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日比野 倫夫  HIBINO Michio

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40023139
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 1996年度: Nagoya University, Center for Integrated Research in Science and Engineering, Pr
1995年度 – 1996年度: 名古屋大学, 理工科学総合研究センター, 教授
1995年度: 名古屋大学, 理工科学総合研究所センター, 教授
1986年度 – 1994年度: 名古屋大学, 工学部, 教授
1986年度: 名大, 工学部, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者
電子機器工学 / 物理計測・光学 / 応用光学・量子光工学
研究代表者以外
電子デバイス・機器工学 / 物理計測・光学 / 応用物理学一般 / 広領域
キーワード
研究代表者
走査透過電子顕微鏡 / ノイズ除去 / SN比 / YAG / 電子プローブ / 薄膜レンズ / 球面収差補正 / Noise elimination / Specific contrast / Electron signal manipulation … もっと見る / Digital processing system / Inelastically scattered electron / Elastically scattered electron / Scanning transmission electron microscopy / 量子検出効率 / 非弾性散乱 / 弾性散乱 / デコンボリュ-ション処理 / 特殊コントラスト / 電子信号間演算 / ディジタル処理システム / 非弾性散乱電子 / 弾性散乱電子 / Image processing / Manipulation among signal electrons / Signal electron detection / Specimen damage / High resolution observation / Field emission electron gun / High voltage STEM / 信号演算処理 / 信号間演算処理 / YAG単結晶シンチレータ / 像のSN比 / 信号電子演算 / 高解像度電子顕微鏡観察 / 画像処理 / 信号電子間演算 / 信号電子検出法 / 試料損傷 / 高解像度観察 / 電界放出電子銃 / 超高圧走査透過電子顕微鏡 / Recolution / Scanning Transmission Election Microscopy (STEM) / Electron Probe / Foil Lend / Correction / Shperical aberration / Electron lens / 分解能 / 走査透過電子顕微鏡(STEM) / 収差補正 / 球面収差 / 電子レンズ / lens coupling system / glass hemisphere / high efficient scintillator / TV-system / high voltage electron microscope / 高効率シンチ-タ / 電子顕微鏡 / レンズカップリング / 半球ガラス / 高効率シンチレータ / TVシステム / 超高圧電子顕微鏡 / foil lens / spherical aberration correction / detective quantum efficiency (DQE) / scanning transmission electron microscopy (STEM) / electron energy loss spectroscopy (EELS) / elemental mapping / 走査透過電子顕微鏡法 / 電子エネルギー損失分光法 / 元素マッピング像 / 検出量子効率 / パラレル電子エネルギー損失分光法 / 元素マッピング … もっと見る
研究代表者以外
電子レンズ / Quantum Noise / Scanning Transmission Electron Microscopy / 球面収差補正 / 量子ノイズ / 走査透過電子顕微鏡 / 薄膜レンズ / 収差補正 / 球面収差 / 磁界重畳型電子銃 / 減速レンズ / 加速レンズ / 電子銃 / 電界放出電子銃 / 低加速電子銃 / 信号演算処理 / Decelerating Lens / Accelerating Lens / Magnetic-Field-Superimposed Electron Gun / Field Emission Gun / Loe Voltage Electron Gun / Electron Gum / 超高真空 / Electron Microscopy / Image Restoration / Maximum Entropy Method / 弱位相物体 / 電子顕微鏡 / 画像修復 / 最大エントロピー法 / electron lens / foil lens / spherical aberration correction / transmission electron microscopy / 球面収差測定法 / 透過電子顕微鏡 / Electron Probe / Shadow Image / Foil Lens / Aberration Correction / Spherical Aberration / 統計ノイズ / 非回転対称収差 / プローブフォーミングレンズ / 電子プローブ / 陰影像 / Stereoscopic observation / High resolution electron microscopy / radiation damage / in-situ experiment / High voltage electron microscope / 格子欠陥 / 反射電顕法 / 照射損傷 / 立体観察 / 高分解能 / 〓射電顕 / ステレオ観察 / 高分解能電顕 / 放射損傷 / その場観察 / 超高圧電顕 / 静電レンズ / 磁界放畳型電子銃 / 元素分布像 / STEM / 電位コントラスト / 電子ビームテスティング / 低加速SEM 隠す
  • 研究課題

    (11件)
  • 共同研究者

    (15人)
  •  高輝度・高解像度電子顕微鏡観察YAGスクリーンに関する基礎研究研究代表者

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用光学・量子光工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  最大エントロピー法を用いた画像修復による電子顕微鏡の高解像化に関する研究

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正用サイドエントリ-薄膜レンズによる走査透過電子顕微鏡の高分解能化

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1995
    • 研究種目
      試験研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  薄膜レンズを用いた透過電子顕微鏡用対物レンズの球面収差補正に関する基礎研究

    • 研究代表者
      花井 孝明
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1994
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高感度・高解像度元素マッピング像観察の研究研究代表者

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1992 – 1993
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  磁界重畳型電界放出電子銃の装備による超低加速電子線プローブ応用装置の超高性能化

    • 研究代表者
      下山 宏
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1993
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名城大学
      名古屋大学
  •  超高圧電子顕微鏡の基礎技術の向上とその応用の新領域の開拓

    • 研究代表者
      美浜 和弘
    • 研究期間 (年度)
      1989 – 1991
    • 研究種目
      総合研究(A)
    • 研究分野
      広領域
    • 研究機関
      大同工業大学
      名古屋大学
  •  走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理研究代表者

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1988 – 1989
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究研究代表者

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1987 – 1989
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高性能低加速電子銃の開発に関する研究

    • 研究代表者
      丸勢 進
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  • 1.  花井 孝明 (00156366)
    共同の研究課題数: 10件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  下山 宏 (30023261)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  杉山 せつ子 (00115586)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  田中 成泰 (70217032)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  内川 嘉樹 (20023260)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  木村 啓子 (60262862)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  丸勢 進 (20022981)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  大江 俊美 (30076632)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  池田 晋 (20076623)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  美浜 和弘 (50023007)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  平賀 けん二 (30005912)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  裏 克巳 (10028938)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  渡辺 伝次郎 (50004239)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  藤田 広志 (30028930)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  丹司 敬義 (90125609)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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