, 長濱章仁, 横川慎二, 山田哲男
    • Journal Title

      日本設備管理学会誌

      Volume: 36 Pages: 9-15

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Journal Article] Evaluation and risk communication of the effects of alcohol exposure on disposable procedure masks and portable air purifiers in hospital environments2024

    • Author(s)
      Ishigaki Yo、Yokogawa Shinji、Kato Tatsuo
    • Journal Title

      Toxicology and Industrial Health

      Volume: 40 Issue: 3 Pages: 117-124

    • DOI

      10.1177/07482337241227010

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19820, KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Journal Article] Statistical modeling of Vth distribution in ovonic threshold switches based on physical switching models2023

    • Author(s)
      Yokogawa Shinji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 62 Issue: SH Pages: SH1001-SH1001

    • DOI

      10.35848/1347-4065/acb35e

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Journal Article] Estimation of air change rate by CO<sub>2</sub> sensor network in workplace with COVID-19 outbreak2023

    • Author(s)
      Yokogawa Shinji、Ishigaki Yo、Kitamura Hiroko、Saito Akira、Kawauchi Yuto、Hiraide Taisei
    • Journal Title

      Environmental and Occupational Health Practice

      Volume: 5 Issue: 1 Pages: n/a

    • DOI

      10.1539/eohp.2023-0007-OA

    • ISSN
      2434-4931
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19820, KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Journal Article] Ventilatory effects of excessive plastic sheeting on the formation of SARS-Cov-2 in a closed indoor environment2023

    • Author(s)
      Ishigaki Yo、Kawauchi Yuto、Yokogawa Shinji、Saito Akira、Kitamura Hiroko、Moritake Takashi
    • Journal Title

      Environmental and Occupational Health Practice

      Volume: 5 Issue: 1 Pages: n/a

    • DOI

      10.1539/eohp.2022-0024-OA

    • ISSN
      2434-4931
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19820, KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Journal Article] CO2センサを活用した循環器健診車内の換気可視化の検討2022

    • Author(s)
      齋藤彰,石垣陽,横川慎二,川内雄登,田中晴美,浅野美穂,小川美紀,石川正悟,高橋里美,齋藤泰紀
    • Journal Title

      日本人間ドック学会誌

      Volume: 37 Pages: 699-707

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Analysis of the Trends Between Indoor Carbon Dioxide Concentration and Plug-Level Electricity Usage Through Topological Data Analysis2022

    • Author(s)
      Shun Endo, Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      IEEE Sensors Journal

      Volume: 22 Issue: 2 Pages: 1424-1434

    • DOI

      10.1109/jsen.2021.3130570

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Pilot Evaluation of Possible Airborne Transmission in a Geriatric Care Facility Using Carbon Dioxide Tracer Gas: Case Study2022

    • Author(s)
      Yo Ishigaki, Shinji Yokogawa, Yuki Minamoto, Akira Saito, Hiroko Kitamura, and Yuto Kawauchi
    • Journal Title

      JMIR Formative Research

      Volume: 6 Pages: 1-14

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Ventilation improvement and evaluation of its effectiveness in a Japanese manufacturing factory2022

    • Author(s)
      Hiroko Kitamura, Yo Ishigaki, Hideaki Ohashi, and Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Scientific Reports

      Volume: 12 Pages: 1217642-1217642

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化量分析2021

    • Author(s)
      浅野実, 横川慎二, 石垣陽, 冨永潤一, 粟津浜一
    • Journal Title

      モバイル学会誌

      Volume: 11

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Analysis of Time-Series Multidimensional Data on the Indoor Environment Using Topological Data Analysis2021

    • Author(s)
      遠藤 駿、横川 慎二
    • Journal Title

      電子情報通信学会論文誌D 情報・システム

      Volume: J104-D Issue: 4 Pages: 318-327

    • DOI

      10.14923/transinfj.2020PDP0023

    • ISSN
      1880-4535, 1881-0225
    • Year and Date
      2021-04-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] Applications of lifetime distribution functions with two shape parameters for reliability analysis in advanced interconnect technologies: a brief review2020

    • Author(s)
      Yokogawa Shinji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 59 Issue: SL Pages: SL0802-SL0802

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab7f1f

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314, KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Humidity reliability of commercial flash memories for long-term storage2020

    • Author(s)
      Murota Tomoki、Mimura Toshiki、Gomasang Ploybussara、Yokogawa Shinji、Ueno Kazuyoshi
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 59 Issue: SL Pages: SLLC01-SLLC01

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab85dc

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 超スマート社会を支えるi-パワードエネルギー・システム2019

    • Author(s)
      横川 慎二,市川 晴久,曽我部 東馬,澤田 賢治,早瀬 修二,大川 富雄
    • Journal Title

      品質

      Volume: 49 Pages: 228-231

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の可視化に基づく創発的不具合の構造解析2019

    • Author(s)
      横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 41 Pages: 135-147

    • NAID

      130008154366

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 超スマート社会の社会品質を支えるi-パワードエネルギー・システム2019

    • Author(s)
      横川慎二, 市川晴久, 曽我部東馬, 澤田賢治, 早瀬修二, 大川富雄
    • Journal Title

      品質

      Volume: 49 Pages: 228-231

    • NAID

      40021976970

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Bayesian inference of lifetime distribution parameter on the time-dependent dielectric breakdown with clustering defects2019

    • Author(s)
      K. Kunii, S. Endo, and S. Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 58

    • NAID

      210000156618

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Seven View Points and Reliability Engineering Scheme for Preventing Reliability Problems2019

    • Author(s)
      Suzuki Kazuyuki、Yokogawa Shinji
    • Journal Title

      International Journal of Reliability, Quality and Safety Engineering

      Volume: 27 Issue: 03 Pages: 2050006-2050006

    • DOI

      10.1142/s0218539320500060

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314, KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Journal Article] Overlapped Grouping Optimization for Wind-Photovoltaic-Battery Hybrid System by Graph Enumeration2019

    • Author(s)
      池崎 太一,金子 修
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems

      Volume: 139 Issue: 7 Pages: 786-795

    • DOI

      10.1541/ieejeiss.139.786

    • NAID

      130007672051

    • ISSN
      0385-4221, 1348-8155
    • Year and Date
      2019-07-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H04384, KAKENHI-PROJECT-19H02158, KAKENHI-PROJECT-20K20314, KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Bayesian inference of a lifetime distribution parameter on the time-dependent dielectric breakdown with clustering defects2019

