高柳邦夫 TAKAYANAGI Kunio

研究者番号	80016162
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所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2007年度 – 2011年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 2006年度: 東京工業大学, 大学院理工学研究科, 教授 2001年度 – 2005年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 1996年度 – 2000年度: 東京工業大学, 大学院・総合理工学研究科, 教授 1996年度: 東京工業大学, 総合理工研究科, 教授 … もっと見る 1993年度 – 1996年度: 東京工業大学, 総合理工学研究科, 教授 1995年度: 東京工業大学, 大学院・総合理工学研究科材料化学, 教授 1992年度 – 1994年度: 東京工業大学, 大学院・総合理工学研究科, 教授 1992年度: 東京工業大学, 大学院総合理工学研究科, 教授 1991年度 – 1992年度: 東京工業大学, 理学部, 教授 1989年度: 東京大学, 理学部, 教授 1988年度 – 1989年度: 東京工業大学, 理学部, 教授 1986年度 – 1987年度: 東京工業大学, 理学部, 助教授 1986年度: 東京工大, 理学部, 助教授 1985年度: 東京工業大学, 理, 助教授隠す
審査区分/研究分野	研究代表者結晶学 / ナノ構造科学 / 金属物性 / 物理系 / 固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体) / 応用物性・結晶工学 / 応用物性研究代表者以外固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体) / 応用物性 / 結晶学 … もっと見る / 応用物性・結晶工学 / 表面界面物性 / 金属物性 / 物性一般隠す
キーワード	研究代表者超高真空電子顕微鏡 / 表面再配列構造 / STM / 走査型トンネル顕微鏡 / 電子顕微鏡 / 表面構造 / 結晶成長 / 高分解能・超高真空電子顕微鏡 / 金 / 表面 … もっと見る / 走査トンネル顕微鏡 / シリコン / ナノワイヤ / 量子化コンダクタンス / 量子化電気伝導 / 超高真空電子顕微鏡法 / 混晶 / 表面変性エピタクシー / Gold cluster / Si(111)7x7 / reconstructed surface structure / high-resolution UHV electron microscope / その場観察 / 真空蒸着 / ヘテロエピタクシャル成長 / 超高真空・高分解能電子顕微鏡法 / シリコン-金属吸着構造 / シリコンー金属吸着構造 / 金属微粒子の構造 / シリコン表面 / Surface Structure / UHV Electron Microsocpy / Scanning tunneling Microscopy / 表面局在構造解析 / STM型超高真空電子顕微鏡 / グラファイト / surface structure analysis by transmission electron diffraction / 7x7 reconstruction of silicon surface / UHV electron microscope / 吸着構造 / 表面・結晶成長のミクロプロセス / 金原子とクラスター構造の高分解能観察 / 高分解能反射顕微鏡法 / 透過回析法による表面構造解析 / シリコン表面の7×7再配列構造 / active site / rutile / gold / HRTEM / catalyst / in-situ TEM / ultra fine particle / STS / 金触媒 / ナノ粒子 / 活性サイト / ルチル / 高分解能TEM / 触媒 / その場観察TEM / 超微粒子 / Atomic chain / Helical multi-shell nanowire / Super ionic conductor / Nonlinear conductance / Ballistic transport / Quantum Point Contact / 量子コンタクト / 融体 / ナノワイヤー / 原子間力顕微鏡 / 原子鎖 / ヘリカル多層ナノワイヤ / 超イオン伝導体 / 非線形コンダクタンス / バリスティック伝導 / 量子ポイントコンタクト / Gold Atomic Chain / Magic Number / High-Resolution Electron Microscopy / Quantized Conductance / Metal Nanowire / 白金ナノワイヤ / 鉛ナノワイヤ / 半整数値 / 単原子列 / 魔法数 / 炭素ナノチューブ / 金属ナノワイヤ / micro-evaporator / scanning tunneling microscopy / density-modulated super lattice / 密度変調・歪整合型格子 / 走査型マイクロ蒸発源 / 電界蒸発 / 不整合超格子 / マイクロ蒸発源 / 密度変調超格子 / Schottkey barrier / epitaxy / ultra-high vacuum electron microscope / シリコン・金属界面 / 原子スケール界面構造 / エピタクシャル界面 / ショットキー障壁 / エピタクシー / シリコン表面での混晶成長 / シリコン(001) / 分子線エピタクシ / 表面プラズモン / ルミネッセンス / ナノプローブ / 収差補正 / サーファクタント / シリコン表面の成長 / 錫を界面活性とするシリコン成長 / シリコン(111)表面のホモエピタクシ- / エピタクシャル成長 / 表面変性エピタクシ- … もっと見る研究代表者以外 STM / 反射電顕法 / ゲルマニウム / シリコン / シリコン表面 / Germanium / Silicon / 走査型トンネル分光法 / 走査型トンネル顕微鏡 / 表面顕微鏡法 / 表面エレクトロマイグレーション / アトムプローブ / Ge / Si / MBE / ステップ形状 / 走査トンネル顕微鏡 / TEM / 光電子顕微鏡 / 表面顕微鏡 / 半導体 / Hydrogen on Si / Oxygen on Si / Si Surfaces / Reflection Electron Mictoscpy / Surface Electron Mictoscpy / 反射電子顕微法 / 表面電子顕微鏡 / Si(III)表面 / ガス吸着 / 低温表面 / Misfit Dislocation / Surface Stress / Step Morphology / Scanning Tunneling Microscope / Molecular Beam Epitaxy / Misfit転位 / 分子線エピタキシー / ミスフィット / 表面歪み / 分子線エピタオシー / Analytical Electron Microscopy / Interfaces / Nano-Materials / High Resolution Electron Microscopy / Convergent Beam Electron Diffraction / Electron probe / CCDカメラ / 表面・界面 / 原子クラスター / 精密構造解析 / ナノプローブ電子線 / イメージングプレート / 先端材料 / ナノメーター構造解析 / 分析電子顕微鏡 / 表・界面 / Nano materials / HREM / CBED / 電子線プローブ / silicon / tungsten / build-up / inertia piezomotor / field emission microscopy / scanning tunneling spectroscopy / scanning tunneling microscopy / atom transfer / ピエゾ慣性駆動モータ / 3次元粗動機構 / 電界放射電子分光法 / ピエゾ素子慣性駆動モータ / 3次元粗動 / 超高真空 / シリコン(111)面 / T-F処理 / タングステン / シリコン(lll)面 / ピエゾ素子慣性駆動 / 電界放射顕微鏡 / 原子移送 / Angle-resolved tunneling spectroscopy / Spin polarization / Near field / Coulomb blockade / STM light emission / SAM / Combined STM / UHV-AFM / 電解析出 / 金属のエピタキシャル成長 / フォトンSTM / 原子間隙相互作用 / 電子顕微鏡(SEM) / 絶縁体のトンネル過程 / 走査型原子間力 / 電気化学STM / 負性微分抵抗 / トンネル発光分光 / 探針-表面相互作用 / 走査型オージェ電子顕微鏡 / 高密度帯電機構 / 比接触原子分解能AFM / 静電気力顕微鏡 / 角度分解型トンネル分光 / スピン偏極 / 近接場 / クーロンブロッケード / トンネル発光 / 透過型電子顕微鏡 / STMとSAMの複合化 / トンネル顕微鏡 / 超高真空原子間力 / Epitaxial Growth / Eptaxial Growth / Scanning Tunneling Spectroscopy / Scanning Tunneling Microscopy / ヘテロ構造 / エピタキシャル成長 / ダイマー / Ge(ゲルマニウム) / Si(シリコン) / Si(001)2X1 / 高温超伝導体 / Si(111)7X7 / FIM / 透過電顕法 / 微構造 / 原子尺度の制御 / Misfit単位 / C60分子 / カーボン / ナノチューブ / 操作トンネル顕微鏡 / XSTM / ボロンクラスター / 反応場の構造 / 表面反応 / 脱離現象 / 紫外レーザーと表面の相互作用 / 第一原理分子動力学法 / 非熱的過程 / 量子過程 / 表面動的過程 / ショットキー障壁 / 構造安定性 / 電子状態 / 界面反応 / ヘテロ接合 / 金属ー半導体界面 / 微粒子 / エレクトロマイグレ-ション / 原子尺度 / 超構造隠す

