メニュー
検索
研究課題をさがす
研究者をさがす
KAKENの使い方
日本語
英語
前のページに戻る
弓場 愛彦
YUBA Yoshihiko
ORCID連携する
*注記
研究者番号
30144447
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく)
*注記
1997年度 – 2000年度: 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助教授
1996年度: 大阪大学, 基礎工学部, 助教授
1994年度 – 1995年度: 大阪大学, 基礎工学部, 助手
1988年度 – 1992年度: 大阪大学, 基礎工学部, 助手
1986年度 – 1987年度: 大阪大学, 基礎工学部, 教務職員
審査区分/研究分野
研究代表者以外
応用物性
/
電子・電気材料工学
/
広領域
/
計測・制御工学
/
計測・制御工学
/
電子デバイス・機器工学
キーワード
研究代表者以外
集束イオンビーム / 真空一貫プロセス / 成長中断 / 集束イオンビ-ム / SIMOX / focused ion beam / ナノ構造 / TOF-SIMS / ナノメートル加工 / メゾスコピック現象
…
もっと見る
/ アハラノフ / ボーム効果 / 量子干渉効果 / 電子波エレクトロニクス / Nanofabrication / MBE / 2次元電子ガス / 界面準位 / δドープ / X線光学 / X線顕微鏡 / 超微細加工 / イオンビ-ム / イオンプロ-ブ / 後方散乱 / トロイダル分析器 / 照射損傷 / 半導体 / 3次元分析 / ナノメ-トルイオンプロ-ブ / 集速イオンビ-ム / プリスタリング / アブレ-ション / Ion beam / Focused Ion Beam / Ion Probe / RBS / Toroidal Analyzer / Damage / Semiconductor / 3 Dimensional Analysis / イオンビームプロセス / 超高真空その場プロセス / マスクレスイオン注入 / イオン注入ウェル / イオンビームミキシング / イオンビーム分析 / プロセスシミュレーション / イオン / イオンビ-ムプロセス / 高エネルギ-イオン注入 / プロセスモデリング / ビ-ム分析 / トモグラフィ- / イオン注入 / ion beam process / full vacuum beam process / maskless ion implantation / ion implanted well / ion beam mixing / ion beam analysis / process simulation / 集束イオンビーム加工 / 低損傷プロセス / 低エネルギーイオンビーム / 減速電界レンズ系 / イオンビーム支援エッチング / イオン照射損傷 / 集束イオンビ-ム加工 / 低エネルギイオンビ-ム / イオンビ-ムデポジション / イオンビ-ム支援エッチング / イオン照射誘起欠陥 / Focused ion beam technology / Low-damage process / Low-energy ion beams / Retarding electron optics / Ion beam assisted etching / Ion beam irradiation damage / ナノ加工 / 電子波デバイス / 分子線エピタキシ- / その場加工プロセス / 埋め込構造 / 電子波導波方向性結合器 / nanofabrication / electron wave devices / molecular beam epitaxy / total vacuum process / insitu fabrication process / buried structure / growth interruption / 極微電気化学効果 / ナノメートルプロセス / STM探針 / イオン散乱法 / 多孔質シリコンデバイス / ビームプロセス / 電界蒸発 / パキスタン / ストゥーパ / ハザーラ / シンキアリ / 仏教遺跡 / Localized electrytic reaction / Nanometer process / STM tip / Ion scattering / Porous Si emitter / Nano-structure / Beam process / Field evaporation / Pakistan / Hazara / Shinkiari / stupa / Buddhist monument / イオンマイクロプローブ / ナノメートル構造 / 3次元ナノメートル分析技術 / 極微細加工 / 真空マイクロエレクトニクス素子 / ビーム誘起マスクレスプロセス / 真空マイクロエレクトロニクス素子 / ナノファブリケーション / ナノメートル3次元分析 / 電界放射電子源 / プロセス誘起欠陥 / DRAM / ion microprobe / nanometer structure / 3 dimensional analysis technique / nano fabrication / vacuum micro electronics device / beam induced process / 単電子トランジスタ / クーロンブロッケード / 環境インピーダンス / 微小トンネル接合 / 電磁場環境効果 / single-electron transistor / Coulomb blockade / environmental impedance / ultra-small tunnel junction / electromagnetic environment effect / アハラノフ・ボーム効果 / 弱局在効果 / 磁気抵抗効果 / Mesoscopic Phenomena / Aharanov-Bohm Effect / Quantum Interference Effect / イオンビーム誘起化学効果 / マスクレスデポジション / イオンビーム露光 / X線露光 / 高融点金属薄膜 / マスクレス薄膜形成 / X線リソグラフィマスク / maskless deposition / forused ion beam / x-ray lithography mask / laser beam process / ナノメ-トル加工 / 量子細線 / バリスティック伝導 / Mesoscopic phenomena / Quantum interference effects / Quantum Wires / Ballistic transport
隠す
研究課題
(
12
件)
共同研究者
(
45
人)
研究開始年: 新しい順
研究開始年: 古い順
環境インピーダンス制御型単電子トランジスタの研究
研究代表者
蒲生 健次
研究期間 (年度)
1998 – 2000
研究種目
基盤研究(A)
研究分野
電子デバイス・機器工学
研究機関
大阪大学
3次元ナノメートル分析技術の開発
研究代表者
高井 幹夫
研究期間 (年度)
1996 – 1998
研究種目
国際学術研究
研究分野
計測・制御工学
研究機関
大阪大学
低エネルギ集束イオンビーム注入による高移動度二次元電子ガスの選択形成
研究代表者
蒲生 健次
研究期間 (年度)
1994
研究種目
一般研究(B)
研究分野
電子・電気材料工学
研究機関
大阪大学
ナノ加工と電子波デバイスに関する研究
研究代表者
蒲生 健次
研究期間 (年度)
1994 – 1995
研究種目
国際学術研究
研究機関
大阪大学
極微電気化学反応によるナノメートル構造の製作と応用
研究代表者
高井 幹夫
,
西岡 康宏
研究期間 (年度)
1994 – 1995
研究種目
国際学術研究
研究機関
大阪大学
東京国立博物館
低損傷マスクレス3次元微細加工技術の開発
研究代表者
蒲生 健次
研究期間 (年度)
1991 – 1992
研究種目
試験研究(B)
研究分野
応用物性
研究機関
大阪大学
