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田中 信夫  TANAKA Nobuo

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40126876
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 公益財団法人名古屋産業科学研究所, 研究部, 上席研究員
2025年度: 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2017年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 教授
2015年度 – 2017年度: 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 研究員
2015年度 – 2016年度: 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 特任教授
2015年度: 名古屋大学, 未来材料システム研究所, 教授
2005年度 – 2014年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 教授 … もっと見る
2013年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授
2008年度: 名古屋大, エコトピア科学研究所, 教授
2006年度: 名古屋大学, エコトビア科学研究所, 教授
2004年度 – 2005年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究機構, 教授
2002年度 – 2003年度: 名古屋大学, 理工科学総合研究センター, 教授
2001年度: 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 教授
1999年度 – 2001年度: 名古屋大学, 工学研究科, 教授
1999年度: 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 教授
1997年度 – 1998年度: 名古屋大学, 工学研究科, 助教授
1996年度 – 1997年度: 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 助教授
1990年度 – 1996年度: 名古屋大学, 工学部, 助教授
1995年度: 名古屋大学, 工学研究科, 助教授
1986年度 – 1989年度: 名古屋大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
表面界面物性 / 理工系 / ナノ構造科学 / 薄膜・表面界面物性 / 応用物性・結晶工学 / 応用物性 / 無機材料・物性 / 固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体) / 応用物理学一般 / ナノ材料工学 … もっと見る
研究代表者以外
… もっと見る 理工系 / 薄膜・表面界面物性 / 材料加工・処理 / 応用物性・結晶工学 / ナノ材料・ナノバイオサイエンス / 金属物性・材料 / 原子力学 / 機械材料・材料力学 / ナノ材料工学 / 量子ビーム科学 / 応用物性 / 高分子・繊維材料 / 構造・機能材料 / 素粒子・核・宇宙線 / 工学 / 理工系 / 生物物理学 / 金属物性 隠す
キーワード
研究代表者
電子顕微鏡 / TEM / ナノEELS / その場観察 / クラスター / MgO / ナノメ-タ-電子回折 / 水素吸蔵 / パラジウム / 半導体 … もっと見る / 半導体界面 / 半導体超格子 / STEM / 表面・界面 / metal / 界面構造 / ナノプローブ電子線 / 金属界面 / interfaces / 歪超格子 / 界面 / EELS / プロチウム / 原子直視観察 / HAADF-STEM / 原子直視 / 非晶質半導体 / スピン状態 / 原子クラスター / HREM / 人工格子 / 量子井戸 / ナノ回折 / 金属 / 多層膜 / 電子線誘起電流測定 / 極微小電子線 / Strained superlattices / Compositional variation / Semiconductor-superlattices / Nano-diffraction / Alー組成変化 / 砒化ガリウム / ナノメーター回折 / Al-組成変化 / Alの組成変化 / Interface, Surface / Nanostracture / Cs-corrected TEM / Structural fluctuation / ナノ電子回折 / 球面収差補正 / 準結晶 / 炭素ナノチューブ / ナノ制限視野回折 / 高分解能観察 / 球面収差補正 TEM / 界面・表面 / ナノ構造 / 収差補正電子顕微鏡 / 構造ゆらぎ / Atomistic observation / Milli-second / Hydrogen-absorption / Time-resolved / ランタンニッケル / 水素放出 / 時間分解TEM / ミリセカンド / 時間分解型観察 / RHEED / Magnetism / Surface, Interface / GaAs electron source / Spin-polarization / 磁性体 / スピン偏極電子源 / 反射電子回折 / 磁性 / GaAs電子源 / スピン偏極 / interference of electrons / semiconductor interface / nano-beam electron diffraction / 格子のフィッティング / コヒーレント電子回折 / 位相決定 / MgO界面 / PbTe / 全面界面 / コヒーレントナノ電子回折 / 金属・半導体界面 / 電子波の干渉 / 金属・半導体・界面 / ナノ電子ビーム回折 / Analytical Electron Microscopy / Interfaces / Nano-Materials / High Resolution Electron Microscopy / Convergent Beam Electron Diffraction / Electron probe / CCDカメラ / 精密構造解析 / イメージングプレート / 先端材料 / ナノメーター構造解析 / 分析電子顕微鏡 / 表・界面 / Nano materials / CBED / 電子線プローブ / Study of physical properties by nano probe / nano-EELS / nano-diffraction / semiconductor interfaces / Nano electron probe / 電子物性 / ナノ回打 / ナノプローブ電子物性 / 極微小電子線プローブ / analysis of strain / Strained superlattices quantum well / Nano-electron diffraction / 極微小構造解析 / InP / InGaP / 界面歪 / 半導体歪超格子 / 歪解析 / 非大気露出 / その場電顕観察 / ナノマイクロ構造評価 / リチウム電池 / ナノマイクロ構造解析・評価・試験法 / 非大気露出試料転送 / 電池材料解析 / 環境電子顕微鏡 / 低加速電子顕微鏡 / 散乱実験 / 低速加速電子顕微鏡 / スピン偏極電子銃 / 低速電子顕微鏡 / スピン偏極電子 / マルチスライスシミュレーション / 磁性体薄膜 / スピン偏極電子線の相互作用 / 量子ビーム / スピンエレクトロニクス / 構造安定モデル / 臨界核サイズ / 極薄Si酸化膜 / Geナノドット / HR-profile TEM / 酸化物半導体 / 薄膜 / チタニアナノロッド / チタニア粉末 / 光化学反応 / 透過電子顕微鏡 / 光触媒 / 酸化状態 / Si界面 / SiO_2 / 収差補正 / 可視化 / 3d軌道 / 軌道の異方性 / 電子構造 / 先端軽元素材料 / マンガン酸化物 / 水素吸蔵合金 / LaNi_5合金 / 水素吸蔵過程 / タングステン / 1個の原子 / 表面拡散 / タングステン原子 / 表面拡散原子 / クラスターの自動振動 / LaNi_5 / 動的高分解能電子顕微鏡法 / 低温結晶化 / 金クラスター / ゲルマニウム / 金属媒介結晶化 / 原子直視視察 / ゲルコニウム / 暗視野STEM / 遷移金属クラスター / 酸化物膜 / ナノ操作 / ピンセット / ナノ電子線 / 電子線ピンセット / 量子ドット / 遷移金属 / 電気伝導率 / 磁気的特性 / Fe-MgO / セラミックス / 傾斜複合膜 / 内包構造 / 試料トランスファーチャンパー / 真空蒸着法 / Gd@C82 / MgO単結晶膜 / 金属フラーレン / 構造と物性 / 真空蒸着膜 / 構造と拘性 / MgO蒸首膜 / 真空蒸首 / TEM観察 / RHEED観察 / γ-Fe / 構造と磁性 / 強磁性 / γ^CーFe / 微結晶 / 磁性測定 / MgO人工格子 / Fe / γ(ガンマ)ーFe / 金属ー半導体界面 / 金属-半導体界面 … もっと見る
研究代表者以外
電子顕微鏡 / 界面 / 接合 / 原子分解能 / 電子線加工 / 電子線 / 転位 / 位相イメージング / 回折顕微法 / スピン / bonding / 単原子 / 電子回折 / ナノ粒子 / 収差補正TEM / 格子欠陥 / 結晶成長 / シリコン / エピタキシャル成長 / 水素 / 金 / 変形 / 高分解能観察 / 原子直視型観察 / その場電子顕微鏡 / その場観察 / 高分解能電子顕微鏡 / その場解析 / 高分解能透過電子顕微鏡 / 構造解析 / ナノ構造 / 鉄鋼 / 材料強化 / 格子間原子 / 原子空孔 / 衝突カスケード / 原子炉 / 核融合炉 / 照射損傷 / ナノ電磁場 / 制限視野回折 / 電子回折顕微法 / 深さ分解能 / 三次元計測 / 動画計測 / 結晶格子縞 / 焦点位置スキャン / 三次元観察 / 非整合エピタキシャル界面 / 三次元分布 / 金属ナノ粒子 / 格子縞コントラスト / 正焦点 / 収差補正電子顕微鏡 / 機械材料・材料力学 / 強度評価 / サブミクロン材料 / 格子脆化説 / 水素脆性 / 小角散乱 / コインシデンス / 量子効果 / 強度干渉 / high resolution electron microscopy / electric and magnetic properties / single crystalline composite films / cermet / 電子顕微鏡法 / 真空蒸着 / 複合薄膜 / 高分解能党子顕微鏡法 / 複合膜の拘性 / 単結晶複合膜 / 高分解能電子顕微鏡法準結晶薄膜 / 準結晶薄膜 / 高分解能電子顕微鏡法 / 磁性 / 電気抵抗 / 単結晶複合薄膜 / サーメット / quasicrystal with dodecagonal symmetry / Archimedean tiling / nanophase-separated structure / star-shaped terpolymer / block copolymer / 階層構造 / アルキメデスタイリング構造 / ミクロドメイン構造 / 12回対称準結晶 / アルキメデスタイリング / ナノ相分離構造 / 星型共重合体 / ブロック共重合体 / steam oxidation / heat-resisting steel / sulfur / impurity / 不純物元素 / 合金設計 / 微量元素 / 鉄鋼材料 / 水蒸気酸化 / 耐熱鋼 / 硫黄 / 不純物効果 / in-situ / Atomistic / piezo / fracture / contact / deformation / High resolution microscopy / ピエゾ素子 / 合金化 / 原子過程 / ピエヅ素子 / 高分解解透過電子顕微鏡 / 原子直視観察 / ピエグ素子 / 破壊 / 接触 / Electron gun / Field emission dark current / Superlattice / Photocathode / Quantum efficiency / Polarized Electron Source / Polarization / Spin / カソード / 研磨 / GaAs表面 / 放電暗電流 / 負の電子親和性 / GaAs / パルスレーザー / 暗電流 / 空間電荷制限 / NEA表面 / 超格子半導体 / 偏極電子ビーム / 電子スピン / 電子銃 / 電界放出暗電流 / 超格子 / フォトカソード / 量子効率 / 偏極電子源 / 偏極度 / atomic resolution / in situ analysis / hetero bonding / Transmission electron microscopy / ヘテロ接合 / キラリティー / 円二色性 / 電子らせん波 / 渦 / ボルテックス / 位相特異点 / 軌道角運動量 / らせん波 / LSI / 欠陥 / 高キャリア移動度 / ひずみ / スズ / ゲートスタック / エネルギーバンド / スズ(錫) / 表面・界面 / CMOS / 歪 / 錫 / ゲルマニウム / 収束電子回折 / 電気伝導 / 半導体歪み解析 / アモルファス / 白金 / 拡散 / アンチモン / ドーパント / 収差補正STEM / IQGAP1 / 裏打ち構造 / 細胞・組織 / 蛋白質 / 生物物理 / 微小管 / フリーズエッチング / 細胞骨格 / 細胞膜 / アクチン線維 / クライオ電顕 / 膜細胞骨格 / 球面収差補正 / パターソン関数 / 中距離範囲秩序 / 制限視野電子回折 / 金属ガラス / 電子プローブ / 構造評価 / 組織制御 / デバイス材料 / 高角度散乱暗視野走査透過電子顕微鏡 / エピタキシャル / コバルト / カーボン(炭素) / シリコンゲルマニウム / 走査型透過電子顕微鏡 / プラチナ / パラジウム / チタン / ニッケル / シリサイド / カーボンナノチューブ / 酸化物 / リチウム / 電子状態 / 材料設計 / 金属 / セラミックス / 局在量子構造 / 軽元素 / 電子励起光分光 / 分光結像 / 電子エネルギー損失分光 / 電子分光 / ナノスケール電子分光 / 超塑性 / 粒界すべり / ナノメートル加工 / 組成 / 動的観察 / ナノ機構 / 超微細加工 / 高温構造材料 / 変形能 / 細粒超塑性 / B_2型規則構造 / L1_2型規則構造 / 高分解能電子顕鏡 / ナノ結晶 / 金属間化合物 隠す
  • 研究課題

    (63件)
  • 研究成果

    (320件)
  • 共同研究者

    (78人)
  •  収差補正電子顕微鏡の焦点位置スキャンによるナノ構造および原子の三次元計測法の開発

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  コヒーレント偏極電子線による時間相関測定

    • 研究代表者
      桑原 真人
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2016
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      量子ビーム科学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  格子欠陥挙動の正確な理解に基づいた材料照射損傷の新たな抑制原理の確立

