松井純爾 MATSUI Junji

研究者番号	10295751
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所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2002年度 – 2003年度: 姫路工業大学, 大学院・理学研究科, 教授 1998年度 – 2002年度: 姫路工業大学, 理学部, 教授
審査区分/研究分野	研究代表者電子・電気材料工学研究代表者以外放射線科学
キーワード	研究代表者 LED / Silicon-on-Insulator Crystal / Semiconductor Laser / Device Characteristics / Synchrotron Radiation / X-ray Microbeam / Lattice Strain / Semiconductor Substrate / その場測定 / マイクロビーム … もっと見る / X線 / 電子デバイス / 局所歪み / 薄膜 / SOI / ゾーンプレート / 円筒ミラー / 非対称ブラッグ反射 / SOI結晶 / 半導体レーザー / デバイス特性 / 放射光 / X線マイクロビーム / 格子歪み / 半導体基板 … もっと見る研究代表者以外放射光 / 位相画像 / Synchrotron Radiation / Super High Resolution CT / Refraction contrast imaging / Microfocus X-ray / Ray Tracing method / 拡大イメージング / 拡大撮像 / 微小点光源 / 屈折コントラスト画像 / 微小焦点X線 / レイトレーシング法 / Hard X-rays / imaging / collimator / 形態測定 / X線天文学 / SPring-8 / X線 / フーリエ変換法 / 生体測定 / スダレコリメーター / 硬X線 / イメージング / コリメータ / phase image / refraction contrast X-ray image / synchrotron radiation / 屈折コントラスト法 / X-ray Spectroscopy / Phase Contrast Image / Supper high Spatiial Resolution / 肺のCT / 超高空間分解能CT / Cd-Te検出器 / X線スペクトロスコピー / 超高空間分解能隠す

放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  (財)高輝度光科学研究センター
電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  松井純爾
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  姫路工業大学
放射光によるスダレコリメータ・イメージング法の開発-X線天文学の技術を生体測定に
- 研究代表者
  
  杉村和朗
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学
放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学
CdTe検出器を用いたSuper HR-CTとX線スペクトル測定の基礎的検討
- 研究代表者
  
  山崎克人, 河野通雄
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学

すべて 2003 2002 2001

すべて雑誌論文図書

[図書] 放射光の威力-X線マイクロビーム測定を中心に-2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾
- 出版者
  応用物理学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] イオン工学ハンドブック(分筆;シンクロトロン放射光利用結晶評価技術)2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾
- 出版者
  イオン工学研究所
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 薄膜作製応用ハンドブック(分筆;薄膜のX線評価)2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾
- 出版者
  エヌ・ティー・エス
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 木村滋
- 出版者
  応用物理学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価2002
- 著者名/発表者名
  木村滋, 津坂佳幸, 松井純爾
- 出版者
  (株)アグネ技術センター
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] SPring-^8 シンクロトロンX線源2002
- 著者名/発表者名
  松井純爾
- 出版者
  日本写真学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第145回委員会研究会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本学術振興会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本材料学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Material and Electronic Devices by Using a Highly-Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Materials and Electronic Devices by Using a Highly Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain in Silicon Substrate Beneath Alminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffractometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Yrakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic Strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J.Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain In Silicon Substrate Beneath Aluminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffactometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Urakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J. Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] X-ray Phase-Contrast Imaging with submicron Resolution by Using Extremel Asymmetric Bragg Diffractions2001
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, K.Izumi, H.Kimura, S.Kimura, T.Ibuki, K.Yokoyama, Y.Tsusaka, Y.Kagosima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Letters 78
  
  ページ: 132-134
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, T.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Hyogo Beamline at SPring-8: Multiple Station Beamline with the TROIKA Concept2001
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, K.Yokoyama, K.Takai, S.Takeda, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 670-673
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] X-ray Phase-Contrast Imaging with Submicron Resolution by Using Extremely Asymmetric Bragg Diffractions2001
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, K.Izumi, H.Kimura, S.Kimura, T.Ibuki, K.Yokoyama, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Letters 78
  
  ページ: 132-134
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096

1. 山崎克人 (50210381)

共同の研究課題数: 5件

共同の研究成果数: 0件
2. 杉村和朗 (00136384)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 0件
3. 篭島靖 (10224370)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 19件
4. 津坂佳幸 (20270473)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 21件
5. 四方義啓 (50028114)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 吉田祥二 (20030869)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 安藤正海 (30013501)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 八木直人 (80133940)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 根来均 (30300891)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 前田盛 (50030911)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. 御子柴克彦 (30051840)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 木村滋 (50360821)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 16件
13. 梅谷啓二 (50344396)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 河野通雄 (60030938)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. 宇山親雄 (30026059)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. 楠本昌彦 (90252767)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. 糸氏英一郎 (90243302)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. 足立秀治 (60159407)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

松井 純爾 MATSUI Junji

研究課題

研究成果

共同研究者

放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光によるスダレコリメータ・イメージング法の開発-X線天文学の技術を生体測定に

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

CdTe検出器を用いたSuper HR-CTとX線スペクトル測定の基礎的検討

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] 放射光の威力-X線マイクロビーム測定を中心に-2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] イオン工学ハンドブック(分筆;シンクロトロン放射光利用結晶評価技術)2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 薄膜作製応用ハンドブック(分筆;薄膜のX線評価)2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 高分解能マイクロビームX線回折法による半導体レーザー素子の評価2002

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] SPring-^8 シンクロトロンX線源2002

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第145回委員会研究会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Material and Electronic Devices by Using a Highly-Parallel X-ray Microbeam2003

松井純爾 MATSUI Junji