低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観察研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(S)
- 研究分野
  
  ナノ構造科学
- 研究機関
  東京工業大学
TEM-STM法による金ナノアイランド/MOX触媒活性量子効果観察研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  ナノ構造科学
- 研究機関
  東京工業大学
量子コンタクト研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2003
- 研究種目
  
  特別推進研究
- 審査区分
  
  物理系
- 研究機関
  東京工業大学
TEM-STMを用いたカーボンナノチューブ成長機構と物性のその場観察
- 研究代表者
  
  平山博之
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2000
- 研究種目
  
  特定領域研究(A)
- 研究機関
  東京工業大学
Misfit転位網をもちいたC60量子細線ネットワーク形成
- 研究代表者
  
  平山博之
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2000
- 研究種目
  
  萌芽的研究
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京工業大学
Misfit転位近傍における結晶成長
- 研究代表者
  
  平山博之
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空電子顕微鏡内ナノ加工と原子架橋トンネル現象の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京工業大学
Si劈開表面における正20面体Bクラスターの研究
- 研究代表者
  
  平山博之
- 研究期間 (年度)
  1996
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
電子線プローブによるナノメーター精密構造解析
- 研究代表者
  
  田中信夫
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  名古屋大学
走査型マイクロ蒸発源による密度変調・歪整合型SiGeC格子の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  東京工業大学
量子トンネル過程と新手法
- 研究代表者
  
  森田清三
- 研究期間 (年度)
  1993 – 1996
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  大阪大学
   広島大学
極微領域間原子移送機構の開発
- 研究代表者
  
  富取正彦
- 研究期間 (年度)
  1993 – 1995
- 研究種目
  
  試験研究(B)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  北陸先端科学技術大学院大学
   東京工業大学
表面変性エピタクシー研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1992
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
表面量子過程
- 研究代表者
  
  村田好正
- 研究期間 (年度)
  1992
- 研究種目
  
  総合研究(B)
- 研究分野
  
  物性一般
- 研究機関
  東京大学
超高真空電子顕微鏡による原子スケールエピタクシャル界面のショットキー障壁の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1992 – 1993
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性
- 研究機関
  東京工業大学
STM/STSによるSi-Ge系ヘテロ構造成長過程の極微観察
- 研究代表者
  
  富取正彦
- 研究期間 (年度)
  1992 – 1993
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  金属物性
- 研究機関
  東京工業大学
表面変性エピタクシ-研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1991
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
表面変性エピタクシー研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1991 – 1993
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
半導体の原子尺度での制御に関する研究
- 研究代表者
  
  伊藤良一
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  総合研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性
- 研究機関
  東京大学
表面顕微鏡法による表面観察と解析
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
金属ー半導体積層界面の基礎
- 研究代表者
  
  平木昭夫
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  大阪大学
半導体の原子尺度での制御に関する研究
- 研究代表者
  
  伊藤良一
- 研究期間 (年度)
  1988
- 研究種目
  
  総合研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性
- 研究機関
  東京大学
表面顕微鏡法による表面の観察と解析
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1988
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
表面顕微鏡法による表面の観察と解析
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1987
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空・高分解能電子顕微鏡法による表面・ヘテロ膜成長過程の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1987 – 1988
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空電子顕微鏡による非平衡状態からの混晶成長と構造の解析研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1986
- 研究種目
  
  特定研究
- 研究機関
  東京工業大学
表面局在構造解析のためのSTM型表面電子顕微鏡の試作研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1986 – 1987
- 研究種目
  
  試験研究
- 研究分野
  
  金属物性
- 研究機関
  東京工業大学
表面低温電子顕微鏡法の開発とその固体ガス吸着研究への応用
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1986 – 1987
- 研究種目
  
  試験研究
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空電子顕微鏡による非平衡状態からの混晶成長と構造の解析研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1985
- 研究種目
  
  特定研究
- 研究機関
  東京工業大学
極超高真空電子顕微鏡による表面-結晶成長ミクロプロセスの研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1984 – 1986
- 研究種目
  