    • 研究代表者
      荒河 一渡
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      原子力学
    • 研究機関
      島根大学
  •  高エネルギー転位導入によるアルファ鉄系材料の新しい強化原理の開拓

    • 研究代表者
      荒河 一渡
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      金属物性・材料
    • 研究機関
      島根大学
  •  環境超高圧電子顕微鏡を用いた実装電池反応の原子レベルその場観察研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      ナノ材料工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  電子線小角散乱からの新規位相イメージング法によるナノスケール電磁場の定量的可視化

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2015
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      ナノ材料工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  原子からミクロンレベルまで観察可能な電子回折顕微法という新規結像分野の確立

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  サブミクロン材料の特異な強度特性を利用した水素脆性機構の解明

    • 研究代表者
      高橋 可昌
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      若手研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      関西大学
  •  低速電子顕微鏡における相対論的スピン散乱の実験的検証研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノ電子らせん波の生成およびキラル物質との相互作用の研究

    • 研究代表者
      齋藤 晃
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      ナノ材料・ナノバイオサイエンス
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  省電力/超高速ナノCMOSのための電子物性設計と高移動度チャネル技術の創生

    • 研究代表者
      財満 鎭明
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2013
    • 研究種目
      特別推進研究
    • 審査区分
      理工系
      工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  スピン偏極パルスTEMの開発とナノスピン解析への応用研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(S)
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノメーター領域における半導体の格子歪みと電気伝導の精密測定

    • 研究代表者
      齋藤 晃
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  極薄Si酸化膜上におけるGeナノドットの形成過程と微細構造の原子直視実空間評価研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫, 趙 星彪
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  収差補正STEMによるシリコン中ドーパント拡散及びクラスタリングの単原子直視研究

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  金属ガラスの局所原子構造の球面収差補正電子顕微鏡による研究

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2007
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  免疫クライオ電顕による新鮮膜細胞骨格ナノ分子システムの解明

    • 研究代表者
      臼倉 治郎
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      生物物理学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高空間分解能光化学反応その場観察装置による酸化チタンの触媒反応界面の動的観察研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2006
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正電子レンズを用いたナノ材料の構造と電子状態ゆらぎの研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ABC星型共重合体の二次元タイリングとメゾスコピック準結晶構造の構築

    • 研究代表者
      松下 裕秀
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      高分子・繊維材料
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  電子プローブによる光・電子デバイス材料および実装素子のナノ組織解析技術の進展

    • 研究代表者
      桑野 範之
    • 研究期間 (年度)
      2003
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      ナノ材料・ナノバイオサイエンス
    • 研究機関
      九州大学
  •  無球面収差結像TEMによるSiO_2/Si界面の酸化状態の原子直視的研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2004
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  異種材料界面制御による超低抵抗コンタクトの開発と半導体/金属界面の原子直視研究

    • 研究代表者
      財満 鎭明
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2003
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  EELSイメージングを用いたマンガン酸化物の電子構造の可視化研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ミリセカンド時間分解型水素吸蔵・放出反応原子直視装置の開発研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2003
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      無機材料・物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  LaNi_5極薄単結晶膜の作製とその中へのプロチウム吸蔵過程の原子直視動的観察研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      2000
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  軽元素修飾による局在量子構造と材料設計

    • 研究代表者
      森永 正彦
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2004
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  大角度暗視野STEM法を用いた非晶質半導体の金属媒介結晶化過程の原子直視研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1999
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  MgO中のPdナノクラスター内でのプロチウム形成過程の原子直視動的解析研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1999
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  表面拡散原子1個1個を追跡する研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノスケール電子分光法の新展開と先端材料への応用

    • 研究代表者
      田中 通義
    • 研究期間 (年度)
      1999
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      金属物性
    • 研究機関
      東北大学
  •  高純度化に伴う先端鉄鋼材料の特性劣化と有効不純物元素による最適合金設計

    • 研究代表者
      森永 正彦
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      構造・機能材料
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノEELSによる酸化物膜中の遷移金属ナノクラスターのスピン状態の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1998
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  超高分解能暗視野STEMを用いた非晶質半導体の金属媒介結晶化の原子直視的研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1998
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  MgO中のPdナノクラスターへの水素侵入過程の原子直視動的解析研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1998
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高分解能電子顕微鏡による超塑性材料の粒界すべりの原子直視型その場観察

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1997
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノEELSによる非磁性金属、酸化物膜中の遷移金属クラスターのスピン状態の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1997
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  孤立半導体量子ドット操作用“ナノ電子線ピンセット"の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      応用物性・結晶工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  原子サイズの機械加工とその可視化による加工機構の解明

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      材料加工・処理
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高分解能電子顕微鏡による超塑性材料の粒界すべりの原子直視型その場解析

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  金属-セラミックス単結晶傾斜機能膜の作製とその電気・磁気的性質の解明研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高分解能電子顕微鏡を用いたナノ電子線加工過程における構造と伝熱のその場解析

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1995
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  コヒーレントナノ電子ビーム回折を用いた半導体/金属界面の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  新世代のスピン編極電子源の実用化

    • 研究代表者
      中西 彊
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      素粒子・核・宇宙線
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  スピン偏極電子源を用いた表面・界面磁性研究用反射電子回折装置の試作研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  MgO単結晶膜上の金属フラーレン結晶の成長機構の電子顕微鏡学的研究と物性測定研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高分解能電子顕微鏡によるナノ電子線加工過程の構造と伝熱のその場解析

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  電子線プローブによるナノメーター精密構造解析研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1994 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  原子直視による異種材料間接合瞬間のその場構造解析法の開発

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1994 – 1996
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      材料加工・処理
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  MgO結晶中の原子クラスターの構造と物性の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高分解能電子顕微鏡によるナノ電子線加工過程の構造と組成のその場解析

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  極微小電子線プローブを用いた"埋もれた"金属/半導体界面の構造と物性の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1993 – 1994
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      表面界面物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  γ-Fe/MgO人工格子の界面構造と磁性研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1992 – 1993
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  MgO結晶中の原子クラスターの構造と拘性の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1992 – 1993
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノ結晶粒超塑性を利用した金属間化合物の変形能の改善

    • 研究代表者
      木塚 徳志
    • 研究期間 (年度)
      1992
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  極微小電子線プロ-ブを用いた半導体ー金属界面の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  γーFe/MgO人工格子の構造と磁性研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1991
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  極微小電子線プロ-ブを用いた半導体ー金属界面の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1990
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  γーFe/MgO人工格子の構造と磁性研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1990
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  半導体歪超格子のナノメ-タ-電子回折研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1990 – 1991
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  極微小電子線プロ-ブを用いた半導体-金属界面の研究研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1989
    • 研究種目
      重点領域研究
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  ナノメ-タ-電子回折を用いた半導体超格子の解析研究代表者

    • 研究代表者
      田中 信夫
    • 研究期間 (年度)
      1988 – 1989
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  金属微結晶を内在するHgO単結晶薄膜の構造と物性

    • 研究代表者
      美浜 和弘
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1988
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      名古屋大学

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すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] Electron Nano-imaging2017

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 総ページ数
      333
    • 出版者
      Springer
    • ISBN
      9784431565000
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [図書] Electron nano-imaging2017

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 総ページ数
      333
    • 出版者
      Springer Publishing Company
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [図書] Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanomaterials2015

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 総ページ数
      571
    • 出版者
      Imperial College Press
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [図書] Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis2014

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 総ページ数
      571
    • 出版者
      Imperial College Press
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [図書] Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis2014

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 総ページ数
      571
    • 出版者
      Imperial College Press
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [図書] Introduction to physics for nanotechnology2007

    • 著者名/発表者名
      N, Tanaka
    • 総ページ数
      240
    • 出版者
      Kyoritsu-syuppan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [図書] 「ナノテクのための物理入門」8章分担執筆2007

    • 著者名/発表者名
      田中信夫
    • 総ページ数
      240
    • 出版者
      共立出版
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [図書] 表面界面ハンドブック2004

    • 著者名/発表者名
      田中 信夫
    • 総ページ数
      1500
    • 出版者
      NTS出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] Catalytic etching of multi-walled carbon nanotubes controlled by oxygen gas pressure2018

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshida, S. Arai, H. Matsumoto, M. Shirai, N. Tanaka
    • 雑誌名

      ChemCatChem

      巻: 10 ページ: 1-6

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] The Boersch effect in a picosecond pulsed electron beam emitted from a semiconductor photocathode2016

    • 著者名/発表者名
      Makoto Kuwahara, Yoshito Nambo, Kota Aoki, Kensuke Sameshima, Xiuguang Jin, Toru Ujihara, Hidefumi Asano, Koh Saitoh, Yoshikazu Takeda, and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 109 号: 1 ページ: 013108-013108

    • DOI

      10.1063/1.4955457

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26400417, KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [雑誌論文] Catalytic behavior of noble metal nanoparticles for the hydrogeneration and oxidation of multiwalled carbon nanotubes2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshida, S. Arai, Y. Sasaki and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 65 号: 4 ページ: 1-7

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfw007

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Further development of an environmental HVTEM for reaction science by new non-exposure transfer holder2016

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, K. Higuchi, Y. Yamamoto, S. Arai and S. Ohta
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis 2016

      巻: なし ページ: 426-426

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Graphen Quantum Dots: Structural Integrity and Oxygen Functional Groups for High Sulfur/Sulfide Utilization in Lithium Sulfur Batteries2016

    • 著者名/発表者名
      Y.-E. Sung, J. Park, J. Moon, C. Kim, J.-H. Kang, E. Lim, J. Park, K.-J.-Lee, S.-H.- Yu, J.-H. Seo, J. Lee, J. Heo, Tanaka N., S.-P.Cho, J. Pyun, J. Cabana and B.-H. Hong
    • 雑誌名

      Nature Asia Materials

      巻: 8 ページ: 272-281

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Interfacial fracture strength of micro-scale Si/Cu components with different free-edge shape2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Takahashi, H. Kondo, K. Aihara, M. Takuma, K. Saitoh, S. Arai, S. Muto, Y. Yamamoto, K. Higuchi, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials

      巻: 665 ページ: 169-172

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/kem.665.169

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-25106004, KAKENHI-PROJECT-26249096, KAKENHI-PROJECT-25709003, KAKENHI-PROJECT-25000012
  • [雑誌論文] Direct evaluation of grain boundary hydrogen embrittlement: a micro-mechanical approach2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Takahashi, H. Kondo, R. Asano, S. Arai, K. Higuchi, Y. Yamamoto, S. Muto, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Materials Science & Engineering A

      巻: 661 ページ: 211-216

    • DOI

      10.1016/j.msea.2016.03.035

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-25106004, KAKENHI-PROJECT-26249096, KAKENHI-PROJECT-25709003, KAKENHI-PROJECT-25000012
  • [雑誌論文] Development of an new non-exposure transfer holder for an environmental HVTEM2016

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, K. Higuchi, Y. Yamamoto, S. Arai and S. Ohta
    • 雑誌名

      AMTC Letter

      巻: 5 ページ: 60-61

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] スピン偏極パルスTEMにおける超高速時間分解能とそのビーム品質2016

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、宇治原徹、浅野秀文、齋藤晃、田中信夫
    • 雑誌名

      顕微鏡

      巻: 50 ページ: 151-155

    • NAID

      130007701778

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [雑誌論文] Fabrication of Si theomoelectric nanomaterials coating ultrasmall epitaxial Ge nanodots with an ultrahigh density2015

    • 著者名/発表者名
      S. Yamasaka, Y. Nakamura, T. Ueda, S. Takeuchi, Y. Yamamoto, S. Arai, T. Tanji, N. Tanaka and A. Sakai
    • 雑誌名

      J. Electronic Materials

      巻: 44 ページ: 2015-2020

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Depth-resolution imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous films using aberration-corrected TEM2015

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, M. Mori, Masayuki, A. Hirata, Y. Hirotsu, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 151 ページ: 224-231

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2014.11.005

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360260, KAKENHI-PROJECT-24656400, KAKENHI-PLANNED-26105009, KAKENHI-PROJECT-26286049, KAKENHI-PROJECT-26310205
  • [雑誌論文] Quantitative evaluation of interfacial fracture strength in micro-scale components combined with high-voltage environmental electron microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Takahashi, S. Arai, Y. Yamamoto, K. Higuchi, H. Kondo, Y. Kitagawa, S. Muto, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Experimental Mechanics