    • Author(s)
      Kunii Kyosuke、Endo Shun、Yokogawa Shinji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 58 Issue: SH Pages: SHHG02-SHHG02

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab1fd6

    • NAID

      210000156618

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314, KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Liner- and barrier-free NiAl metallization: A perspective from TDDB reliability and interface status2019

    • Author(s)
      Chen, L., Ando, D., Sutou, Y., Yokogawa, S., Koike, J.
    • Journal Title

      Applied Surface Science

      Volume: 497 Pages: 143810-143810

    • DOI

      10.1016/j.apsusc.2019.143810

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18H03830, KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] 機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の可視化に基づく創発的不具合の構造解析2019

    • Author(s)
      横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 41 Pages: 135-147

    • NAID

      130008154366

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Lifetime prediction model of Cu-based metallization against moisture under temperature and humidity accelerations2019

    • Author(s)
      Ploybussara Gomasang, Satoru Ogiue, Shinji Yokogawa, Kazuyoshi Ueno
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 58 Issue: SB Pages: SBBC01-SBBC01

    • DOI

      10.7567/1347-4065/aafe6a

    • NAID

      210000135402

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化2019

    • Author(s)
      武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
    • Journal Title

      電気学会論文誌C

      Volume: 139

    • NAID

      130007672051

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] A survey of critical failure events in on-chip interconnect by using fault tree analysis2018

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kyosuke Kunii
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] A statistical evaluation method for lifetime distribution in field accelerated time-dependent dielectric breakdwon by using two-step probability plot and multi-link test scheme2018

    • Author(s)
      K. Tate and S. Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57 Issue: 7S2 Pages: 07MG02-07MG02

    • DOI

      10.7567/jjap.57.07mg02

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] On the Overlapping Decentralized Operation for Wind-Photovoltaic-Battery Hybrid System2018

    • Author(s)
      武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems

      Volume: 138 Issue: 12 Pages: 1554-1565

    • DOI

      10.1541/ieejeiss.138.1554

    • NAID

      130007539523

    • ISSN
      0385-4221, 1348-8155
    • Year and Date
      2018-12-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 深層学習・深層強化学習を応用したエネルギーシステムの最適化2018

    • Author(s)
      曽我部東馬, 横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 40 Pages: 87-93

    • NAID

      130007724407

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] A statistical evaluation method for lifetime distribution in field accelerated time-dependent dielectric breakdwon by using two-step probability plot and multi-link test scheme2018

    • Author(s)
      Kazuki Tate, Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] A survey of critical failure events in on-chip interconnect by using fault tree analysis2018

    • Author(s)
      S. Yokogawa and K. Kunii
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57 Issue: 7S2 Pages: 07MG01-07MG01

    • DOI

      10.7567/jjap.57.07mg01

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] A survey of critical failure events in on-chip interconnect by using fault tree analysis2018

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kyosuke Kunii
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 深層学習・深層強化学習を応用したエネルギーシステムの最適化2018

    • Author(s)
      曽我部東馬, 横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 40 Pages: 87-93

    • NAID

      130007724407

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] 層学習・深層強化学習を応用したエネルギーシステムの最適化2018

    • Author(s)
      曽我部東馬, 横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 40 Pages: 87-93

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] A statistical evaluation method for lifetime distribution in field accelerated time-dependent dielectric breakdwon by using two-step probability plot and multi-link test scheme2018

    • Author(s)
      Kazuki Tate, Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 57

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] 日常の問題場面を用いた教材開発への一考察―問題解決事例の分析による目的設定の方法―2017

    • Author(s)
      山下雅代・横川慎二・鈴木和幸
    • Journal Title

      教材学研究

      Volume: 29

    • NAID

      130007806398

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Two-step probability plot for parameter estimation of lifetime distribution affected by defect clustering in time-dependent dielectric breakdown2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 56

    • NAID

      210000148113

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Journal Article] 再生可能エネルギー指向自律分散グリッドーバーチャルグリッドー2017

    • Author(s)
      横川慎二,市川晴久,曽我部東馬,澤田賢治,川喜田佑介
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 39 Pages: 8-15

    • NAID

      130007688178

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 日常の問題場面を用いた教材開発への一考察 問題解決事例の分析による目的設定の方法―2017

    • Author(s)
      山下雅代, 横川慎二, 鈴木和幸
    • Journal Title

      教材学研究

      Volume: 28 Pages: 35-46

    • NAID

      130007806398

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Two-step probability plot for parameter estimation of lifetime distribution affected by defect clustering in time-dependent dielectric breakdown2017

    • Author(s)
      Yokogawa Shinji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 56 Issue: 7S2 Pages: 07KG02-07KG02

    • DOI

      10.7567/jjap.56.07kg02

    • NAID

      210000148113

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Journal Article] 再生可能エネルギー指向自立分散グリッド-バーチャルグリッド-2017

    • Author(s)
      横川慎二・市川晴久・曽我部東馬・澤田賢治・川喜田祐介
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 39 Pages: 8-15

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] 再生可能エネルギー指向自律分散グリッドーバーチャルグリッドー2017

    • Author(s)
      横川慎二, 市川晴久, 曽我部東馬, 澤田賢治, 川喜田佑介
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 39

    • NAID

      130007688178

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] トラブル予測表を用いた故障モード予測方法と信頼性・安全性の作りこみ評価指標の提案2016

    • Author(s)
      山崎 雄大,横川慎二, 鈴木和幸
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 38 Pages: 271-283

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Journal Article] A simulation study for lifetime distribution of time-dependent dielectric breakdown in middle-of-line affected by global and local space variations2016

    • Author(s)
      Yokogawa, S.
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 55 Issue: 6S3 Pages: 06JF02-06JF02

    • DOI

      10.7567/jjap.55.06jf02

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786, KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Journal Article] 東南アジアの在職職業訓練指導員の能力向上事業における統計的品質管理の学習2016

    • Author(s)
      入倉則夫・奥猛文・横川慎二
    • Journal Title

      工学教育

      Volume: 64 Pages: 84-89

    • NAID

      130005154870

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Simulation Study for Lifetime Distribution of Middle-of-line Time-dependent Dielectric Breakdown Affected by Global and Local Spacing Variations2016

