尾張真則 OWARI Masanori

… 別表記

尾張正則オワリマサノリ

尾張直則オワリマサノリ

研究者番号	70160950
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度 – 2021年度: 東京大学, 環境安全研究センター, 教授 2010年度: 東京大学, 教授 2003年度 – 2010年度: 東京大学, 環境安全研究センター, 教授 2005年度: 東京大学, 環境安全センター, 教授 1999年度 – 2001年度: 東京大学, 環境安全研究センター, 教授 … もっと見る 1999年度: 東京大学, 環境研究安全センター, 教授 1994年度 – 1998年度: 東京大学, 環境安全研究センター, 助教授 1990年度 – 1991年度: 東京大学, 生産技術研究所, 講師 1988年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助手 1986年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助手隠す
審査区分/研究分野	研究代表者工業分析化学 / 小区分34020:分析化学関連 / ナノ構造化学 / 環境保全 / 環境動態解析 / 工業分析化学研究代表者以外工業分析化学 / 理工系 / 工業分析化学 / 環境保全 / 環境影響評価(含放射線生物学)
キーワード	研究代表者収束イオンビーム / 飛行時間型 / マッピング / 飛行時間型質量分析 / 三次元分析 / 二次イオン質量分析 / シミュレーション / 二次イオン質量分析法 / 原子分解能 / 活性サイト … もっと見る / アトムプローブ顕微鏡 / organic chemical synthesis / acetylation / Friedel-Crafts acylation / laboratory experiments / educationalexperiments / miniaturized chemical experiment / microlaboratofy / experiment wastes / グルコース / 微小規模化学実験 / マイクロラポラトリ / 有機合成 / アセチル化 / Friedel-Craftsアシル化 / 研究室実験 / 学生実験 / 微小化学実験 / マイクロラボラトリ / 実験廃棄物 / High accurate cross-sectioning of sample / Analytical reliability / Multi-elements detection / Elemental analysis with high spatial resolution / Nano-scale tree-dimensional analysis / Secondary ion mass spectrometry / Gallium focused ion beam / Ultra fine ion beam / 有害有機物 / 照射損傷 / パルスイオン銃 / 微粒子 / リフレクトロン / 直接分析 / 粒別分析 / 環境ホルモン物質 / time-of-flight mass spectrometry / elemental mapping / three-dimensional analysis / Auger electron spectroscopy / secondary ion mass spectrometry / focused ion beam / 微小部分析 / イオン励起 / オージェ電子 / パルス / 二次元イオン質量分析 / 元素マッピング / オージェ電子分光 / Epitaxial growth / Surface structural analysis / Chemical-state-discriminated XPED / X-ray photoelectron diffraction / X-ray photoelectron spectroscopy / Surface defect / Electron bombardment / Calcium fluoride / X線光電子回析法 / エピタキシャル成長 / 表層構造解析 / 化学状態識別XPED / X線光電子回折法 / X線光電子分光法 / 固体表面欠陥 / 電子線照射 / フッ化カルシウム / 収東イオンビーム加工 / 質量分析 / 超高真空 / 微小引出し電極 / 収束イオンビーム加工 / パルスレーザー / 電界蒸発 / アトムプローブ / 表面・界面ナノ構造 / ナノ構造化学 / 微細加工 / 三次元元素分布解析 / 二次元イオン質量分析法 … もっと見る研究代表者以外 Cu / X線光電子回折 / X線光電子分光 / X線光電子回析 / X-Ray Photoelectron Spectroscopy / Position Sensitive Detector / Multichannel Detection / Angular Distribution / Energy Distribution / Toroidal Analyzer / Electron Spectrometer / 位置敏感検出器 / 多チャンネル同時計測 / 角度分布 / エネルギー分布 / トロイダル型アナライザー / 電子分光器 / micro reactor / microchip / exposure risk / environmental load / glass apparatus / downsizing / experimental education / chemical experiment / 環境教育 / 実験設備 / 環境負荷低減 / 環境安全学 / 環境科学 / マイクロ化学リアクター / 環境分析 / マイクロリアクター / マイクロチップ / 曝露リスク / 環境負荷 / ガラス器具 / ダウンサイジング / 実験教育 / 化学実験 / Photoelectron Holography / Ge (111) / Tensor XPED / Surface alloy / Surfactant Epitaxy / Real time XPED / Photoelectron Diffraction / Gu / 光電子ホログラフィー / Ge(111)系 / tensor XPED / 表面合金化プロセス / 表面変性エピタキシー / XPED時間分解測定 / Suspended Particulate Matters / Dioxines (PCDDS) / ICP-MS / ICP-AES / Separation Analysis / High Resolution MS / Surface-local Analysis / Environmental Chemical Analysis / 大気浮遊粒子状物質 / ダイオキシン類 / プラズマ発光・質量分析法 / 分離分析 / 高分解能質量分析 / 表面・局所分析 / 環境化学計測 / Health Effect / Risk Assessment / Methyl Mercury Poisoning / Mercury Pollution / Amazon / 水俣病 / 健康影響 / リスク評価 / 有機水銀中毒 / 水銀汚染 / アマゾン / Micro Particle / Three-Dimensional Analysis / Focused Ion Beam / Auger Electron Spectroscopy / Secondary Ion Mass Spectrometry / 微粒子 / 三次元元素分析 / 収束イオンビーム / オージェ電子分光法 / 二次イオン質量分析法 / 活性表面 / 表面反応 / 高速・時間分解 / 回折 / 光電子分光 / TiO_2(110) / VOx / 高速時間分解 / ダイナミクス / 自己組織化 / 低加速電子線回析 / Si(111) 隠す