      巻: 未定 号: 6 ページ: 1047-1056

    • DOI

      10.1007/s11340-015-0008-2

    • 説明
      accepted in printing
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25000012, KAKENHI-PLANNED-25106004, KAKENHI-PROJECT-25709003, KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Spatial and temporal coherence in spin-polarized transmission electron microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      M, Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, N. Tanaka
    • 雑誌名

      AMTC Letters

      巻: 4 ページ: 262-263

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Nano-scale characterization of GaAsP/GaAs strained superlattice structure by nano-beam electron diffraction2014

    • 著者名/発表者名
      Xiuguang Jin, Hirotaka Nakahara, Koh Saitoh, Nobuo Tanaka, and Yoshikazu Takeda
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: VOL. 104 号: 11 ページ: 113106-113106

    • DOI

      10.1063/1.4869030

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23241036, KAKENHI-PROJECT-23246003, KAKENHI-PROJECT-23760310, KAKENHI-PROJECT-24651123, KAKENHI-PROJECT-25390066, KAKENHI-PROJECT-26286014
  • [雑誌論文] Whole-cell imaging of the budding yeast Saccharomyces cerevisiae by high-voltage scanning transmission electron tomography.2014

    • 著者名/発表者名
      Murata, K., Esaki, M., Ogura, T., Arai, S., Yamamoto, Y., and Tanaka, N.
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 146 ページ: 39-45

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2014.05.008

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24370056, KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Dynamic observation from continuous to well-controlled pulsed electron beam in Nagoya University2014

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, M. Kuwahara, S. Arai, K. Sasaki and N. Tanaka
    • 雑誌名

      AMTC Letters

      巻: 4 ページ: 58-59

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] ETEM observation of Pt/C electrode catalysts in a moisturized cathode atmosphere2014

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshida, X. Zhang, N. Tanaka, E. D. Boyes and P. L. Gai
    • 雑誌名

      Journal of Physics: Conference Series

      巻: 522 ページ: 012007-012007

    • DOI

      10.1088/1742-6596/522/1/012007

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Dynamic observation from continuous to well-controlled pulsed electron beam in Nagoya University2014

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, M. Kuwahara, S. Arai, K. Sasaki and K. Saitoh
    • 雑誌名

      AMTC Letters

      巻: 4 ページ: 58-59

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Development of an environmental high voltage electron microscope and its application to nano and bio-materials2014

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, J. Usukura, M. Kusunoki, Y. Saito, K. Sasaki, T. Tanji, S. Muto, S. Arai
    • 雑誌名

      Journal of Physics: Conference Series

      巻: 522 ページ: 012008-012008

    • DOI

      10.1088/1742-6596/522/1/012008

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-25106004, KAKENHI-PROJECT-25630280, KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Coherence of a spin-polarized electron beam emitted from a semiconductor photocathode in a transmission electron microscope2014

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Saitoh, X. G. Jin, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 105 号: 19 ページ: 193101-193101

    • DOI

      10.1063/1.4901745

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123, KAKENHI-PROJECT-25390066, KAKENHI-PROJECT-25706031, KAKENHI-PROJECT-26220605, KAKENHI-PROJECT-26286014, KAKENHI-PROJECT-26400417
  • [雑誌論文] Nano-second Time-Resolved Measurement in Spin-Polarized Pulse TEM2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Nambo, M. Kuwahara, S. Kusunoki, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, N. Tanaka
    • 雑誌名

      AMTC Letters

      巻: 4 ページ: 256-256

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Statistical distribution of single atoms and clusters of supported Au catalyst analyzed by global high-resolusion HAADF-STEM observation with morphological image-processing operation2014

    • 著者名/発表者名
      Yamamoto, S. Arai, A. Esaki, J. Ohyama, A. Satsuma and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 63 号: 3 ページ: 209-218

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfu001

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123, KAKENHI-PROJECT-25820393, KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [雑誌論文] Propagation Dynamics of Electron Vortex Pairs2013

    • 著者名/発表者名
      Y. Hasegawa, K. Saitoh, N. Tanaka, and M. Uchida
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan

      巻: 82 ページ: 073402-073402

    • NAID

      210000132625

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Key factors for the dynamic ETEM observation of single atoms2013

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshida, T. Tominaga, T. Hanatani, A. Tagami, Y. Sasaki, J. Yamasaki, K. Saitoh, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: VOL. 62 ページ: 571-582

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] Young's interference experiment with electron beams carrying orbital angular momentum2013

    • 著者名/発表者名
      Yuya Hasegawa
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan

      巻: 82 号: 3 ページ: 33002-33002

    • DOI

      10.7566/jpsj.82.033002

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22540410, KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Study of microstructure and interdiffusion behavior of β-FeSi2 flat-islands grown on Si (111) surfaces2013

    • 著者名/発表者名
      S. -P. Cho, Y. Nakamura, J. Yamasaki, E. Okunishi, M. Ichikawa and N. Tanaka
    • 雑誌名

      J. Appl. Crystallogr.

      巻: VOL. 46 号: 4 ページ: 1076-1080

    • DOI

      10.1107/s0021889813015355

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] Phase-locking of oscillating images using laser-induced spin-polarized pulse TEM2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, Y. Nambo, S. Kusunokk, X. Jin, K. Saitoh, H. Asano, T. Ujihara, Y. Takeda, T. Nakanishi, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscoopy

      巻: 62 号: 6 ページ: 607-614

    • DOI

      10.1093/jmicro/dft035

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005, KAKENHI-PROJECT-23241036, KAKENHI-PROJECT-24651123, KAKENHI-PROJECT-25390066, KAKENHI-PROJECT-25706031
  • [雑誌論文] Phase-locking of oscillating images using laser-induced spin-polarized pulse TEM2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, Y. Nambo, S. Kusunoki, X Jin, K. Saitoh, H. Asano, T. Ujihara, Y. Takeda, T. Nakanishi and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: VOL. 62 ページ: 607-614

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] スピン偏極パルス透過型顕微鏡の開発-偏極電子源の原理とその応用2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、中西彊、竹田美和、田中信夫
    • 雑誌名

      顕微鏡

      巻: 48巻1号 ページ: 3-8

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Measuring the Orbital Angular Momentum of Electron Vortex Beams Using a Forked Grating2013

    • 著者名/発表者名
      Koh Saitoh, Yuya Hasegawa, Kazuma Hirakawa, Nobuo Tanaka, and Masaya Uchida
    • 雑誌名

      Physical Review Letters

      巻: 111 号: 7 ページ: 74801-74801

    • DOI

      10.1103/physrevlett.111.074801

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Key factors for the dynamic ETEM observation of single atoms2013

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshida, T. Tominaga, T. Hanatani, A. Tagami, Y. Sasaki, J. Yamasaki, K. Saitoh, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 62 号: 6 ページ: 571-582

    • DOI

      10.1093/jmicro/dft033

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036, KAKENHI-PROJECT-24710110
  • [雑誌論文] Measuring the Orbital Angular Momentum of Electron Vortex Beams Using a Forked Grating2013

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, Y. Hasegawa, K. Hirakawa, N. Tanaka, and M. Uchida
    • 雑誌名

      Physical Review Letters

      巻: 111 ページ: 74801-74801

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Improvement of the precision of lattice parameter determination by nano-beam electron diffraction2013

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, H. Nakahara, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 62 号: 5 ページ: 533-539

    • DOI

      10.1093/jmicro/dft023

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Propagation Dynamics of Electron Vortex Pairs2013

    • 著者名/発表者名
      Yuya Hasegawa, Koh Saitoh, Nobuo Tanaka, and Masaya Uchida
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan

      巻: 82 号: 7 ページ: 73402-73402

    • DOI

      10.7566/jpsj.82.073402

    • NAID

      210000132625

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Phase-locking of oscillating images using laser-induced spin-polarized pulse TEM2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, Y. Nambo, S. Kusunoki, X Jin, K. Saitoh, H. Asano, T. Ujihara, Y. Takeda, T. Nakanishi and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 62(6) ページ: 607-614

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] スピン偏極パルス透過型顕微鏡の開発-偏極電子源の原理とその応用2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、中西彊、竹田美和、田中信夫
    • 雑誌名

      顕微鏡

      巻: 48 ページ: 3-8

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Production of electron vortex beams carrying large orbital angular momentum using spiral zone plates2012

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, Y. Hasegawa, N. Tanaka, and M. Uchida
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy

      巻: 61(3) ページ: 171-177

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] 30-kV spin-polarized transmission electron microscope with GaAs-GaAsP strained superlattice photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, X. G. Jin, T. Nakanishi, Y. Takeda, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 101(3) ページ: 33102-33102

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Structural and electrical properties of half-Heusler LaPtBi thin films grown by 3-source magnetron co-sputtering2012

    • 著者名/発表者名
      T.Miyawaki, N.Sugimoto, N.Fukatani, T.Yoshihara, K.Ueda, N.Tanaka, Asano
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys

      巻: 111

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Production of electron vortex beams carrying large orbital angular momentum using spiral zone plates2012

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, Y. Hasegawa, N. Tanaka, and M. Uchida
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy

      巻: 61 ページ: 171-177

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Polytype Transformation by Replication of Stacking Faults Formed by Two-Dimensional Nucleation on Spiral Steps during Sic Solution Growth2012

    • 著者名/発表者名
      S. Harada, K. Seki, Y. Yamamoto, C. Zhu, Y. Yamamoto, S. Arai, J. Yamasaki, N. Tanaka and T. Ujihara
    • 雑誌名

      Crystal Growth & Design

      巻: 12 号: 6 ページ: 3209-3214

    • DOI

      10.1021/cg300360h

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23246004
  • [雑誌論文] Fabrication of LaPtBi thin films by 3-source sputtering2012

    • 著者名/発表者名
      N.Sugimoto, T.Miyawaki, N.Fukatani, T.Yoshihara, K.Ueda, N.Tanaka, H.Asano
    • 雑誌名

      J.Magn.Soc.Jpn

      巻: (未定)(掲載確定)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Analysis of thickness modulation in GaAs/GaAsP strained superlattice by TEM observation2012

    • 著者名/発表者名
      Xiuguang Jin, Hirotaka Nakahara, Koh Saitoh, Takashi Saka, Toru Ujihara, Nobuo Tanaka, Yoshikazu Takeda
    • 雑誌名

      Journal of Crystal Growth

      巻: 353 ページ: 84-87

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Development of spin-polarized and pulsed TEM2012

    • 著者名/発表者名
      M Kuwahara, F.Ichihashi, S.Kusunoki, Y Takeda, K Saitoh, T Ujihara, H Asano, T.Nakanishi, N Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Physics : Conference Seriese

      巻: (未定)(掲載確定)

    • NAID

      130007640949

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] 30-kV spin-polarized transmission electron microscope with GaAs-GaAsP strained superlattice photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, X. G. Jin, T. Nakanishi, Y. Takeda, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 101(3) ページ: 33102-33102

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Analysis of thickness modulation in GaAs/GaAsP strained superlattice by TEM observation2012

    • 著者名/発表者名
      Xiuguang Jin, Hirotaka Nakahara, Koh Saitoh, Takashi Saka, Toru Ujihara, Nobuo Tanaka, Yoshikazu Takeda
    • 雑誌名

      Journal of Crystal Growth

      巻: 353 ページ: 84-87

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [雑誌論文] Electron Interference From an Amorphous Thin Film on a Crystal Transmission Electron Microscopy Specimen2012

    • 著者名/発表者名
      R. A. Herring
    • 雑誌名

      J. Electron Microsc.

      巻: 61 号: 1 ページ: 17-23

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfr087

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20246013, KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Analysis of thickness modulation in GaAs/GaAsP strained superlattice by TEM observation2012

    • 著者名/発表者名
      X. G. Jin, H. Nakahara, K. Saitoh, T. Saka, T. Ujihara, N. Tanaka, Y. Takeda
    • 雑誌名

      Journal of Crystal rowth

      巻: 353 ページ: 84-87

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Development of spin-polarized and pulsed TEM2012

    • 著者名/発表者名
      M Kuwahara, F. Ichihashi, S. Kusunoki, Y. Takeda, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, T. Nakanishi, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Physics : Conference Series

