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西川 治  Nishikawa Osamu

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 10108235
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 金沢工業大学, 公私立大学の部局等, 名誉教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2015年度: 金沢工業大学, 産学連携室, 教授
2008年度: 金沢工業大学, バイオ・化学部, 教授
2008年度: 金沢工業大学, バイオ・科学部, 教授
2004年度 – 2007年度: 金沢工業大学, 環境・建築学部, 教授
2001年度 – 2003年度: 金沢工業大学, 工学部, 教授 … もっと見る
1992年度 – 1999年度: 金沢工業大学, 工学部, 教授
1996年度: 金沢工業大学, 工学郡, 教授
1991年度: 東京工業大学, 大学院総合理I学研究科, 教授
1991年度: 東京工業大学, 大学院総合理工学研究所, 教授
1990年度 – 1991年度: 東京工業大学, 大学院・総合理工学研究科, 教授
1987年度 – 1991年度: 東京工業大学, 総合理工学研究科, 教授
1986年度 – 1991年度: 東京工業大学, 大学院総合理工学研究科, 教授
1990年度: 東京工業大学. 大学院総合理工学研究科, 教授
1989年度: 東京工業大学, 大学院総合理工学研究所, 教授
1986年度: 東京工大, 国立大学(その他), 教授
1985年度: 東京工業大学, 国立大(その他), 教授 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物性 / 金属物性 / 表面界面物性 / 物理計測・光学
研究代表者以外
ナノ構造科学 / ナノ材料・ナノバイオサイエンス / 無機化学 / 物質生物化学 / 応用物性 / 固体物性
キーワード
研究代表者
走査型トンネル顕微鏡(STM) / 電界イオン顕微鏡(FIM) / 電界放射顕微鏡(FEM) / トンネル物性 / 高温超電導セラミックス / GaP / GaAs / クラスターイオン / アトムプローブ(A-P) / 電界蒸発 … もっと見る / アトムプロ-ブ(AーP) / F-N plot / 走査型トンネル顕微鏡 / 走査型アトムプローブ(SAP) / atom manipulation / field emission electron spectroscopy (FEES) / atom probe (AP) / scanning tunneling microscope (STM) / field emission microscope (FEM) / 原子間力顕微鏡(AFM) / 電界放射 / Surface / Tip Apex / He準安定原子線 / シリコン / パルスレーザー / アトムプローブ / 走査型トンネル電子分光法(STS) / 表面の電子状態 / 原子プローブ(AーP) / 走査型トンネル電子分光(STS) / High Temperature Superconducting Ceramics / Doopants / Oxidation Process of Polymers / Metal-Polymer Interfaces / Polypyrrole / Conducting Polymers / Atom-Probe / ドーパント / 高分子の酸化過程 / 金属-高分子界面 / ポリピロール / 電導性高分子 / 電歪素子 / 圧電素子 / 走査型トンネル電子顕微鏡(STM) / Al-GaAs interface / Pulsed-laser / Combined atom-probe / 金属-化合物半導体界面 / Al-GaAs界面 / 複合型アトムプローブ / Graphite / Silicon / CVD & HPHT Diamonds / Carbon Clusters / Carbon Nano-Tubes / Photo-Stimulated Field Emission / Scanning Atom Probe (SAP) / マススペクトル / ダイヤモンド / 電子のトンネル / 走査型アトムプローブ / ガラス状炭素 / HPHTダイヤモンド / CVDダイヤモンド / グラファイト / クラスター / 光励起電界放射 / カーボンナノチューブ(CNT) / CVDとHPHTダイヤモンド / scanning tunneling spectroscopy (STS) / electron spectroscopy / field ion microscope (FIM) / トンネル確率 / イメイジングプレイド(IP) / 原子移動 / (N11)GaAS / フタロシアニン / STS) / 分光(STM / 混晶半導体ナノ構造 / Si(001)表面ステップ / 電界放射電子のエネルギー分布 / イメイジングプレイト(IP) / Scanning tunneling spectroscopy (STS) / atomic force microscope (AFM) / fiel ion microscope (FIM) / 表面トポグラフ / サテライト研究会 / 電子分光法 / トンネル顕微鏡法 / 個々の原子 / 合同研究会 / 国際コロキュウム / シンポジウム / 表面原子の配列 / アトムプローブ(AP) / 走査型プローブ顕微鏡 / SPM / STM / Vacuum Gauge / Imaging Faraday Cage / Ultra-High Vacuum / Field Emission Microsocpe (FEM) / Field Emission / 映像型ファラディ-ケイジ / 電界放射型極高真空計 / 極高真空 / Field Emission Electron Spectrometer (FEES) / Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) / Si cluster / Atom-Probe (A-P) / Scanning Tunneling Microscope (STM) / 電流映像型トンネル電子分光法(CITS) / 走査探針先端 / 二極走査型トンネル映像法(DPTI) / 電子の状態密度 / STM・A-P複合器 / アトムプロ-ブ(A-P) / 位置感知型AーP / 電界放射電子分光器(FEES) / STM・AーP複合器 / K+O共吸収系 / Cs@Si(111)とK@Si(100)吸着系 / 分子線 / ペニングイオン化電子分光 / 再配列構造 / Si(111) / 電子分光 / ペニングイオン化 / パルスレーザー光照射 / 原子プローブ(A-P) / Si / 点状イオン源 / 同軸型直衝突イオン散乱分光(CAICISS) / ペニングイオン電子分光法 / 表面構造 / イオンビーム散乱 / 電子励起イオン脱離(EDS) / 半導体 / 生体分子 … もっと見る
研究代表者以外
STM / 走査型トンネル顕微鏡 / 表面エレクトロマイグレーション / 走査型アトムプローブ / 反射電顕法 / 光電子顕微鏡 / 表面顕微鏡 / 固体表面 / 生体分子 / アトムプローブ / 反応性表面 / アミノ酸 / 炭素材料 / 酸化チタン / 光励起触媒 / シリコン表面 / 表面電子構造 / 表面顕微鏡法 / 電界蒸発 / 質量分析 / Polythiophene / Photo-stimulated Catalysis / Tetra-butyl-ammonium / Crystal Violet / Silicon / Carbon Nano Tube / Titanium Oxide / Scanning Atom Probe / 水素濃度 / シリコン / 酸化物光触媒 / 導電性高分子 / ナノチューブ / 機能性電子材料 / 分子内の結合状態 / ポリチオフェン / テトラブチルアンモニウム / クリスタルヴァイオレット / フラグメントイオン / 有機分子 / ダイヤモンド / 炭素材料シリコン / helicene / thin film / molecular recognition / optical activity / molecular chirality / gold surface / solid surface / scanning tunneling microscopy / 不斉識別 / ヘリセン / 有機超薄膜 / 分子認識 / 不斉 / キラリティ / 金表面 / Tabacco Mosasic Virus / Bacteriophage T4 / Clean and Well defined Conditions / Interacting Biological Molecular Systems / Tunneling Property / Scanning Tunneling Microscope / 生体分子のトンネル物性 / 生体用走査型トンネル顕微鏡 / バイオSTM / 生物試料 / バクテリオファージ / タバコモザイクウイルス / バクテリオファージT4 / 清浄定質ふん囲気 / 生体分子相互作用系 / トンネル物性 / Scanning Tip Apex / Field Emission Electron Spectroscopy (FEES) / Atom-Probe Field Ion Microscope (A-P FIM) / Scanning Tunneling Microscope (STM) / Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) / Scanning X Microscope (SXM) / 原子間力顕微鏡 / 位置検出型アトムプロ-ブ / 走査探針 / 電界放射分光法 / アトムプロ-ブ・電界イオン顕微鏡 / 走査型トンネル分光法 / 走査型探索顕微鏡 / Si(001)2X1 / 高温超伝導体 / Si(111)7X7 / FIM / 透過電顕法 / 計算機実験 / 短距離秩序 / 電界イオン顕微鏡 / 走査トンネル顕微鏡 / RHEED / アルカリ原子吸着系 / 高分解能EELS / 低温表面 / 光プローブ / 原子プローブ / 電子プローブ / 表面新物質相 / ケクレン / 水素終端 / 層状酸化物 / 光触媒 / クラスターイオン / グラファイトナノファイバー / カーボンナノチューブ / 金属表面 / 表面物性 / 表面構造 / 吸着表面 / 清浄表面 / 微粒子 / エレクトロマイグレ-ション / 反射高速電子尾回折 / 走査トンネル顕微鏡法 / 超高真空反射電子顕微鏡法 / 半導体表面電流効果 / ビーム相互作用表面 隠す
  • 研究課題

