伊藤秀男 ITO Hideo

研究者番号	90042647
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所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2007年度 – 2009年度: 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 教授 1996年度 – 2003年度: 千葉大学, 工学部, 教授
審査区分/研究分野	研究代表者電子デバイス・機器工学 / 電子デバイス・電子機器研究代表者以外教育工学
キーワード	研究代表者 FPGA / Error Recovery / Reconfiguration / Defect / 誤り回復 / 再構成 / 欠陥 / Fault Detection / Defect Tolerance / Programmable Chip … もっと見る / カバリッジ / SOC / マルチコンテキスト / 故障検出 / 欠陥救済 / プログラマブルチップ / Fault / Architecture / VLSI Chip / Fault Tolerance / コンカレント誤り検出 / 階層構成 / 多重系動作 / 2重バス / 故障検査 / 欠陥回避 / 2次キャッシュ / 故障 / アーキテクチャ / VLSIチップ / フォールトトレランス / スキャンFF / 2線式論理 / シグナルインテグリティ / テスト容易化 / 遅延故障 / テスト容易化設計 / スキャン設計 / ラッチ / VLSI / ソフトエラー / CAD / 回路設計 … もっと見る研究代表者以外 Synchronized multimedia / Life long learning / World Wide Web / Authoring of teaching materials / Video-on-demand / Multimedia / Remote education / VOD / WWW / スライドショウ / 連続メディア / ビデオオンデマンド / 情報基盤設計 / モ-ルス符号 / 英語教材 / 電磁気学 / スライドショー / モールス符号 / 遠隔教材 / オーサリング / IP / TCP / 同期マルチメディア / 生涯学習 / 遠隔教育 / ビデオオンデマンド教材 / マルチメディア教材開発隠す

ソフトエラー対策VLSI回路の考案研究代表者
- 研究代表者
  
  伊藤秀男
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  千葉大学
フォールトトレラントプログラマブルチップの設計研究代表者
- 研究代表者
  
  伊藤秀男
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  千葉大学
フォールトトレラント超LSIチップの設計研究代表者
- 研究代表者
  
  伊藤秀男
- 研究期間 (年度)
  1998 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  千葉大学
マルチメディアの教育利用技術に関する総合研究
- 研究代表者
  
  池田宏明
- 研究期間 (年度)
  1996 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  教育工学
- 研究機関
  千葉大学

すべて 2010 2009 2008 2007

すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Path2009
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 433-442
- NAID
  10026807952
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009
- 著者名/発表者名
  Shuagyu Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 1534-1541
- NAID
  10026810480
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009
- 著者名/発表者名
  Shuagyu Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf.&Syst. Vol.E92-D, No.8
  
  ページ: 1534-1541
- NAID
  10026810480
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of 2-Rail Logic Circuits2009
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D
  
  ページ: 336-341
- NAID
  10026807731
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[雑誌論文] Circuit and Latch Capable of Masking Soft Errors with Schmitt Trigger2008
- 著者名/発表者名
  Yoichi Sasaki, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 雑誌名
  