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 55

    • NAID

      210000146732

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] トラブル予測表を用いた故障モード予測手法と信頼性・安全性の作り込み評価指標の提案2016

    • Author(s)
      山﨑 雄大・横川 慎二・鈴木 和幸
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 38 Pages: 271-283

    • NAID

      130007681960

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] コンタクトの信頼性 –Siデバイスから先端パワーデバイスまで–2015

    • Author(s)
      横川慎二
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 37

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] Statistical characteristics of lifetime distribution based on the defect clustering for time-dependent dielectric breakdown in middle- and back-end-of-line2015

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 54 Issue: 5S Pages: 05EC02-05EC02

    • DOI

      10.7567/jjap.54.05ec02

    • NAID

      210000145173

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472, KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Journal Article] Statistical Characteristics of Lifetime Distribution Based on the Defect Clustering for Time-dependent Dielectric Breakdown in Middle and Back-end-of-line2015

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: xx Pages: 1-10

    • NAID

      210000145173

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] マジックダイス実験を導入した品質管理教育の実践と分析2015

    • Author(s)
      横川慎二,奥猛文,入倉則夫
    • Journal Title

      工学教育

      Volume: 63

    • NAID

      130005074527

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] Cu配線の信頼性と界面:EM, SIV, TDDBにおける界面の寄与と制御2014

    • Author(s)
      横川慎二
    • Journal Title

      表面科学

      Volume: 35

    • NAID

      130004486899

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] Lifetime Prediction Model of Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects2014

    • Author(s)
      Yokogawa, S.
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics, with Peer Review

      Volume: 53

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Journal Article] Lifetime Distribution Analysis of Stress-induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/low-κ Interconnects2013

    • Author(s)
      Yokogawa, S. and H. Tsuchiya
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, with Peer Review

      Volume: 13 Pages: 272-276

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Patent] 発電量推定装置2021

    • Inventor(s)
      中里諒, 横川慎二, 市川晴久, 武田隆, 後川知仁
    • Industrial Property Rights Holder
      中里諒, 横川慎二, 市川晴久, 武田隆, 後川知仁
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2021-037410
    • Filing Date
      2021
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Patent] ヴァーチャルグリッドハブポートユニット,ヴァーチャルグリッド制御装置,ヴァーチャルグリッドシステム,プログラム2019

    • Inventor(s)
      市川晴久,横川慎二,川喜田佑介,他4名
    • Industrial Property Rights Holder
      市川晴久,横川慎二,川喜田佑介,他4名
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2019-187455
    • Filing Date
      2019
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Patent] 蓄電池管理システム,蓄電池情報サーバ,充放電制御装置及び蓄電池2017

    • Inventor(s)
      市川晴久,川喜田佑介,澤田賢治,横川慎二
    • Industrial Property Rights Holder
      市川晴久,川喜田佑介,澤田賢治,横川慎二
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Filing Date
      2017
    • Acquisition Date
      2019
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Patent] 給電制御システム2017

    • Inventor(s)
      市川晴久,横川慎二,川喜田佑介
    • Industrial Property Rights Holder
      市川晴久,横川慎二,川喜田佑介
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2017-214821
    • Filing Date
      2017
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Patent] 蓄電池管理システム、蓄電池情報サーバ、充放電制御装置及び蓄電池2015

    • Inventor(s)
      市川晴久、川喜田佑介、澤田賢治、横川慎二
    • Industrial Property Rights Holder
      市川晴久、川喜田佑介、澤田賢治、横川慎二
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2015-150389
    • Filing Date
      2015-07-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] Affinity-based Power Flow Optimization in Reconfigurable Piocgrid2024

    • Author(s)
      國分 亮太,大條 海渡,川喜田 佑介,横川 慎二,戸辺 義人,市川 晴久
    • Organizer
      The 2024 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII 2024)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] 先端半導体デバイスの信頼性2024

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA EDR-4717半導体デバイス信頼性用語集発行記念セミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] 仮想電力グリッドネットワークにおける蓄電池の状態に応じた自動制御システムの試作2024

    • Author(s)
      皆川裕希, 市川晴久, 横川慎二, 戸辺義人, 川喜田佑介
    • Organizer
      信学技報(SeMI)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] 感染症予防難易度の高い社会福祉施設の空気質管理2023

    • Author(s)
      横川慎二, 石垣陽, 喜多村紘子, 齋藤彰
    • Organizer
      第14回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] Parallelization of DC Feeding Network Setting Time Reduction of Control Frequency2023

    • Author(s)
      Kazato Otsu, Haruhisa Ichikawa, Yoshito Tobe, Shinji Yokogawa, Yuusuke Kawakita
    • Organizer
      Proc. ICMU2023
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] 仮想電力グリッドネットワークにおける電力フロー切り替えシステムの試作2023

    • Author(s)
      皆川裕希, 市川晴久, 横川慎二, 戸辺義人, 川喜田佑介
    • Organizer
      信学技報(RISING)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] MOL and BEOL Reliability2023

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 直流給電ネットワークの設定制御の並列化による制御時間の削減2023

    • Author(s)
      大津風人, 市川晴久, 横川慎二, 川喜田佑介
    • Organizer
      計測自動制御学会計測部門スマートセンシングシステム部会研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] A linear model for estimating power generation on city facade using a city 3D model and solar power generation simulation2023

    • Author(s)
      G. Li and S. Yokogawa
    • Organizer
      2023 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies Conference Asia
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] CO2センサを用いたフィールドワークと時系列データ解析に基づくエアロゾル感染リスク診断2023

    • Author(s)
      川内雄登, 横川慎二, 石垣陽
    • Organizer
      第31回日本信頼性学会春季シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] Effects of defect clustering on the shape of TDDB lifetime distribution and screening effectiveness2023

    • Author(s)
      Koichi Endo and Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2023
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] MOL and BEOL Reliability2023

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium 2023
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] VG Hubネットワークにおける設定コストとリンク効率を考慮した電力供給経路の選択手法2023

    • Author(s)
      大條海渡,川喜田佑介,戸辺義人,横川慎二,市川晴久
    • Organizer
      計測自動制御学会計測部門スマートセンシングシステム部会研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] 仮想的電力グリッドネットワークにおける給電需要を満たした電力フロー決定システムの開発2023