    (29件)
  • 研究成果

    (64件)
  • 共同研究者

    (38人)
  •  小分子系に対応した走査型アトムプローブ測定手法の開発とその生体分子への応用

    • 研究代表者
      谷口 昌宏
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      ナノ材料・ナノバイオサイエンス
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  酸化チタンの光触媒効果による有機分子の分解過程の原子レベルでの解析

    • 研究代表者
      谷口 昌宏
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  走査型アトムプローブによる高機能電子材料の原子レベルの解析

    • 研究代表者
      谷口 昌宏
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  表面における分子不斉と分子反応の可視化

    • 研究代表者
      谷口 昌宏
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      無機化学
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  個々の原子のトンネル物性研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1997
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  走査型アトムプローブによる絶縁性薄膜からの光励起電界放射の原子レベルでの研究研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  原子移動と探針評価研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1996
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  個々の原子のトンネル物性研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1992
    • 研究種目
      総合研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      金沢工業大学
  •  個々の原子のトンネル物性研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      総合研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  表面新物質相

    • 研究代表者
      吉森 昭夫
    • 研究期間 (年度)
      1990
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      大阪大学
  •  極微探索領域をもつSXM用走査探針製作法確立

    • 研究代表者
      富取 正彦
    • 研究期間 (年度)
      1990 – 1991
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  電界放射型極高真空計の開発研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1990 – 1991
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  生体分子相互作用系観察のための走査型トンネル顕微鏡の試作と生体試料調整法の開発

    • 研究代表者
      猪飼 篤
    • 研究期間 (年度)
      1990 – 1992
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      物質生物化学
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  個々の原子のトンネル物性研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1989
    • 研究種目
      総合研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  原子プローブ:レーザー誘起電界蒸発等による表面研究研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1989
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  「表面新物質相」の総括評価

    • 研究代表者
      吉森 昭夫
    • 研究期間 (年度)
      1989
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      大阪大学
  •  表面顕微鏡法による表面観察と解析

    • 研究代表者
      八木 克道
    • 研究期間 (年度)
      1989
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  STM・AーP複合器による超微視的表面解析研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1989 – 1990
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      金属物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  「表面新物質相」の総括評価

    • 研究代表者
      吉森 昭夫
    • 研究期間 (年度)
      1988
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      大阪大学
  •  表面顕微鏡法による表面の観察と解析

    • 研究代表者
      八木 克道
    • 研究期間 (年度)
      1988
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  原子プローブ:レーザー誘起電界蒸発などによる表面研究研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1987
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  「表面新物質相」の総括評価

    • 研究代表者
      吉森 昭夫
    • 研究期間 (年度)
      1987
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      大阪大学
  •  表面顕微鏡法による表面の観察と解析

    • 研究代表者
      八木 克道
    • 研究期間 (年度)
      1987
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  原子プローブ:レーザー誘起電界蒸発などによる表面研究研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1987 – 1989
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  重点領域研究「表面新物質相」の企画

    • 研究代表者
      吉森 昭夫
    • 研究期間 (年度)
      1986
    • 研究種目
      総合研究(B)
    • 研究分野
      固体物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  パルスレーザー光照射型点状イオン源の開発研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1986
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  アトムプローブによる電導性高分子の超微視的解析研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  アトムプローブ質量分析器による金属-化合物半導体界面の超微視的解析研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1984 – 1985
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      金属物性
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  汎用型走査トンネル電子顕微鏡の開発研究代表者

    • 研究代表者
      西川 治
    • 研究期間 (年度)
      1984 – 1985
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京工業大学

すべて 2016 2015 2014 2009 2008 2007 2006 2005 2003 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] Atomic level analysis of dipeptide biomolecules by a scanning atom probe2016

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Taniguchi and Osamu Nishikawa
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology B

      巻: 34 号: 3

    • DOI

      10.1116/1.4941426

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [雑誌論文] Scanning Atom Probe Analysis Alternately Triggered by Voltage and Laser Pulse2016