  J.Electronic Test.:Theory & Appl. Vol.24, No.1-3
  
  ページ: 11-19
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチ2007
- 発明者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-111043
- 出願年月日
  2007-04-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路2007
- 発明者名
  加藤健太郎, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-233388
- 出願年月日
  2007-09-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路及び半導体集積回路の検査方法2007
- 発明者名
  加藤健太郎, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-233346
- 出願年月日
  2007-09-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[産業財産権] 半導体集積回路2007
- 発明者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 権利者名
  国立大学法人千葉大学
- 産業財産権番号
  2007-111043
- 出願年月日
  2007-04-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  京都
- 年月日
  2010-03-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ソフトエラー訂正機能を有するBILBOフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] BILBO FF with soft error correcting capability2010
- 著者名/発表者名
  Kazuteru NAMBA, Hideo ITO
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ2010
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  京都
- 年月日
  2010-03-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計2009
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会,機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Testing of Switch Bloacks in Three-Dimensional FPGA2009
- 著者名/発表者名
  Takumi Hoshi, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  2009 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2009)
- 発表場所
  Chicago
- 年月日
  2009-10-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計2009
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 遅延故障テスト容易化SHEラッチにおけるエンハンスドスキャンテスト2008
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  奈良市
- 年月日
  2008-10-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造2008
- 著者名/発表者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  2008年電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  北九州市
- 年月日
  2008-03-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ソフトエラーラッチの調査と分類2008
- 著者名/発表者名
  坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  筑波市
- 年月日
  2008-06-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Delay Fault Testability on Two-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
- 発表場所
  Boston
- 年月日
  2008-10-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse2008
- 著者名/発表者名
  Shuangyou Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
- 発表場所
  Boston
- 年月日
  2008-10-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF2008
- 著者名/発表者名
  阮双玉, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響2008
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Path Delay Fault Test Set for Two-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  2008 14^<th> IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC2008)
- 発表場所
  Taipei
- 年月日
  2008-12-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響2008
- 著者名/発表者名
  中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-04-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Design for Delay Fault Testing of 2-Rail Logic Circuits2008
- 著者名/発表者名
  Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  Indonesia-Japan Joint Scientific Symposium 2008
- 発表場所
  Chiba
- 年月日
  2008-09-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 2線式論理回路に対するパス遅延故障テスト集合2008
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
- 発表場所
  千葉市
- 年月日
  2008-03-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性2008
- 著者名/発表者名
  三浦健宏, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2008-02-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Scan Based Delay Fault Testing2007
- 著者名/発表者名
  Takashi Ikeda, Kazuteru Namba, Hideo Ito
- 学会等名
  22^<nd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2007)
- 発表場所
  Rome
- 年月日
  2007-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 遅延故障テスト容易化ソフトエラーラッチの設計2007
- 著者名/発表者名
  池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2007-04-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] 2線式論理回路における遅延故障テスト2007
- 著者名/発表者名
  難波一輝, 伊藤秀男
- 学会等名
  電子情報通信学会, 機能集積情報システム
- 発表場所
  神戸
- 年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335
[学会発表] Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Sean Based Delay Fault Testing2007
- 著者名/発表者名
  Takashi Ikeda, Kazuteru Namba, and Hideo Ito
- 学会等名
  22th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems(DFT2007)
- 発表場所
  Rome
- 年月日
  2007-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19560335

1. 難波一輝 (60359594)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 28件
2. 池田宏明 (00009276)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
3. 北神正人 (20282832)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
4. 檜垣泰彦 (30173131)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 橋本研也 (90134353)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. 加藤秀雄 (80009711)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 大豆生田利章 (60272340)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 金子敬一 (20194904)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 八代健一郎 (00125965)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

伊藤 秀男 ITO Hideo

研究課題

研究成果

共同研究者

ソフトエラー対策VLSI回路の考案研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

フォールトトレラントプログラマブルチップの設計研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

フォールトトレラント超LSIチップの設計研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

マルチメディアの教育利用技術に関する総合研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Path2009

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability2009

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of 2-Rail Logic Circuits2009

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Circuit and Latch Capable of Masking Soft Errors with Schmitt Trigger2008

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[産業財産権] 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチ2007

発明者名

権利者名

産業財産権番号

出願年月日

データソース

[産業財産権] 半導体集積回路2007

発明者名

権利者名

産業財産権番号

出願年月日

データソース

[産業財産権] 半導体集積回路及び半導体集積回路の検査方法2007

発明者名

権利者名

産業財産権番号

出願年月日

データソース

[産業財産権] 半導体集積回路2007

発明者名

権利者名

産業財産権番号

出願年月日

データソース

[学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ2010

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

伊藤秀男 ITO Hideo