極限イオンビームプロセス技術の関発
研究代表者
高井 幹夫
,
難波 進
研究期間 (年度)
1990 – 1992
研究種目
国際学術研究
研究機関
大阪大学
ナノメ-トルイオンプロ-ブ技術の開発
研究代表者
難波 進
研究期間 (年度)
1989 – 1990
研究種目
試験研究(B)
研究分野
計測・制御工学
研究機関
大阪大学
半導体量子細線中の量子干渉効果と電子波デバイスへの応用
研究代表者
難波 進
研究期間 (年度)
1988 – 1989
研究種目
一般研究(A)
研究分野
応用物性
研究機関
大阪大学
高分解能X線顕微鏡製作のための基礎研究
研究代表者
有留 宏明
研究期間 (年度)
1986 – 1988
研究種目
一般研究(A)
研究分野
広領域
研究機関
大阪大学
ナノメートル構造素子の製作と一次元量子効果の研究
研究代表者
蒲生 健次
研究期間 (年度)
1986 – 1988
研究種目
一般研究(A)
研究分野
応用物性
研究機関
大阪大学
イオンビーム誘起化学効果とマスクレス薄膜形成技術の開発
研究代表者
難波 進
研究期間 (年度)
1986 – 1987
研究種目
試験研究
研究分野
応用物性
研究機関
大阪大学
研究課題数: 降順
研究課題数: 昇順
1.
高井 幹夫
(90142306)
共同の研究課題数:
8件
共同の研究成果数:
0件
2.
蒲生 健次
(70029445)
共同の研究課題数:
8件
共同の研究成果数:
0件
3.
難波 進
(70029370)
共同の研究課題数:
6件
共同の研究成果数:
0件
4.
柳沢 淳一
(60239803)
共同の研究課題数:
5件
共同の研究成果数:
0件
5.
若家 冨士男
(60240454)
共同の研究課題数:
3件
共同の研究成果数:
0件
6.
HEINER RYSSE
共同の研究課題数:
3件
共同の研究成果数:
0件
7.
木野村 淳
(90225011)
共同の研究課題数:
2件
共同の研究成果数:
0件
8.
HABERGER Kar
共同の研究課題数:
2件
共同の研究成果数:
0件
9.
RYSSEL Heine
共同の研究課題数:
2件
共同の研究成果数:
0件
10.
KARL HABERGE
共同の研究課題数:
2件
共同の研究成果数:
0件
11.
西岡 康宏
(40000351)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
12.
古谷 毅
(40238697)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
13.
井上 洋一
(60176451)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
14.
安藤 孝一
(60202785)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
15.
臺信 祐爾
(80163715)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
16.
小泉 恵英
(40205315)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
17.
谷 豊信
(70171824)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
18.
松本 伸之
(30229562)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
19.
早乙女 雅博
(80150035)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
20.
高浜 秀
(60000353)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
21.
後藤 健
(40132758)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
22.
岩渕 修一
(40294277)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
23.
石田 修一
(70127182)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
24.
有留 宏明
(70029552)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
25.
山下 広順
(80022622)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
26.
三井 利夫
(70000726)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
27.
中井 貞雄
(10029019)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
28.
佐々木 泰三
(60012233)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
29.
鷲塚 泰光
(80191740)
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
30.
JONES G.A.C
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
31.
SEIDL Albert
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
32.
LANG Walter
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
33.
BOLLMANN Die
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
34.
BUCHNER Rein
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
35.
RUGE Ingolf
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
36.
FREY Lothar
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
37.
RYSSEL Heiner
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
38.
HABERGER Karl
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
39.
AHMED H
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
40.
AHMED Haroon
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
41.
JONES G.A.C.
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
42.
高原 淳一
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
43.
MOCHIZUKI Mikio
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
44.
HABARGER Kar
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
45.
LOTHAR Frey
共同の研究課題数:
1件
共同の研究成果数:
0件
×
この研究者とORCID iDの連携を行いますか？
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。
×
×