3D shave-off分析法の開発と装置化研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2021
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分34020:分析化学関連
- 研究機関
  東京大学
活性サイト原子分解能イメージング顕微鏡の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  ナノ構造化学
- 研究機関
  東京大学
レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2010
- 研究種目
  
  学術創成研究費
- 研究機関
  東京大学
高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解明
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  特定領域研究
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  東京理科大学
環境負荷最小化のための化学実験ダウンサイジング
- 研究代表者
  
  伊永隆史
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2005
- 研究種目
  
  特定領域研究
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  首都大学東京
実験廃棄物削減のための微小規模化学実験手法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  環境保全
- 研究機関
  東京大学
界面構造解析・制御による薄膜成長プロセスの動的キャラクタリゼーション
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
個別微粒子表面に吸着した難揮発性有害有機物の直接分析法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  1998 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  環境動態解析
- 研究機関
  東京大学
ナノイオンビームによる最先端工業材料の三次元分析法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
微小領液高感度三次元分析法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  1996
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
アマゾン川流域における水銀汚染に関する研究
- 研究代表者
  
  中西準子
- 研究期間 (年度)
  1996 – 1998
- 研究種目
  
  国際学術研究
- 研究分野
  
  環境影響評価(含放射線生物学)
- 研究機関
  横浜国立大学
環境保全のための新計測評価法に関する総合的研究
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1996 – 1997
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  環境保全
- 研究機関
  東京大学
イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
固体表面欠陥構造のキャラクタリゼ-ションに関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  尾張真則
- 研究期間 (年度)
  1990 – 1991
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
エネルギー・角度分布同時計測型電子分光器の試作研究
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1986 – 1988
- 研究種目
  
  試験研究
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学

すべて 2020 2019 2018 2017 2016 2010 2009 2008 2007 2006 2004

すべて雑誌論文学会発表図書産業財産権

[図書] イオンを用いた新たなナノ計測への展開(「アトムプローブの新たな展開」電子情報通信学会「知識ベース」、S2郡(ナノ・量子・バイオ)-4編(ナノ加工・計測技術)-3章(ナノ計測技術-ナノプローブ以外)-3.4)2009
- 著者名/発表者名
  間山憲仁、尾張真則
- 出版者
  オーム社(Web公開)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Simulation of Secondary Ion Position on the Detector for Three-dimensional Shave-off Method2020
- 著者名/発表者名
  So-Hee Kang, Shinnosuke Kishi, Kohei Matsumura, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 18 号: 0 ページ: 116-120
- DOI
  10.1380/ejssnt.2020.116
- NAID
  130007827474
- ISSN
  1348-0391
- 年月日
  2020-04-02
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02743
[雑誌論文] Angular distribution of sputtered particles in shave-off section processing with SDTrimSP2019
- 著者名/発表者名
  So-Hee Kang, Kohei Matsumura, Takeki Azuma, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 25 ページ: 165-171
- NAID
  130007852040
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] The interaction of O2 and residual H on Pt surface studied by field ion microscopy and in-situ surface atom probe2019
- 著者名/発表者名
  Sunwei Chen, Takumi Suzuki, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 26 ページ: 1-8
- NAID
  130007894794
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Emssion Trajectory Calculation of Ions from the Shave-off Cross Section for Realization of 3D Shave-off Method2018
- 著者名/発表者名
  Yuto Takagi, So-Hee Kang, Kohei Matsumura, Takeki Azuma, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 16 ページ: 324-328
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Study of the Ionization in a Field Ion Microscope Using Pulsed-Laser2018
- 著者名/発表者名
  Yun Kim, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 16 ページ: 190-192
- NAID
  130006744316
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Influence of the Shave-off Scan Speed on the Cross-Sectional Shape2018
- 著者名/発表者名
  So-Hee Kang, Yun Kim, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 16 ページ: 214-217
- NAID
  130007381533
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Angular Distribution of Secondary Ions under FIB-Shave-off Condition toward Development of Three-Dimensional Secondary Ion Image System2017
- 著者名/発表者名
  A. Habib, H. Asakura, M. Furushima, S.-H. Kang, Y. Kim, B. Tomiyasu and M. Owari
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 24 ページ: 159-163
- NAID
  130007405884
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Observation of the Gas Adsorption on the Surface of Catalytic Materials by Atom Probe Tomography2017
- 著者名/発表者名
  T. Egawa, Y. Kim, T. Suzuki and M. Owari
- 雑誌名
  