    • Author(s)
      皆川裕希, 市川晴久, 横川慎二, 川喜田佑介
    • Organizer
      計測自動制御学会計測部門スマートセンシングシステム部会研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K26330
  • [Presentation] Statistical Modeling of Vth Distribution in Ovonic Threshold Switches2022

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2022: 31th Asian Session 2022 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 熱流体シミュレーションと応答曲面法を用いたX線検診車の換気とリスクの分析2022

    • Author(s)
      平出大誠, 川内雄登, 石垣陽, 横川慎二, 齋藤彰, 喜多村紘子
    • Organizer
      第30回春季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 保育園・幼稚園・高齢者施設の感染症抑制に向けた課題と現状分析2022

    • Author(s)
      横川慎二, 石垣陽, 喜多村紘子, 齋藤彰
    • Organizer
      第14回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] CO2センサーデータの時系列クラスタリングによるマイクロ飛沫感染リスクの診断方法2022

    • Author(s)
      川内雄登, 石垣陽, 横川慎二
    • Organizer
      第13回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] Time Series Clustering of CO2 Concentration Sensor Data for Risk Classification2022

    • Author(s)
      Y. Kawauchi, Y. Ishigaki, and S. Yokogawa
    • Organizer
      Indoor air
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化傾向の診断2021

    • Author(s)
      浅野実, 横川慎二
    • Organizer
      電子情報通信学会信学技法
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Society 5.0の基盤としてのデータ収集・分析・利活用2021

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第28回IoT特別研究会(RC-88)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] CO2センサーネットワークによるホールの換気量の評価とリアルタイム可視化2021

    • Author(s)
      川内雄登, 浅野実, 中里諒, 黒良直生, 中嶋洋貴, 平出大誠, 遠藤幸一, 石垣陽, 横川慎二
    • Organizer
      第29回環境化学討論会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 航空LiDARデータとGISソフトウェアを用いた太陽光発電における検討2021

    • Author(s)
      中里諒,野秋拓真,横川慎二,市川晴久,後川知仁,武田隆
    • Organizer
      電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] USB-PDハブによる電力配信の効率化に向けた制御検討2021

    • Author(s)
      高家和暉,田村光汰,戸辺義人,川喜田佑介,横川慎二,市川晴久
    • Organizer
      令和3年電気学会全国大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 利用調査データに基づくユーザーペルソナの抽出とバッテリー劣化量との相関分析2021

    • Author(s)
      浅野実, 横川慎二, 石垣陽, 冨永潤一, 粟津浜一
    • Organizer
      第50回信頼性・保全性・安全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 故障物理に基づくデバイスの信頼性モデリング2021

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      日本OR学会4部会・グループ合同研究会 ~確率モデルの新展開~
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 特定地域における太陽光発電のポテンシャルに関する基礎的検討2021

    • Author(s)
      後川知仁,武田隆,中里諒,横川慎二,市川晴久
    • Organizer
      電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] CO2センサーを活用した循環器検診車内の換気可視化の検討2021

    • Author(s)
      斎藤彰, 石垣陽, 横川慎二, 川内雄登, 田中晴美, 浅野美穂, 小川美紀, 鎌田麻衣, 石川正吾, 齋藤泰紀
    • Organizer
      第62回日本人間ドック学会学術大会予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 利用調査データに基づくユーザーペルソナの抽出とバッテリー劣化量との相関分析2021

    • Author(s)
      浅野実, 横川慎二, 石垣陽, 冨永潤一, 粟津浜一
    • Organizer
      モバイル'21
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] パブリックスペースにおけるCO2濃度センシングを用いたリスク解析2021

    • Author(s)
      川内雄登, 石垣陽, 横川慎二
    • Organizer
      第50回信頼性・保全性・安全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] Trends between indoor CO2 concentration and electricity usage through topological data analysis2021

    • Author(s)
      Shun Endo, Shinji Yokogawa
    • Organizer
      2021 IEEE 3rd Global Conference on Life Sciences and Technologies
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 超小型電力システムを単位に再構成可能なマイクログリッド2020

    • Author(s)
      市川晴久,横川慎二,戸辺義人,川喜田佑介
    • Organizer
      第63回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 環境・エネルギーセンサーネットワークデータの位相的データ解析を用いた空間環境評価2020

    • Author(s)
      遠藤駿, 横川慎二
    • Organizer
      第33回秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] 環境・エネルギーセンサーネットワークデータの位相的データ解析を用いた空間環境評価2020

    • Author(s)
      遠藤駿, 横川慎二
    • Organizer
      第33回秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 自律分散グリッドのセキュリティ確保のための機械学習によるデバイス識別方法2020

    • Author(s)
      浅野実, 横川慎二, 市川晴久
    • Organizer
      第33回秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] US-PDを活用した電力の合成分配制御に関する検討2020

    • Author(s)
      田村 光汰,川喜田 佑介,戸辺 義人,横川 慎二,市川 晴久
    • Organizer
      情報処理学会第82回全国大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] USB-PDによるポリシーアウェアDCパワーネットワーキング2020

    • Author(s)
      川喜田佑介,高家和暉,田村光汰,戸辺義人,市川晴久,横川慎二
    • Organizer
      第63回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Ambient Intelligence(環境知能)によるフリーアドレススペースのリスク評価2020

    • Author(s)
      横川慎二,石垣陽,遠藤駿,高原廉,川内雄登
    • Organizer
      第11回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] Ambient Intelligence(環境知能)によるフリーアドレススペースのリスク評価2020

    • Author(s)
      横川慎二,石垣陽,遠藤駿,高原廉,川内雄登
    • Organizer
      第11回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 極微細配線の課題解決にむけた金属間化合物の可能性2020

    • Author(s)
      小池淳一, チェン・リンハン, 横川慎二
    • Organizer
      電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の内部状態を考慮した階層ベイズによる容量劣化診断2020

    • Author(s)
      中里諒, 横川慎二
    • Organizer
      第33回秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 電気化学インピーダンス法と階層ベイズによるリチウムイオン二次電池の容量劣化量診断2020