      巻: 371 ページ: 12004-12004

    • NAID

      130007640949

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Analysis of thickness modulation in GaAs/GaAsP strained superlattice by TEM observation2012

    • 著者名/発表者名
      X. Jin, H. Nakahara, K. Saitoh, T. Saka, T. Ujihara, N. Tanaka, Y. Takeda
    • 雑誌名

      Journal of Crystal Growth

      巻: 353 号: 1 ページ: 84-87

    • DOI

      10.1016/j.jcrysgro.2012.05.017

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23246003, KAKENHI-PROJECT-23760310
  • [雑誌論文] Structural and electrical properties of half-Heusler LaPtBi thin films grown by 3-source magnetron co-sputtering2012

    • 著者名/発表者名
      T. Miyawaki, N. Sugimoto, N. Fukatani, T. Yoshihara, K. Ueda, N. Tanaka, and H. Asano
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys

      巻: 111

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Production of electron vortex beams carrying large orbital angular momentum using spiral zone plates2012

    • 著者名/発表者名
      Koh Saitoh, Yuya Hasegawa, Nobuo Tanaka, Masaya Uchida
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy

      巻: 59(5) ページ: 387-394

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfs036

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atomistic structure analysis of stacking faults and misfit dislocations at 3C-SiC/Si(001) interface by aberration-corrected transmission electron microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, S. Inamoto, Y. Nomura, H. Tamaki, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Physics D: Applied Physics

      巻: 45 号: 49 ページ: 494002-494002

    • DOI

      10.1088/0022-3727/45/49/494002

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23760030
  • [雑誌論文] Young's Interference Experiment with Electron Beams Carrying Orbital Angular Momentum2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Hasegawa, K. Saitoh, N. Tanaka, S. Tanimura and M. Uchida
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan

      巻: 82 ページ: 33002-33002

    • NAID

      210000132432

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [雑誌論文] Development of spin-polarized transmission electron microscope2011

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, Y. Takeda, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, T. Nakanishi, and N Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Physics : Conference Seriese

      巻: 298 ページ: 12016-12016

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Development of spin-polarized transmission electron microscope2011

    • 著者名/発表者名
      M.Kuwahara, Y.Takeda, K.Saitoh, T.Ujihara, H.Asano, T.Nakanishi, N Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Physics : Conference Seriese

      巻: 298 ページ: 12016-12016

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atomic arrangement at the 3C-SiC/Si(001) interface revealed utilizing aberration-corrected transmission electron microscope2011

    • 著者名/発表者名
      S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Philosophical Magazine Letters

      巻: 91 号: 9 ページ: 632-639

    • DOI

      10.1080/09500839.2011.600730

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23760030
  • [雑誌論文] Three-dimensional reconstruction of the atomic arrangement of icosahe dral quasicrystals by binary discrete tomography2011

    • 著者名/発表者名
      Y.Ishibashi, H.Sugiura, K.Saitoh, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Philosophical Magazine Letters

      巻: 91 ページ: 2519-2527

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture2011

    • 著者名/発表者名
      Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy

      巻: 60(2) ページ: 101-108

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atomic arrangement at the 3C-SiC/Si(001) interface revealed utilizing a berration-corrected transmission electron microscope2011

    • 著者名/発表者名
      S.Inamoto, J.Yamasaki, H.Tamaki, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Philosophical Magazine Letters

      巻: 91(9) ページ: 632-639

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Specific Surface Area and Three-Dimensional Nanostructure Measurements of Porous Titania Photocatalysts by Electron Tomography and Their Relation to Photocatalytic Activity2011

    • 著者名/発表者名
      Kenta Yoshida, Masaki Makihara, Nobuo Tanaka, Shinobu Aoyagi, Eiji Nishibori, Makoto Sakata, Edward D.Boyes, Pratibha L.Gai
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis

      巻: 17 ページ: 264-273

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atom-column distinction by Kikuchi pattern observed by an aberration-corrected convergent electron probe2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Tatara, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Electron Microsc

      巻: 59 ページ: 387-394

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Automated mapping of lattice parameters and lattice bending strain near a SiGe/Si interface by using split HOLZ line patterns2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Yasuda, N.Tanaka
    • 雑誌名

      International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 2

      ページ: 38-39

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [雑誌論文] Determination of a lattice strain field by iterative phase retrieval of rocking curves of HOLZ reflections2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, M.Hamabe, S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 雑誌名

      International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 2

      ページ: 120-121

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [雑誌論文] Automated characterization of bending and expansion of a lattice of a Si substrate near a SiGe/Si interface by using split HOLZ line patterns2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Yasuda, M.Hamabe, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Electron Microsc.

      巻: 59 ページ: 367-378

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] Annealing effects on a high-K lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 107 ページ: 124510-10

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atom-column distinction by Kikuchi pattern observed by an aberration-corrected convergent electron probe2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Tatara, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 59

      ページ: 387-394

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [雑誌論文] Annealing effects on a high-k lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      S.Inamoto, J.Yamasaki, E.Okunishi, K.Kakushima, H.Iwai, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys.

      巻: 107

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] Automated characterization of bending and expansion of a lattice of a Si substrate near a SiGe/Si interface by using split HOLZ line patterns2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Yasuda, M.Hamabe, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Electron Microsc

      巻: 59 ページ: 367-378

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Coherent electron interference from amorphous TEM specimens2010

    • 著者名/発表者名
      R.A.Herring, K.Saitoh, N.Tanaka, T.Tanji
    • 雑誌名

      J.Electron Microsc

      巻: 59 ページ: 321-330

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [雑誌論文] Atom-column distinction by Kikuchi pattern observed by an aberration-corrected convergent electron probe2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Tatara, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Electron Microsc.

      巻: 59 ページ: 387-394

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [雑誌論文] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO2 coverage2008

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, S.-P. Cho, A. A. Shklyaev J. Yamasaki, E. Okunishi and M. Ichikawa
    • 雑誌名

      App. Sur. Sci 254

      ページ: 7569-7569

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] In-situ monitoring of nucleation and evolution of Ge nanodots on faintly oxidized Si(111)surfaces2008

    • 著者名/発表者名
      Sung-Pyo Cho, Shinji Kawano, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Surface Science 255

      ページ: 7868-7871

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] Automated lattice-parameter determination by using HOLZ line patterns2008

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Yasuda, N.Tanaka
    • 雑誌名

      International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 1

      ページ: 90-91

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [雑誌論文] in-situ monitoring of nucleation and evolution of Ge nanodots on faintly oxidized Si (111) surfaces2008

    • 著者名/発表者名
      Sung-Pyo Cho, Shinji Kawano and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Applied Surface Science 印刷中

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] Automated lattice-parameter determination by using HOLZ line patterns2008

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, Y. Yasuda N. Tanaka
    • 雑誌名

      International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 1

      ページ: 90-91

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [雑誌論文] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2008

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, S. -P. Cho, A. A. ShklyaevJ. Yamasaki, E. Okunishi M. Ichikawa
    • 雑誌名

      Applied Surface Science 255

      ページ: 7569-7572

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] In-situ monitoring of nucleation and evolution of Ge nanodots on faintly oxidized Si(111) surfaces2008

    • 著者名/発表者名
      Sung-Pyo Cho, Shinji Kawano and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      App. Sur. Sci 254

      ページ: 7868-7868

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007

    • 著者名/発表者名
      Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K. and Tanaka, N
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Hierarchical Morphologies Formed by ABC Star-Shaped Terpolymers2007

    • 著者名/発表者名
      K. Hayashida, A. Takano, N. Tanaka, Y. Matsushita
    • 雑誌名

      Macromolecules 40

      ページ: 3695-3699

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17205021
  • [雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007

    • 著者名/発表者名
      Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K. and Tanaka N
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007

    • 著者名/発表者名
      Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K., Tanaka, N
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis 890CD-891CD

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Composition dependence of Nanophase-separated Structures Formed by Star-shaped Terpolymers of the A_<1.0>B_<1.0>C_x type2007

    • 著者名/発表者名
      A. Takano, W. Kawashima, S. Wada, K. Hayashida, S. Sato, K. Hirahara, S. Kawahara, Y. Isom, N. Tanaka, D. Kawaguchi, Y. Matsushita
    • 雑誌名

      J.Polym. Sci., Part B, Polym. Phys 45

      ページ: 2277-2283

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17205021
  • [雑誌論文] Direct imaging of local atomic ordering in a Pd-Ni-P bulk metallic glass using Cs-corrected transmission electron microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Hirata, A., Hirotsu, Y., Nieh, T. G., Ohkubo, T. and Tanaka, N
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy 107

      ページ: 116-123

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Direct Imaging of Local Atomic Ordering in a Pd-Ni-P Bulk Metallic Glass Using Cs-Corrected Transmission Electron Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Akihiko, Hirata, Yoshihiko, Hirotsu, T.G. Nieh, Tadakatsu, Ohkubo, Nobuo, Tanaka
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy 107

      ページ: 116-123

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2007

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, T. Kawai, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54

      ページ: 209-214

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Direct Imaging of Local Atomic Ordering in a Pd-Ni-P Bulk Metallic Glass Using Cs-Corrected Transmission Electron Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, T.G.Nieh, Tadakatsu Ohkubo, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy 107

      ページ: 116-123

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] UHV in-situ とCs corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長、および微細構造の評価2007

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, 川野晋司, 齋藤晃, 山崎順, 田中信夫
    • 雑誌名

      日本結晶成長学会誌 Vol.34, No.3

      ページ: 10-10

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] UHV in-situとCs corrected HRMEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長、および微細構造の評価2007

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, 川野晋司, 齋藤晃, 山崎順, 田中信夫
    • 雑誌名

      日本結晶成長学会誌 34

      ページ: 10-10

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [雑誌論文] Direct imaging of local atomic ordering in a Pd-Ni-P bulk metallic glass using Cs-corrected transmiccion electron microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, T.G.Nieh, Tadakatsu Ohkubo, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy 107

      ページ: 116-116

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18029011
  • [雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2007

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, H. Sawada, N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54

      ページ: 123-126

    • NAID

      10016683055

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Direct imaging of local atomic ordering in a Pd-Ni-P bulk metallic glass using Cs-corrected transmission electron microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, T. G. Nieh, Tadakatsu Ohkubo, and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy 107

      ページ: 116-123

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] C_sコレクター電顕による金属ガラスの局所構造観察2006

    • 著者名/発表者名
      平田秋彦, 弘津禎彦, 大久保忠勝, 田中信夫
    • 雑誌名

      まてりあ 45

      ページ: 848-848

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Local atomic ordering and nanoscale phase separation in a Pd-Ni-P bulk metallic glass2006

    • 著者名/発表者名
      Yoshihiko Hirotsu, T.G.Nieh, Akihiko Hirata, Tadakatsu Ohkubo, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      PHYSICAL REVIEW B73

      ページ: 12205-12205

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Direct observation of six-membered rings in the upper and lower walls of a single-wall carbon nanotube by spherical aberration-corrected HRTEM2006

    • 著者名/発表者名
      Kaori Hirahara, Koh Saitoh, Jun Yamasaki, and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      NANO LETTERS Vol.6, No.8

      ページ: 1778-1783

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Local atomic structure of Pd-Ni-P bulk metallic glass examined by high-resolution electron microscopy and electron diffraction2006

    • 著者名/発表者名
      Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Tadakatsu Ohkubo, Nobuo Tanaka, T.G. Nieh
    • 雑誌名

      Intermetallics 14

      ページ: 903-903

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18029011
  • [雑誌論文] Local atomic ordering and nanoscale phase separation in a Pd-Ni-P bulk metallic glass2006

    • 著者名/発表者名
      Yoshihiko Hirotsu, T. G. Nieh, Akihiko Hirata, Tadakatsu Ohkubo, and Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      PHYSICAL REVIEW B73

      ページ: 12205-12205

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Direct Observation of Six-Membered Rings in the Upper and Lower Walls of a Single-Wall Carbon Nanotube by Spherical Aberration-Corrected HRTEM2006

    • 著者名/発表者名
      Kaori Hirahara, Koh Saitoh, Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka
    • 雑誌名

      NANO LETTERS Vol.6,No.8

      ページ: 1778-1783

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Structural insight of human DEAD-box protein rck/p54 into its substrate recognition with conformational changes2006