  Proceedings of the 11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17
  
  巻: - ページ: 386-387
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Emission trajectory calculation of ions from the Shave-off cross section for realization of 3D Shave-off method2017
- 著者名/発表者名
  Y. Takagi, S. Kang, K. Matsumura, T. Azuma, B. Tomiyasu and M. Owari
- 雑誌名
  
  Proceedings of the 11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17
  
  巻: - ページ: 395-396
- NAID
  130007404751
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文] Analysis of the Shape of Cross Sectons Developed under Shave-off Condition Sputtering2017
- 著者名/発表者名
  S.-H. Kang, M. Furushima, H. Asakura, A. Habib, Y. Kim, B. Tomiyasu and M. Owari
- 雑誌名
  
  Journal of Surface Analysis
  
  巻: 24 ページ: 164-166
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[雑誌論文]2010
- 著者名/発表者名
  N.Mayama, T.Iwata, M.Nojima, M.Taniguchi, M.Owari, 他10名
- 雑誌名
  
  Surf.Interface Anal. 42
  
  ページ: 1616-1621
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文]2010
- 著者名/発表者名
  N.Mayama, H.Yoshida, T.Iwata, K.Sasakawa, A.Suzuki, Y.Hanaoka, Y.Morita, A.Kuroda, M.Owari
- 雑誌名
  
  Diam.Relat.Mater. 19
  
  ページ: 946-949
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文]2009
- 著者名/発表者名
  N.Mayama, Y.Kajiwara, S.Mikami, S.Ito, T.Kaneko, T.Iwata, M.Owari
- 雑誌名
  
  e-JSSNT 7
  
  ページ: 35-38
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] e-JSSNT2009
- 著者名/発表者名
  N. Mayama, S. Mikami, S. Ito, T. Kaneko, T. Iwata, M. Taniguchi, M. Owari
- 雑誌名
  
  7
  
  ページ: 70-73
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Surf2008
- 著者名/発表者名
  N. Mayama, C. Yamashita, T. Kaito, M. Nojima, M. Owari
- 雑誌名
  
  Interface Anal. 40
  
  ページ: 1610-1613
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Surf2008
- 著者名/発表者名
  S. Ito, T. Kaneko, C. Yamashita, T. Kaito, T. Adachi, T. Iwata, N. Mayama, M. Nojima, M. Taniguchi, M. Owari
- 雑誌名
  
  Interface Anal. 40
  
  ページ: 1696-1700
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Surf2008
- 著者名/発表者名
  T. Kaneko, S. Ito, C. Yamashita, N. Mayama, T. Iwata, M. Nojima, M. Owari
- 雑誌名
  
  Interface Anal. 40
  
  ページ: 1688-1691
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Pin point depth profiling for unit device or several nano-devices2006
- 著者名/発表者名
  A.Maekawa, T.Yamamoto, Y.Ishizaki, R.Tanaka, M.Owari, M.Nojima, Y.Nihei
- 雑誌名
  
  Surface and interface analysis 38・12-13
  
  ページ: 1747-1750
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Shave-off depth profiling of dendritic short-circuit growth caused by ion migration2006
- 著者名/発表者名
  T.Yamamoto, A.Maekawa, Y.Ishizaki, R.Tanaka, M.Owari, M.Nojima, Y.Nihei
- 雑誌名
  