  一般研究(A)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学

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すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Electron microscopy at a sub-50 pm resolution2011
- 著者名/発表者名
  K.Takayanagi, S.Kim, S.Lee, Y.Oshima, T.Tanaka, Y.Tanishiro, H.Sawada, F.Hosokawa, T.Tomita, T.Kaneyama, Y.Kondo
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microsc
  
  巻: 60 号: suppl 1 ページ: S239-S244
- DOI
  10.1093/jmicro/dfr048
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Electronmicroscopy ata sub-50 pm resolution2011
- 著者名/発表者名
  K. Takayanagi, S. Kim, S. Lee, Y. Oshima, T. Tanaka, Y. Tanishiro, H. Sawada, F. Hosokawa, T. Tomita, T. Kaneyama and Y. Kondo
- 雑誌名
  
  Journalof ElectronMicrosc
  
  巻: Vol.60
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] One-by-One Introduction of Single Lattice Planes in a Bottle necked Gold Contact During Stretching2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, Y.Kurui, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Physical Society of Japan
  
  巻: 79
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Quantitative Annular Dark Field STEM Image of Silicon Crystal using a Large Convergent Electron Probe with a 300-kv Cold Field Emission Gun2010
- 著者名/発表者名
  S.Kim, Y.Oshima, H.sawada, T.Kaneyama, Y.Kondo, M.Takeguchi, Y.Nakayama, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy
  
  巻: 60 ページ: 109-116
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Quantita tive Annular Dark Field STEM Image of Silicon Crystal using a Large Conver gent Electron Probe with a 300-kV Col d Field Emission Gun2010
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, M. Takeguchi, Y. Nakayama, Y. Tanishiro, and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Elec tron Microscopy
  
  巻: Vol.60 ページ: 109-116
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Direct Imaging of Lithium Atoms in LiV_2O_4 by a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, F.Hosokawa, E.Okunishi, T.Kaneyama, Y.Kondo, S.Niitaka, H.Takagi, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy
  
  巻: 59 ページ: 457-467
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Direct Imaging of Lithium Atoms in LiV2O4 by a Spherical Aberration Co rrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, F. Hosokawa, E. Okunishi, T. Kaneyama, Y. Kondo, S. Niitaka, H. Takagi, Y. Tanishiro, and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron M icroscopy
  
  巻: Vol.59
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] One-by-One Introduction of Single Lattice Planes in a Bottlenecked Gold Contact during Stretching2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, Y. Kurui and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Physical Society of Jap an
  
  巻: Vol.79
- NAID
  40017104676
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Silicon Crystal2010
- 著者名/発表者名
  S.Kim, Y.Oshima, H.Sawada, N.Hashikawa, K.Asayama, T.Kaneyama, Y.Kondo, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Applied Physics.Express
  
  巻: 3
- NAID
  10026586310
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Si licon Crystal2010
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, H. Sawada, N. Hashikawa, K. Asayama, T. Kaneyama, Y. Kondo, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Applied Physics. Expre ss
  
  巻: Vol.3
- NAID
  10026586310
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Conductance quantization and dequantization in gold nanowires due to multiple reflection at the interface2009
- 著者名/発表者名
  Y.Kurui, Y.Oshima, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Phys. Rev. B 79
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration -corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun2009
- 著者名/発表者名
  H. Sawada, Y. Tanishiro, N. Ohashi, T. Tomita F. Hosokawa, T. Kaneyama, Y. Kondo, K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  J. Electron. Microsc 58
  
  ページ: 357-361
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun2009
- 著者名/発表者名
  H.Sawada, Y.Tanishiro, N.Ohashi, T.Tomita F.Hosokawa, T.Kaneyama, Y.Kondo, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  J. Electron. Microsc. 58
  
  ページ: 357-361
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Measurement Method of Aberration from Ronchigram by Autocorrelation Function2008
- 著者名/発表者名
  H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 108
  
  ページ: 1467-1475
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Active-Site Imaging of Au Nanoparticle Catalyst on rutile-TiO_2 by TEM2007
- 著者名/発表者名
  T.Tanaka, M.Ando, K.Sano, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc. 54 th, Japanese Applied Physics Society 28a ZA/II
  
