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井上 直久  Inoue Naohisa

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 60275287
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 客員教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2005年度: 大阪府立大学, 産学官連携機構, 教授
2005年度: 大阪府立大学, 産業官連機構, 教授
2004年度: 大阪府立大学, 先端科学研究所, 教授
1996年度 – 2000年度: 大阪府立大学, 先端科学研究所, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物性・結晶工学 / 応用物性・結晶工学
研究代表者以外
応用物性・結晶工学 / 固体物性Ⅱ(磁性・金属・低温)
キーワード
研究代表者
SIMS / electronic transition / annealing / CPAA / infrared absorption / nitrogen / silicon crystal / 炭素 / 電子遷移 / 熱処理 … もっと見る / 放射化分析法 / 赤外吸収法 / 窒素 / シリコン単結晶 / self organization / Monte Carlo simulation / scanning electron microscope / in-situ observation / three dimensional growth / molecular beam epitaxy / strained layer / compound semiconductor / 電子線成長 / モンテカルロシミュレーション / 自己組織化 / シミュレーション / 走査電子顕微鏡 / その場観察 / 三次元成長 / 分子線成長 / 歪系 / 化合物半導体 … もっと見る
研究代表者以外
量子効果光デバイス / ヘテロ界面 / バンド不連続 / As / タイプII構造 / 量子井戸構造 / quantum effect devices / hetero-interface / band off-set / Sb system / type II structure / photonic devices / molecular beam epitaxy / quantum well structure / 非対称量子井戸構造 / タイプI構造 / 分子線エピタキシー / α-(BEDT-TTF)ィイD22ィエD2NHィイD24ィエD2Hg(SCN)ィイD24ィエD2 / YbィイD24ィエD2AsィイD23ィエD2 / CeRuィイD22ィエD2 / Electron spin resonance / Surface impedance / Cyclotron resonance / Microwave / 有機伝導体 / 重い電子系 / 超伝導体 / マイクロ波吸収 / 強相関電子系 / 低密度磁性金属 / Yb_4As_3 / α-(BEDT-TTF)_2NX_4Hg(SCN)_4 / Yb_4AS_3 / CeRu_2 / 電子スピン共鳴 / 表面インピーダンス / サイクロトロン共鳴 / マイクロ波測定 / 分子ダイオード / 整流特性 / 電子授受 / 原子間力顕微鏡(AFM) / ナノメートル領域AFMI-V測定 / 高品質単分子膜 / Sb系 / 長波長レーザ / 分子線エピタキシ- 隠す
  • 研究課題

    (6件)
  • 研究成果

    (35件)
  • 共同研究者

    (12人)
  •  シリコン結晶中の窒素の状態変化と濃度測定法の研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 直久
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      大阪府立大学
  •  非対称量子井戸構造を用いた新原理光量子効果素子の研究

    • 研究代表者
      河村 裕一
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      大阪府立大学
  •  光電変換機能性有機薄膜界面の電気化学的形成と高効率太陽電池の構築

    • 研究代表者
      上原 赫
    • 研究期間 (年度)
      1998
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 研究機関
      大阪府立大学
  •  極低温強磁場下における低密度、相関電子系のマイクロ波吸収

    • 研究代表者
      豊田 直樹
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      固体物性Ⅱ(磁性・金属・低温)
    • 研究機関
      東北大学
      大阪府立大学
  •  タイプII量子井戸構造を用いた低温度依存性長波長帯レーザの研究

    • 研究代表者
      河村 裕一
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      大阪府立大学
  •  歪系分子線成長の二次元-三次元転移機構の走査電子顕微鏡その場観察による解明研究代表者

    • 研究代表者
      井上 直久
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1998
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      大阪府立大学