  Surface and interface analysis 38・12-13
  
  ページ: 1662-1665
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by X-ray photoelectron diffraction exited by Al-ka line and Cr-ka line2006
- 著者名/発表者名
  H.Mochiduki, K.Amano, M.Nojima, M.Owari, Y.Nihei
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis (submitted)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17034058
[雑誌論文] Improvement of a method for reconstructing the three-dimensional atom probe (3DAP) data2006
- 著者名/発表者名
  T.Chiba, M.Nojima, M.Owari
- 雑誌名
  
  Surface and interface analysis 38・12-13
  
  ページ: 1751-1755
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Handling of the ice protective film for potential use in the 3D microscale analysis of biological samples2006
- 著者名/発表者名
  T.Iwanami, Yujing Liu, M.Okazaki, M.Nojima, T.Sakamoto, M.Owari
- 雑誌名
  
  Surface and interface analysis 38・12-13
  
  ページ: 1658-1661
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[雑誌論文] Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition2006
- 著者名/発表者名
  K.Amano H.Mochiduki, M.Nojima, M.Owari, Y.Nihei
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis (submitted)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17034058
[雑誌論文] Development of a separable-type of micro-scale glassware optimized for microscale chemical experiments in university laboratories.2004
- 著者名/発表者名
  B.Kim, Y.Tojo, T.Sakamoto, M.Owari
- 雑誌名
  
  Chemical Education 52
  
  ページ: 172-173
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15069207
[雑誌論文] 大学における有機合成化学実験に対応したセパラブル・タイプのガラス製マイクロスケール実験用器具の開発2004
- 著者名/発表者名
  金朋央, 東條洋介, 坂本哲夫, 尾張真則
- 雑誌名
  
  化学と教育 52(3)
  
  ページ: 172-173
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15069207
[産業財産権] 試料及び電極ホルダユニット、位置調整台、並びに試料及び電極の装置への組付方法2007
- 発明者名
  尾張真則, 野島雅,谷口昌宏, 間山憲仁, 足立達哉
- 権利者名
  尾張真則, 野島雅,谷口昌宏, 間山憲仁, 足立達哉
- 産業財産権番号
  2007-279318
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[産業財産権] アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置2007
- 発明者名
  尾張真則, 皆藤孝, 野島雅
- 権利者名
  尾張真則, 皆藤孝, 野島雅
- 産業財産権番号
  2007-279319
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[産業財産権] アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置2007
- 発明者名
  尾張真則, 皆藤孝, 野島雅
- 権利者名
  尾張真則, 皆藤孝, 野島雅
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[産業財産権] 特許権2007
- 発明者名
  尾張真則, 他2名
- 権利者名
  尾張真則, 他2名
- 産業財産権番号
  2007-279319
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[産業財産権] 特許権2007
- 発明者名
  尾張真則, 他4名
- 権利者名
  尾張真則, 他4名
- 産業財産権番号
  2007-279318
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[産業財産権] 試料及び電極ホルダユニット、位置調整台、並びに試料及び電極の装置への組付方法2007
- 発明者名
  尾張真則, 野島雅,谷口昌宏, 間山憲仁, 足立達哉
- 権利者名
  尾張真則, 野島雅,谷口昌宏, 間山憲仁, 足立達哉
- 出願年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[学会発表] Study on the design of secondary ion optics to develop 3D shave-off SIMS2019
- 著者名/発表者名
  Shinnosuke Kishi,Kohei Matsumura,So-Hee Kang,Bunbunoshin Tomiyasu,Masanori Owari
- 学会等名
  12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02743
[学会発表] Simulation of secondary ions position on the detector for three-dimensional shave-off method2019
- 著者名/発表者名
  So-Hee Kang,Shinnosuke Kishi,Kohei Matsumura,Bunbunoshin Tomiyasu,Masanori Owari
- 学会等名
  12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02743
[学会発表] 三次元Shave-off SIMSの実現に向けた二次イオン光学系の開発2018
- 著者名/発表者名
  松村康平, 姜　少煕, 冨安文武乃進, 尾張真則
- 学会等名
  2018年度実用表面分析講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] The interaction of O<sub>2</sub> and residual H on Pt surface: studied by field ion microscopy and in-situ surface atom probe2018
- 著者名/発表者名
  Sunwei Chen, Takumi Suzuki, Bunbunoshin Tomiyasu, Masanori Owari
- 学会等名
  2018年度実用表面分析講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] 電界イオン顕微鏡を用いた触媒表面反応の観察2018
- 著者名/発表者名
  鈴木　匠, CHEN Sunwei, 尾張真則
- 学会等名
  2018年度実用表面分析講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] Angular distribution of sputtered particles in shave-off section processing2018
- 著者名/発表者名
  S-Hee Kang, Takeki Azuma,Kohei Matumura,Bunbunoshin Tomiyasu,Masanori Owari
- 学会等名
  2018年度実用表面分析講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] アトムプローブ装置を利用した触媒表面観察に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  江川卓也、金潤、鈴木匠、尾張真則
- 学会等名
  2017年度実用表面分析講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] Observation of the Gas Adsorption on the Surface of Catalytic Materials by Atom Probe Tomography2017
- 著者名/発表者名
  T. Egawa, Y. Kim, T. Suzuki and M. Owari
- 学会等名
  11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] Emission trajectory calculation of ions from the Shave-off cross section for realization of 3D Shave-off method2017
- 著者名/発表者名
  Y. Takagi, S. Kang, K. Matsumura, T. Azuma, B. Tomiyasu and M. Owari
- 学会等名
  11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] Study on the time difference of the field evaporation between the shadow and the irradiated sides in laser-triggered APT2016
- 著者名/発表者名
  Yun Kim, Yutaro Hirai, Masanori Owari
- 学会等名
  9th International Symposium on Practical Surface Analysis
- 発表場所
  Daejeon, Korea
- 年月日
  2016-10-16
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H03814
[学会発表] Nanoscale Three-Dimensional Element Imaging-Introductory Talk2009
- 著者名/発表者名
  M.Owari
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices
- 発表場所
  Hawaii, USA
- 年月日
  2009-12-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[学会発表]2009
- 著者名/発表者名
  M.Owari
- 学会等名
  7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices(招待講演)
- 発表場所
  Hawaii, USA.
- 年月日
  2009-12-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[学会発表] Development of Laser-Assisted Wide Angle Three-Dimensional Atom Probe and Its Application to Atomic Level Characterization of Real Electronic Devices2008
- 著者名/発表者名
  M. Owari
- 学会等名
  The 10th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- 年月日
  2008-07-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[学会発表]2008
- 著者名/発表者名
  M.Owari
- 学会等名
  The 10^<th> International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei University (SISS-10)(招待講演)
- 発表場所
  Tokyo, Japan.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204
[学会発表] Development of Laser-Assisted Three-Dimensional Atom Probe for Atomic Level Characterization of Real Electronic Devices2007
- 著者名/発表者名
  Masanori Owari
- 学会等名
  6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'07
- 発表場所
  金沢市
- 年月日
  2007-11-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18GS0204

