難波 義治  NAMBA Yoshiharu

Annals of the CIRP

巻: 64

Surface Topography: Metrology and Properties

巻: 3

Proc. SPIE

巻: 9144 ページ: 91444F-91444F

10.1117/12.2055290

Applied Optics

巻: 53 号: 14 ページ: 3075-3080

10.1364/ao.53.003075

Procedia CIRP

巻: 13 ページ: 377-381

10.1016/j.procir.2014.04.064

Applied Optics

巻: 53 号: 32 ページ: 7664-7676

10.1364/ao.53.007664

Annals of the CIRP

巻: 63 号: 1 ページ: 317-320

10.1016/j.cirp.2014.03.019

Annals of the CIRP

巻: 62, 1

砥粒加工学会誌

巻: 56,7 ページ: 439-442

10030778863

Annals of the CIRP

巻: 61, 1 ページ: 315-318

Proc. SPIE

巻: 8443

Space Telescopes and Instrumentation 2012: Ultraviolet to Gamma Ray. Proceedings of the SPIE

巻: 8443 ページ: 844324-844324

10.1117/12.926753

Proc. SPIE

巻: 8502

Proc.SPIE

巻: 8443

Int. J. of Automation Technology

巻: 5, 3 ページ: 283-288

Annals of the CIRP

巻: 60, 1 ページ: 375-378

Proc. SPIE

巻: 8126

精密工学会誌

巻: 77,4 ページ: 349-353

精密工学会誌

巻: 77 ページ: 349-353

Annals of the CIRP

巻: 59 ページ: 589-592

Proc. SPIE

巻: 7732

砥粒加工学会誌

巻: 54,11 ページ: 632-635

10027458988

Proc. SPIE

巻: 7732

Journal of Mechanical Science and Technology

巻: 24, 8 ページ: 1603-1609

精密工学会誌 75, 1

ページ: 74-75

110007028785

精密工学会誌 75

ページ: 74-75

110007028785

J. Key Engineering Materials 364-366

ページ: 39-42

status update, Proc. SPIE 7011

Opt. Eng 47, 1

Annals of the CIRP 57

ページ: 337-340

Annals of the CIRP 57, 1

ページ: 337-340

Key Engineering Materials 381-382

ページ: 105-108

Appl. Opt 46, 14

ページ: 2663-2669

Appl. Opt. 46,14

ページ: 2663-2669

Appl. Opt. 46・14

ページ: 2663-2669

Proc. SPIE 6688

Appl.Opt. 45,19

ページ: 1-8

Appl. Opt. 45, 19

ページ: 4609-4616

Prec. Eng. 30・2

ページ: 223-230

Proc. SPIE 6626

Proceedings of SPIE conference "Space Telescopes and Instrumentation II : Ultraviolet to Gamma Ray." vol. 6266

Prec. Eng. 30, 2

ページ: 223-230

Prec. Eng 30, 2

ページ: 223-230

Proceedings of the SPIE Vol. 6266

Phys.Med.Biol. 51

JSME International Journal, Series C 49,1

ページ: 56-62

App I. Opt. 45, 19

ページ: 4609-4616

Appl. Opt. 45・19

ページ: 4609-4616

Mater.Trans. 47,2

ページ: 267-270

10017282839

Prec.Eng. 30,2

ページ: 223-230

8th International Conference on X-ray Microscopy, IPAP Conf. Series, 7, The Institute of Pure and Applied Physics, Tokyo

ページ: 121-123

Proc.3rd International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century (LEM21)

ページ: 1047-1050

Annals of the CIRP 54, 1

ページ: 503-506

Annals of the CIRP 54,1

ページ: 503-506

Proc.3rd International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century (LEM21)

ページ: 999-1002

Annals of the CIRP 54,1

ページ: 503-506

Nanotechnology 16,6

ページ: 883-887

Annals of the CIRP 54,1

ページ: 503-506

Proc.8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM), Kanazawa, Japan 8

ページ: 397-398

Annals of the CIRP 53, 1

ページ: 459-462

JSME International Journal, Series C 47,1

ページ: 93-97

Jpn.J.Appl.Phys. 43,10

ページ: 7174-7175

Proc.ASPE 19th Annual Meeting, Orlando, FL, U.S.A. 19

ページ: 510-513

Proc.SPIE 5488

ページ: 313-324

Proc. SPIE 5180

ページ: 55-63

130004656260

Annals of the CIRP vol.53-1

ページ: 459-462

Proc.ASPE 19th Annual Meeting

ページ: 72-75

Annals of the CIRP 53,1

ページ: 459-462

Annals of the CIRP 53, 1

ページ: 459-462

Annals of the CIRP 53/1

ページ: 459-462

Proc.SPIE 5168

ページ: 508-517

Proc.ASPE 19th Annual Meeting, Orlando, FL, U.S.A. 19

ページ: 72-75

Jpn.J.Appl.Phys. 43,5A

ページ: 2547-2548

Proc.SPIE 5180

ページ: 55-63

130004656260

Proc.ASPE 19th Annual Meeting, Orlando, FL, U.S.A. 19

ページ: 733-736

Proc.ASPE 19th Annual Meeting, Orlando, FL, U.S.A. 19

ページ: 494-497

Proc.ASPE 19th Annual Meeting

ページ: 494-497

Butsuri 59,2

ページ: 77-83

10015430442

Proc.ASPE 19th Annual Meeting

ページ: 72-75

Proc.ASPE 19th Annual Meeting

ページ: 510-513

Proc.8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM), Kanazawa, Japan 8

ページ: 450-451

Annals of the CIRP 53・1

ページ: 459-462

Annals of the CIRP 53,1

ページ: 459-462

Annals of the CIRP 52, 1

ページ: 475-478

日本機械学会誌 106, 1017

ページ: 630-630

Annals of the CIRP 52,1

ページ: 475-478

Annals of the CIRP 52・1

ページ: 475-478

Annals of the CIRP vol.52-1

ページ: 475-478

J.JSME 106,1017

ページ: 630-630

Proc.17th Annual Meeting of ASPE

ページ: 450-453

Proc.SPIE 4829

ページ: 749-750

Proc.SPIE vol.4829

ページ: 749-750

Proc.17th Annual Meeting of ASPE

ページ: 450-453