すべて 2006 2005 2004

すべて 雑誌論文 図書

  • [図書] Infrared absorption measurement of carbon in silicon crystals, in Semiconductor Silicon 20062006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 出版者
      The Electrochemical Society
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Semiconductor Silicon 20062006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, K.Masumoto, M.Shinomiya, K.Kashima, K.Eifuku, M.Koizumi, T.Takahashi, T.Takenawa, A.Karen, K.Shingu, H.Yagi
    • 出版者
      Standardization of Measurement of Nitrogen Concentration in CZ Silicon Crystals(5月予定)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Semiconductor Silicon 20062006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 出版者
      High sensitivity infrared absorption measurement of carbon in silicon crystals(5月予定)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Standardization of Measurement of Nitrogen Concentration in CZ Silicon Crystals, in Semiconductor Silicon 20062006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, K.Masumoto, K.Shinomiya, K.Kashima, K.Eifuku, M.Koizumi, T.Takahashi, T.Takenawa, A.Karen, K.Shingu, H.Yagi
    • 出版者
      The Electrochemical Society
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] IR Measurement of Carbon Concentration in Silicon Crystals. in Proc.4^<th> Int. Symp. Advanced Science and Technology of Silicon Materials2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 出版者
      日本学術振興協会
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Behavior of nitrogen in CZ silicon in annealing revealed by infrared absorption spectroscopy, in Proc. 4^<th> Int.Symp.Advanced Science and Technology of Silicon Materials2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Takahashi, H.Yamada-Kaneta
    • 出版者
      日本学術振興協会
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Measurement of Nitrogen Concentration in CZ-Si below 10^<14>/cm^3 by IR Absorption Spectroscopy, in High Purity Silicon VIII2004

    • 著者名/発表者名
      M.Nakatsu, A.Hashimoto, A.Natsume, N.Inoue, H.Ono
    • 出版者
      The Electrochemical Society
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [図書] Standardization of nitrogen analysis in CZ-Si by charged-particle activation analysis, in High Purity Silicon VIII2004

    • 著者名/発表者名
      K.Masumoto, T.Nozaki, H.Yagi, Y.Minai, S.Saito, S.Futatsugawa, N.Inoue
    • 出版者
      The Electrochemical Society
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Local vibration modes of shallow thermal donors in nitrogen-doped CZ silicon crystals2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, H.Ono
    • 雑誌名

      Physica B 376-377

      ページ: 101-104

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Local vibration modes of shallow thermal donors in nitrogen-doped CZ silicon crystals2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, H.Ono
    • 雑誌名

      Physica B 376, 377

      ページ: 101-104

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Determination of low concentrations of N and C in CZ-Si by precise FTIR spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      V.D.Akhmetov, H.Richter, N.Inoue
    • 雑誌名

      Physica B (予定)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Standardization of Measurement of Nitrogen Concentration in CZ Silicon Crystals2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, K.Masumoto, M.Shinomiya, K.Kashima, K.Eifuku, M.Koizumi, T.Takahashi, T.Takenawa, A.Karen, K.Shingu, H.Yagi
    • 雑誌名

      Semiconductor Silicon 2006 (The Electrochemical Society)

      ページ: 453-460

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Local vibration modes of shallow thermal donors in nitrogen-doped CZ silicon crystals2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, H.Ono
    • 雑誌名

      Physica B B376-B377

      ページ: 101-104

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Infrared absorption measurement of carbon in silicon crystals2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 雑誌名

      Semiconductor Silicon 2006 (The Electrochemical Society)

      ページ: 461-470

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Determination of low concentrations of N and C in CZ-Si by precise, FTIR spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      V.D.Akhmetov, H.Richter, N.Inoue
    • 雑誌名

      Physica B

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Infrared absorption peaks in nitrogen doped CZ silicon2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, H.Ono
    • 雑誌名

      Materials Science & Engineering B

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Infrared absorption peaks in nitrogen doped CZ silicon2006

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, H.Ono
    • 雑誌名

      Materials Science & Engineering B (予定)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Annealing Behavior of New Nitrogen Infrared Absorption Peaks in CZ Silicon2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta, H.Ono, V.D.Akhmetov, O.Lysytskiy, H.Richter
    • 雑誌名

      GADEST 2005 (発表予定)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] 赤外吸収法によるCZシリコン中の窒素の濃度測定と熱処理挙動解析2005

    • 著者名/発表者名
      井上 直久, 中津 雅臣, 棚橋 克人, 金田 寛, 小野 春彦
    • 雑誌名

      シリコンテクノロジー No.68

      ページ: 35-38

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Infrared Absorption Measurement of Carbon Concentration Down to 1×10^<14>/cm^3 in CZ Silicon2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 108, 109

      ページ: 621-626

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Annealing Behavior of New Nitrogen Infrared Absorption Peaks in CZ slicon2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta, H.Ono, V.D.Akhmetov, O.Lysytskiy, H.Richter
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 108, 109