    • 著者名/発表者名
      Matsui T, Hogetsu K, Usukura J, Sato T, Kumasaka T, Akao Y, Tanaka N.
    • 雑誌名

      Genes Cells 11

      ページ: 439-452

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18370062
  • [雑誌論文] Direct Observation of Six-Membered Rings in the Upper and Lower Walls of a Single-Wall Carbon Nanotube by Spherical Aberration-Corrected HRTEM2006

    • 著者名/発表者名
      Kaori, Hirahara, Koh, Saitoh, Jun, Yamasaki, Nobuo, Tanaka
    • 雑誌名

      NANO LETTERS 6

      ページ: 1778-1783

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Local atomic ordering and nanoscale phase separation in a Pd-Ni-P bulk metallic glass2006

    • 著者名/発表者名
      Yoshihiko, Hirotsu, T.G. Nieh, Akihiko, Hirata, Tadakatsu, Ohkubo, Nobuo, Tanaka
    • 雑誌名

      PHYSICAL REVIEW 14

      ページ: 903-907

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, H.Sawada, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J. Electron Microsc. 52

      ページ: 123-126

    • NAID

      10016683055

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17029030
  • [雑誌論文] 球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上2005

    • 著者名/発表者名
      田中信夫
    • 雑誌名

      日本結晶学会誌 47,No.1

      ページ: 20-25

    • NAID

      10014463364

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, H. Sawada, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54・2

      ページ: 123-126

    • NAID

      10016683055

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2005

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, T. Kawai, and N. Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54・3

      ページ: 209-214

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] 球面収差補正によるHRTEMの分解能向上2005

    • 著者名/発表者名
      田中 信夫
    • 雑誌名

      日本結晶学会誌 47

      ページ: 20-20

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2005

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, T.Kawai, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54・3

      ページ: 209-214

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, H.Sawada, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Electron Microscopy 54・2

      ページ: 123-126

    • NAID

      10016683055

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] 電子エネルギー損失分光法(EELS)2005

    • 著者名/発表者名
      田中信夫
    • 雑誌名

      ナノマテリアル技術体系-ナノ金属-(フジテクノシステム) 3-1章

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Three-dimensional Analysis of Platinum Supercrystals by TEM and HAADF-STEM2004

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, N.Tanaka, N.Baba, O.Terasaki
    • 雑誌名

      Philo.Mag. 84

      ページ: 2819-2828

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12130203
  • [雑誌論文] Direct observation of staking fault in Si-Ge semiconductors by Cs-corrected TEM and ADF-STEM2004

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, T.Kawai, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Electron Microscopy 53

      ページ: 129-129

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] Microstructure Change of Vanadium Clusters ZnO Crystalline Films by Heat Treatment2004

    • 著者名/発表者名
      H.Pan, A.Ohno, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Nanotechnology 15

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12130203
  • [雑誌論文] A Trial for Quantitative TEM-EELS Measurement of Photocatalysts by TiO_2 Films2004

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshida, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 雑誌名

      Nanotechnology 15

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12130203
  • [雑誌論文] First observation of In_xGa_<1-x>As quantum dots in GaP by spherical aberration corrected HRTEM2004

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka, J.Yamasaki, S.Fuchi, Y.Takeda
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanal 10

      ページ: 139-139

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] First observation of SiO_2/Si(100) by spherical aberration corrected HRTEM2003

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka, J.Yamasaki, K.Usuda, N.Ikarashi
    • 雑誌名

      J.Electron Microscopy 52.1

      ページ: 69-69

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] 球面収差補正TEMによる半導体界面の微構造の観察2003

    • 著者名/発表者名
      田中 信夫
    • 雑誌名

      まてりあ 42

      ページ: 895-895

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15656010
  • [雑誌論文] 球面収差補正TEM法の材料研究への応用

    • 著者名/発表者名
      山崎 順, 田中 信夫
    • 雑誌名

      特集 : 収差補正技術を用いた応用研究最前線

    • NAID

      10018130997

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [雑誌論文] Oxygen release and structural dhanges in TiO_2 films during photocatalytic oxidation.

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshida, T.nanbara, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J. Appl Phys. (In print)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17029030
  • [雑誌論文] Oxygen release and structural changes in TiO_2 films during photocatalytic oxidation.

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshida, T.Nanbara, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys. (In print)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17029030
  • [産業財産権] 反射電子を検出する走査電子顕微鏡2017

    • 発明者名
      桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
    • 権利者名
      桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
    • 産業財産権種類
      特許
    • 公開番号
      2017-004774
    • 出願年月日
      2017-01-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [産業財産権] スピン偏極電子線のコヒーレンス測定装置と、その利用方法2016

    • 発明者名
      桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
    • 権利者名
      桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2016-04-14
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [産業財産権] 分析装置2015

    • 発明者名
      桑原真人、田中信夫、齋藤晃、宇治原徹
    • 権利者名
      桑原真人、田中信夫、齋藤晃、宇治原徹
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2015-121398
    • 出願年月日
      2015-06-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [産業財産権] スピンコヒーレンス測定装置2014

    • 発明者名
      桑原真人、田中信夫、齋藤晃、宇治原徹
    • 権利者名
      桑原真人、田中信夫、齋藤晃、宇治原徹
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2014-208345
    • 出願年月日
      2014-10-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [産業財産権] 電子顕微鏡2013

    • 発明者名
      田中信夫、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、桑原真人
    • 権利者名
      名古屋大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2013-01-10
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [産業財産権] 電子顕微鏡2013

    • 発明者名
      田中信夫、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、桑原真人
    • 権利者名
      名古屋大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2013-02-06
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [産業財産権] 電子顕微鏡2013

    • 発明者名
      田中信夫、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、桑原真人
    • 権利者名
      田中信夫、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、桑原真人
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2012-508141
    • 出願年月日
      2013-01-10
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [産業財産権] 電子顕微鏡2011

    • 発明者名
      田中信夫、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、桑原真人
    • 権利者名
      名古屋大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2012-508141
    • 出願年月日
      2011-02-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Future prospects of environmental transmission electron microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      Nature Conference in Hangzhou
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM2017

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Koh Saitoh, and Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第73回学術講演会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13688
  • [学会発表] Past and future prospects of Cs-corrected TEM for nanomaterials2017

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      International Symposium of SALVE project
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Development and future directions of environmental high-voltage scanning transmission electron microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Structure & Dynamics of Radiation-Produced Defects in Metals: Comparison between Electron and Self-ion Irradiations2016

    • 著者名/発表者名
      Kazuto Arakawa, Ryota Nagasawa, Cedric Baumier, Brigitte Decamps, Estelle Meslin, Francois Willaime, Hidehiro Yasuda, Hirotaro Mori, Shigeo Arai, Nobuo Tanaka, Takafumi Amino, Shiori Ishino
    • 学会等名
      The Fourth Workshop On TEM With In Situ Irradiation (WOTWISI-4)
    • 発表場所
      Orsay & Gif sur Yvette
    • 年月日
      2016-03-16
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H04244
  • [学会発表] Research direction of environmental TEM for nano-materials2016

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      11th Asia-Pacific Microscopy Conference
    • 発表場所
      Phuket island, Thai
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Further development of an environmental HVTEM for reaction science by new non-exposure transfer holder2016

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2016 Meeting
    • 発表場所
      Columbus, Ohio, U.S.A.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Direct HRTEM Observation of the Clustering Process of Self-Interstitial Atoms in Iron2016

    • 著者名/発表者名
      Kazuto Arakawa, Shigeo Arai, Cosmin Marinica, Estelle Meslin, Francois Willaime, Takafumi Amino, Par Olsson, Sergei Dudarev, Yonfeng Zhang, Hidehiro Yasuda, Hirotaro Mori, Yoshifumi Oshima, Yuta Yamamoto, Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      8th International Conference on Multiscale Materials Modeling (MMM 2016)
    • 発表場所
      Palais des Congres, Dijion, France
    • 年月日
      2016-10-09
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K14109
  • [学会発表] Direct HRTEM Observation of the Clustering Process of Self-Interstitial Atoms in Iron2016

    • 著者名/発表者名
      Kazuto Arakawa, Shigeo Arai, Cosmin Marinica, Estelle Meslin, Francois Willaime, Takafumi Amino, Par Olsson, Sergei Dudarev, Yonfeng Zhang, Hidehiro Yasuda, Hirotaro Mori, Yoshifumi Oshima, Yuta Yamamoto, Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      8th International Conference on Multiscale Materials Modeling (MMM 2016)
    • 発表場所
      Palais des Congress, Dijion, France
    • 年月日
      2016-10-09
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H04244
  • [学会発表] 銅における水素誘起キャビティの 特異な構造と動的挙動の TEM 観察2016

    • 著者名/発表者名
      荒河一渡, 石田佳大, 保田英洋, 森博太郎, 荒井重勇, 田中信夫, 深井有
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会(第72 回)学術講演会
    • 発表場所
      仙台国際センター, 仙台
    • 年月日
      2016-06-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H04244
  • [学会発表] 負の電子親和性をもつエミッタから放出される電子の性質2015

    • 著者名/発表者名
      桑原 真人,南保 由人,齋藤 晃,浅野 秀文,宇 治原 徹,田中 信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2015-05-13
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEMの開発とその可能性2015

    • 著者名/発表者名
      田中信夫, 桑原真人
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第39回関東支部講演会
    • 発表場所
      工学院大学
    • 年月日
      2015-02-28
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] Depth-Resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters Using Aberration-Corrected TEM2015

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara and Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd East-Asia Microscopy Conference (EAMC2)
    • 発表場所
      姫路商工会議所、兵庫県姫路市
    • 年月日
      2015-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Dynamic electron microscopic observation of nanomaterials2015

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      12th Multinational Congress on Microscopy
    • 発表場所
      Eger, Hungary
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Depth-resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters on/in Amorphous Films Using Aberration-corrected TEM2015

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Masayuki Mori, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara, and Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      Third Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy (PICO 2015)
    • 発表場所
      Kasteel Vaalsbroek, the Netherlands
    • 年月日
      2015-04-19
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Interfacial fracture strength of micro-scale Si/Cu components with different free-edge shape2015

    • 著者名/発表者名
      Yoshimasa Takahashi, Hikaru Kondo, Kazuya Aihara, Masanori Takuma, Kenichi Saitoh, Shigeo Arai, Shunsuke Muto, Yuta Yamamoto, Kimitaka Higuchi, Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      14th International Conference on Fracture and Damage Mechanics
    • 発表場所
      Budva, Montenegro
    • 年月日
      2015-09-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25709003
  • [学会発表] タングステンのセルフイオン照射による転位ループの異常安定化2015

    • 著者名/発表者名
      荒河一渡, 長澤良太, Brigitte Decamps, Cedric Baumier, Erwan Oliviero, Estelle Meslin, Francois Willaime, 保田英洋, 森博太郎, 荒井重勇, 田中信夫, 網野岳文, 石野栞
    • 学会等名
      日本金属学会2015年秋期講演大会
    • 発表場所
      九州大学
    • 年月日
      2015-09-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H04244
  • [学会発表] Prospects high-voltage ETEM by using blanking or pulsed beams2015

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      Symposium on Electron Microscopy for Biological, Enviromental and Energy Research
    • 発表場所
      PNNL, USA
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] Spinor interfernce in transmission electron microscope2015

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, K. Sameshima, K. Aoki, H. Asano, T. Ujihara, K. Saitoh, N. Tanaka
    • 学会等名
      Internatinal Symposium on EcoTopia Science
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • 年月日
      2015-11-27
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13404
  • [学会発表] 収差補正TEMによる結晶性ナノクラスターの深さ分解能結像2015

    • 著者名/発表者名
      山﨑 順,平田 秋彦,弘津 禎彦,平原 佳織,田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第71回記念学術講演会
    • 発表場所
      京都国際会館、京都府京都市
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] タングステンのセルフイオン照射 下での転位ループ形成過程のTEMその場観察2015

    • 著者名/発表者名
      荒河一渡, 長澤良太, Brigitte D&#233;camps, C&#233;dric Baumier, Erwan Oliviero, Estelle Meslin, Francois Willaime, 保田英洋, 森博太郎, 荒井重勇, 田中信夫, 網野岳文, 石野栞
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • 発表場所
      国立京都国際会館
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H04244
  • [学会発表] Evaluation of interfacial fracture strength in micro-components with different free-edge shape2015