    • Author(s)
      中里諒, 横川慎二
    • Organizer
      電子情報通信学会信学技法
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] ビッグ/スモールデータ時代の信頼性解析2020

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA 半導体信頼性認定ガイドラインセミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K20267
  • [Presentation] Toward efficient power delivery using USB Power Delivery hub2020

    • Author(s)
      Kazuki Takaie, Kota Tamura, Yuusuke Kawakita, Shinji Yokogawa, Yoshito Tobe, Haruhisa Ichikawa
    • Organizer
      ACM Conference on Embedded Networked Sensor Systems (Sensys 2020)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 極微細配線の課題解決にむけた金属間化合物の可能性2020

    • Author(s)
      小池淳一, チェン・リンハン, 横川慎二
    • Organizer
      電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Practical Issues in Aggregation and Distribution of Electrical Power Among USB-PD-Connected Devices2020

    • Author(s)
      Kota Tamura, Yuusuke Kawakita, Yoshito Tobe, Shinji Yokogawa, Haruhisa Ichikawa
    • Organizer
      Proc. Workshop on the Reliability of Intelligent Environments (WoRIE 2020)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 分散電力の統合とグリッドレジリエンス確保のためのデバイス識別と蓄電池診断技術2020

    • Author(s)
      横川慎二, 浅野実, 中里諒
    • Organizer
      第63回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB寿命分布のパラメータ推定精度の研究2019

    • Author(s)
      國井喬介, 遠藤駿, 中里諒, 横川慎二
    • Organizer
      第49回信頼性・保全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Chip-level Electromigration Evaluation using GENG estimations2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa, K. Kunii, and R. Nakazato
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2019: 29th Asian Session 2019 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] A Simple Prediction Method for Chip-level Electromigration Lifetime using Generalized Gamma Distribution2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa and K. Kunii
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 「数の難題」,再来 ーLSI信頼性の果たすものとこれからー2019

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] i-パワードエネルギーによるデータ駆動型社会基盤と不具合未然防止2019

    • Author(s)
      横川慎二,市川晴久,澤田賢治,曽我部東馬,川喜田佑介
    • Organizer
      第10回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Humidity Reliability of a Commercial Flash Memory for Long Term Storage2019

    • Author(s)
      T. Murota, T. Mimura, P. Gomasang, S. Yokogawa, and K. Ueno
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2019: 29th Asian Session 2019 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 信頼性加速試験における小サンプルサイズでの解析精度に関するシミュレーション研究2019

    • Author(s)
      遠藤 幸一,瀬戸屋 孝,國井 喬介,横川 慎二
    • Organizer
      第49回信頼性・保全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 人対機械システムにおける信頼成長の分析2019

    • Author(s)
      横川慎二, 遠藤駿
    • Organizer
      電子情報通信学会信頼性研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] An Approach to Renewable-Energy Dominant Grids via Distributed Electrical Energy Platform for IoT Systems2019

    • Author(s)
      H. Ichikawa, S. Yokogawa, Y. Kawakita, K. Sawada, T. Sogabe, A. Minegishi, and H. Uehara
    • Organizer
      IEEE International Conference on Communications, Control, and Computing Technologies for Smart Grids
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Reliability statistics for next-generation interconnects -The combination of physical modeling and statistical techniques-2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa
    • Organizer
      2019 MRS Spring Meeting
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] クラスター欠陥とストレス分布に基づく先端デバイスの信頼度モデリング2019

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      電子情報通信学会信頼性研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] エゾシカ肉の電気的特性評価とそのおいしさの解析2019

    • Author(s)
      武山真弓, 横川慎二, 佐藤勝, 安井崇
    • Organizer
      電子情報通信学電子部品・材料研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] ワイブルベイズ統計モデリングにおける故障物理情報の応用2019

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第29回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] クラスター欠陥とストレス分布に基づく先端デバイスの信頼度モデリング2019

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      電子情報通信学会信頼性研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 再生可能エネルギー主力電源化時代を指向するIoT電力プラットフォーム2019

    • Author(s)
      市川,横川
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Humidity Reliability of a Commercial Flash Memory for Long Term Storage2019

    • Author(s)
      T. Murota, T. Mimura, P. Gomasang, S. Yokogawa, and K. Ueno
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2019: 29th Asian Session
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB寿命分布のパラメータ推定精度の研究2019

    • Author(s)
      國井喬介, 遠藤駿, 中里諒, 横川慎二
    • Organizer
      信頼性・保全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Chip-level Electromigration Evaluation using GENG estimations2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa, K. Kunii, and R. Nakazato
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2019: 29th Asian Session
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 自動/有人レジに対する不満の差異に着目した対人自動システムへの信頼構造の分析2019

    • Author(s)
      森田裕, 横川慎二
    • Organizer
      日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 自動/有人レジに対する不満の差異に着目した対人自動システムへの信頼構造の分析2019

    • Author(s)
      森田裕, 横川慎二
    • Organizer
      第27回日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] ビッグ/スモールデータ時代の信頼性解析2019

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA 半導体信頼性認定ガイドラインセミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] An Approach to Renewable-Energy Dominant Grids via Distributed Electrical Energy Platform for IoT Systems2019

    • Author(s)
      H. Ichikawa, S. Yokogawa, Y. Kawakita, K. Sawada, T. Sogabe, A. Minegishi, H. Uehara
    • Organizer
      IEEE SmartGridComm
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] i-パワードエネルギーによるデータ駆動型社会基盤と不具合未然防止2019

    • Author(s)
      横川慎二,市川晴久,澤田賢治,曽我部東馬,川喜田佑介
    • Organizer
      横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] A Simple Prediction Method for Chip-level Electromigration Lifetime using Generalized Gamma Distribution2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa and K. Kunii
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Grouping optimization for Wind-Photovoltaic-Battery Hybrid System using graph enumeration2019

    • Author(s)
      Kengo Takeda, Kenji Sawada, Shinji Yokogawa, Seiichi Shin
    • Organizer
      AROB 24th 2019
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Reliability statistics for next-generation interconnects -The combination of physical modeling and statistical techniques-2019

    • Author(s)
      S. Yokogawa
    • Organizer
      2019 MRS Spring Meeting
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 人対機械システムにおける信頼成長の分析2019