  ページ: 667-667
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Shape Change of Au clusters dispersed on rutile Ti02(110) surface in CO and O2 gases2006
- 著者名/発表者名
  M.Ando, T.Tanaka, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc. 16th Int. Microsc. Cong. 3
  
  ページ: 1569-1569
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Dynamic behavior of Au Nanoparticles Exposured to CO and O_2 Revealed By Novel TEM-Gas Inlet Holder equipped with compact valves2006
- 著者名/発表者名
  T.Tanaka, M.Ando, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc. 16th Int. Microsc. Cong. Vol. 2
  
  ページ: 937-937
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Shape Change of Au clusters dispersed on rutile TiO_2 (110) surface in CO and O_2 gases2006
- 著者名/発表者名
  M.Ando, T.Tanaka, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc.16th Int.Microsc.Cong. Vol.3
  
  ページ: 1569-1569
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Dynamic behavior of Au Nanoparticles Exposured to CO and O_2 Revealed By Novel TEM-Gas Inlet Holder equipped with compact valves2006
- 著者名/発表者名
  T.Tanaka, M.Ando, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc.16th Int.Microsc.Cong. Vol.2
  
  ページ: 937-937
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Dynamic behavior of Au Nanoparticles Exposured to CO and O2 Revealed By Novel TEM-Gas Inlet Holder equipped with compact valves2006
- 著者名/発表者名
  T.Tanaka, M.Ando, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc. 16th Int. Microsc. Cong. 2
  
  ページ: 937-937
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[雑誌論文] Shape Change of Au clusters dispersed on rutile TiO_2 (110) surface in CO and O_2 gases2003
- 著者名/発表者名
  M.Ando, T.Tanaka, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Proc. 16th Int. Microsc. Cong. Vol. 3
  
  ページ: 1569-1569
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16201020
[学会発表] 高分解能カソードルミネッセンス顕微鏡による金属微粒子表面プラズモンの研究2012
- 著者名/発表者名
  江成めぐみ, 山本直紀、高柳邦夫
- 学会等名
  日本物理学会第67回年次大会
- 発表場所
  関西学院大
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング2012
- 著者名/発表者名
  和田麻友香、谷城康眞、高柳邦夫
- 学会等名
  日本物理学会、第67回年次大会
- 発表場所
  関西学院大学
- 年月日
  2012-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 高分解能カソードルミネッセンス装置の開発と応用2011
- 著者名/発表者名
  山本直紀、江成めぐみ、高柳邦夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第67回学術講演会
- 発表場所
  福岡国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Cs-corrected STEM2011
- 著者名/発表者名
  M.Wada、Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo in Japan
- 年月日
  2011-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Observation of defects in CuInSe2 by 300kV aberration corrected scanning transmission electron microscope2011
- 著者名/発表者名
  A. Takeshita, T. Tanaka, T. Kubota, H. Miyake, H. Sawada, Y. Kondo, Y. Oshima, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  APS March Meeting 2011
- 発表場所
  Dallas USA
- 年月日
  2011-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] An effect of probe current on ADF image intensity of Si crystal2011
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  APS March Meeting 2011
- 発表場所
  Dallas USA
- 年月日
  2011-03-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Nanostructures at Matrix/Interface/Surface2011
- 著者名/発表者名
  K.Takayanagi
- 学会等名
  11^<th>ACSIN2011
- 発表場所
  St. Petersburg, Russia(招待講演)
- 年月日
  2011-10-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Aberration-Corrected ADF-STEM2011
- 著者名/発表者名
  M.Wada, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  ALC'11
- 発表場所
  Korea
- 年月日
  2011-05-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Surface/interface imaging by ABF-STEM method : Litium ions in diffusion channel of LIB electrode materials2011
- 著者名/発表者名
  S. Lee, Y. Oshima, H. Sawada, F. Hosokawa, E. Okunishi, T. Kaneyama, Y. Kondo, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo Japan
- 年月日
  2011-12-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Aberration-Corrected ADF-STEM2011
- 著者名/発表者名
  M. Wada, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ALC' 11
- 発表場所
  Korea
- 年月日
  2011-05-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 薄膜試料におけるリチウムイオンの定量観察2011
- 著者名/発表者名
  李少淵、大島義文、高柳邦夫
- 学会等名
  表面・界面スペクトロスコピー2011
- 発表場所
  三浦マホロバマインズ
- 年月日
  2011-12-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Localized surface plasmon in metal nanoparticles studied by high-resolution cathodoluminescence2011
- 著者名/発表者名
  M.Enari, N.Yamamoto, K.Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Cs-corrected STEM2011
- 著者名/発表者名
  M. Wada、Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo
- 年月日
  2011-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 高分解能カソードルミネッセンス顕微鏡による金属微粒子表面プラズモンの研究2011
- 著者名/発表者名
  江成めぐみ, 山本直紀、高柳邦夫
- 学会等名
  日本物理学会2011秋季大会
- 発表場所
  富山大
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV_2O_4 by a SphericalAberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, E.Okunishi, Y.Kondo, S.Niitaka, H.Takagi, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2010 Meeting
- 発表場所
  Portland U.S.A
- 年月日
  2010-08-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV2O4 by a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo, S. Niitaka, H. Takagi, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis2010 Meeting
- 発表場所
  Portland U. S. A
- 年月日
  2010-08-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV2O4 using a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, Y. Kondo, K. Takayanagi, Y. Tanishiro
- 学会等名
  7th International Microscopy Congress
- 発表場所
  Riode Janeiro Brazil
- 年月日
  2010-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV_2O_4 using a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, Y.Kondo, K.Takayanagi, Y.Tanishiro
- 学会等名
  17th International Microscopy Congress
- 発表場所
  Rio de Janeiro, BRAZIL
- 年月日
  2010-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 50pm resolution electron microscope, performance and application2009
- 著者名/発表者名
  K. Takayanagi
- 学会等名
  Workshop on Advanced Application of Aberration Correction TEM (National Synchrotron Radiation Research Center Hsinchu
- 発表場所
  Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004