    • 著者名/発表者名
      Yoshimasa Takahashi, Kazuya Aihara, Itaru Ashida, Kimitaka Higuchi, Yuta Yamamoto, Shigeo Arai, Shunsuke Muto, Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics
    • 発表場所
      LOISIR HOTEL, Toyohashi, Aichi, Japan
    • 年月日
      2015-10-04
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25709003
  • [学会発表] Si (001)基板上3C-SiCエピタキシャル薄膜における積層欠陥発生プロセスの収差補正TEM解析2014

    • 著者名/発表者名
      石田篤志、山崎順、秋山賢輔、平林康男、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 電子線内殻励起非弾性散乱をもちいたSmBaMn2O6の電荷軌道秩序解析2014

    • 著者名/発表者名
      十朱洋平、齋藤晃、田中信夫、竹中康司
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 電子らせん波の照射によるナノ粒子の挙動の研究2014

    • 著者名/発表者名
      平川和馬、齋藤晃、吉田健太、田中信夫、佐々木祐生、北浦良、篠原久典
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 2つの渦を含む電子ビームの伝播ダイナミックス2014

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 半導体光陰極を用いたTEMの空間コヒーレンス測定2014

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、南保由人、鮫島健輔 、楠聡一郎、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 2つの渦を含む電子ビームの伝播ダイナミックス2014

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 半導体光陰極を用いたTEMの空間コヒーレンス測定2014

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、南保由人、鮫島健輔、楠総一郎、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学 湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 電子らせん波の照射によるナノ粒子の挙動の研究2014

    • 著者名/発表者名
      平川和馬、齋藤晃、吉田健太、田中信夫、佐々木祐生、北浦良、篠原久典
    • 学会等名
      日本物理学会 第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 半導体光陰極を用いたTEMの空間コヒーレンス測定2014

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、南保由人、鮫島健輔、楠総一郎、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第69回年次大会
    • 発表場所
      東海大学 湘南キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 電子らせん波の生成および伝播特性の研究2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会超分解能電子顕微鏡分科会 第8回研究会 「vortexビームとその可能性」
    • 発表場所
      東京
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 2つの位相特異点をもつ電子らせん波の生成および伝播特性2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 収差補正TEM像解析に基づくSi基板上high-k絶縁膜の精密膜厚測定2013

    • 著者名/発表者名
      山崎順, 稲元伸, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • 年月日
      2013-11-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] スピン偏極パルス同期TEM像の取得2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠総一郎、南保由人、鮫島健輔、齋藤晃、宇治原徹、竹田美和、中西彊、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク (吹田市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 反応科学超高圧電子顕微鏡を用いたガス環境実験2013

    • 著者名/発表者名
      荒井重勇、高橋可昌、武藤俊介、山本悠太、丹司敬義、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25709003
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠総一郎、南保由人、鮫島健輔、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウィンクあいち (名古屋市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] "Highly precise lattice-parameter determination by nano-beam electron diffraction2013

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, H. Nakahara, K. Doi, and N. Tanaka
    • 学会等名
      International Symposium on EcoTopia Science 2013
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 軌道角運動量を持つ電子の発生と干渉、そして将来の応用2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      2013年ビーム物理研究会、ならびに若手の会
    • 発表場所
      沖縄科学技術大学院大学
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Highly precise lattice-parameter determination by nano-beam electron diffraction2013

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, H. Nakahara, K. Doi, and N. Tanaka
    • 学会等名
      International Symposium on EcoTopia Science 2013
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Development of spin-polarized transmission electron microscope2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H Asano, Y Takeda, T Nakanishi and N Tanaka
    • 学会等名
      9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ‘13
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人, 楠総一郎, 南保由人, 鮫島健輔, 齋藤晃, 宇治原徹, 浅野秀文, 竹田美和, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Development of spin-polarized transmission electron microscope2013

    • 著者名/発表者名
      Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, T. Nakanishi , and N. Tanaka
    • 学会等名
      9th International Symposium on Atomic Level Characterizations
    • 発表場所
      Sheraton Kona (Hawaii)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] ABF-STEMをもちいたAl-Ni-Ruデカゴナル準結晶および近似結晶の構造の研究2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、横山大樹、田中信夫、高倉洋礼、杉山 和正
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 2つの位相特異点をもつ電子らせん波の生成および伝播特性2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      吹田
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人, 楠総一郎, 南保由人,鮫島健輔, 齋藤晃, 宇治原徹, 浅野秀文, 竹田美和, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • 年月日
      2013-11-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] フォーク型回折格子をちいた電子らせん波の軌道角運動量計測2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 電子らせん波の生成および伝播特性の研究2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会超分解能電子顕微鏡分科会第8回研究会 「vortexビームとその可能性」
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2013-03-04
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] GaAs/InAsヘテロ接合ナノワイヤーの界面構造解析と元素分析2013

    • 著者名/発表者名
      三浦正視, 山崎順, P. Krogstrup, E-Johnson, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • 年月日
      2013-11-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 収差補正HRTEMを用いた3C-Sic/Si (001)界面における積層欠陥の解析2013

    • 著者名/発表者名
      石田篤志, 山﨑順, 稲元伸, 野村優貴, 秋山賢輔, 平林康男, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Spin-polarized transmission electron microscope toward an analysis of sub-picosecond dynamics2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, T. Nakanishi and N. Tanaka
    • 学会等名
      The 3rd Banff Meeting on Structural Dynamics Ultrafast Dynamics with X-Ray and Electrons
    • 発表場所
      Banff, Alberta, Canada
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極パルス同期TEM像の取得2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠総一郎、南保由人、鮫島健輔、齋藤晃、宇治原徹、竹田美和、中西彊、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク (吹田市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Spin-polarized transmission electron microscope toward an analysis of sub-picosecond dynamics2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, T. Nakanishi and N. Tanaka
    • 学会等名
      The 3rd Banff Meeting on Structural Dynamics Ultrafast Dynamics with X-Ray and Electrons
    • 発表場所
      Banff, Alberta, Canada
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 3C-SiC/Si (001)界面における積層欠陥の収差補正HRTEM解析2013

    • 著者名/発表者名
      石田篤志, 山﨑順, 稲元伸, 野村優貴, 秋山賢輔, 平林康男, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • 年月日
      2013-11-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Development of spin-polarized transmission electron microscope2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, T. Nakanishi , and N. Tanaka
    • 学会等名
      9the International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '13
    • 発表場所
      Sheraton Kona (Hawaii)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡による電子線空間干渉性2013

    • 著者名/発表者名
      楠 総一郎, 桑原 真人, 宇治原 徹, 浅野 秀文, 竹田 美和, 齋藤 晃, 田中 信夫
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡による電子線空間干渉性2013

    • 著者名/発表者名
      楠総一郎、桑原真人、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク (吹田市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 電子線内殻励起非弾性散乱をもちいたNd0.5Sr0.5MnO3の電荷軌道秩序解析2013

    • 著者名/発表者名
      十朱洋平, 齋藤晃, 田中信, 竹中康司
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡による電子線空間干渉性2013

    • 著者名/発表者名
      楠総一郎、桑原真人、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学 常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 収差補正TEM像によるSi基板上high-k絶縁膜の膜厚測定2013

    • 著者名/発表者名
      山﨑順, 稲元伸, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] フォーク型回折格子をもちいた電子らせん波の軌道角運動量計測2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      吹田
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 軌道角運動量を持っ電子の発生と干渉、そして将来の応用2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      2013年ビーム物理研究会、ならびに若手の会
    • 発表場所
      沖縄科学技術大学院大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 電子ベッセルビームの生成および伝播特性2013

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 水素ガスがアモルファスカーボン膜担持した白金微粒子に及ぼす影響2013

    • 著者名/発表者名
      張旭東, 吉田健太, 齋藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠総一郎、南保由人、鮫島健輔、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウィンクあいち (名古屋市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 電子ベッセルビームの生成および自己修復性の検証2013

    • 著者名/発表者名
      平川 和馬, 齋藤 晃,田中 信夫, 内田 正哉
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] 水素ガスがアモルファスカーボン膜担持した白金微粒子に及ぼす影響2013

    • 著者名/発表者名
      張 旭東,吉田 健太,齋藤 晃,田中 信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡による電子線空間干渉性2013

    • 著者名/発表者名
      楠総一郎, 桑原真人, 宇治原徹,浅野秀文, 竹田美和, 齋藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会秋季大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Development of spin-polarized transmission electron microscope2013

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H Asano, Y Takeda, T Nakanishi and N Tanaka
    • 学会等名
      9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEMによるパルス同期TEM像の取得2013

    • 著者名/発表者名
      桑原真人,南保由人,楠聡一郎,齋藤晃,宇治原徹,竹田美和,中西彊,田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第69回学術講演会
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 電子線内殻励起非弾性散乱を用いたNd0.5Sr0.5MnO3の電荷軌道秩序解析2013

    • 著者名/発表者名
      十朱洋平, 桃井浩太, 齋藤晃, 竹中康司, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      ウインクあいち
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Spin-polarized and Pulsed TEM Using a Laser-driven Semiconductor Photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, M. Kuwahara, K. Saitoh, S. Kusunoki, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda and T. Nakanishi
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2012
    • 発表場所
      Phoenix, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 電子らせん波をもちいたヤングの干渉実験2012

    • 著者名/発表者名
      長谷川裕也、齋藤晃、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Electron vortex pair produced with a nano-fabicated holographic grating2012

    • 著者名/発表者名
      M. Uchida, Y. Hasegawa, K. Saitoh and N. Tanaka
    • 学会等名
      A Joint Meeting of the Asian Crystallographic Association
    • 発表場所
      Adelaide
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] レーザー励起半導体電子源を用いた30kVパルスTEMの開発2012

    • 著者名/発表者名
      田中信夫、桑原真人、楠聡一郎、浅野秀文、宇治原徹、齋藤晃、竹田美和、中西彊
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡の開発とその性能2012

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠聡一郎、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、中西彊、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 電子らせん波の相互干渉による位相観察2012

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会第67回年次大会
    • 発表場所
      関西学院大学
    • 年月日
      2012-03-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Spin-polarized TEM using an NEA photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, K. Saitoh, T. Ujihara, and N. Tanaka
    • 学会等名
      The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC3)
    • 発表場所
      Gifu
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] レーザー励起半導体電子源を用いた30kVパルスTEMの開発2012

    • 著者名/発表者名
      田中信夫、桑原真人、楠聡一郎、浅野秀文、宇治原徹、齋藤晃、竹田美和、中西彊
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 2つの位相特異点を有する電子らせん波の生成2012

    • 著者名/発表者名
      長谷川裕也、齋藤晃、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会2012年秋季大会
    • 発表場所
      横浜
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] スピン偏極TEMにおけるNEAフォトカソードからの低エネルギー分散ビームの生成2012

    • 著者名/発表者名
      楠聡一郎、桑原真人、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、中西彊、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡の開発とその性能2012

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠聡一郎、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、中西彊、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Spin-polarized and Pulsed TEM Using a Laser-driven Semiconductor Photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, M. Kuwahara, K. Saitoh, S. Kusunoki, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda and T. Nakanishi
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2012
    • 発表場所
      Phoenix, USA.
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極TEMにおけるNEAフォトカソードからの低エネルギー分散ビームの生成2012

    • 著者名/発表者名
      楠聡一郎、桑原真人、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、中西彊、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Production of electron vortex beams using fork-like gratings and spiral zone plates and their propagating properties2012

    • 著者名/発表者名
      K. Saitoh, Y. Hasegawa, K. Hirakawa, N. Tanaka and M. Uchida
    • 学会等名
      The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Gifu
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Spin-polarized TEM using an NEA photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, K. Saitoh, T. Ujihara, and N. Tanaka
    • 学会等名
      The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC3)
    • 発表場所
      Gifu
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] レーザー励起半導体電子源を用いた30kVパルスTEMの開発2012

    • 著者名/発表者名
      田中信夫、桑原真人、楠聡一郎、浅野秀文、宇治原徹、齋藤晃、竹田美和、中西彊
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡の開発とその性能2012

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠聡一郎、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、中西彊、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スパイラルゾーンプレートによる電子らせん波の生成2012

    • 著者名/発表者名
      長谷川裕也、齋藤晃、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会第67回年次大会
    • 発表場所
      関西学院大学
    • 年月日
      2012-03-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Propagation of electron vortices2012