    • Author(s)
      横川慎二, 遠藤駿
    • Organizer
      電子情報通信学会信頼性研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Physical and Statistical Analysis and Methodologies for Realizing Automotive-Level Extremely Low Defect Densities (FEOL/MOL/BEOL)2018

    • Author(s)
      S. Yokogawa
    • Organizer
      Tutorial of International Conference on IC Design and Technology
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Temperature and Humidity Acceleration to Establish Lifetime Prediction Model for Cu-based Metallization2018

    • Author(s)
      P. Gomasang, S. Ogiue, S. Yokogawa, and K. Ueno
    • Organizer
      2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 多層配線の故障物理メカニズムと信頼度予測2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 風力・太陽光・蓄電池複合システムにおけるグルーピング最適化の検証2018

    • Author(s)
      武田 健吾,澤田 賢治,横川 慎二,新 誠一
    • Organizer
      第30回自律分散シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 創発的不具合における機能共鳴の分析と分類2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] ベイズ推測によるワイブル初期故障分布の推定・評価2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第28回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 特徴グラフを用いた汎用型CNN深層学習手法の開発2018

    • Author(s)
      高橋彗, 沼尻 匠, 曽我部 完, 坂本克好, 山口浩一, 横川慎二, 曽我部東馬
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会(第32回)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Parameter estimation accuracy of TDDB lifetime distribution with clustering defects using the Bayesian approach2018

    • Author(s)
      K. Kunii, S. Endo, and S. Yokogawa
    • Organizer
      Proc. of Advanced Metallization Conference 2018: 28th Asian Session 2018 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB の寿命分布のパラメータ推定精度の研究2018

    • Author(s)
      國井喬介, 遠藤駿, 横川慎二
    • Organizer
      ADMETA Satellite Workshop
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 量子自己符号器の開発,2018

    • Author(s)
      黄川田優太, 坂本克好, 山口浩一, Thakur Praveen Singh, 曽我部完, 横川慎二,曽我部東馬
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会(第32回)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Temperature and Humidity Acceleration to Establish Lifetime Prediction Model for Cu-based Metallization2018

    • Author(s)
      P. Gomasang, S. Ogiue, S. Yokogawa, and K. Ueno
    • Organizer
      2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Hybrid Policy Gradient for Deep Reinforcement Learning2018

    • Author(s)
      P. S. THAKUR, M. SOGABE, K.i SAKAMOTO, K.i YAMAGUCHI, D. B. MALLA, S.i YOKOGAWA, T. SOGABE
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] アンケート分析によるエゾシカ肉の旨味評価と電気的測定評価との関連2018

    • Author(s)
      武山真弓, 横川慎二, 佐藤勝, 安井崇
    • Organizer
      電子情報通信学会電子部品・材料研究会8月度研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] エレクトロマイグーション のチップレベル 寿命分布の考察2018

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      ADMETA Satellite Workshop
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] グローバル展開を前提とした超スマート社会確立を目指すエネルギープラットフォーム2018

    • Author(s)
      市川,横川,川喜田
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 畳み込みニューラルネットワークを用いたシステムの特性劣化の特徴量抽出と運用条件検討への応用2018

    • Author(s)
      遠藤駿, 横澤成望, 川上紗野花, 國井喬介, 横川慎二
    • Organizer
      第48回信頼性・保全性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化2018

    • Author(s)
      武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
    • Organizer
      計測自動制御学会システム・情報部門学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Hybrid Policy Gradient for Deep Reinforcement Learning2018

    • Author(s)
      D.Malla, K.Sakamoto, K.Yamaguchi, S.Yokogawa, T. Sogabe
    • Organizer
      International Workshop on Networking, Computing, Systems, and Software
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 畳み込みニューラルネットワークを用いたシステムの特性劣化の特徴量抽出と運用条件検討への応用2018

    • Author(s)
      遠藤駿, 横澤成望, 川上紗野花, 國井喬介, 横川慎二
    • Organizer
      第48回信頼性・保全性シンポジウム予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Oxidation Structure Change of Copper Surface Depending on Accelerated Humidity2018

    • Author(s)
      P. Gomasang, S. Ogiue, K. Ueno, and S. Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Interconnect Technology Conference
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 特徴グラフを用いた汎用型CNN深層学習手法の開発2018

    • Author(s)
      高橋 慧, 沼尻 匠, 曽我部 完, 坂本 克好, 山口 浩一, 横川 慎二, 曽我部 東馬
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 創発的不具合における機能共鳴の分析と分類2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Reliability Evaluation of Defect Accounted Time-Dependent Dielectric Breakdown with Competing-Mixture Distribution2018

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kazuki Tate
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化の検討2018

    • Author(s)
      武田健吾,澤田賢治,横川慎二,新誠一
    • Organizer
      電気学会電子・情報・システム部門大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Reliability Evaluation of Defect Accounted Time-Dependent Dielectric Breakdown with Competing-Mixture Distribution2018

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kazuki Tate
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] グルーピング列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化2018

    • Author(s)
      武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化2018

    • Author(s)
      武田健吾,澤田賢治,横川慎二,新誠一
    • Organizer
      システム・情報部門学術講演会(SSI2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB の寿命分布のパラメータ推定精度の研究2018

    • Author(s)
      國井喬介, 遠藤駿, 横川慎二
    • Organizer
      ADMETA Satellite Workshop
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] アンケート分析によるエゾシカ肉の旨味評価と電気的測定評価との関連2018

    • Author(s)
      武山真弓, 横川慎二, 佐藤勝, 安井崇
    • Organizer
      電子情報通信学会電子部品・材料研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] グローバル展開を前提とした超スマート社会の確立を目指すエネルギープラットフォーム2018

    • Author(s)
      市川 晴久, 横川 慎二, 川喜田 佑介
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] エレクトロマイグーション のチップレベル 寿命分布の考察2018

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      ADMETA Satellite Workshop
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Prediction of Device Power Consumption in Virtual Grid using Deep Learning2018

    • Author(s)
      S. Kikuchi, K. Asakura, Y. Kawakita, S. Yokogawa, H. Ichikawa
    • Organizer
      IEICE ASN workshop
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Physical and Statistical Analysis and Methodologies for Realizing Automotive-Level Extremely Low Defect Densities (FEOL/MOL/BEOL)2018

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      International Conference on IC Design and Technology
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] ハイブリッド方策勾配型深層強化学習手法の開発2018