1. 谷城康眞 (40143648)

共同の研究課題数: 8件

共同の研究成果数: 23件
2. 大島義文 (80272699)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
3. 平山博之 (60271582)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
4. 八木克道 (90016072)

共同の研究課題数: 6件

共同の研究成果数: 0件
5. 木村嘉伸 (60225076)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 0件
6. 山本直紀 (90108184)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 4件
7. 富取正彦 (10188790)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
8. 中島尚男 (20198071)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
9. 西川治 (10108235)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
10. 箕田弘喜 (20240757)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
11. 伊藤良一 (40133102)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
12. 尾鍋研太郎 (50204227)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
13. 竹田美和 (20111932)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
14. 吉野淳二 (90158486)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
15. 寺倉清之 (40028212)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
16. 森田清三 (50091757)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. 大津元一 (70114858)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. 魚住清彦 (20011124)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. 潮田資勝 (90176652)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
20. 市ノ川竹男 (70063310)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
21. 田中信夫 (40126876)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
22. 弘津禎彦 (70016525)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
23. 進藤大輔 (20154396)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
24. 平賀賢二 (30005912)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
25. 田中崇之 (10367120)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 7件
26. 丹司敬義 (90125609)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
27. 平木昭夫 (50029013)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
28. 金原桀 (90010719)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
29. 長谷川英機 (60001781)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
30. 一宮彪彦 (00023292)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
31. 村田好正 (10080467)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
32. 吉森昭夫 (50013470)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
33. 興地斐男 (20029002)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
34. 石田洋一 (60013108)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
35. 近藤行人

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
36. 原田嘉晏

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
37. YAGI Kastumichi

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

高柳 邦夫 TAKAYANAGI Kunio

研究課題

研究成果

共同研究者

低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観察研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

TEM-STM法による金ナノアイランド/MOX触媒活性量子効果観察研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

量子コンタクト研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超高真空電子顕微鏡内ナノ加工と原子架橋トンネル現象の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

走査型マイクロ蒸発源による密度変調・歪整合型SiGeC格子の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

表面変性エピタクシー研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超高真空電子顕微鏡による原子スケールエピタクシャル界面のショットキー障壁の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

高柳邦夫 TAKAYANAGI Kunio