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Taniguchi and Osamu Nishikawa
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

      巻: 14 ページ: 69-72

    • NAID

      130005132816

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [雑誌論文] Atomic level analysis of carbon fibers by the scanning atom probe2014

    • 著者名/発表者名
      Osamu Nishikawa and Masahiro Taniguchi
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis

      巻: 46 号: 12-13 ページ: 1231-1235

    • DOI

      10.1002/sia.5695

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [雑誌論文] "Study of Graphite Nanofibers by the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, and M. Ushirozawa
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6

      ページ: 41-44

    • NAID

      130004933975

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] "Study on Imidazolium-based Ionic Liquids with Scanning Atom Probe and Knudsen Effusion Mass Spectrometry"2008

    • 著者名/発表者名
      A. Tolstoguzov O. Nishikawa, M. Taniguchi
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis 40

      ページ: 1614-1618

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Scanning Atom Probe Study of Graphite Nnofibers2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology B 26

      ページ: 735-737

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] A New Approach for the Mass Analysis of Biomolecules at Atomic Level Utilizing the Scanning Atom Probe2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis 14

      ページ: 1244-1245

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] "Scanning atom probe study of graphite nanofibers"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi andM. Ushirozawa
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science & Technology B 26・2

      ページ: 735-737

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Scanning atom probe study of graphite nanofibers2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi and M. Ushirozawa
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science & Technology B 26・2

      ページ: 735-737

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Study of Characteristic Fragmentation of Nanocarbon by the Scanning Atom Probe2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology A 26

      ページ: 1074-1078

    • NAID

      120001469082

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] "A New Approach for the Mass Analysis of Biomolecules at Atomic Level Utilizing the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis 14

      ページ: 1244-1245

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] "Scanning Atom Probe Study of Graphite Naofibers"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology B 26

      ページ: 735-737

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] "Study of Characteristic Fragmentation of Nanocarbon by the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology A 26

      ページ: 1074-1078

    • NAID

      120001469082

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Scanning Atom Probe Study of Dissociation of Organic Molecules on Titanium Oxide2006

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, M.Taniguchi, S.Watanabe, A.Yamagishi, T.Sasaki
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 45,No.3B

      ページ: 1892-1896

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Study of Molecular Reaction on Titanium Oxide by the Scanning Atom Probe2006

    • 著者名/発表者名
      M.Taniguchi, O.Nishikawa
    • 雑誌名

      e-Journal of Surf. Sci. and Nanotechnology 4

      ページ: 1-7

    • NAID

      130004933939

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Scanning Atom Probe Study of Dissociation of Organic Molecules on Titanium Oxide2006

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, M.Taniguchi, S.Watanabe, A.Yamagishi, T.Sasaki
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics Vol. 45・No 3B

      ページ: 1892-1896

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Study of Molecular Reaction on Titanium Oxide by the Scanning Atom Probe2006

    • 著者名/発表者名
      M.Taniguchi, O.Nishikawa
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

    • NAID

      130004933939

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Polythiophene in Strong Electric Field2006

    • 著者名/発表者名
      L.R.C.Wang, H.J.Kreuzer, O.Nishikawa
    • 雑誌名

      Organic Electronics 7/2

      ページ: 99-106

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Study of Molecular Reaction on Titanium Oxide by the Scanning Atom Probe2006

    • 著者名/発表者名
      M.Taniguchi, O.Nishikawa
    • 雑誌名

      e-Journal of Surf.Sci.and Nanotechnology

    • NAID

      130004933939

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Study of Molecular Reaction on Titanium Oxide by the Scanning Atom Probe2006

    • 著者名/発表者名
      M.Taniguchi, O.Nishikawa, S.Komata, S.Watanabe, A.Yamagishi, T.Sasaki
    • 雑誌名

      e-J. of Surf Sci. and Nanotech. 4

      ページ: 521-527

    • NAID

      130004933939

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Polythiophene in Strong Electric Field2006

    • 著者名/発表者名
      L.R.C.Wang, H.J.Kreuzer, O.Nishikawa
    • 雑誌名

      Organic Electronics (印刷中)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] "Scanning Atom Probe Study of Dissociation of Organic Molecules on Titanium Oxide"2006