    • Author(s)
      Thakur Praveen Singh, Masaru Sogabe, Katsuyoshi Sakamoto, Koichi Yamaguchi, Dinesh Bahadur Malla, Shinji Yokogawa, Tomah Sogabe
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会(第32回)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 離散および連続的動作空間における深層強化学習を用いたスマートエネルギーシステムの最適化2018

    • Author(s)
      Tomah Sogabe, Dinesh Bahadur Malla, Shota Takayama, Shinji Yokogawa, Katsuyoshi Sakamoto, Koichi Yamaguchi, Thakur Praveen Singh, Masaru Sogabe
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会(第32回)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Reliability Evaluation of Defect Accounted Time-Dependent Dielectric Breakdown with Competing-Mixture Distribution2018

    • Author(s)
      S. Yokogawa and K. Tate
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] ベイズ推測によるワイブル初期故障分布の推定・評価2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第28回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム・信頼性セミナー講演
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 多層配線の故障物理メカニズムと信頼度予測2018

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 風力・太陽光・蓄電池複合システムにおけるグルーピング最適化の検証2018

    • Author(s)
      武田健吾, 澤田賢治, 横川慎二, 新誠一
    • Organizer
      第30回自律分散システム・シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] グルーピング列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化2018

    • Author(s)
      武田健吾,澤田賢治,横川慎二,新誠一
    • Organizer
      第9回横幹連合コンファレンス
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 量子自己符号化器の開発2018

    • Author(s)
      黄川田優太, 坂本克好, 山口浩一, 横川慎二, 曽我部東馬
    • Organizer
      2018年度人工知能学会全国大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Oxidation Structure Change of Copper Surface Depending on Accelerated Humidity2018

    • Author(s)
      P. Gomasang, S. Ogiue, K. Ueno, and S. Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Interconnect Technology Conference
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Parameter estimation accuracy of TDDB lifetime distribution with clustering defects using the Bayesian approach2018

    • Author(s)
      K. Kunii, S. Endo, and S. Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2018: 28th Asian Session 2018 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化における二変量ストレスの交互作用に着目した統計モデリング2017

    • Author(s)
      横川慎二,國井喬介,横澤成望
    • Organizer
      2017年電気化学秋季大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Middle-of-line(MOL)の信頼性課題と寿命予測2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      電気学会/ノイマン型世代に求められる回路実装技術調査専門委員会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 半導体集積回路配線の信頼性課題と寿命予測2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      神奈川県横浜市
    • Year and Date
      2017-03-15
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Middle-of-line(MOL)の信頼性課題と寿命予測2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      電気学会/ノイマン型世代に求められる回路実装技術調査専門委員会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 民生分野における信頼性技術の動向2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JAXA/JAMSS民政コンポーネント活用検討会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Application of fault tree analysis for interconnect reliability assessment2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kyosuke Kunii
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2017: 27th Asian Session 2017 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化における二変量ストレスの交互作用に着目した統計モデリング2017

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介, 横澤成望
    • Organizer
      2017年電気化学秋季大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 初期故障に関する寿命分布とスクリーニングに関する理論2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      JAXA/JAMSS民政コンポーネント活用検討会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車のリコール情報の分析2017

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Impacts of Censoring on Lifetime Analysis by 2-step Probability Plot in Defect Clustered TDDB2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] システムの不具合における創発性の影響について2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第60回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] システムの不具合における創発性の影響について2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第60回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Impacts of Censoring on Lifetime Analysis by 2-step Probability Plot in Defect Clustered TDDB2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] High Temperature and High Humidity Accelerations to Estimate the Lifetime of Cu Metallization for LSIs2017

    • Author(s)
      P. Gomasang, T. Abe, S. Ogiue, H. Ura, S. Yokogawa , K. Ueno
    • Organizer
      13th International Conference on Ecomaterials
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] 半導体集積回路配線の信頼性課題と寿命予測2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      パシフィコ横浜(神奈川県・横浜市)
    • Year and Date
      2017-03-14
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] IoTソリューション基盤としての電力エネルギー制御プラットフォーム2017

    • Author(s)
      市川晴久, 横川慎二, 川喜田佑介
    • Organizer
      第60回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 畳み込みニューラルネットワークを用いた設備特性劣化のオンラインモニタリングデータ分析2017

    • Author(s)
      横澤成望, 横川慎二
    • Organizer
      第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車のリコール情報の分析2017

    • Author(s)
      横川慎二, 國井喬介
    • Organizer
      第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Statistical evaluation of lifetime distribution with defect clustering by using two-step probability plot and multi-link test scheme2017

    • Author(s)
      Kazuki Tate, Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2017: 27th Asian Session 2017 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Application of fault tree analysis for interconnect reliability assessment2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa, Kyosuke Kunii
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2017: 27th Asian Session 2017 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 畳み込みニューラルネットワークを用いた設備特性劣化のオンラインモニタリングデータ分析2017

    • Author(s)
      横澤成望, 横川慎二
    • Organizer
      第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] High Temperature and High Humidity Accelerations to Estimate the Lifetime of Cu Metallization for LSIs2017

    • Author(s)
      P. Gomasang, T. Abe, S. Ogiue, H. Ura, S. Yokogawa , K. Ueno
    • Organizer
      13th International Conference on Ecomaterials
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] IoTソリューション基盤としての電力エネルギー制御プラットフォーム2017

    • Author(s)
      市川晴久,横川慎二,川喜田佑介
    • Organizer
      第60回自動制御連合講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] Impacts of Censoring on Lifetime Analysis by 2-step Probability Plot in Defect Clustered TDDB2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Place of Presentation
      Monterey, USA
    • Year and Date
      2017-04-02
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] Statistical evaluation of lifetime distribution with defect clustering by using two-step probability plot and multi-link test scheme2017

    • Author(s)
      Kazuki Tate, Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2017: 27th Asian Session 2017 ADMETA plus
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-20K20314
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクル数と待機時間の影響2016

    • Author(s)
      横川慎二, 長野祐児
    • Organizer
      日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京, 新宿区
    • Year and Date
      2016-05-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] A simple method of parameter estimating for time-dependent clustering model in MOL/BEOL TDDB lifetime2016

