篭島靖 Kagoshima Yasushi

研究者番号	10224370
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 兵庫県立大学, 理学研究科, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2023年度: 兵庫県立大学, 理学研究科, 教授 2016年度 – 2020年度: 兵庫県立大学, 物質理学研究科, 教授 2012年度 – 2014年度: 兵庫県立大学, 物質理学研究科, 教授 2009年度 – 2011年度: 兵庫県立大学, 大学院・物質理学研究科, 教授 2002年度 – 2003年度: 姫路工業大学, 大学院・理学研究科, 助教授 1998年度 – 2003年度: 姫路工業大学, 理学部, 助教授
審査区分/研究分野	研究代表者小区分80040:量子ビーム科学関連 / 量子ビーム科学 / 量子ビーム科学 / 量子ビーム研究代表者以外放射線科学 / 電子・電気材料工学
キーワード	研究代表者Ｘ線顕微鏡 / Ｘ線光学 / 放射光 / 回折積分 / 回折限界 / ゾーンプレート / X線顕微鏡 / Ｘ線ナノビーム / X線光学 / コンピュータトモグラフィ … もっと見る / 空間分解能 / 焦点深度 / Ｘ線トモグラフィ / 屈折レンズ / X線レンズ / ビームライン … もっと見る研究代表者以外放射光 / LED / Synchrotron Radiation / X線 / 位相画像 / Refraction contrast imaging / Microfocus X-ray / Ray Tracing method / 拡大イメージング / 拡大撮像 / 微小点光源 / 屈折コントラスト画像 / 微小焦点X線 / レイトレーシング法 / Silicon-on-Insulator Crystal / Semiconductor Laser / Device Characteristics / X-ray Microbeam / Lattice Strain / Semiconductor Substrate / その場測定 / マイクロビーム / 電子デバイス / 局所歪み / 薄膜 / SOI / ゾーンプレート / 円筒ミラー / 非対称ブラッグ反射 / SOI結晶 / 半導体レーザー / デバイス特性 / X線マイクロビーム / 格子歪み / 半導体基板 / Hard X-rays / imaging / collimator / 形態測定 / X線天文学 / SPring-8 / フーリエ変換法 / 生体測定 / スダレコリメーター / 硬X線 / イメージング / コリメータ / phase image / refraction contrast X-ray image / synchrotron radiation / 屈折コントラスト法隠す

X線用深焦点ゾーンプレートの原理実証と深焦点内波動伝播結像シミュレーション研究代表者
- 研究代表者
  
  篭島靖
- 研究期間 (年度)
  2023 – 2025
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分80040:量子ビーム科学関連
- 研究機関
  兵庫県立大学
回折限界を超える逆位相コンポジットゾーンプレートの実用設計研究代表者
- 研究代表者
  
  篭島靖
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分80040:量子ビーム科学関連
- 研究機関
  兵庫県立大学
回折限界を超えるＸ線用回折格子型集光素子の提案とシミュレーションによる原理検証研究代表者
- 研究代表者
  
  篭島靖
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  量子ビーム科学
- 研究機関
  兵庫県立大学
Ｘ線円形多層膜ゾーンプレートによる高フラックスｐｉｎｋナノビームの生成研究代表者
- 研究代表者
  
  篭島靖
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  量子ビーム科学
- 研究機関
  兵庫県立大学
放射光X線用ソフトフォーカシング光学素子の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  篭島靖
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  量子ビーム
- 研究機関
  兵庫県立大学
放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  (財)高輝度光科学研究センター
電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究
- 研究代表者
  
  松井純爾
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  姫路工業大学
放射光によるスダレコリメータ・イメージング法の開発-X線天文学の技術を生体測定に
- 研究代表者
  
  杉村和朗
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学
放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ
- 研究代表者
  
  山崎克人
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  放射線科学
- 研究機関
  神戸大学

[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 木村滋
- 出版者
  応用物理学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第145回委員会研究会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本学術振興会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001
- 著者名/発表者名
  松井純爾, 篭島靖, 津坂佳幸, 横山和司
- 出版者
  日本材料学会
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Inverse-phase composite zone plate providing deeper focus than the normal diffraction-limited depth of X-ray microbeams2019
- 著者名/発表者名
  Kagoshima Yasushi、Takayama Yuki
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation
  
  巻: 26 号: 1 ページ: 52-58
- DOI
  10.1107/s1600577518016703
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[雑誌論文] Proposal for Inverse-Phase Composite Zone Plate for Deeper Depth of Focus2018
- 著者名/発表者名
  Kagoshima Yasushi、Takayama Yuki
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis
  
  巻: 24 号: S2 ページ: 280-281
- DOI
  10.1017/s1431927618013739
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[雑誌論文] Point spread function measurement of an X-ray beam focused by a multilayer zone plate with narrow annular aperture2014
- 著者名/発表者名
  H. Takano, S. Konishi, T. Koyama, Y. Tsusaka, S. Ichimaru, T. Ohchi, H. Takenaka and Y. Kagoshima
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation
  