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi, S. Wawtanabe, A. Yamagishi and T. Sasaki
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics Vol.45. No 3B

      ページ: 1892-1896

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Scanning Atom Probe Study of Dissociation of Organic Molecules on Titanium Oxide2006

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, M.Taniguchi, S.Watanabe, A.Yamagishi, T.Sasalci
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. 45, No.3E

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Study of Molecular Reaction on Titanium Oxide by the Scanning Atom Probe2006

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, S. Komata, S. Watanabe,A. Yamagishi and T. Sasaki
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 4

      ページ: 521-527

    • NAID

      130004933939

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [雑誌論文] Atom-by-Atom Analysis of Non-Metallic Materials by the Scanning Atom Probe2005

    • 著者名/発表者名
      Osamu Nishikawa, Masahiro Taniguchi
    • 雑誌名

      Chinese J.Physics 43, No.1-11

      ページ: 111-123

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atom-by-Atom Analysis of Non-Metallic Materials by the Scanning Atom Probe2005

    • 著者名/発表者名
      Osamu Nishikawa, Masahiro Taniguchi
    • 雑誌名

      Chinese J. Physics 43,No.1-II

      ページ: 111-123

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atom-by-Atom Analysis of Non-Metallic Materials by the Scanning Atom Probe2005

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa
    • 雑誌名

      Chinese Journal of Physics Vol.43(1)

      ページ: 111-123

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atomic Level Analysis of Carbon Materials with the Scanning Atom Probe2003

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, M.Watanabe, T.Murakami, T.Yagyu, M.Taniguchi
    • 雑誌名

      New Diamond and Frontier Carbon Technol 13

      ページ: 257-273

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atomic Level Analysis of Carbon Materials with the Scanning Atom Probe2003

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, M.Watanabe, T.Murakami, T.Yagyu, M.Taniguchi
    • 雑誌名

      New Diamond and Frontier Carbon Technology 13

      ページ: 257-273

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atomic Level Analysis of Carbon and Silicon by a Scanning Atom Probe2003

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, T.Murakami, M.Watanabe, M.Taniguchi, T.Kuzumaki, S.Kondo
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 42

      ページ: 4816-4824

    • NAID

      10011446894

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [雑誌論文] Atomic Level Analysis of Carbon and Silicon by a Scanning Atom Probe2003

    • 著者名/発表者名
      O.Nishikawa, T.Murakami, M.Watanabe, M.Taniguchi, T.Kuzumaki, S.Kondo
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. 42

      ページ: 4816-4824

    • NAID

      10011446894

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15310077
  • [産業財産権] 分析装置及び分析方法2008

    • 発明者名
      西川治
    • 権利者名
      学校法人 金沢工業大学
    • 産業財産権番号
      2008-145033
    • 取得年月日
      2008-06-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるアミノ酸の原子レベルでの解析 :グルタミンとグルタミン酸2016

    • 著者名/発表者名
      西川 治、谷口 昌宏
    • 学会等名
      応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東工大大岡山キャンパス
    • 年月日
      2016-03-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 27p-P-14 Scanning Atom Probe Study of Molecular System2015

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Taniguchi and O. Nishikawa
    • 学会等名
      10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '15
    • 発表場所
      くにびきメッセ(島根県松江市)
    • 年月日
      2015-10-27
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるアミノ酸の原子レベルでの解析 :バリンとプロリン2015

    • 著者名/発表者名
      西川 治、谷口 昌宏
    • 学会等名
      応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • 年月日
      2015-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるポリチオフェンの原子レベルの分析2009

    • 著者名/発表者名
      西川治
    • 学会等名
      第56回応川物理学関係連合議演会
    • 発表場所
      茨城県つくば市
    • 年月日
      2009-03-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 「走査型アトムプローブによるポリチオフェンの原子レベルの分析」2009

    • 著者名/発表者名
      西川治, 谷口昌宏,早坂健,石田龍平,角崎顕一,神戸裕晃,竹村進,加藤ひとし
    • 学会等名
      第56 回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      茨城県つくば市
    • 年月日
      2009-03-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 「走査型アトムプローブによるカーボンナノチューブの原子レベルでの組成評価」2008

