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花井 孝明  HANAI Takaaki

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 00156366
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 1998年度 – 2000年度: 名古屋大学, 工学研究科, 講師
1997年度: 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 講師
1991年度 – 1996年度: 名古屋大学, 工学部, 講師
1988年度 – 1989年度: 名古屋大学, 工学部, 講師
1986年度 – 1988年度: 名古屋大学, 工学部, 助手
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物理学一般 / 電子デバイス・機器工学
研究代表者以外
物理計測・光学 / 電子機器工学 / 応用物理学一般 / 応用光学・量子光工学
キーワード
研究代表者
Electron Microscopy / Quantum Noise / 電子レンズ / 球面収差補正 / 量子ノイズ / 薄膜レンズ / 収差補正 / 球面収差 / Image Restoration / Maximum Entropy Method … もっと見る / 電子顕微鏡 / 画像修復 / 最大エントロピー法 / Scanning Transmission Electron Microscopy / Foil Lens / Spherical Aberration / 走査透過電子顕微鏡 / Resolution / Electron Lens / Correction / 超高分解能 / 高分解能 / 5次球面収差 / 対物レンズ / 分解能 / Complex Wave Function / Contrast Transfer Function / Structure Analysis / Random Noise Constraint / ランダム空間分布制約条件 / 複素波動関数 / コントラスト伝達関数 / 構造解析法 / ランダム空間分布制約 / 電子顕微鏡像 / 弱位相物体 / electron lens / foil lens / spherical aberration correction / transmission electron microscopy / 球面収差測定法 / 透過電子顕微鏡 / Electron Probe / Shadow Image / Aberration Correction / 信号演算処理 / 統計ノイズ / 非回転対称収差 / プローブフォーミングレンズ / 電子プローブ / 陰影像 … もっと見る
研究代表者以外
走査透過電子顕微鏡 / 電界放出電子銃 / ノイズ除去 / SN比 / YAG / 電子プローブ / 薄膜レンズ / 球面収差補正 / 磁界重畳型電子銃 / 電子レンズ / 減速レンズ / 加速レンズ / 電子銃 / 低加速電子銃 / 信号演算処理 / Noise elimination / Specific contrast / Electron signal manipulation / Digital processing system / Inelastically scattered electron / Elastically scattered electron / Scanning transmission electron microscopy / 量子検出効率 / 非弾性散乱 / 弾性散乱 / デコンボリュ-ション処理 / 特殊コントラスト / 電子信号間演算 / ディジタル処理システム / 非弾性散乱電子 / 弾性散乱電子 / Image processing / Manipulation among signal electrons / Signal electron detection / Specimen damage / High resolution observation / Field emission electron gun / High voltage STEM / 信号間演算処理 / YAG単結晶シンチレータ / 像のSN比 / 信号電子演算 / 高解像度電子顕微鏡観察 / 画像処理 / 信号電子間演算 / 信号電子検出法 / 試料損傷 / 高解像度観察 / 超高圧走査透過電子顕微鏡 / Recolution / Scanning Transmission Election Microscopy (STEM) / Electron Probe / Foil Lend / Correction / Shperical aberration / Electron lens / 分解能 / 走査透過電子顕微鏡(STEM) / 収差補正 / 球面収差 / Decelerating Lens / Accelerating Lens / Magnetic-Field-Superimposed Electron Gun / Field Emission Gun / Loe Voltage Electron Gun / Electron Gum / 超高真空 / real time phase observation / electron trapezoidal prism / differential microscopy / differential interferometry / electron holography / 電子系台形プリズム / 実時間位相計測 / 電子線台形プリズム / 微分顕微鏡法 / 微分干渉法 / 電子線ホログラフィ / lens coupling system / glass hemisphere / high efficient scintillator / TV-system / high voltage electron microscope / 高効率シンチ-タ / 電子顕微鏡 / レンズカップリング / 半球ガラス / 高効率シンチレータ / TVシステム / 超高圧電子顕微鏡 / foil lens / spherical aberration correction / detective quantum efficiency (DQE) / scanning transmission electron microscopy (STEM) / electron energy loss spectroscopy (EELS) / elemental mapping / 走査透過電子顕微鏡法 / 電子エネルギー損失分光法 / 元素マッピング像 / 検出量子効率 / パラレル電子エネルギー損失分光法 / 元素マッピング / 静電レンズ / 磁界放畳型電子銃 / 元素分布像 / STEM / 電位コントラスト / 電子ビームテスティング / 低加速SEM 隠す
  • 研究課題

    (13件)
  • 共同研究者

    (13人)
  •  薄膜レンズを用いた球面収差補正による電子顕微鏡の高分解能化研究代表者

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  実時間電子線微分干渉顕微鏡法の開発と磁性材料への応用

    • 研究代表者
      丹司 敬義
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  電子顕微鏡像の最大エントロピー修復による構造解析法の研究研究代表者

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高輝度・高解像度電子顕微鏡観察YAGスクリーンに関する基礎研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用光学・量子光工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  最大エントロピー法を用いた画像修復による電子顕微鏡の高解像化に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正用サイドエントリ-薄膜レンズによる走査透過電子顕微鏡の高分解能化研究代表者

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1995
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  薄膜レンズを用いた透過電子顕微鏡用対物レンズの球面収差補正に関する基礎研究研究代表者

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1994
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高感度・高解像度元素マッピング像観察の研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1992 – 1993
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  磁界重畳型電界放出電子銃の装備による超低加速電子線プローブ応用装置の超高性能化

    • 研究代表者
      下山 宏
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1993
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名城大学
      名古屋大学
  •  走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1988 – 1989
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1987 – 1989
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高性能低加速電子銃の開発に関する研究

    • 研究代表者
      丸勢 進
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  • 1.  日比野 倫夫 (40023139)
    共同の研究課題数: 10件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  田中 成泰 (70217032)
    共同の研究課題数: 6件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  杉山 せつ子 (00115586)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  下山 宏 (30023261)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  木村 啓子 (60262862)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  内川 嘉樹 (20023260)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  丹司 敬義 (90125609)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  室岡 義栄 (40273263)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  丸勢 進 (20022981)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  大江 俊美 (30076632)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  池田 晋 (20076623)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  富田 正弘
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  平山 司
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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