      ページ: 609-614

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Annealing Behavior of New Nitrogen Infrared Absorption Peaks in CZ Silicon2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta, H.Ono, V.D.Akhmetov, O.Lysytskiy, H.Richter
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 108-109

      ページ: 609-614

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Infrared Absorption Measurement of Carbon Concentration Down to 1×10^<14>/cm^3 in CZ Silicon2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 108-109

      ページ: 621-626

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] 赤外吸収法によるCZシリコン中の窒素の濃度測定と熱処理挙動解析2005

    • 著者名/発表者名
      井上 直久, 中津 雅臣, 棚橋 克人, 金田 寛, 小野 春彦
    • 雑誌名

      シリコンテクノロジー 68

      ページ: 35-38

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Nitrogen concentration and thermal behavior characterized by infrared absorption spectroscopy2005

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta, H.Ono
    • 雑誌名

      Silicon technology (in Japanese) No.68

      ページ: 35-38

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Standardization of nitrogen analysis in CZ-Si by charged-particle activation analysis2004

    • 著者名/発表者名
      K.Masumoto, T.Nozaki, H.Yagi, Y.Minai, S.Saito, S.Futatsugawa, N.Inoue
    • 雑誌名

      High Purity Silicon VIII

      ページ: 69-76

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Measurement of Nitrogen Concentration in CZ-Si below 10^<14>/cm^3 by IR Absorption Spectroscopy2004

    • 著者名/発表者名
      M.Nakatsu, A.Hashimoto, A.Natsume, N.Inoue, H.Ono
    • 雑誌名

      High Purity Silicon VIII (The Electrochemical Society)

      ページ: 102-108

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Behavior of nitrogen in CZ silicon in annealing revealed by infrared absorption spectroscopy2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta
    • 雑誌名

      Proc.4^<th> Int.Symp.Advanced Science and Technology of Silicon materials (JSPS)

      ページ: 115-118

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Measurement of Nitrogen Concentration in CZ-Si below 10^<14>/cm^3 by IR Absorption Spectroscopy2004

    • 著者名/発表者名
      M.Nakatsu, A.Hashimoto, A.Ntsume, N.Inoue, H.Ono
    • 雑誌名

      High Purity Silicon VIII

      ページ: 102-108

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Measurement of Nitrogen Concentration in CZ Silicon Crystals2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, A.Hashimoto, K.Shingu, K.Masumoto
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 95-96

      ページ: 489-494

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Behavior of nitrogen in CZ silicon in annealing revealed by infrared absorption spectroscopy2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu, K.Tanahashi, H.Yamada-Kaneta
    • 雑誌名

      Proc.4^<th> Int.Symp.Advanced Science and Technology of Silicon Materials

      ページ: 115-118

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Measurement of Nitrogen Concentration in CZ Silicon Crystals2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, A.Hashimoto, K.Shingu K.Masumoto
    • 雑誌名

      Solid State Phenomena 95, 96

      ページ: 489-494

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] Standardization of nitrogen analysis in CZ-Si by charged-particle activation analysis2004

    • 著者名/発表者名
      K.Masumoto, T.Nozaki, H.Yagi, Y.Minai, S.Saito, S.Futatsugawa, N.Inoue
    • 雑誌名

      High Purity Silicon VIII (The Electrochemical Society)

      ページ: 69-76

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] IR Measurement of Carbon Concentration in Silicon Crystals2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 雑誌名

      Proc.4^<th> Int.Symp.Advanced Science and Technology of Silicon materials (JSPS)

      ページ: 119-122

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • [雑誌論文] IR Measurement of Carbon Concentration in Silicon Crystals2004

    • 著者名/発表者名
      N.Inoue, M.Nakatsu
    • 雑誌名

      Proc.4^<th> Int.Symp.Advanced Science and Technology of Silicon Materials

      ページ: 119-122

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560014
  • 1.  河村 裕一 (80275289)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  豊田 直樹 (50124607)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  本間 芳和 (30385512)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  藤村 紀文 (50199361)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  松井 広志 (30275292)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  桝本 和義 (60124624)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 8件
  • 7.  上原 赫 (60081329)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  岩田 耕一 (20081242)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  杉本 晃 (00081323)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  水野 一彦 (10109879)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  落合 明 (90183772)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  ANDREI Lebed (10281990)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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