    • 著者名/発表者名
      M. Uchida, K. Saitoh, Y. Hasegawa, K. Hirakawa, N. Tanaka
    • 学会等名
      Tonomura FIRST International Symposium on "Electron Microscopy and Gauge Fields"
    • 発表場所
      Tokyo
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] Spin-polarized and Pulsed TEM Using a Laser-driven Semiconductor Photocathode2012

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, M. Kuwahara, K. Saitoh, S. Kusunoki, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda and T. Nakanishi
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2012
    • 発表場所
      Phoenix, USA
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] スパイラルゾーンプレートによる大きな軌道角運動量をもつ電子らせん波の生成2012

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第68回学術講演会
    • 発表場所
      つくば
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] フォーク型回折格子をもちいた電子らせん波の生成と空間伝播の観察2011

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、多々良美秀、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第67回学術講演会
    • 発表場所
      福岡国際会議場
    • 年月日
      2011-05-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23241036
  • [学会発表] In-situ gas study and 3D quantification of titania photocatalysts by advanced electron microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka
    • 学会等名
      Electron Microscopy and Analysis Group Conference 2011
    • 発表場所
      Birmingham UK(招待講演)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM用電子源と照射系の開発2011

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、中西彊、竹田美和、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第67回学術講演会
    • 発表場所
      福岡
    • 年月日
      2011-05-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Development of spin-polarized and pulsed TEM2011

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, T. Nakanishi, Y. Takeda, K. Saito, T. Ujihara, H. Asano, and N. Tanaka
    • 学会等名
      Electron Microscopy and Analysis Group Conference 2011
    • 発表場所
      Birmingham UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] In-situ gas study and 3D quantification of titania photocatalysts by advanced electron microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      Electron Microscopy ]and Analysis Group Conference 2011
    • 発表場所
      Birmingham UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Injection system of spin-polarized transmission microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, F. Ichihashi, Y. Takeda, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, T. Nakanishi, and N. Tanaka
    • 学会等名
      International Symposium on EcoTopia Science 2011
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Atomic Structure of a 3C-SiC/Si (100) Interface Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and Ab Initio Calculations2010

    • 著者名/発表者名
      S.Inamoto, J.Yamasaki, H.Tamaki, K.Okazati-Maeda, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeilo, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Development of High-Voltage Electron Microscope for Reaction Science2010

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka, J.Usukura, M.Kusnoki, K.Kuroda, Y.Saito, T.Tanji, S.Muto, S.Arai
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeiro, Brazil.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Determination of 3D Lattice Displacements of Strained Semiconductors by Convergent-Beam Electron Diffraction2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, M.Hamabe, S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeilo, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Atomic Structure of a 3C-SiC/Si (100) Interface Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and Ab Initio Calculations2010

    • 著者名/発表者名
      S.Inamoto, J.Yamasaki, H.Tamaki, K.Okazaki-Maeda, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeiro, Brazil.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Spherical aberration corrected HRTEM of nano interfaces of semiconductors2010

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka
    • 学会等名
      The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials
    • 発表場所
      Shima, Mie
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain Near a SiGe/Si Interface by Using Split HOLZ Lines Patterns2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y. Yasuda, M. Hamabe, N. Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] 電子線バイプリズムをもちいたアモルレファス試料の回折波干渉の観察2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, Rodney HERRING, 丹司敬義, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain near a SiGe/Si Interface by using Split HOLZ Lines Patterns2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 田中信夫
    • 学会等名
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開
    • 発表場所
      名古屋大学
    • 年月日
      2010-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析II2010

    • 著者名/発表者名
      浜辺麻衣子, 齋藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第65回年次大会
    • 発表場所
      岡山大学
    • 年月日
      2010-03-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] 収差補正TEMを用いた3C-SiC/Si(100)界面の3次元原子配列構造解析2010

    • 著者名/発表者名
      稲元伸, 山崎順, 玉置央和, 岡崎一行, 田中信夫
    • 学会等名
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開2010
    • 発表場所
      名古屋大学(愛知県)
    • 年月日
      2010-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Advanced and In-site TEM/STEM of Functional Small Particles on Titanium Oxide Materials2010

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka, S.Sueda, K. Yoshida
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeiro, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Image Subtraction & Deconvolution Processing of Aberration-Corrected HRTEM Images for Observations of Atomic Columns at Interfaces2010

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, S.Inamoto, H.Tamaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials
    • 発表場所
      Shima, Mie, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Observations of Atomic Columns in Compounds by Image Subtraction & Deconvolution Processing of Aberration-Corrected HRTEM Images2010

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, S.Inamoto, H.Tamaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 収差補正TEM/STEMを用いたhigh-kゲート絶縁膜厚測定法2010

    • 著者名/発表者名
      稲元伸, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場(愛知県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 収差補正TEM像と第一原理計算を用いた3C-SiC/Si(100)界面の原子構造精密化2010

    • 著者名/発表者名
      稲元伸, 山崎順, 玉置央和, 岡崎一行, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場(愛知県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Observations of Atomic Columns in Compounds by Image Subtraction & Deconvolution of Aberration-Corrected TEM Images2010

    • 著者名/発表者名
      J.Yamasaki, S.Inamoto, H.Tamaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeilo, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Determination of 3D Lattice Displacements of Strained Semiconductors by Convergent-Beam Electron Diffraction2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeiro, Brazil.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み解析II2010

    • 著者名/発表者名
      濱邊麻衣子, 齋藤晃, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第65回年次大会
    • 発表場所
      岡山大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] HOLZ線ロッキングカーブの反復位相回復による格子湾曲変位場の再生2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場(愛知県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] HOLZ線ロッキングカーブの反復位相回復による格子湾曲変位場の再生2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain near a SiGe/Si Interface by using Split HOLZ Lines Patterns2010

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 田中信夫
    • 学会等名
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開2010
    • 発表場所
      名古屋大学(愛知県)
    • 年月日
      2010-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] スピン偏極パルス透過電子顕微鏡の開発12010

    • 著者名/発表者名
      田中信夫, 中西彊, 竹田美和, 浅野秀文, 斎藤晃, 宇治原徹, 桒原真人
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain Near a SiGe/Si Interface by Using Split HOLZ Lines Patterns2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, Y.Yasuda, M.Hamabe, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Pulsed spin-polarized electron source toward a transmission electron microscope2010

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, T. Nakanishi, N. Tanaka, Y. Takeda, H. Asano, K. Saito, T. Ujihara
    • 学会等名
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • 発表場所
      Rio de Janeilo, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] 収差補正TEMを用いた3C-SiC/Si(100)界面の3次元原子配列構造解析2010

    • 著者名/発表者名
      稲元伸, 山崎順, 玉置央和, 岡崎一行, 田中信夫
    • 学会等名
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開
    • 発表場所
      名古屋大学
    • 年月日
      2010-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM用電子源の特性評価2010

    • 著者名/発表者名
      桒原真人, 中西彊, 田中信夫, 竹田美和 浅野秀文, 斎藤晃, 宇治原徹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] Determination of a Lattice Strain Field by Iterative Phase Retrieval of Rocking Curves of HOLZ Reflections2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, M.Hamabe, S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 収差補正TEM像と第一原理計算を用いた3C-SiCISi(100)界面の原子構造精密化2010

    • 著者名/発表者名
      稲元伸, 山崎順, 玉置央和, 岡崎一行, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Determination of a Lattice Strain Field by Iterative Phase Retrieval of Rocking Curves of HOLZ Reflections2010

    • 著者名/発表者名
      K.Saitoh, M.Hamabe, S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si (100) Interface Analyzed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and Ab Initio Calculations2010

    • 著者名/発表者名
      S.Inamoto, J.Yamasaki, H.Tamaki, K.Okazaki-Maeda, N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] Spherical aberration corrected HRTEM of nano interfaces of semiconductors2010

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka
    • 学会等名
      The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials
    • 発表場所
      Shima, Mie, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22000011
  • [学会発表] 反応学超高圧電子顕微鏡の開発2010

    • 著者名/発表者名
      田中信夫, 臼倉治郎, 楠美智子, 黒田光太郎, 斎藤弥八, 丹司敬義, 武藤俊介, 荒井重勇
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] In-situ TEM/STEM Observation of Photocatalytic Reactions of Titanium Oxide Materials2010

    • 著者名/発表者名
      N.Tanaka
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      Nagoya
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEM用電子源の特性評価2010

    • 著者名/発表者名
      桑原真人, 中西彊, 田中信夫, 竹田美和, 浅野秀文, 斎藤晃, 宇治原徹
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • 発表場所
      Rio de Janeilo, Brazil
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21221005
  • [学会発表] UHV in-situ TEMによる極薄Si酸化膜付Si基板上に成長するGeナノドットの歪み評価2009

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, 藤林裕明, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第64回年次大会
    • 発表場所
      東京 (立教大)
    • 年月日
      2009-03-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Strain mapping near Si/SiGe interfaces using HOLZ line CBED patterns2009

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 浜辺麻衣子, 田中信夫
    • 学会等名
      AsCA'09 Beijing, Joint Conference of the Asian Crystallographic Association and Chinese Crystallographic Society
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      2009-10-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] CBED法をもちいた格子湾曲歪みを含むSiGe/Si界面近傍の二次元格子歪み解析2009

    • 著者名/発表者名
      濱邊麻衣子、齋藤晃、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会
    • 発表場所
      仙台国際センター
    • 年月日
      2009-05-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析2009

    • 著者名/発表者名
      浜辺麻衣子, 齋藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会2009年秋季大会
    • 発表場所
      熊本大学
    • 年月日
      2009-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察2009

    • 著者名/発表者名
      黒島光, 山崎順, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第64回年次大会
    • 発表場所
      立教大学
    • 年月日
      2009-03-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19656007
  • [学会発表] UHV in-situ TEMによる極薄Si酸化膜付Si基板上に成長するGeナノドットの歪み評価2009

    • 著者名/発表者名
      藤林裕明, 趙星彪, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会
    • 発表場所
      東京、立教大
    • 年月日
      2009-03-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマツピング2009

    • 著者名/発表者名
      浜辺麻衣子, 斎藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第64回年次大会
    • 発表場所
      立教大学
    • 年月日
      2009-03-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Strain mapping near Si/SiGe interfaces using HOLZ line CBED patterns2009

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃, 濱邊麻衣子, 田中信夫
    • 学会等名
      AsCA'09 Beijing, Joint Conference of the Asian Crystallographic Association and Chinese Crystallographic Society
    • 発表場所
      Beijing, China.
    • 年月日
      2009-10-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Studies of Ge Quantum Dots on Slightly Oxidized Si(111) Surfaces by Cs-corrected TEM/STEM2008

    • 著者名/発表者名
      N Tanaka, S-P Cho, A A Shklyaev, J Yamasaki, E Okunishi, M Ichikawa
    • 学会等名
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    • 発表場所
      Nagoya, japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Studies of Ge Quantum Dots on Slightly Oxidized Si(111) Surfaces by Cs-corrected TEM/STEM2008

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, S. -P. Cho, A. A. Shklyaev, J. Yamasaki, E. Okunishi, and M. Ichikawa
    • 学会等名
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] 極薄酸化膜付きSi上に成長するGe量子ドットに含まれる歪分布の定量的評価2008

    • 著者名/発表者名
      藤林裕明, 趙星彪, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • 発表場所
      京都(国立京都国際会館)
    • 年月日
      2008-05-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Cs-corrected STEM Studies of Ge Nanodots Grown on Slightly Oxidized Si(001) Surfaces2008

    • 著者名/発表者名
      N Tanaka, S-P Cho, A A Shklyaev, J Yamasaki, E Okunishi, M Ichikawa
    • 学会等名
      Microscopy Society of America
    • 発表場所
      New Mexico, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] 極薄Si酸化膜付Si上に成長するGeナノドツトに含まれる歪み分布の定量的な評価2008

    • 著者名/発表者名
      藤林裕明, 趙星彪, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • 発表場所
      京都、国立京都国際会館
    • 年月日
      2008-05-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] 分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による湾曲格子歪み計測法の研究2008

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、浜辺麻衣子、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • 発表場所
      京都国際会議場
    • 年月日
      2008-05-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] Cs-corrected STEM Studies of Ge Nanodots Grown on Slightly Oxidized Si(111) Surfaces2008