    • Author(s)
      Yokogawa, S.
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2016: 26th Asian Session 2016
    • Place of Presentation
      Tokyo, Japan
    • Year and Date
      2016-10-20
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 信頼性の寿命分布に関する最近の動向ーばらつきとクラスタリングー2016

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第26回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      太田区産業プラザ(東京都・大田区)
    • Year and Date
      2016-11-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] A simple method of parameter estimating for time-dependent clustering model in MOL/BEOL TDDB lifetime2016

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2016: 26th Asian Session
    • Place of Presentation
      Tokyo University (Tokyo)
    • Year and Date
      2016-10-20
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化に於ける充放電サイクルと待機時間の影響2016

    • Author(s)
      横川慎二・長野佑児
    • Organizer
      日本信頼性学会第24回春季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      日本科学技術連盟・東高円寺ビル(東京)
    • Year and Date
      2016-05-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクルと待機時間の影響2016

    • Author(s)
      横川慎二, 長野祐児
    • Organizer
      第24回日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      日本科学技術連盟(東京都・杉並区)
    • Year and Date
      2016-05-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の製品事故におけるトップ事象モードに着目した未然防止に関する一考察2015

    • Author(s)
      長野祐児, 横川慎二
    • Organizer
      日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京, 新宿区
    • Year and Date
      2015-12-15
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] 社会インフラの老朽化による事故とその未然防止への一考察2015

    • Author(s)
      藤田進, 横川慎二, 鈴木和幸
    • Organizer
      日科技連信頼性保全性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京, 千代田区
    • Year and Date
      2015-07-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の再利用における信頼性の課題2015

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      日本品質管理学会第107回研究発表会
    • Place of Presentation
      東京, 東高円寺
    • Year and Date
      2015-05-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] A simulation study of impacts of global and local space variations on lifetime distribution in MOL/BEOL TDDB2015

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 25th Asian Session
    • Place of Presentation
      Korea, Seoul
    • Year and Date
      2015-09-19
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] A Simulation Study of Impacts of Global and Local Space Variations on Lifetime Distribution in MOL/BEOL TDDB2015

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference; 25th Asian Session
    • Place of Presentation
      Seoul (Korea)
    • Year and Date
      2015-09-19
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] 二次電池のリユースに関する信頼性・安全性の課題と信頼度予測について2015

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      電気通信大学情報システム学研究科シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京都・調布市・電気通信大学
    • Year and Date
      2015-02-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の再利用における信頼性の課題2015

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      日本品質管理学会第107回研究発表会
    • Place of Presentation
      東京都・杉並区・日本科学技術連盟
    • Year and Date
      2015-05-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] 福祉用具と医療におけるトップ事象モードに着目した未然防止に関する一考察2015

    • Author(s)
      藤丸儀治, 横川慎二, 鈴木和幸
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2015-02-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] Middle of Line (MOL) Reliability -in Between FEOL and BEOL-2015

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      International Reliability Physics Symposium
    • Place of Presentation
      Monterey (USA)
    • Year and Date
      2015-04-19
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01786
  • [Presentation] Virtual Grid for Renewable Energy Society2015

    • Author(s)
      H. Ichikawa, A. Ahmed, H. Hanafusa, S. Yokogawa, Y. Kawakita, K. Sawada, H. Mikami, N. Yoshikawa
    • Organizer
      IEEE ISGT Asia 2015
    • Place of Presentation
      Bangkok, Thailand
    • Year and Date
      2015-11-04
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] An analysis of statistical characteristics of lifetime distribution based on the defect clustering for MOL/BEOL TDDB2014

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2014: 24st Asian Session 2014 ADMETA plus,
    • Place of Presentation
      Hawaii
    • Year and Date
      2014-10-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の充放電による容量劣化の予測に関する一考察2014

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      2014年度日本信頼性学会秋季シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京都・渋谷区・日本科学技術連盟
    • Year and Date
      2014-11-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • [Presentation] ストレス誘起ボイドの信頼性保証に関する一考察2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第23回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] 配線の故障物理と寿命分布解析2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      電気学会研究会資料電子回路研究会
    • Place of Presentation
      神奈川
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] Li-ion二次電池の信頼性・安全性の動向と課題2013

    • Author(s)
      横川慎二, 入倉則夫
    • Organizer
      第21回職業能力開発研究発表講演会
    • Place of Presentation
      東京
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] Lifetime Prediction Model for Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects2013

    • Author(s)
      Yokogawa, S
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2013: 23rd Asian Session
    • Place of Presentation
      東京
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] 原子輸送モデルによるCu/Low-k配線のストレス誘起ボイドの解析2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      2013年度日本信頼性学会春季シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22241038
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池における充放電特性の温度依存性検証

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第22回職業能力開発研究発表講演会
    • Place of Presentation
      東京都・小平市・職業能力開発総合大学校
    • Year and Date
      2014-10-17 – 2014-10-18
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26350472
  • 1.  TSUBAKI Hiroe (30155436)
    # of Collaborated Projects: 4 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 2.  SUZUKI Kazuyuki (00130071)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 6 results
  • 3.  TANAKA Kenji (60197415)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 3 results
  • 4.  ITOH Makoto (00282343)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 5.  JIN Lu (00436734)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 6.  YOKOYAMA Masahiro (40735354)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 7.  NAGATSUKA Hideki (30384738)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 8.  YAMAMOTO Watalu (30303027)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 9.  津本 周作 (10251555)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 10.  川喜田 佑介 (30468540)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 19 results
  • 11.  澤田 賢治 (80550946)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 9 results
  • 12.  曽我部 東馬 (90778367)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 11 results
  • 13.  佐藤 直樹 (70291721)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 3 results
  • 14.  市川 晴久 (80463959)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 17 results
  • 15.  佐藤 勝 (10636682)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 16.  武山 眞弓 (80236512)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 17.  戸辺 義人 (60327666)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 5 results
  • 18.  早瀬 修二 (80336099)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 19.  中山 舜民 (90847196)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 20.  中山 智香子 (10274680)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 21.  神代 ちひろ (20898465)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 22.  小田原 琳 (70466910)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 23.  小池 淳一
    # of Collaborated Projects: 0 results
    # of Collaborated Products: 1 results
  • 24.  石垣 陽
    # of Collaborated Projects: 0 results
    # of Collaborated Products: 1 results

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