津坂佳幸 TSUSAKA Yoshiyuki

研究者番号	20270473
外部サイト
所属 (現在)	2025年度: 兵庫県立大学, 理学研究科, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2022年度: 兵庫県立大学, 理学研究科, 准教授 2020年度: 兵庫県立大学, 物質理学研究科, 准教授 2002年度 – 2003年度: 姫路工業大学, 大学院・理学研究科, 助手 2001年度 – 2003年度: 姫路工業大学, 理学部, 助手 1998年度 – 1999年度: 姫路工業大学, 理学部, 助手 1996年度: 姫路工業大学, 理学部, 助手 1995年度: 岡崎国立共同研究機構, 分子科学研究所, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者以外放射線科学 / 小区分30010:結晶工学関連 / 中区分30:応用物理工学およびその関連分野 / 電子・電気材料工学 / 表面界面物性
キーワード	研究代表者以外放射光 / 低転位 / 気相成長 / 低抵抗 / GaN / OVPE / LED / 位相画像 / synchrotron radiation / 格子定数 … もっと見る / 欠陥評価 / PNダイオード / Refraction contrast imaging / Microfocus X-ray / Ray Tracing method / 拡大イメージング / 拡大撮像 / 微小点光源 / 屈折コントラスト画像 / 微小焦点X線 / レイトレーシング法 / Silicon-on-Insulator Crystal / Semiconductor Laser / Device Characteristics / Synchrotron Radiation / X-ray Microbeam / Lattice Strain / Semiconductor Substrate / その場測定 / マイクロビーム / X線 / 電子デバイス / 局所歪み / 薄膜 / SOI / ゾーンプレート / 円筒ミラー / 非対称ブラッグ反射 / SOI結晶 / 半導体レーザー / デバイス特性 / X線マイクロビーム / 格子歪み / 半導体基板 / phase image / refraction contrast X-ray image / 屈折コントラスト法 / gas source MBE / disilanc / dimethyl aluminum hydride / carbon contamination / IRAS / Core electron excitations / カーボン汚染 / 内殻電子励起 / ジメチルアルミニウムハイドライド / 赤外表面反射吸収法 / ガスソースMBE / ジシラン隠す

OVPE法による超低抵抗・厚膜GaN結晶成長技術
- 研究代表者
  
  森勇介
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 審査区分
  
  中区分30:応用物理工学およびその関連分野
- 研究機関
  大阪大学
酸化ガリウムを原料とした気相法による低転位GaN結晶の厚膜成長技術開発
- 研究代表者
  
  今西正幸
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分30010:結晶工学関連
- 研究機関
  大阪大学
放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  (財)高輝度光科学研究センター
電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究
- 研究代表者
  
  松井純爾
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  姫路工業大学
放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学
放射光CVDにおける表面吸着分子の分子間相互作用の効果
- 研究代表者
  
  宇理須恒雄
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  岡崎国立共同研究機構

すべて 2003 2002 2001

すべて雑誌論文図書

[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 木村滋
- 出版者
  応用物理学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価2002
- 著者名/発表者名
  木村滋, 津坂佳幸, 松井純爾
- 出版者
  (株)アグネ技術センター
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第145回委員会研究会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本学術振興会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本材料学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Material and Electronic Devices by Using a Highly-Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Materials and Electronic Devices by Using a Highly Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain in Silicon Substrate Beneath Alminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffractometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Yrakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic Strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J.Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain In Silicon Substrate Beneath Aluminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffactometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Urakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J. Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Hyogo Beamline at Spring-8 : Multiple Station Beamline with the TROIKA concept2001
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, K.Yokoyama, K.Takai, S.Takeda, Y.Kagoshima, J.Matusi
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 670-673
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] X-ray Phase-Contrast Imaging with submicron Resolution by Using Extremel Asymmetric Bragg Diffractions2001
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, K.Izumi, H.Kimura, S.Kimura, T.Ibuki, K.Yokoyama, Y.Tsusaka, Y.Kagosima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Letters 78
  
  ページ: 132-134
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, T.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Hyogo Beamline at SPring-8: Multiple Station Beamline with the TROIKA Concept2001
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, K.Yokoyama, K.Takai, S.Takeda, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 670-673
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] X-ray Phase-Contrast Imaging with Submicron Resolution by Using Extremely Asymmetric Bragg Diffractions2001
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, K.Izumi, H.Kimura, S.Kimura, T.Ibuki, K.Yokoyama, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Letters 78
  
  ページ: 132-134
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096

1. 松井純爾 (10295751)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 21件
2. 篭島靖 (10224370)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 20件
3. 杉村和朗 (00136384)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
4. 山崎克人 (50210381)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
5. 上殿明良 (20213374)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 河村貴宏 (80581511)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
7. 宇理須恒雄 (50249950)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 間瀬一彦 (40241244)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 八木直人 (80133940)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 木村滋 (50360821)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 16件
11. 四方義啓 (50028114)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 梅谷啓二 (50344396)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 森勇介 (90252618)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 今西正幸 (00795487)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. 足立秀治 (60159407)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. 酒井朗 (20314031)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

津坂 佳幸 TSUSAKA Yoshiyuki

研究課題

研究成果

共同研究者

OVPE法による超低抵抗・厚膜GaN結晶成長技術

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

酸化ガリウムを原料とした気相法による低転位GaN結晶の厚膜成長技術開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光CVDにおける表面吸着分子の分子間相互作用の効果

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価2002

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第145回委員会研究会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Material and Electronic Devices by Using a Highly-Parallel X-ray Microbeam2003

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Materials and Electronic Devices by Using a Highly Parallel X-ray Microbeam2003

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

津坂佳幸 TSUSAKA Yoshiyuki