1. 二瓶好正 (10011016)

共同の研究課題数: 5件

共同の研究成果数: 2件
2. 坂本哲夫 (20313067)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
3. 野島雅 (50366449)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 10件
4. 谷口昌宏 (30250418)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
5. 間山憲仁 (40508131)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件
6. 岩田達夫 (20119647)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 6件
7. 中西準子 (10010836)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 原田正純 (00040519)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 四ツ柳隆夫 (00001199)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 宮田秀明 (80167676)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. 原口鉱き (70114618)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 工藤正博 (10114464)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 石井秀司 (30251466)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 伊永隆史 (30124788)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. 竹内豊英 (40135322)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. 内山一美 (40151899)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. 河合潤 (60191996)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. 高橋敬雄 (70134955)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. 横山道子 (90280940)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
20. 鶴田俊 (90197773)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
21. 田中彰博

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
22. OIKAWA Teiic

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
23. DA Costa Man

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
24. DA Conceicao

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
25. MANOEL Quaresma da Costa

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
26. SILVA PINHEIRO Maria da

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
27. SILVA Pinhei

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
28. PINHEIRO Mar

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
29. CARDOSO Bern

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
30. GERALDO de A

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
31. 八幡需

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
32. YAHATA Motomu

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

尾張 真則 OWARI Masanori

尾張 正則 オワリ マサノリ

尾張 直則 オワリ マサノリ

研究課題

研究成果

共同研究者

3D shave-off分析法の開発と装置化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

活性サイト原子分解能イメージング顕微鏡の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解明

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

環境負荷最小化のための化学実験ダウンサイジング

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

実験廃棄物削減のための微小規模化学実験手法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

界面構造解析・制御による薄膜成長プロセスの動的キャラクタリゼーション

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

個別微粒子表面に吸着した難揮発性有害有機物の直接分析法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ナノイオンビームによる最先端工業材料の三次元分析法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

微小領液高感度三次元分析法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

アマゾン川流域における水銀汚染に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

環境保全のための新計測評価法に関する総合的研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

イオン ・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

尾張真則 OWARI Masanori

尾張正則オワリマサノリ

尾張直則オワリマサノリ

イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発