    • 著者名/発表者名
      N Tanaka, S-P Cho, A A Shklyaev, J Yamasaki, E Okunishi and M Ichikawa
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2008
    • 発表場所
      New Mexico, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] A method for the determination of a bending strain of a lattice by CBED2008

    • 著者名/発表者名
      濱邊麻衣子, 齋藤晃, 田中信夫
    • 学会等名
      Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction, IUCr2008 satellite
    • 発表場所
      名古屋大学
    • 年月日
      2008-09-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360007
  • [学会発表] 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長、および微細構造の評価2007

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, 川野晋司, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第63回学術講演会
    • 発表場所
      新潟コンベンションセンター
    • 年月日
      2007-05-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007

    • 著者名/発表者名
      Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H and Tanaka, N
    • 学会等名
      The NIMS Conference 2007 on Recent Breakthroughs in Materials Science and Tech nology
    • 発表場所
      筑波
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N., Cho, S.P., Sbklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E, Icbikawa, M
    • 学会等名
      ACSIN-9
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodotsgrown on Si (001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N., Cho, S. P., Shklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E and Ichikawa, M
    • 学会等名
      ACSIN-9
    • 発表場所
      東京
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価2007

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, Alexander A Shklyaev, 山崎順, 奥西栄治, 市川昌和, 田中信夫
    • 学会等名
      日本物理学会第62回年次大会
    • 発表場所
      札幌 (北海道大)
    • 年月日
      2007-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, S.-P. Cho, A. A. Shklyaev J. Yamasaki, E. Okunishi and M. Ichikawa
    • 学会等名
      ACSIN-9(9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001)surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N., Cho, S. P., Shklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E and Ichikawa, M
    • 学会等名
      ACSIN-9
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Advanced electron microscopic characterization of Nanometerials2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Extended abstract of the firs Extended abstract of the first Doyama Conference
    • 発表場所
      Tokyo
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Advanced electron microscopic characterization of nanometerials2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Extended abstract of the first Doyama Conference
    • 発表場所
      東京
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Effectiveness of Cs-corrected TEM/STEM for nano-materials research2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis
    • 発表場所
      米国、フロリダ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長、および微細構造の評価2007

    • 著者名/発表者名
      趙星彪, 川野晋司, 田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第63回学術講演会
    • 発表場所
      新潟(新潟コンベンションセンター)
    • 年月日
      2007-05-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007

    • 著者名/発表者名
      Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H and Tanaka, N
    • 学会等名
      The NIMS Conference 2007 on Recent Breakthroughs in Materials Scienoe and Technology
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] In-situ monitoring of nucleation and evolution of Ge nanodots on faintly oxidized Si(111) surfaces November11-152007

    • 著者名/発表者名
      Sung-Pyo Cho, Shinji Kawano and Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      2007, ACSIN-9(9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560023
  • [学会発表] Effectiveness of Cs-corrected TEM/STEM for nano-materials research2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis
    • 発表場所
      Florida, US
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007

    • 著者名/発表者名
      Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H, Tanaka, N
    • 学会等名
      The NEVIS
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Advanced electron microscopic characterization of nanometerials2007

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Extended abstract of the first Doyama Conference
    • 発表場所
      Tokyo
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] High-resolution TEM/STEM Analysis on La_2O_3/Si(100)interfaces2006

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N., Yamasaki, J and Saitoh, K
    • 学会等名
      International Workshop on Nano-CMOS
    • 発表場所
      Mishima
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Direct Observation of Six-membered Rings in a Graphene Monolayer Constituting a Single Wall Carbon Nanotube by Using Cs-Corrected TEM2006

    • 著者名/発表者名
      Hirahara, K., Saitoh, K., Yamasaki, J and Tanaka, N
    • 学会等名
      IMC 16
    • 発表場所
      Sapporo
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Spherical-aberration-corrected HRTEM of Al-Ni-Co Decagonal Quasicrystals2006

    • 著者名/発表者名
      Saitoh, K., Tanaka, N., Tsai, A. P. and Ishizuka, K
    • 学会等名
      Joint Conference of the Asian Crystallographic Association and the Crystallographic Society of Japan
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Cs-corrected HRTEM and advanced STEM of nano-structures and interfaces2005

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N
    • 学会等名
      Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis
    • 発表場所
      Peking University, China
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] Recent development of spherical aberration corrected electron microscopy and its application to studies of nano-structures2005

    • 著者名/発表者名
      Tanaka, N., Yamasaki, J
    • 学会等名
      International Symposium on Application of Quantum Beam 2005
    • 発表場所
      神戸大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17201022
  • [学会発表] スピン偏極TEMにおけるナノ秒パルス電子線の発生

    • 著者名/発表者名
      南保由人、桒原真人、楠総一郎、鮫島健輔、齋藤晃、宇治原徹、浅野秀文、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] Nano-second Time-Resolved Measurement in Spin- Polarized Pulse TEM

    • 著者名/発表者名
      Y. Nambo, M. Kuwahara, S. Kusunoki, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, N. Tanaka
    • 学会等名
      The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC4)
    • 発表場所
      Hamamatsu
    • 年月日
      2014-05-08 – 2014-05-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEMによるピコ秒パルス電子線発生

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、南保由人、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
    • 学会等名
      18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
    • 発表場所
      Prague (チェコ)
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26600042
  • [学会発表] New possibility of ETEM studies of thick samples by HVEM

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka, T. Fujita, Y. Takahashi and S. Arai
    • 学会等名
      18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
    • 発表場所
      Prague, Czech
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • [学会発表] In situ micro-mechanical testing of grain boundaries combined with environmental TEM

    • 著者名/発表者名
      Yoshimasa Takahashi, Hikaru Kondo, Ryo Asano, Masanori Takuma, Kenichi Saitoh, Sigeo Arai, Shunsuke Muto, Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      Asian-Pacific Conference on Fracture and Strength (APCFS) /International Conference on Structural Integrity and Failure (SIF)
    • 発表場所
      Sydney, Australia
    • 年月日
      2014-12-09 – 2014-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25709003
  • [学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
    • 学会等名
      18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
    • 発表場所
      Prague (チェコ)
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] スピン偏極TEMにおける偏極電子線のコヒーレンス評価

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、楠聡一郎、南保由人、浅野秀文、齋藤晃、宇治原徹、竹田美和、田中信夫
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] TEMとSTEM:私の研究から

    • 著者名/発表者名
      田中信夫
    • 学会等名
      2014年度 超高分解能顕微鏡法分科会 研究会
    • 発表場所
      マホロバ・マインズ三浦
    • 年月日
      2015-02-20 – 2015-02-21
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] Spatial and Temporal Coherences in Spin-Polarized Transmission Electron Microscopy

    • 著者名/発表者名
      M. Kuwahara, S. Kusunoki, Y. Nambo, K. Sameshima, K. Saitoh, T. Ujihara, H. Asano, Y. Takeda, N. Tanaka
    • 学会等名
      The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC4)
    • 発表場所
      Hamamatsu
    • 年月日
      2014-05-08 – 2014-05-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 回折顕微法による電子らせん波の位相回復および磁場イメージング

    • 著者名/発表者名
      南部裕紀, 齋藤晃, 田中信夫, 内田正哉
    • 学会等名
      日本物理学会第70回年次大会
    • 発表場所
      早稲田大学早稲田キャンパス
    • 年月日
      2015-03-21 – 2015-03-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] 電子ボルテックスビームの生成および伝播

    • 著者名/発表者名
      齋藤晃、長谷川裕也、平川和馬、田中信夫、内田正哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] スピン偏極パルスTEMにおけるコヒーレンス

    • 著者名/発表者名
      桑原真人、南保由人、鮫島健輔、浅野秀文、宇治原徹、田中信夫
    • 学会等名
      2014年度 超高分解能顕微鏡法分科会 研究会
    • 発表場所
      マホロバ・マインズ三浦
    • 年月日
      2015-02-20 – 2015-02-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] スピン偏極透過電子顕微鏡を用いた磁性体観察

    • 著者名/発表者名
      鮫島健輔, 桒原真人, 南保由人, 齋藤晃, 宇治原徹, 田中信夫, 浅香透, 岡部桃子
    • 学会等名
      日本物理学会第70回年次大会
    • 発表場所
      早稲田大学早稲田キャンパス
    • 年月日
      2015-03-21 – 2015-03-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] Dynamic Observation from Continuous to Well-controlled Pulsed Electron Beams in Nagoya University

    • 著者名/発表者名
      N. Tanaka
    • 学会等名
      The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC4)
    • 発表場所
      Hamamatsu
    • 年月日
      2014-05-08 – 2014-05-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24651123
  • [学会発表] TEMとSTEM:私の研究から

    • 著者名/発表者名
      田中信夫
    • 学会等名
      2014年度 超高分解能顕微鏡法分科会 研究会
    • 発表場所
      マホロバ・マインズ三浦
    • 年月日
      2015-02-20 – 2015-02-21
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246006
  • 1.  木塚 徳志 (10234303)
    共同の研究課題数: 24件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  山崎 順 (40335071)
    共同の研究課題数: 9件
    共同の研究成果数: 34件
  • 3.  齋藤 晃 (50292280)
    共同の研究課題数: 8件
    共同の研究成果数: 133件
  • 4.  美浜 和弘 (50023007)
    共同の研究課題数: 8件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  石田 洋一 (60013108)
    共同の研究課題数: 6件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  室岡 義栄 (40273263)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  中西 彊 (40022735)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 28件
  • 8.  進藤 大輔 (20154396)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  弘津 禎彦 (70016525)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  森永 正彦 (50126950)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  村田 純教 (10144213)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  湯川 宏 (50293676)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  財満 鎭明 (70158947)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  中塚 理 (20334998)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  趙 星彪 (90318783)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 9件
  • 16.  桑原 真人 (50377933)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 36件
  • 17.  武藤 俊介 (20209985)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 7件
  • 18.  佐々木 宏和 (70649821)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 2件
  • 19.  荒河 一渡 (30294367)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 6件
  • 20.  水谷 宇一郎 (00072679)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  渡辺 弘紀
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  坂 貴
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 23.  臼倉 治郎 (30143415)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 24.  渡辺 崇 (10402562)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 25.  竹中 充 (20451792)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 26.  坂下 満男 (30225792)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 27.  竹内 和歌奈 (90569386)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 28.  高木 信一 (30372402)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 29.  吉田 健太 (10581118)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 4件
  • 30.  内田 正哉 (80462662)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 27件
  • 31.  高柳 邦夫 (80016162)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 32.  八木 克道 (90016072)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 33.  平賀 賢二 (30005912)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 34.  堀中 博道 (60137239)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 35.  吉岡 正和 (50107463)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 36.  松下 裕秀 (60157302)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 37.  高野 敦志 (00236241)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 38.  岩間 義郎 (40022975)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 39.  一宮 彪彦 (00023292)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 40.  高橋 可昌 (20611122)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 5件
  • 41.  郷原 一寿 (40153746)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 42.  平田 秋彦 (90350488)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 43.  小林 慶太 (40556908)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 44.  保田 英洋 (60210259)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 5件
  • 45.  小松 正雄 (80309616)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 46.  佐野 智一 (30314371)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 47.  森田 健治 (10023144)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 48.  田中 通義 (90004291)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 49.  寺内 正己 (30192652)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 50.  山本 直紀 (90108184)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 51.  中松 博英 (00150350)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 52.  池田 浩也 (00262882)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 53.  桑野 範之 (50038022)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 54.  森 博太郎 (10024366)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 55.  纐纈 明伯 (10111626)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 56.  尾鍋 研太郎 (50204227)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 57.  竹田 美和 (20111932)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 36件
  • 58.  浅野 秀文 (50262853)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 34件
  • 59.  菊田 浩一 (00214742)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 60.  石田 高史 (60766525)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 61.  武藤 哲也 (50312244)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 62.  大島 義文 (80272699)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 63.  加藤 俊宏
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 64.  馬場 寿夫
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 65.  近藤 光
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 66.  相原 寿哉
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 67.  浅野 瞭
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 68.  芦田 至
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 69.  HAIDER M
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 70.  成瀬 幹夫
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 71.  五十嵐 信行
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 72.  HAIDER M.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 73.  荒井 重勇
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 74.  吉田 要
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 75.  水田 正志
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 76.  江崎 雅俊
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件
  • 77.  小椋 光
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件
  • 78.  山本 剛久
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 2件

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