    • 著者名/発表者名
      西川治,谷口昌宏
    • 学会等名
      第69 回応用物理学学術講演会
    • 発表場所
      愛知県名古屋市
    • 年月日
      2008-09-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Scannng atom Probe Study of Characteristic Fragmentation of Biomolecules"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience Technology 2008
    • 発表場所
      Keystone, Colorado, USA.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Quantitative Evaluation of Carbon Nano Tubes by the Scanning AtomProbe"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M.Taniguchi
    • 学会等名
      AVS(American Vacuum Society) 55th International Symposium & Exhibition
    • 発表場所
      Boston, USA.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるカーボンナノチューブの原子レベルでの組成評価2008

    • 著者名/発表者名
      西川治
    • 学会等名
      第69回応用物理学学術講演会
    • 発表場所
      愛知県名古屋市
    • 年月日
      2008-09-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Characterization of carbon nanotubes by the scanning atom probe"2008

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, S. Takeuchi, S.Tanaka
    • 学会等名
      The 51st International Field Emission Symposium
    • 発表場所
      Rouen, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Atomic Level Analysis of Non-metallic Specimens by the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M.Taniguchi
    • 学会等名
      4th Vacuum and Surface Science Conference of Asia and Australia
    • 発表場所
      島根県松江市
    • 年月日
      2008-10-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Carbon Material Analysis by using the Scanning Atom Probe" Material Analysis by using the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, S. Taktani, S. Tanaka, M.Ushirozawa
    • 学会等名
      The 10th Int. Symposium on SIMS and Related Tech. Based on Ion-Solid Interactions (SISS-10)
    • 発表場所
      成蹊大学(東京都武蔵野市)
    • 年月日
      2008-07-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] Atomic Level Analysis of Non-metallic Specimens by the Scanning Atom Probe2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 学会等名
      4th Vacuum and Surface Science Conference of Asia and Australia
    • 発表場所
      島根県 松江市
    • 年月日
      2008-10-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] Scannng atom Probe Study of Characteristic Fragmentation of Biomolecules2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience Technology 2008
    • 発表場所
      Keystone, Colorado, USA.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 「走査型アトムプローブ(3D- SAP)によるCNT の分析」2008

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏,西川治,竹谷慎介,田中慎哉
    • 学会等名
      第2 回分子科学討論会
    • 発表場所
      福岡県福岡市
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] Quantitative Evaluation of Carbon Nano Tubes by the Scanning Atom Probe2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 学会等名
      AVS(Amcrican Vacuum Society) 55th International Symposium & Exhibition
    • 発表場所
      Boston, USA.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Atomic Level Evaluation of Carbon Nanotubes by the Scanning Atom Probe"2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa, M. Taniguchi, S. Taketani, S. Tanaka
    • 学会等名
      21st International Vacuum Nanoelectronics Conference
    • 発表場所
      Wroclaw, Poland
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] Atomic Level Evaluation of Carbon Nanotubes by the Scanning Atom Probe2008

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa
    • 学会等名
      21sl Internalional Vacuum Nanoelectronics Conference
    • 発表場所
      Wroclaw, Poland
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Study on Imidazoliumbased Ionic Liquids with Scanning Atom Probe and Knudsen Effusion Mass Spectrometry"2007

    • 著者名/発表者名
      A. Tolstoguzov, U. Bardi, O. Nishikawa, M. Taniguchi
    • 学会等名
      6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '07
    • 発表場所
      金沢市
    • 年月日
      2007-10-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Scanning atom probe study of graphite nanofibres"2007

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, M. Ushirozawa
    • 学会等名
      Atom Probe Workshop 2007
    • 発表場所
      Gothenburg, Sweden
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] "Study of graphite nanofibers by the scanning atom probe"2007

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, O. Nishikawa, M. Ushirozawa
    • 学会等名
      6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices`07
    • 発表場所
      金沢市
    • 年月日
      2007-10-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 「走査型アトムプローブによるグラファイトナノファイバーの分析」2007

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏,長谷川優太,西川治,後沢瑞芳
    • 学会等名
      第1 回分子科学討論会
    • 発表場所
      仙台市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18310072
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによる有機高分子膜(ウルシ膜)の分析2