  巻: 21 ページ: 446-448
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24510125
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Material and Electronic Devices by Using a Highly-Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum. & Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Estimation of Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Means of Diffractometry Using a Parallel X-Ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, M.Urakawa, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, F.Yoshida, K.Watanabe, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 19-22
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Minute Local Strain in Semiconductor Materials and Electronic Devices by Using a Highly Parallel X-ray Microbeam2003
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Katou, H.Kurihara, K.Watanabe, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum.& Methods B199
  
  ページ: 15-18
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain in Silicon Substrate Beneath Alminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffractometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Yrakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan.J.Appl.Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic Strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J.Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Evaluation of Lattice Strain In Silicon Substrate Beneath Aluminum Conductor Film Using High-Resolution X-Ray Microbeam Diffactometry2002
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, H.Kurihara, S.Takeda, M.Urakawa, K.Watanabe, M.Katou, N.Inoue, N.Miyamoto, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
  
  ページ: 6094-6097
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution2002
- 著者名/発表者名
  S.Kimura, Y.Kagoshima, K.Kobayashi, K.Izumi, Y.Sakata, S.Sudo, K.Yokoyama, T.Niimi, Y.Tsusaka, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Japan. J. Appl. Phys. 41
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Microscopic strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-ray Microbeam2002
- 著者名/発表者名
  J.Matsui, Y.Tsusaka, K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Kagoshima, S.Kimura
- 雑誌名
  
  J. Crystal Growth 237-239
  
  ページ: 317-323
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Hyogo Beamline at Spring-8 : Multiple Station Beamline with the TROIKA concept2001
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, K.Yokoyama, K.Takai, S.Takeda, Y.Kagoshima, J.Matusi
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 670-673
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Rocking Curve Measurement of Infrared LEDs Using Highly Parallel X-ray Microbeam2001
- 著者名/発表者名
  S.Takeda, K.Yokoyama, M.Urakawa, T.Ibuki, K.Takai, T.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 974-977
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Hyogo Beamline at SPring-8: Multiple Station Beamline with the TROIKA Concept2001
- 著者名/発表者名
  Y.Tsusaka, K.Yokoyama, K.Takai, S.Takeda, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 670-673
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Nucl. Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] X-ray Phase-Contrast Imaging with Submicron Resolution by Using Extremely Asymmetric Bragg Diffractions2001
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, K.Izumi, H.Kimura, S.Kimura, T.Ibuki, K.Yokoyama, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Letters 78
  
  ページ: 132-134
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[雑誌論文] Study of Local Strain Distribution in Semiconductor Devices Using High-Resolution X-ray Microbeam Diffractometry2001
- 著者名/発表者名
  K.Yokoyama, S.Takeda, M.Urakawa, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui, S.Kimura, H.Kimura, K.Kobayashi, T.Ohhira, K.Izumi, N.Miyamoto
- 雑誌名
  