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏、西川治
    • 学会等名
      第33回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場 (茨城県つくば市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] アトムプローブにおける電界蒸発トリガー方法

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏、西川治
    • 学会等名
      日本化学会第95春季年会
    • 発表場所
      日本大学理工学部船橋キャンパス (千葉県・船橋市)
    • 年月日
      2015-03-26 – 2015-03-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるアミノ酸の原子レベルでの解析

    • 著者名/発表者名
      谷口 昌宏、西川 治、猪飼 篤、川村 和孝、中岡 慎太郎
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学 さくらホール (宮城県 仙台市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 3次元アトムプローブによる炭素繊維の原子レベルでの解析

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏,西川治 (金沢工大)
    • 学会等名
      第61回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      青山学院大学(神奈川県相模原市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによる有機高分子膜(ウルシ膜)の分析

    • 著者名/発表者名
      谷口昌宏、林遼吾、西川治、小川俊夫
    • 学会等名
      日本化学会第93春季年会
    • 発表場所
      立命館大学 びわこ ・くさつキャンパス(滋賀県 草津市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] Atomic Level Analysis of Carbon Fibers by the Scanning Atom Probe

    • 著者名/発表者名
      O. Nishikawa and M. Taniguchi
    • 学会等名
      9th International symposium on Atomic Lebel Characterizations for New Materials and Devices '13 (ALC'13)
    • 発表場所
      アメリカ合衆国ハワイ州ハワイ島
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによる炭素繊維の原子レベルでの解析(3) 定量的組成分析

    • 著者名/発表者名
      西川 治、谷口 昌宏
    • 学会等名
      第75回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      北海道大学 (北海道・札幌市)
    • 年月日
      2014-09-17 – 2014-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] Atom Probe Analysis of Conductive Polymer

    • 著者名/発表者名
      M. Taniguchi, A. Yanagisawa, O.Nishikawa
    • 学会等名
      SISS-14 in 2012 (The International symposium on SIMS and Related Techniques Base on Ion-Solid Interactions at Seikei University)
    • 発表場所
      Seikei University (東京都 武蔵野市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによるペプチドの原子レベルでの定性・定量解析

    • 著者名/発表者名
      西川 治、谷口 昌宏
    • 学会等名
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東海大学 湘南キャンパス (神奈川県・平塚市)
    • 年月日
      2015-03-11 – 2015-03-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • [学会発表] 走査型アトムプローブによる炭素繊維の原子レベルでの解析

    • 著者名/発表者名
      西川治,谷口昌宏
    • 学会等名
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学 (神奈川県厚木市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24510157
  • 1.  富取 正彦 (10188790)
    共同の研究課題数: 9件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  八木 克道 (90016072)
    共同の研究課題数: 8件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  村田 好正 (10080467)
    共同の研究課題数: 6件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  吉森 昭夫 (50013470)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  潮田 資勝 (90176652)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  猪飼 篤 (50011713)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  河津 璋 (20010796)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  谷口 昌宏 (30250418)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 50件
  • 9.  田中 虔一 (00016718)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  森田 明三 (50091757)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  山岸 晧彦 (70001865)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  山口 豪 (50013537)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  西垣 敏 (60126943)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  楠 勲 (30025390)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  高柳 邦夫 (80016162)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  塚田 捷 (90011650)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 17.  魚住 清彦 (20011124)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 18.  原田 義也 (20013477)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 19.  荒川 秀雄 (80211704)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 20.  兵藤 伸一 (30010713)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  朝日 一 (90192947)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  森川 浩志 (90024314)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 23.  八百 隆文 (60230182)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 24.  大島 忠平 (10212333)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 25.  山本 雅彦 (30029160)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 26.  新庄 輝也 (70027043)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 27.  金持 徹 (40031059)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 28.  岡田 正和 (70034478)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 29.  青野 正和 (10184053)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 30.  上田 一之 (60029212)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 31.  丹司 敬義 (90125609)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 32.  金森 順次郎 (10028079)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 33.  中村 勝吾 (50029831)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 34.  宇佐美 誠二 (40017877)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 35.  高橋 正行 (50241295)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 36.  石川 雄一
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 37.  堀内 敬
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 38.  山岸 皓彦
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 4件

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