  Nucl.Instrum & Methods A467-468
  
  ページ: 1205-1208
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13555096
[産業財産権] X線屈折方法2011
- 発明者名
  篭島靖
- 権利者名
  兵庫県
- 産業財産権番号
  2011-034166
- 出願年月日
  2011-02-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21604006
[産業財産権] X線屈折方法2010
- 発明者名
  篭島靖
- 権利者名
  兵庫県
- 産業財産権番号
  2010-078858
- 出願年月日
  2010-03-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21604006
[学会発表] X線用コンポジットゾーンプレートの結像特性シミュレーション2024
- 著者名/発表者名
  千原直也、篭島靖
- 学会等名
  第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K11705
[学会発表] ディープフォーカスゾーンプレートの結像シミュレーション2022
- 著者名/発表者名
  篭島靖、高山裕貴
- 学会等名
  第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K12630
[学会発表] Practical Design of the Inverse-Phase Composite Zone Plate for Improved Depth of Focus2022
- 著者名/発表者名
  Y. Kagoshima and Y. Takayama
- 学会等名
  XRM2022, 15th International Conference on X-Ray Microscopy, June 19-24, 2022.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K12630
[学会発表] 軟X線顕微鏡用ディープフォーカスゾーンプレートの設計と集光特性2021
- 著者名/発表者名
  ○藤井綾香，高山裕貴，篭島靖
- 学会等名
  Optics & Photonics Japan 2021
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K12630
[学会発表] ディープフォーカスゾーンプレートの実用設計2020
- 著者名/発表者名
  篭島　靖、高山裕貴
- 学会等名
  第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K12630
[学会発表] Practical Designing of Inverse-Phase Composite Zone Plate for Deeper Depth of Focu2019
- 著者名/発表者名
  Y. Kagoshima and Y. Takayama
- 学会等名
  The 15th Symposium of Japanese Research Community on X-ray Imaging Optics
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K12630
[学会発表] ディープフォーカスゾーンプレートの提案（2）2019
- 著者名/発表者名
  篭島靖、高山裕貴
- 学会等名
  第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[学会発表] ディープフォーカスゾーンプレートの提案2018
- 著者名/発表者名
  篭島　靖
- 学会等名
  第31回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[学会発表] Proposal for Inverse-Phase Composite Zone Plate for Deeper Depth of Focus2018
- 著者名/発表者名
  Y. Kagoshima and Y. Takayama
- 学会等名
  XRM2018, 14th International Conference on X-Ray Microscopy
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[学会発表] ディープフォーカスゾーンプレートの提案2017
- 著者名/発表者名
  篭島　靖
- 学会等名
  第13回Ｘ線結像光学シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05019
[学会発表] 硬 X 線多層膜ゾーンプレートの作製及び評価2014
- 著者名/発表者名
  角田和浩、廣友稔樹、小山貴久、小西繁樹、作花賢治、松村篤恭、高野秀和、津坂佳幸、篭島靖、市丸智、大知渉之、竹中久貴
- 学会等名
  第27回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- 発表場所
  広島国際会議場（広島県広島市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24510125
[学会発表] 放射光X線ビームライン用粗集光素子の開発2012
- 著者名/発表者名
  篭島靖, 高野秀和, 竹田晋吾
- 学会等名
  第25回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- 発表場所
  鳥栖市民文化会館・中央公民館(佐賀県)
- 年月日
  2012-01-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21604006
[学会発表] 傾斜式微小プリズムアレイX線粗集光素子の開発2011
- 著者名/発表者名
  篭島靖, 高野秀和, 竹田晋吾
- 学会等名
  第11回X線結像光学シンポジウム
- 発表場所
  東北大学(宮城県)
- 年月日
  2011-11-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21604006
[学会発表] Hard X-ray multilayer zone plate with 30-nm outermost zone width
- 著者名/発表者名
  Y. Kagoshima, T. Hirotomo, K. Sumida, S. Konishi, H. Takano, T. Koyama, S. Ichimaru, T. Ohchi, H. Takenaka
- 学会等名
  XRM2014, 12th International Conference on X-Ray Microscopy
- 発表場所
  Melbourne, Australian
- 年月日
  2014-10-26 – 2014-10-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24510125
[学会発表] 硬 X 線多層膜ゾーンプレートの高空間分解能化
- 著者名/発表者名
  角田和浩、小山貴久、小西繁樹、廣友稔樹、松村篤恭、高野秀和、津坂佳幸、篭島靖、市丸智、大知渉之、竹中久貴
- 学会等名
  第28回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- 発表場所
  立命館大学びわこ･くさつキャンパス（滋賀県草津市）
- 年月日
  2015-01-10 – 2015-01-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24510125

1. 松井純爾 (10295751)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 19件
2. 杉村和朗 (00136384)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
3. 山崎克人 (50210381)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
4. 津坂佳幸 (20270473)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 20件
5. 高野秀和 (50366548)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 6件
6. 四方義啓 (50028114)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
7. 八木直人 (80133940)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 根来均 (30300891)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 前田盛 (50030911)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 御子柴克彦 (30051840)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. 木村滋 (50360821)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 12件
12. 梅谷啓二 (50344396)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 足立秀治 (60159407)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 高山裕貴

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件

篭島 靖 Kagoshima Yasushi

研究課題

研究成果

共同研究者

X線用深焦点ゾーンプレートの原理実証と深焦点内波動伝播結像シミュレーション研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

回折限界を超える逆位相コンポジットゾーンプレートの実用設計研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

回折限界を超えるＸ線用回折格子型集光素子の提案とシミュレーションによる原理検証研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

Ｘ線円形多層膜ゾーンプレートによる高フラックスｐｉｎｋナノビームの生成研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光X線用ソフトフォーカシング光学素子の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光を用いたX線微小点光源による医学イメージングの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子デバイス動作下における局所結晶歪みの高平行X線マイクロビームその場測定の研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光によるスダレコリメータ・イメージング法の開発-X線天文学の技術を生体測定に

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

放射光による屈折型X線イメージング法の開発-透過型から屈折型高コントラスト画像へ

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] X線マイクロビームを用いた局所領域微量ひずみの検出2003

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第145回委員会研究会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[図書] 第135回 X線材料強度部門委員会資料2001

著者名/発表者名

出版者

説明

データソース

[雑誌論文] Inverse-phase composite zone plate providing deeper focus than the normal diffraction-limited depth of X-ray microbeams2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Proposal for Inverse-Phase Composite Zone Plate for Deeper Depth of Focus2018

著者名/発表者名

篭島靖 Kagoshima Yasushi